SU1520373A1 - Способ контрол качества изображени оптических и оптико-электронных систем - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике. Цель изобретени  - упрощение способа. Пучок света, формируемый осветителем 1, направл етс  на щелевую диафрагму 4. Изображение щелевой диафрагмы 4 строитс  коллимирующим объективом 6 и испытуемым объективом 34 в плоскости анализа, котора  переноситс  микрообъективом 7, в плоскость диска 8 анализатора. Растровые решетки, нанесенные на диск 8 анализатора, вращаемого приводом 9, последовательно провод т пространственную фильтрацию изображени  щелевой диафрагмы. Измерительные и нормирующа  гармонические составл ющие выдел ютс  блоком 11 выделени  измерительных и нормирующей гармонических составл ющих. Амплитуды измерительных составл ющих сравниваютс  с амплитудой нормирующей гармонической составл ющей в блоке 21 обработки сигналов. Результат сравнени , св занный с коэффициентом передачи модул ции контролируемого объектива 34, индицируетс  блоком 27 индикации. 1 з.п.ф-лы, 3 ил.

Description

7 Г

МИзобретение относитс  к измерительной технике, может быть использовано дл  измерени  коэффициентов передачи модул ции различных оптических систем, например объективов.

Целью изобретени   вл етс  упрощение способа.

На фиг, 1 представлена функциональна  схема устройства дл  реализации способа; на фиг. 2 - диск анализатора; на фиг. 3 - временные диаграм- мы сигналов, формируемых на выходах отдельных блоков.

1520373Л

Измерительные решетки 30 - 33, на- HeC iHHhie на кольцевую дорожку диска 8 , аналилатора, привод т пространственную фильтрацию изображени  щелевой диафрагмы 4.

Световые потоки, промодулирован- ные измерительными решетками 30 - 33 подают на фотоприемник 10, формирую- IQ щий электрический сигнал сложного

спектра, частоты спектральных составл ющих которого определ ютс  пространственными частотами измерительных решеток 30 - 33, нанесенных на диск 8

Устройство содержит оптически св - 5 анализатора, а также прот женностью

20

30

занные осветитель 1, состо щий из лампы 2 и конденсатора 3, щеле.вую диафрагму 4, блок 5 формировани  изображени  щелевой диафрагмы, состо щий из коллимирую1цего объектива 6, микрообъектива 7, диск 8 анализатора, привод 9, св занный с диском 8 анализатора , фотоприемник 10, блок 11 выделени  измерительных и нормирующей гармонических составл ющих, состо щий 25 из полосовых фильтров 12 - 14, входы которых подключены к фотоприемнику 10, детекторов 15 - 17, входы которых подключены к выходам полосовых фильтров 12 - 14, фильтров 18 - 20. нижних частот; блок 21 обработки сигналов , состо щий из переключател  22, потенциометров 23 и 24, подключенных к фильтру 18 нижних частот, компаратора 25, входы которого подключены к выходу потенциометра 24 и фильтра 19 нижних частот, компаратора 26, входы которого подключены к выходу потенциометра 23 и переключателю 22; блок 27 индикации, состо щий из све- тодиодов 28 и 29, подключенных к выходам компараторов 25 и 26.

На диске анализатора нанесены измерительные решетки 30 - 33. Контролируетс  объектив 34.

Устройство работает следующим образом .

Изображение тела накаливани  лампы 2, вход щей в осветитель 1, проецируетс  конденсатором 3 на щелевую диафрагму 4.

Коллимирующий объектив 6, вход щий в блок 5 формировани  изображени  щелевой диафрагмы, формирует параллельный пучок лучей, который фокусиручт35

40

45

50

нанесени  измерительных решеток 30 - 33 и рассто ни ми между ними.

Спектральные составл ющие электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 10, выдел ютс  полосовыми 12 - 14, вход щими в блок 11 выделени  измерительных и нормирующей гармонических составл ющих, детектируютс  детекторами 15 - 17, сглаживаютс  фильтрами 18 - 20.

На выходе фильтров 19 и 20 нижних частот формируетс  напр жение, пропорциональное коэффициенту передачи модул ции на соответствующей измерительной пространственной частоте.

На выходе фильтра 18 нижних частот формируетс  напр жение, пропорциональное коэффициенту передачи модул ции на нормирующей пространственной частоте, близкой к нулевой.

П-ространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 определ ютс  периодом их нанесени  на диск 8 анализатора . Пространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 не равны друг другу и отличаютс  друг от друга, например, в два раза, что позвол ет вьщелить соответствующие измерительные сигналы полосовыми фильтрами 13 и 14. На фиг, 1 условно показаны лишь два полосовых фильтра 13 и 14,

Нормирующа  пространственна  частота определ етс  прот женностью нанесени  измерительных решеток и рассто нием мелоду решетками, т. е, периодом нанесени  измерительных решеток . Дополнительной дорожки с нанесенной нормирующей частотой нет. Норс  объективом 34 в плоскости анализа, 5мируюш1Ий сигнал формируетс  из измекоторый переноситс  микрообъективомрительных сигналов. Амплитуда норми7 в плоскость диска 8 анализатора,рующего сигнала св зана с усредненным

вращаемого приводом 9.значением посто нных составл ющих из0

0

5

5

0

5

0

нанесени  измерительных решеток 30 - 33 и рассто ни ми между ними.

Спектральные составл ющие электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 10, выдел ютс  полосовыми 12 - 14, вход щими в блок 11 выделени  измерительных и нормирующей гармонических составл ющих, детектируютс  детекторами 15 - 17, сглаживаютс  фильтрами 18 - 20.

На выходе фильтров 19 и 20 нижних частот формируетс  напр жение, пропорциональное коэффициенту передачи модул ции на соответствующей измерительной пространственной частоте.

На выходе фильтра 18 нижних частот формируетс  напр жение, пропорциональное коэффициенту передачи модул ции на нормирующей пространственной частоте, близкой к нулевой.

П-ространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 определ ютс  периодом их нанесени  на диск 8 анализатора . Пространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 не равны друг другу и отличаютс  друг от друга, например, в два раза, что позвол ет вьщелить соответствующие измерительные сигналы полосовыми фильтрами 13 и 14. На фиг, 1 условно показаны лишь два полосовых фильтра 13 и 14,

Нормирующа  пространственна  частота определ етс  прот женностью нанесени  измерительных решеток и рассто нием мелоду решетками, т. е, периодом нанесени  измерительных решеток . Дополнительной дорожки с нанесенной нормирующей частотой нет. Нормерительных сигналов, а частота - с числом измерительных решеток и их прост- ранственным расположением (фиг.З). Сигнал с выхода фильтра 18 нижних частот поступает на потенциометры 23 и 24, вход щие в блок 21 обработки сигнала. С выходов потенциометров 23 и 24 нормирующие сигналы поступают на первые входы компараторов 25 и 26, на вторые входы которых поступают измерительные сигналы с фильтра 19 нижних частот и с выхода переключател  22, с помощью которого осуществл етс  выбор верхней измеритель- jj рительной и нормирующей частотах с ной частоты.

одновременным преобразованием в эле ктрический сигнал, выдел ют нормиру щую и измерительные гармонические составл ющие электрического сигнала

При величине измерительных сигналов меньше опорных сигналов, величина которых задаетс  потенциометрами 23 и 24, срабатывают компараторы 23 и 24, формирующие сигисшы порогового допускового контрол  величины коэффициентов передачи модул ции, которые индицирз ютс  светодиодами 28 и 29, вход щими в блок 27 индикации.

При изменении  ркости лампы 2, светопропускани  объектива 34, чувствительности ФЭУ 10 происходит одновременное изменение сигналов на выходах нормирующего и измерительного каналов, выходах фильтров 18 - 20

т

U18 U19

аго

52

нижних частот, что не измен ет резуль- контрол .

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ контрол  качества изображени  оптических и оптико-электронных систем, заключающийс  в том, что формируют изображение прот женного тест- объекта на входе контролируемой системы , провод т пространственную фильтрацию изображени  тест-объекта на выходе контролируемой системы на измерительной и нормирующей частотах с

   одновременным преобразованием в электрический сигнал, выдел ют нормирующую и измерительные гармонические составл ющие электрического сигнала,

   по соотношени м амплитуд которых суд т о качестве контролируемой системы , отличающийс  тем, что, с целью упрощени , пространстве.чную фильтрацию изображени  тест-объекта

   на измерительных частотах провод т последовательно, а электрический сигнал формируют в виде пачек импульсов , нормирующую частоту формируют как огибающую пачек измерительных

   сигналов, а период формировани  пачек мпульсов равен удвоенной длительности пачек импульсов.

   Т/1М шщ jMfMn f-I

   Физ.З