SU1522083A1 - Способ определени бикомплексных параметров материалов на СВЧ - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к технике измерений на СВЧ. Цель изобретени  - увеличение точности определени  бикомплексных параметров материалов на СВЧ. В устройстве, реализующем данный способ, сигнал СВЧ-генератора 1 через вентиль 2 и СВЧ-переключатель 5 подаетс  либо в канал измерени  комплексной диэлектрической проницаемости, либо в канал измерени  комплексной магнитной проницаемости. В СВЧ-резонаторах 6 и 7 размещаютс  либо эталонные, либо исследуемые образцы. Сигналы из измерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступают на формирователь 12 временных интервалов, измеритель 13 мощности и осциллограф 14. После измерени  резонансных частот и ширины резонансных кривых осуществл етс  вычисление искомых параметров. 1 ил.

Description

СП

ьэ

О

00

со

Изобретение относитс  к технике измерений на СВЧ.

Цель изобретени  - увеличение точности .

На чертеже приведена электрическа  структурна  схема устройства, реализующего способ определени  бикомплекс ных параметров материалов на СВЧ,

Устройство содержит СВЧ генератора 1, вентили 2-4, СВЧ переключатель первый СВЧ резонатор 6 дл  измерени  комплексных диэлектрических параметров , второй СВЧ резонатор 7 дл  измерени  комплексных магнитных параметров , первый и второй СВЧ детекторы 8 и 9, первьй переключатель 10, усилитель 11, формирователь временных интервалов 12, измеритель мощности 13, осциллограф 14 с генератором линейно измен ющегос  напр жени , эмиттерньп повторитель 15, разделительный конденсатор 16, преобразователь частоты 17, частотомер 8, блок 19 вычислительный, источник 20 напр жени  смещени , второй и третий переключатели 21 и 22,

Способ определени  бийомплексньк параметров материалов на СВЧ реализуют следующим образом.

Сигнал СВЧ генератора 1 через вентиль 2 и СВЧ переключатель 5 подаетс  либо в канал измерени  комплексной диэлектрической проницаемости, состо щий из последовательно соединеных СВЧ резонатора 6, вентил  3 и первого СВЧ детектора 8, либо в канал измерени  комплексной магнитной проницаемости, состо щий из СВЧ резонатора 7, вентил  4 и второго СВЧ детектора 9. В СВЧ резонаторах 6 и 7 могут быть размещены либо эталонные, либо исследуемые образцы.CHrnajai из измерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступают на формирователь временных интерваг лов 12, измеритель мощности 13 и осциллограф 14. При определении резонансных частот и ширин резонансных кривых с помощью частотомера 18 максимальное показание измерител  мощности 13 поддерживают посто нным,регулиру  мощность на выходе СВЧ генератора 1.

. При переключении с помощью переключател  22 устройства в режим частотной модул ции, котора  осуществл етс  от генератора линейно измен ющего напр жени , вход щего в состав

fc«осциллографа 14, осуществл ют измерени  ширин резонансных кривых.Формирователь временных интервалов 12 вырабатывает гребенку импульсов, количество которых однозначно определ ет ширину резонансной кривой по уровню половинной мощности.

Дл  коррекции нелинейности моду- л ционных характеристик реализуют ре- жим калиброванного смещени , подключа  к СВЧ генератору 1 с помощью переключател  21 источник 20 напр жени  смещени . При этом уточненна 

пшрина резонансной кривой

.,« /IF .jf

где д - измеренна  ширина резонансной кривой;

смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧ резонатор с исследуемым образэ

с/л смещение частоты сигнала, I возбуждающего СВЧ резонатор с эталонным образцом. По измеренным резонансным частотам и уточненным ширинам резонансных кривых с помощью блока 19 вычисл ют мые параметры.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ определени  бикомштексных

   параметров материалов на СВЧ,. заклю- чак цийс  в поочередном внесении эталонного образца с известными параметрами и исследуемого образца в полость СВЧ-резонатора, возбуждении СВЧ-резонатора , измерении резонансных частот, измерении ширины резонансных кривыхAf путем возбуждени  СВЧ-резонатора частотно-модулированным сигналом, в по следующем расчете искомых параметров,

   о. сличающийс  тем, что, с целью увеличени  точности, ширину резонансной кривой определ ют при посто нных уровн х мощности на выходе СВЧ-резонатора, дополнительно смещают

   частоту сигнала, возбуждающего СВЧ- резонатор, и измер ют ширину резонансной кривой 4fp, а уточненную ширину ЙР резонансной кривой вычисл пот по формуле

   ,F ..,,f,

   -см

   где &f - смещение частоту сигнаCm

   ла, возбуждающего СВЧ5 15220836

   резонатор с исследуемымзонатор с зталонным об образцом;разцом;

   см смещение частоты сигна- f. измеренна  ширина резола , возбуждающего СВЧ-ре-е ,нансной кривой.