SU1486914A1 - Method for evaluation of quality of microcircuit lead junction with contact pad of printed circuit board - Google Patents
Method for evaluation of quality of microcircuit lead junction with contact pad of printed circuit board Download PDFInfo
- Publication number
- SU1486914A1 SU1486914A1 SU874180526A SU4180526A SU1486914A1 SU 1486914 A1 SU1486914 A1 SU 1486914A1 SU 874180526 A SU874180526 A SU 874180526A SU 4180526 A SU4180526 A SU 4180526A SU 1486914 A1 SU1486914 A1 SU 1486914A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- quality
- evaluation
- microcircuit
- printed circuit
- circuit board
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в радиоэлектронной промышленности для оценки качества паяных соединений выводов микросхем с контактными площадками печатных плат. При подаче напряжения переменногоThe invention relates to non-destructive testing and can be used in the electronic industry to assess the quality of the soldered joints of the outputs of the microcircuits with the contact pads of printed circuit boards. When AC power is applied
14869141486914
77
33
14869141486914
4four
тока на электромагнитный преобразователь 10 его подвижная часть - катушка 9 индуктивности - передает усилие на захват 3. При этом создается знакопеременная нагрузка на кромке соединения 2 вывода микросхемы с печатной платой.При неудовлетворительном качестве соединения в нем образуются микротрещины. Процесс образования микротрещин сопровождается акустическим сигналом, который воспринимает ся пьезопреобразователем 5, усиливается предусилителем !1, усилителем 12 и преобразуется в прямоугольные импульсы на выходе формирователя 13.current on the electromagnetic transducer 10, its movable part - coil 9 inductance - transmits the force to the grip 3. This creates an alternating load on the edge of the connection 2 of the output of the microcircuit with the printed circuit board. If the connection quality is unsatisfactory, microcracks are formed in it. The process of the formation of microcracks is accompanied by an acoustic signal, which is perceived by the piezoelectric transducer 5, amplified by the preamplifier! 1, by the amplifier 12 and converted into rectangular pulses at the output of the former 13.
По суммарному количеству импульсов на выходе счетчика 14 судят о качестве соединения. Механические напряжения определяются лишь ПриложеннойThe total number of pulses at the output of the counter 14 is judged on the quality of the connection. Mechanical stresses are determined only by the Attached
нагрузкой при подаче тока в катушку индуктивности электромагнитного преобразователя и вызываются не динамическими перегрузками, а статическим растяжением и сжатием, так как частота вибрации несоизмеримо меньше собственной частоты контролируемых изделий..Причем смена знака механического нагружения необходима для создания условий перемещения вывода в пределах 0,1-0,2 мм и образования новых адгезионных связей и их последующего разрыва при сохранении условий восстановления соединения после обнаружения дефекта. Существенно, что знакопеременному нагружению подвергается лишь наиболее слабая в отношении механической прочности часть изделий - кромка паяного шва. 1 ил.load when current is applied to an inductance coil of an electromagnetic converter and is caused not by dynamic overloads, but by static stretching and compression, since the vibration frequency is incommensurably less than the natural frequency of the monitored products. And the change of the sign of mechanical loading is necessary to create conditions for moving the output within 0.1- 0.2 mm and the formation of new adhesive bonds and their subsequent rupture, while maintaining the conditions for the restoration of the connection after the discovery of the defect. It is significant that only the weakest part of the products with regard to mechanical strength - the edge of the solder joint - is subjected to alternating loading. 1 il.
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в радиоэлектронной промышленности для оценки качества паяных соединений выводов микросхем.The invention relates to non-destructive testing and can be used in the electronic industry to assess the quality of the soldered joints of the outputs of the microcircuits.
Цель изобретения - повышение до- 30 стоверности оценки соединения.The purpose of the invention is to increase the reliability of the evaluation of the compound.
На чертеже показана схема устройства оценки качества соединения вывода микросхемы с контактной площадкой печатной платы, вертикальный участок 35 вывода микросхемы сжимается захватом при включении электромагнита.The drawing shows a diagram of the device for assessing the quality of the connection output of the chip with the contact pad of the printed circuit board, the vertical section 35 of the output of the chip is compressed by the grip when the electromagnet is turned on.
Участок вывода микросхемы 1, непосрёдственно примыкающий к контролируемому соединению 2, захватом 3 40Plot 1 chip output, immediately adjacent to the controlled connection 2, the capture 3 40
соединен с электромагнитом 4, корпус которого неподвижно соединен с пьезопреобразователем 3, заключенным в корпус 6. Последний подвешен к неподвижной станине 7 на мембранах 8. На корпусе 6 неподвижно смонтирована катушка 9 индуктивности электромагнитного преобразователя 10. Пьезопреобразователь 5 электрически соединен с предварительным усилителем 11, усилителем 12, формирователем 13 прямоугольных импульсов и суммирующим счетчиком 14»connected to an electromagnet 4, the casing of which is fixedly connected to the piezoelectric transducer 3 enclosed in the casing 6. The latter is suspended from the fixed bed 7 on the membranes 8. On the casing 6 the inductance coil 9 of the electromagnetic transducer 10 is fixedly mounted. The piezoelectric transducer 5 is electrically connected to the pre-amplifier 11, the amplifier 12, the shaper of 13 rectangular pulses and a summing counter 14 "
Способ осуществляют следующим образом. 55The method is as follows. 55
Подают напряжение переменного тока на электромагнитный преобразователь 10, его подвижная часть - катушка 9 индуктивности, соединенная с корпусом 6, установленным на мембранах 8, в котором расположен пьезопреобразователь 5 и предварительный усилитель 11, передает усилие на захват 3. Таким образом, усилие передается на вертикальную часть вывода микросхемы, а следовательно, на кромку соединения. Амплитуда колебаний составляет 0,1-0,2 мм. Нижний предел соответствует экспериментально установленному пределу обнаружения дефекта типа "неспай". Верхний предел соответствует допустимому предельному угловому перемещению горизонтального участка вывода изделия. Нормальное напряжение ό, И/мм^, возникает на небольшом участке соединения. При усилиях, когда это напряжение превосходит допустимое, начинается образование трещины в месте соединения, которое сопровождается акустическим сигналом. Этот сигнал воспринимается пьезопреобразователем 5 (£рез=300 кГц), поступает в предварительный усилитель 11 (полоса пропускания 46=0,1-1,2 МГц, Кус=100), усилитель 12 -(СК4-58), формирователь 13 прямоугольных импульсов и суммирующий счетчик 14. Наличие сигнала акустической эмиссии порогового уровня свидетельствует о некачественном соединении.AC voltage is supplied to the electromagnetic transducer 10, its movable part - inductor 9, connected to housing 6 mounted on the membranes 8, in which piezotransducer 5 is located and preamplifier 11, transmits the force to the clamp 3. Thus, the force is transmitted to the vertical part of the output of the chip, and therefore on the edge of the connection. The amplitude of oscillation is 0.1-0.2 mm. The lower limit corresponds to the experimentally established limit for the detection of the “Nespay” type defect. The upper limit corresponds to the permissible limit angular displacement of the horizontal output area of the product. Normal voltage ό, I / mm ^, occurs in a small area of the connection. With efforts, when this stress exceeds the allowable, the formation of a crack at the junction begins, which is accompanied by an acoustic signal. This signal is perceived by the piezoelectric transducer 5 (£ r es = 300 kHz) is supplied to the preamplifier 11 (bandwidth 46 MHz = 0.1-1.2, yc = 100 K), the amplifier 12 - (SK4-58) shaper 13 rectangular pulses and a summing counter 14. The presence of an acoustic emission signal of the threshold level indicates a poor-quality connection.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874180526A SU1486914A1 (en) | 1987-01-15 | 1987-01-15 | Method for evaluation of quality of microcircuit lead junction with contact pad of printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874180526A SU1486914A1 (en) | 1987-01-15 | 1987-01-15 | Method for evaluation of quality of microcircuit lead junction with contact pad of printed circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1486914A1 true SU1486914A1 (en) | 1989-06-15 |
Family
ID=21280115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874180526A SU1486914A1 (en) | 1987-01-15 | 1987-01-15 | Method for evaluation of quality of microcircuit lead junction with contact pad of printed circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1486914A1 (en) |
-
1987
- 1987-01-15 SU SU874180526A patent/SU1486914A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4854494A (en) | Monitoring bond parameters during the bonding process | |
EP0949670B1 (en) | Flip-chip mounting method and mounting apparatus of electronic part | |
US4072936A (en) | Method of and apparatus for detecting damage to a frangible object | |
US5452264A (en) | Resonant acoustic emission transducer | |
TW480199B (en) | Piezoelectric sensor for measuring bonding parameters | |
CN1159573A (en) | Vibration test sensor | |
US5533398A (en) | Method and apparatus for testing lead connections of electronic components | |
SU1486914A1 (en) | Method for evaluation of quality of microcircuit lead junction with contact pad of printed circuit board | |
US5421506A (en) | Method of positioning an object on a carrier | |
Chu et al. | Placement of piezoelectric ceramic sensors in ultrasonic wire-bonding transducers | |
JP3717241B2 (en) | Substrate inspection method and apparatus | |
EP0372812A2 (en) | Method and apparatus for inspecting solder joints | |
EP0570064B1 (en) | Method of positioning an object on a carrier, device suitable for carrying out this method, and suction tube suitable for use in the device | |
JPH06313785A (en) | Detecting method of fault of soldering of pack-aged component by vibration, vibration generating device and vibration-generating and measuring probe unit | |
SU1529099A2 (en) | Apparatus for ultrasonic inspection | |
WO2022163532A1 (en) | Measuring apparatus and measuring method | |
US5732873A (en) | Magnetic energy monitor for an ultrasonic wirebonder | |
JP2005340780A (en) | Electronic component mounting device and electronic component mounting method | |
KR100350711B1 (en) | The rubber mat dust removal device for testing of an electron parts and therefore socket construction | |
JP3537083B2 (en) | Wire bonding equipment | |
SU1609565A1 (en) | Method of checking soldered joints | |
JPH0267956A (en) | Apparatus for detecting lead-open defect of electronic part | |
KR20010096973A (en) | The rubber mat dust removal device for testing of an electron parts and therefore assistant socket construction | |
JPS64811B2 (en) | ||
US6545484B1 (en) | Board inspection apparatus and board inspection method |