SU1525664A1 - Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива - Google Patents

Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива Download PDF

Info

Publication number
SU1525664A1
SU1525664A1 SU874335358A SU4335358A SU1525664A1 SU 1525664 A1 SU1525664 A1 SU 1525664A1 SU 874335358 A SU874335358 A SU 874335358A SU 4335358 A SU4335358 A SU 4335358A SU 1525664 A1 SU1525664 A1 SU 1525664A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
raster
photodetectors
plane
lens
output
Prior art date
Application number
SU874335358A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Иванович Бедулин
Василий Михайлович Есьман
Александр Тихонович Симонов
Ефим Лазаревич Янкелев
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6495
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6495 filed Critical Предприятие П/Я Р-6495
Priority to SU874335358A priority Critical patent/SU1525664A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1525664A1 publication Critical patent/SU1525664A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к устройствам проекционной фотопечати. Цель изобретени  - повышение точности устройства контрол  фокусировки. Устройство работает по принципу измерени  разности фаз между двум  сигналами, полученными в результате модул ции светового потока периодическим растром 2. Устройство содержит монохроматический источник 1, линзу 3, два электрооптических кристалла 4. Один из них установлен в +1 пор дке дифракции и соединен с пр мым выходом генератора пилообразного напр жени . Второй установлен в -1 пор дке и соединен с инвертирующим выходом генератора. В результате кристаллы создают такую фазовую задержку, котора  приводит к линейному перемещению изображени  растра 2 в плоскости аналогичного анализирующего растра 11. Фотоприемники 17,18, расположенные за отверсти ми 15 и 16 в фокальной плоскости линзы 12, регистрируют периодический сигнал, фаза которого зависит от положени  плоскости фокусировки. Фильтры 19 и 20, установленные на выходе фотоприемников, устран ют искажени  сигнала, вызванные обратным ходом. Дл  получени  максимального сигнала с фотоприемников энерги  светового пучка перераспредел етс  в пространстве рассеивателем 6. 4 ил.

Description

/
fff
ел ю ел
О) О5 4
(риг.1
, 3 , .152
Изобретение относитс  к устройст- вам проекционной фотопечати, в част- -ности к фотоэлектрическим устройствам контрол  отклонений фотопластины от плоскости резкого изображени  в системах с автофокусировкой.
Цель изобретени  повышение точности устройства.
На фиг, 1 изображена оптическа  схема предлагаемого устройства совместно с проекционным объективом и пластиной;.на фиг. 2а - сигнал на выходе генератора пилообразного напр жени ; на фиг, 26 - смгнал на выходе фотоприемников; на фиг,2в - сигнал на выходе полосового фильтра; на фиг, 3 - распределение световых пучков в зрачке проекционного объектива j на фиг. 4 световые пучки вбли зи анализирующего растра ; Устройство (фиг, 1) содержит осве- /титель (монохроматический источник) 1 -и расположенные последовательно по ходу луча предметный растр 2, линзу 3 два электрооптических кристалла k с нанесенными на их поверхность электродами 5 и рассеиватель 6, Электрооптические кристаллы 4 расположены вблизи фокальной плоскости линзы 3 так, что лучи, образующие 1 дифрак- ционны.й пор док растра 2 проход т через один кристалл, а образующие -1 дифракционный пор док - через второй кристалл ,
Электрооптические кристаллы k изготавливают из материала со значительным электрооптическим эффектом. Электроды 5 нанос т так, чтобы обеспечить при приложении к ним электрического напр жени  пропорциональное изменение коэффициента преломлени  материала кристаллов 4, Так, при .использовании материала типа КДР электроды 5 могут быть нанесены на грани кристал
лов А, перпендикул рно оптической оси OZ материала и параллельные направлению распространени  света, т„е„ опти ческой оси устройства.
Электроды 5 кристаллов k присоединены к противофазным выходам генератора 7 пилообразного напр жени ,
Рассеиватель 6 расположен в : кости, сопр женной с предметным pact-- ром 2,
Далее по ходу лучей устройство содержит полупрозрачное зеркало 8, про-- екционный объектив 9 и фотолластину 10. которые образуют систему, стро fO
5
0
5
0
35
щую автоколлимационное изображение предмета, расположенного в плоскости рассеивател  6, в плоскость анализирующего растра 11J расположенного в плоскости, сопр женной с рассеива- телем б.
За анализирующим растром 11 расположена коллективна  линза 12 и.апер- турна  диафрагма 13 расположенна  в плоскости, сопр женной со зрачком I проекционного объектива 9.
Апертурна  диафрагма 13 имеет два .отверсти  15 и 1б, расположенных децентрированно по разные стороны от оптической оси.
Непосредственно за отверсти ми 15 и 16 расположены фотоприемники 17 и 18, выходы которых соединены через полосовые фильтры 19 и 20 соответственно с входами измерител  21 разности фаз,
Устройство работает следующим образом .
Линза 3 строит изображение предметного растра 2 (фиг. 1) на рассеиватель 6, Вместе с тем, линза 3 собирает в электрооптические кристаллы k световые пучки, образующие -)-1 и -1 дифракционные пор дки соответственно.
Изображение растра 2, которое строилось бы в плоскости рассеивател  6 линзой 3 в отсутствии электро- оптических кристаллов 4, описываетс  синусоидальной функцией амплитуды:
(1+cos(jx), (1)
0
5
где и - амплитуда светового пол ;
А - амплитуда падающего на растр 2 пол  с учетом увеличени  линзы 3;
СА) пространственна  частота растра 2 с учетом увеличени  линзы 3;
X - координата, перпендикул рна  направлению штрихов растра .
Выражение (1) может быть представлено в виде суммы трех составл ющих:
А А U A- -2exp(jcjx)(-JWx) (2)
Кажда  из составл ющих описывает плоскую волну, распростран ющуюс  в определенном направлении, т.е. дифракционный пор док.
Электрооптические кристаллы 4, раё5 мещенные в ходе лучей +1 и -1 дифракционных пор дков внос т в соответст -, вующие пучки дополнительной фазовый набег, величина которого пропорцио5152566
нальна .величине приложенного к соответствующему электрооптическому кристаллу напр жени .
Поскольку к кристаллу, установленному в ходе лучей +1 пор дка, и к кристаллу, установленному в ходе лучей -1 пор дка, напр жение с выхода генератора 7 поступают в противофазе, то фазовые сдвиги в пор дках будут ю представл ть собой:
,KV; 1 tp-.-KV,
(3)
где Lp, и Ц., - фазовые сдвиги в +1 и -1 дифракционных пор дках соответственно;
К - коэффициент пропорциональности; V - мгновенное значение напр жени  на выходе генератора 7.
По вление дополнительного сдвига фаз приводит к изменению функции распределени  амплитуды:
и А+|ехр ( JQX+JKV) -i-lexp (-jax-j KV)
A(1+cos(wx+KV). . (4)
Из формулы (k) следует, что прило- женное напр жение приводит к смещению изображени  растра 2 на рассеи- вателе 6, пропорциональному величине приложенного напр жени .
Напр жение, прикладываемое к кристаллам 4, поступает с выхода генератора 7 пилообразного напр жени  и имеет временную диаграмму, изображенную на фиг. 2а. Это обеспечивает линейное сканирование изображени .
Максимальное напр жение на выходе генератора 7 (фиг. 1) выбирают таким, чтобы обеспечить смещение изображени  растра на период. При этом максимальное значение фазового сдвига, обеспечиваемого электрооптическими кристаллами будет равно +2 if и -Z il соответственно . В этом случае, если не при- нимать во внимание обратный ход, сканирование выгл дит как непрерывное движение изображени  с посто нной скоростью.
Изображение растра 2 строитьс  на поверхности рассеивател  6, а затем через полупрозрачное зеркало строитс  проекционным объективом 9 на поверхность фотопластины 10. Лучи, отраженные от пластины 10, проход т Jэбъeктив Э, отражаютс  от полу
5
35
20
25
зо
-
прозрачного зеркала 8 и формируют в плоскости анализирующего растра 11 автоколлимационное изображение растра 2.
При сканировании изображени  растра 2 в плоскости рассеивател  6 автоколлимационное изображение предметного растра 2 на анализирующем растре 11 также будет перемещатьс . Анализирующий растр 11 имеет такой же шаг и направление штрихов, как и изображение растра 2. В результате штрихи изображени  предметного растра 2 будут при сканировании перекрыватьс  штрихами анализирующего растра 11, что приводит почти к синусоидальной модул ции светового потока, прошедшего через анализирующий растр 11 (фиг. 26), и соответствующему изменению напр жени  на выходе фотоприемников 17 и 18 (фиг. 1). Отличие формы сигналов от -синусоидальной в основном св зано с наличием обратного хода , во врем  которого изображение предметного растра 2 испытывает скачок , а на сигнале наблюдаетс  короткий импульс. Дл  того, чтобы этот импульс не вли л на работу измерител  21 разности фаз, сигналы пропус-. каютс  через полосовые фильтры 19 и 20, настроенные на частоту сканировани . Форма сигналов на выходе полосовых фильтров 19 и 20 приведена на фиг. 2в.
Свет, прошедший через анализирующий растр 11, собираетс  коллективной линзой 12, котора  в плоскости апертурной диафрагмы 13 строит изображение зрачка I t объектива 9. Апер- турна  диафрагма 13 содержит два отверсти  15 и 1б, расположенные децен- трированно относительно оптической оси так, 41 о они накладываютс  на изображение зрачка Ц обьектива 9 без виньетировани  (фиг. 3). Рассеи- ватель 6 (фиг. 1) при этом измен ет угловое распределение падающего на него света так, чтобы максимальное количество света попадало в отверсти  15 и 1б (фиг. 3). При этом световое п тно 22 в отсутствии рассеивател  преобразуетс  в световое п тно 23.
Рассеиватель 6 (фиг. 1) может быть выполнен в виде комбинации из дифракционной решетки и матовой пластинки .
7 .152566
При точной фокусировке плоскость (фиг« 4а) , в которой построено изображение предметного растра 2 (), совпадает с плоскостью, в которой установлен анализирующий растр 11 (фиг. а).
Пучки лучей 25 и 26, выдел емые отверсти ми 15 и 1б (фиг,О в апер-. турной диафрагме 13, стро т изобра- |(- жени  предметного растра 2 в плоскости 2k (фиг, 4а} . В ЭТОЙ плоское- . ти окна анализирующего растра М совпадают с пучками 25 и 2б и, следова- тельнО; начальные растры 11 совпа- дают с пучками 25 и 2б и, следовательно , начальные фазы сигналов, ;соответствующих световым пучкам 25 и 26, прошедших анализирующих растр 11, будут одинаковы,20
В результате сигналы с фотоприемников 17 i-i 18 (фиг. 1) не имеют друг j относительно друга фазового сдвига. Соответственно не будут иметь фазового сдвиге и сигналы на выходах поло 25 соаых фи льтров 19 и 20. В результате измеритель 21 разности фаз, на выходы которого поданы эти сигналы, будет регистрировать нулевой сдвиг
Фа:
соответствующий то|-1ной фокуси40
ровке.
При расфокусировке5 т.е. смещении фрточувств.ггельной пластины 10 вдоль оптической оси, плоскость 2А (фигДб) в которой строитс  изображение предметного растра 2 (фиг. 1), окажетс  смещенной относительно анализирующего растра 11 и в его плоскости пучки 25 и 2б (фиг. 4б) уже не совпадут друг с другом. Соответственно окажутс  сдвинутыми и начальные фазь сигналов, соответствующих световым пучкам 25 и 26. прошедших анализирующий растр 11. Это приводит к по влению фазового сдвига между сигналами фотоприемни- . ков 17 и 18 (фиг. 1), причем знак разности фаз указывает направление, а величина пропорциональна величине расфокусировки. Сигналы с выходов фотоприемников 17 и 18 проход т,через полосовые фильтры 19 и 20 на ды измерител  21 разности фаз показани  которого будут пропорциональны
(- 0
5
0
0
8
сдвигу фаз и соответственно величине расфокусировки.
В предлагаемом устройстве сканирование осуществл етс  с помощью электрооптических кристаллов 4 (фиг.1). Это обеспечивает высокую стабильность частоты сканировани  и отсутствие неконтролируемых смещений изображени  предметного растра.
В результате случайна  погрешность определ етс  только фотоэлектрическими шумами фотоприемников 17 и 18.
Дополнительными достоинствами предлагаемого устройства  вл етс  высокое быстродействие, ограниченное только быстродействием измерител  разности фаз, а также отсутствие движущихс  частей, что обеспечивает высокую надежность и долгове- ность предлагаемого устройства.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Устройство дл  контрол  фокусиров- и проекционного объектива, содержащее последовательно расположенные осветитель , предметный растр, автоколлиг мационную оптическую систему, анализирующий растр, апертурную диафрагму, выполненную в виде двух расположенных по разные стороны от оптической оси отверстий, за из которых установлен фотоприемник, причем фотоприемники соединены со схемой измерени  разности фаз, отличаю щее- с  - тем, что, с целью повышени  точности, в него введены линза расположенна  за предметным, растром, два электрооптических кристалла с электродами, расположенными симметрично относительно оптической оси в ходе лучей +1 и -1 дифракционных пор дков предметного растра, генератор пилообразного напр жени , пр мой зыход которого соединен с электродами первого кристалла, а инвертирующий выход - с электродами второго, и два полосовых фильтра, включенные между фотоприемниками и схемой измерени  разности фаз, а в качестве осветител  использован монохроматический источник излучени .
    / L
    . zz
    Физ.га
    Фии5
    Риг.28
    14
    ,-Xx
SU874335358A 1987-11-30 1987-11-30 Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива SU1525664A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874335358A SU1525664A1 (ru) 1987-11-30 1987-11-30 Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874335358A SU1525664A1 (ru) 1987-11-30 1987-11-30 Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1525664A1 true SU1525664A1 (ru) 1989-11-30

Family

ID=21339037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874335358A SU1525664A1 (ru) 1987-11-30 1987-11-30 Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1525664A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1525664A1 (ru) Устройство дл контрол фокусировки проекционного объектива
JPS6225962B2 (ru)
JPH0235246B2 (ja) Kogakusukeerusochi
US4808807A (en) Optical focus sensor system
RU1820204C (ru) Способ измерени углов отклонени лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмме
SU629444A1 (ru) Устройство дл измерени смещени контролируемой поверхности
SU1035419A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений
SU1125489A1 (ru) Устройство дл измерени углового положени объекта
SU1700356A1 (ru) Устройство дл контрол и юстировки объективов
SU1068700A1 (ru) Преобразователь линейного перемещени
JPH0317210Y2 (ru)
SU1458706A1 (ru) Фотоэлектрический преобразователь перемещений в фазу сигнала
SU1737398A1 (ru) Измеритель углового положени сканирующего зеркала
SU1730538A1 (ru) Устройство дл измерени смещени кромки непрозрачного объекта
SU1270716A1 (ru) Акустооптический частотомер (его варианты)
SU485473A1 (ru) Устройство дл обработки оптической информации
RU2029976C1 (ru) Способ визуализации микроконтрастных объектов и оптический поляризационный наноскоп для его осуществления
SU1534309A1 (ru) Измеритель фазы пространственной гармоники оптического волнового процесса с заданным периодом колебаний в реальном масштабе времени
RU2020410C1 (ru) Устройство непрерывного контроля параметров шестигранного волоконно-оптического стержня во время вытяжки
SU587322A1 (ru) Фотоэлектрический микроскоп
SU1072590A1 (ru) Устройство дл регистрации нестационарных полей градиента показател преломлени
SU365555A1 (ru) Цифровой фотоэлектрический автоколлиматор
SU906027A1 (ru) Развертывающее устройство передающего фототелеграфного аппарата
SU1075074A1 (ru) Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени
SU1613857A1 (ru) Устройство дл измерени перемещени объекта