SU1525664A1 - Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива - Google Patents
Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива Download PDFInfo
- Publication number
- SU1525664A1 SU1525664A1 SU874335358A SU4335358A SU1525664A1 SU 1525664 A1 SU1525664 A1 SU 1525664A1 SU 874335358 A SU874335358 A SU 874335358A SU 4335358 A SU4335358 A SU 4335358A SU 1525664 A1 SU1525664 A1 SU 1525664A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- raster
- photodetectors
- plane
- lens
- output
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к устройствам проекционной фотопечати. Цель изобретени - повышение точности устройства контрол фокусировки. Устройство работает по принципу измерени разности фаз между двум сигналами, полученными в результате модул ции светового потока периодическим растром 2. Устройство содержит монохроматический источник 1, линзу 3, два электрооптических кристалла 4. Один из них установлен в +1 пор дке дифракции и соединен с пр мым выходом генератора пилообразного напр жени . Второй установлен в -1 пор дке и соединен с инвертирующим выходом генератора. В результате кристаллы создают такую фазовую задержку, котора приводит к линейному перемещению изображени растра 2 в плоскости аналогичного анализирующего растра 11. Фотоприемники 17,18, расположенные за отверсти ми 15 и 16 в фокальной плоскости линзы 12, регистрируют периодический сигнал, фаза которого зависит от положени плоскости фокусировки. Фильтры 19 и 20, установленные на выходе фотоприемников, устран ют искажени сигнала, вызванные обратным ходом. Дл получени максимального сигнала с фотоприемников энерги светового пучка перераспредел етс в пространстве рассеивателем 6. 4 ил.
Description
/
fff
ел ю ел
О) О5 4
(риг.1
, 3 , .152
Изобретение относитс к устройст- вам проекционной фотопечати, в част- -ности к фотоэлектрическим устройствам контрол отклонений фотопластины от плоскости резкого изображени в системах с автофокусировкой.
Цель изобретени повышение точности устройства.
На фиг, 1 изображена оптическа схема предлагаемого устройства совместно с проекционным объективом и пластиной;.на фиг. 2а - сигнал на выходе генератора пилообразного напр жени ; на фиг, 26 - смгнал на выходе фотоприемников; на фиг,2в - сигнал на выходе полосового фильтра; на фиг, 3 - распределение световых пучков в зрачке проекционного объектива j на фиг. 4 световые пучки вбли зи анализирующего растра ; Устройство (фиг, 1) содержит осве- /титель (монохроматический источник) 1 -и расположенные последовательно по ходу луча предметный растр 2, линзу 3 два электрооптических кристалла k с нанесенными на их поверхность электродами 5 и рассеиватель 6, Электрооптические кристаллы 4 расположены вблизи фокальной плоскости линзы 3 так, что лучи, образующие 1 дифрак- ционны.й пор док растра 2 проход т через один кристалл, а образующие -1 дифракционный пор док - через второй кристалл ,
Электрооптические кристаллы k изготавливают из материала со значительным электрооптическим эффектом. Электроды 5 нанос т так, чтобы обеспечить при приложении к ним электрического напр жени пропорциональное изменение коэффициента преломлени материала кристаллов 4, Так, при .использовании материала типа КДР электроды 5 могут быть нанесены на грани кристал
лов А, перпендикул рно оптической оси OZ материала и параллельные направлению распространени света, т„е„ опти ческой оси устройства.
Электроды 5 кристаллов k присоединены к противофазным выходам генератора 7 пилообразного напр жени ,
Рассеиватель 6 расположен в : кости, сопр женной с предметным pact-- ром 2,
Далее по ходу лучей устройство содержит полупрозрачное зеркало 8, про-- екционный объектив 9 и фотолластину 10. которые образуют систему, стро fO
5
0
5
0
35
щую автоколлимационное изображение предмета, расположенного в плоскости рассеивател 6, в плоскость анализирующего растра 11J расположенного в плоскости, сопр женной с рассеива- телем б.
За анализирующим растром 11 расположена коллективна линза 12 и.апер- турна диафрагма 13 расположенна в плоскости, сопр женной со зрачком I проекционного объектива 9.
Апертурна диафрагма 13 имеет два .отверсти 15 и 1б, расположенных децентрированно по разные стороны от оптической оси.
Непосредственно за отверсти ми 15 и 16 расположены фотоприемники 17 и 18, выходы которых соединены через полосовые фильтры 19 и 20 соответственно с входами измерител 21 разности фаз,
Устройство работает следующим образом .
Линза 3 строит изображение предметного растра 2 (фиг. 1) на рассеиватель 6, Вместе с тем, линза 3 собирает в электрооптические кристаллы k световые пучки, образующие -)-1 и -1 дифракционные пор дки соответственно.
Изображение растра 2, которое строилось бы в плоскости рассеивател 6 линзой 3 в отсутствии электро- оптических кристаллов 4, описываетс синусоидальной функцией амплитуды:
(1+cos(jx), (1)
0
5
где и - амплитуда светового пол ;
А - амплитуда падающего на растр 2 пол с учетом увеличени линзы 3;
СА) пространственна частота растра 2 с учетом увеличени линзы 3;
X - координата, перпендикул рна направлению штрихов растра .
Выражение (1) может быть представлено в виде суммы трех составл ющих:
А А U A- -2exp(jcjx)(-JWx) (2)
Кажда из составл ющих описывает плоскую волну, распростран ющуюс в определенном направлении, т.е. дифракционный пор док.
Электрооптические кристаллы 4, раё5 мещенные в ходе лучей +1 и -1 дифракционных пор дков внос т в соответст -, вующие пучки дополнительной фазовый набег, величина которого пропорцио5152566
нальна .величине приложенного к соответствующему электрооптическому кристаллу напр жени .
Поскольку к кристаллу, установленному в ходе лучей +1 пор дка, и к кристаллу, установленному в ходе лучей -1 пор дка, напр жение с выхода генератора 7 поступают в противофазе, то фазовые сдвиги в пор дках будут ю представл ть собой:
,KV; 1 tp-.-KV,
(3)
где Lp, и Ц., - фазовые сдвиги в +1 и -1 дифракционных пор дках соответственно;
К - коэффициент пропорциональности; V - мгновенное значение напр жени на выходе генератора 7.
По вление дополнительного сдвига фаз приводит к изменению функции распределени амплитуды:
и А+|ехр ( JQX+JKV) -i-lexp (-jax-j KV)
A(1+cos(wx+KV). . (4)
Из формулы (k) следует, что прило- женное напр жение приводит к смещению изображени растра 2 на рассеи- вателе 6, пропорциональному величине приложенного напр жени .
Напр жение, прикладываемое к кристаллам 4, поступает с выхода генератора 7 пилообразного напр жени и имеет временную диаграмму, изображенную на фиг. 2а. Это обеспечивает линейное сканирование изображени .
Максимальное напр жение на выходе генератора 7 (фиг. 1) выбирают таким, чтобы обеспечить смещение изображени растра на период. При этом максимальное значение фазового сдвига, обеспечиваемого электрооптическими кристаллами будет равно +2 if и -Z il соответственно . В этом случае, если не при- нимать во внимание обратный ход, сканирование выгл дит как непрерывное движение изображени с посто нной скоростью.
Изображение растра 2 строитьс на поверхности рассеивател 6, а затем через полупрозрачное зеркало строитс проекционным объективом 9 на поверхность фотопластины 10. Лучи, отраженные от пластины 10, проход т Jэбъeктив Э, отражаютс от полу
5
35
20
25
зо
.л
-
прозрачного зеркала 8 и формируют в плоскости анализирующего растра 11 автоколлимационное изображение растра 2.
При сканировании изображени растра 2 в плоскости рассеивател 6 автоколлимационное изображение предметного растра 2 на анализирующем растре 11 также будет перемещатьс . Анализирующий растр 11 имеет такой же шаг и направление штрихов, как и изображение растра 2. В результате штрихи изображени предметного растра 2 будут при сканировании перекрыватьс штрихами анализирующего растра 11, что приводит почти к синусоидальной модул ции светового потока, прошедшего через анализирующий растр 11 (фиг. 26), и соответствующему изменению напр жени на выходе фотоприемников 17 и 18 (фиг. 1). Отличие формы сигналов от -синусоидальной в основном св зано с наличием обратного хода , во врем которого изображение предметного растра 2 испытывает скачок , а на сигнале наблюдаетс короткий импульс. Дл того, чтобы этот импульс не вли л на работу измерител 21 разности фаз, сигналы пропус-. каютс через полосовые фильтры 19 и 20, настроенные на частоту сканировани . Форма сигналов на выходе полосовых фильтров 19 и 20 приведена на фиг. 2в.
Свет, прошедший через анализирующий растр 11, собираетс коллективной линзой 12, котора в плоскости апертурной диафрагмы 13 строит изображение зрачка I t объектива 9. Апер- турна диафрагма 13 содержит два отверсти 15 и 1б, расположенные децен- трированно относительно оптической оси так, 41 о они накладываютс на изображение зрачка Ц обьектива 9 без виньетировани (фиг. 3). Рассеи- ватель 6 (фиг. 1) при этом измен ет угловое распределение падающего на него света так, чтобы максимальное количество света попадало в отверсти 15 и 1б (фиг. 3). При этом световое п тно 22 в отсутствии рассеивател преобразуетс в световое п тно 23.
Рассеиватель 6 (фиг. 1) может быть выполнен в виде комбинации из дифракционной решетки и матовой пластинки .
7 .152566
При точной фокусировке плоскость (фиг« 4а) , в которой построено изображение предметного растра 2 (), совпадает с плоскостью, в которой установлен анализирующий растр 11 (фиг. а).
Пучки лучей 25 и 26, выдел емые отверсти ми 15 и 1б (фиг,О в апер-. турной диафрагме 13, стро т изобра- |(- жени предметного растра 2 в плоскости 2k (фиг, 4а} . В ЭТОЙ плоское- . ти окна анализирующего растра М совпадают с пучками 25 и 2б и, следова- тельнО; начальные растры 11 совпа- дают с пучками 25 и 2б и, следовательно , начальные фазы сигналов, ;соответствующих световым пучкам 25 и 26, прошедших анализирующих растр 11, будут одинаковы,20
В результате сигналы с фотоприемников 17 i-i 18 (фиг. 1) не имеют друг j относительно друга фазового сдвига. Соответственно не будут иметь фазового сдвиге и сигналы на выходах поло 25 соаых фи льтров 19 и 20. В результате измеритель 21 разности фаз, на выходы которого поданы эти сигналы, будет регистрировать нулевой сдвиг
Фа:
соответствующий то|-1ной фокуси40
ровке.
При расфокусировке5 т.е. смещении фрточувств.ггельной пластины 10 вдоль оптической оси, плоскость 2А (фигДб) в которой строитс изображение предметного растра 2 (фиг. 1), окажетс смещенной относительно анализирующего растра 11 и в его плоскости пучки 25 и 2б (фиг. 4б) уже не совпадут друг с другом. Соответственно окажутс сдвинутыми и начальные фазь сигналов, соответствующих световым пучкам 25 и 26. прошедших анализирующий растр 11. Это приводит к по влению фазового сдвига между сигналами фотоприемни- . ков 17 и 18 (фиг. 1), причем знак разности фаз указывает направление, а величина пропорциональна величине расфокусировки. Сигналы с выходов фотоприемников 17 и 18 проход т,через полосовые фильтры 19 и 20 на ды измерител 21 разности фаз показани которого будут пропорциональны
(- 0
5
0
0
8
сдвигу фаз и соответственно величине расфокусировки.
В предлагаемом устройстве сканирование осуществл етс с помощью электрооптических кристаллов 4 (фиг.1). Это обеспечивает высокую стабильность частоты сканировани и отсутствие неконтролируемых смещений изображени предметного растра.
В результате случайна погрешность определ етс только фотоэлектрическими шумами фотоприемников 17 и 18.
Дополнительными достоинствами предлагаемого устройства вл етс высокое быстродействие, ограниченное только быстродействием измерител разности фаз, а также отсутствие движущихс частей, что обеспечивает высокую надежность и долгове- ность предлагаемого устройства.
Claims (1)
- Формула изобретениУстройство дл контрол фокусиров- и проекционного объектива, содержащее последовательно расположенные осветитель , предметный растр, автоколлиг мационную оптическую систему, анализирующий растр, апертурную диафрагму, выполненную в виде двух расположенных по разные стороны от оптической оси отверстий, за из которых установлен фотоприемник, причем фотоприемники соединены со схемой измерени разности фаз, отличаю щее- с - тем, что, с целью повышени точности, в него введены линза расположенна за предметным, растром, два электрооптических кристалла с электродами, расположенными симметрично относительно оптической оси в ходе лучей +1 и -1 дифракционных пор дков предметного растра, генератор пилообразного напр жени , пр мой зыход которого соединен с электродами первого кристалла, а инвертирующий выход - с электродами второго, и два полосовых фильтра, включенные между фотоприемниками и схемой измерени разности фаз, а в качестве осветител использован монохроматический источник излучени ./ L. zzФиз.гаФии5Риг.2814,-Xx
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874335358A SU1525664A1 (ru) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874335358A SU1525664A1 (ru) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1525664A1 true SU1525664A1 (ru) | 1989-11-30 |
Family
ID=21339037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874335358A SU1525664A1 (ru) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1525664A1 (ru) |
-
1987
- 1987-11-30 SU SU874335358A patent/SU1525664A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1525664A1 (ru) | Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива | |
JPS6225962B2 (ru) | ||
JPH0235246B2 (ja) | Kogakusukeerusochi | |
US4808807A (en) | Optical focus sensor system | |
RU1820204C (ru) | Способ измерени углов отклонени лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмме | |
SU629444A1 (ru) | Устройство дл измерени смещени контролируемой поверхности | |
SU1035419A1 (ru) | Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений | |
SU1125489A1 (ru) | Устройство дл измерени углового положени объекта | |
SU1700356A1 (ru) | Устройство дл контрол и юстировки объективов | |
SU1068700A1 (ru) | Преобразователь линейного перемещени | |
JPH0317210Y2 (ru) | ||
SU1458706A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразователь перемещений в фазу сигнала | |
SU1737398A1 (ru) | Измеритель углового положени сканирующего зеркала | |
SU1730538A1 (ru) | Устройство дл измерени смещени кромки непрозрачного объекта | |
SU1270716A1 (ru) | Акустооптический частотомер (его варианты) | |
SU485473A1 (ru) | Устройство дл обработки оптической информации | |
RU2029976C1 (ru) | Способ визуализации микроконтрастных объектов и оптический поляризационный наноскоп для его осуществления | |
SU1534309A1 (ru) | Измеритель фазы пространственной гармоники оптического волнового процесса с заданным периодом колебаний в реальном масштабе времени | |
RU2020410C1 (ru) | Устройство непрерывного контроля параметров шестигранного волоконно-оптического стержня во время вытяжки | |
SU587322A1 (ru) | Фотоэлектрический микроскоп | |
SU1072590A1 (ru) | Устройство дл регистрации нестационарных полей градиента показател преломлени | |
SU365555A1 (ru) | Цифровой фотоэлектрический автоколлиматор | |
SU906027A1 (ru) | Развертывающее устройство передающего фототелеграфного аппарата | |
SU1075074A1 (ru) | Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени | |
SU1613857A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещени объекта |