SU1474738A1 - Memory - Google Patents
Memory Download PDFInfo
- Publication number
- SU1474738A1 SU1474738A1 SU874237506A SU4237506A SU1474738A1 SU 1474738 A1 SU1474738 A1 SU 1474738A1 SU 874237506 A SU874237506 A SU 874237506A SU 4237506 A SU4237506 A SU 4237506A SU 1474738 A1 SU1474738 A1 SU 1474738A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- transistors
- type
- inputs
- output
- input
- Prior art date
Links
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть использовано при построении оперативных запоминающих устройств на КМДП-транзисторах. С целью повышени быстродействи запоминающего устройства за счет организации его работы по реальным задержкам элементов путем индикации моментов окончани переходных процессов в устройстве в него введены элементы И-НЕ 17, И-ИЛИ-НЕ 18, инвертор 19, транзисторы п-типа 6 и 7 и транзисторы р -типа 12-15. Причем выход элемента 17 соединен с затворами транзисторов 6,7 и входами элемента 18, а его входы - с входами элемента 18, другие входы которого соединены с информационными выходами 21,22 и входами 23,24 устройства, с управл ющими 25, 26 входами устройства и с его управл ющим выходом 27, который соединен с выходом инвертора 19, вход которого соединен с выходом элемента 18. 1 ил.The invention relates to computing and can be used in the construction of random access memory devices on CMD transistors. In order to increase the speed of the storage device by organizing its work on the real element delays by indicating the end points of transients in the device, the elements AND-HE 17, AND-OR-HE 18, inverter 19, p-type transistors 6 and 7 and p-type transistors 12-15. Moreover, the output of the element 17 is connected to the gates of the transistors 6,7 and the inputs of the element 18, and its inputs to the inputs of the element 18, the other inputs of which are connected to the information outputs 21,22 and the inputs 23,24 of the device, to the control 25, 26 inputs of the device and with its control output 27, which is connected to the output of the inverter 19, the input of which is connected to the output of element 18. 1 sludge.
Description
1one
Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть использовано при построении оперативных запоминающих устройств на КМДП-транзисто pax.The invention relates to computing and can be used in the construction of random access memory devices on a CMOS transistor pax.
Целью изобретени вл етс повышение быстродействи запоминающего устройства за счет организации его работы по реальным задержкам элементов путем индикации моментов окончани .переходных процессов в устройстве.The aim of the invention is to increase the speed of the storage device by organizing its work according to the actual delays of the elements by indicating the end points of the transient processes in the device.
На чертеже приведена схема запоминающего устройства.The drawing shows a diagram of a storage device.
Устройство содержит элементы 1 пам ти, ключевые элементы, выполнен- ные на МДП-транзисторах п-типа 2 и 3, блок записи, состо щий из четырех МДП-транзисторов п-типа 4-7, блок задани режимов работы, состо щий из восьми МДП-транзисторов р-типа 8-15 и двух резисторов 16, элементы И-НЕ 17, И-ИЛИ-НЕ 18, инвертор 19. На чер-J теже показаны также адресные входы 20, нулевой и единичный информационные выходы 21 и 22 и входы 23 и 24, входы управлени записью 25 и чтением 26 и выход 27 готовности устройства, шина 28 питани и шина 29 нулевого потенциала устройства.The device contains 1 memory elements, key elements made on n-type MIS transistors 2 and 3, a writing unit consisting of four n-type MIS transistors 4-7, a mode setting unit consisting of eight P-type MOSFET transistors 8-15 and two resistors 16, elements AND-NOT 17, AND-OR-NOT 18, inverter 19. The address inputs 20, zero and single information outputs 21 and 22 and inputs 23 and 24, write control inputs 25 and read 26 and device ready output 27, power bus 28 and device zero-potential bus 29.
Запоминающее устройство работает следующим образом. The storage device operates as follows.
В режиме хранени на адресные входы 20 всех элементов 1 пам ти подаютс низкие потенциалы, закрывающие транзисторы 2 и 3, на входы управле- ни записью 25 и чтением 26 и нулевой 23 и единичный 24 информационные входы также подаютс низкие потенциалы . В результате закрыты транзисторы 4, 5 и 8, 9 и открыты транзисторы 10, 11, 14 и 15 и 12 и 13, что при- водит к по влению высоких потенциалов на нулевом 21 и единичном 22 выIn the storage mode, the low voltage potentials covering the transistors 2 and 3 are fed to the address inputs 20 of all the memory elements 1, the write control 25 and read 26 and zero 23, and the single 24 data inputs are also fed to the low potentials. As a result, transistors 4, 5 and 8, 9 are closed and transistors 10, 11, 14 and 15 and 12 and 13 are open, which leads to the appearance of high potentials at zero 21 and single 22 you
5five
0 0
5 0 50
5 0 50
5five
00
ходах устройства. Последние вызывают низкий потенциал на выходе элемента 17, высокий потенциал на выходе элемента 18 и, наконец, низкий по тенциал на выходе инвертора 19, т.е. на управл ющем выходе 27.device moves. The latter cause a low potential at the output of element 17, a high potential at the output of element 18 and, finally, a low potential at the output of the inverter 19, i.e. at the control output 27.
В режиме чтени информации из элемента 1 на адресный вход 20 подаетс высокий потенциал, открывающий транзисторы 2 и 3, и низкий потенциал с нулевого или единичного входа-выхода этого элемента 1 поступает на выход 21 или 22. Одновременно подаетс высокий потенциал на вход 26 управлени чтением, закрывающий транзисторы 10 и 11. Если низкий потенциал установитс на выходе 2Г, то будет открыт транзистор 9 и на выходе 22 будет высокий потенциал, закрывающий транзистор 8. Если же низкий потенциал установитс на выходе 22, то будет открыт транзистор 8 и на выходе 21 будет высокий потенциал, закрывающий транзистор 9. В обоих случа х на выходе элемента 17 по витс высокий потенциал, на выходе элемента 18 - низкий потенциал, а на выходе инвертора 19, т.е. на управл ющем выходе готовности 27 устройства, - высокий потенциал, что вл етс признаком завершени переходных процессов в этом режиме. In the mode of reading information from element 1, high potential is applied to address input 20, which opens transistors 2 and 3, and low potential from zero or single input-output of this element 1 arrives at output 21 or 22. At the same time, high potential is fed to input 26 of control that covers the transistors 10 and 11. If the low potential is set at the 2G output, then the transistor 9 will be open and the output 22 will be a high potential, closing the transistor 8. If the low potential is set at the output 22, then the transistor 8 will be opened and Exit 21 will be a high potential, closing transistor 9. In both cases, the output member 17 to Vits high potential at the output of element 18 - a low potential, and the output of the inverter 19, i.e., at the device control output 27, a high potential, which is a sign of the completion of transients in this mode.
В режиме записи информации в элемент 1 пам ти на вход 20, как и в предыдущем- случае, подаетс высокий потенциал, открывающий транзисторы 2 и 3, и низкий потенциал с нулевого или единичного входа-выхода этого элемента 1 пам ти поступает на выход 21 или 22. Одновременно подаетс вы- с.окий потенциал на вход 25 управлени записью устройства, закрывающий транзисторы 14 и 15. Далее, как и вIn the information recording mode, as in the previous case, a high potential is applied to the memory element 1, opening transistors 2 and 3, and a low potential from the zero or single input-output of this memory element 1 is output 21 or 22. At the same time, a high potential is applied to the device control input 25, covering the transistors 14 and 15. Further, as in
режиме чтени , один из пары транзисторов 8 и 9 открываетс , а другой остаетс закрытым и на выходе элемента 17 по вл етс высокий потенциал, открывающий транзисторы 6 и 7. Кроме того, на информационные входы 23 и 24 подаетс информаци , записываема в элемент 1 пам ти, т.е. на одном из этих входов устанавливаетс высокий потенциал. Если этот потенциал устанавливаетс на входе 23, то открываетс транзистор 6 и закрываетс транзистор 12,в результате чего на выходе 21 по вл етс низкий потенциал. Если же высокий потенциал устанавливаетс на входе 24, то открываетс транзистор 7 и закрываетс транзистор 13, в результате чего низкий потенциал по вл етс на выходе 22.read mode, one of the pair of transistors 8 and 9 opens, and the other remains closed, and a high potential appears at the output of element 17, opening transistors 6 and 7. In addition, information written to memory element 1 is supplied to information inputs 23 and 24 ti i A high potential is established at one of these inputs. If this potential is set at input 23, transistor 6 opens and transistor 12 closes, resulting in a low potential at output 21. If a high potential is established at the input 24, then the transistor 7 opens and the transistor 13 closes, with the result that a low potential appears at the output 22.
Если информаци , установленна на информационных входах 23 и 24 совпадает с ранее записанной в элементе 1 то изменени состо ни последнего не происходит и после того, как на выходе элемента I7 по витс высокий потенциал, на выходе элемента 18 по витс низкий потенциал, а на выходе инвертора 19, т.е. на управл ющем выходе 27 устройства, - высокий потенциал , что, как и в режиме чтени , вл етс признаком завершени переходных процессов.If the information set at information inputs 23 and 24 coincides with the previously recorded in element 1, then the state of the latter does not change even after a high potential appears at the output of element I7, a low potential appears at the output of element 18, and Inverter 19, i.e. at the control output 27 of the device, a high potential, which, as in the read mode, is a sign of the completion of transients.
Если же информаци , установленна на информационных входах 23 и 24 противоположна ранее записанной в элемент 1, то происходит переключение последнего. При этом несмотр на высокий потенциал на выходе элемента 17 переключение элемента 18 не произойдет до тех пор, пока в элементе 1 не установитс требуемое состо ние В этом случае сначала на обоих выходах 21 и 22 по в тс низкие потенциалы , затем в результате записи информации в элемент 1 на одном из выходо 21 или 22 восстановитс высокий потенциал . Только после этого на выход элемента 18 по витс низкий потенциал , а на выходе инвертора 19, т.е. на управл ющем выходе 27 устройства, высокий потенциал, что вл етс признаком завершени переходных процессов в режиме записи.If the information set on information inputs 23 and 24 is opposite to that previously recorded in item 1, then the latter is switched. In this case, despite the high potential at the output of the element 17, the switching of element 18 does not occur until the required state is established in element 1. In this case, at first, both potentials 21 and 22 show low potentials, then as a result of recording information element 1 at one of outputs 21 or 22 will recover a high potential. Only after this, the output potential of the element 18 is low potential and, at the output of the inverter 19, i.e. At the control output 27 of the device, high potential, which is a sign of the completion of transients in the recording mode.
Дл того, чтобы вернуть устройство в режим хранени , необходимо установить низкие потенциалы на адресном входе 20 и управл ющих входах 25 и 26, а также на информационных входахIn order to return the device to storage mode, it is necessary to set low potentials at address input 20 and control inputs 25 and 26, as well as at information inputs
00
5five
00
5five
00
5five
00
5five
00
5five
23 и 24. При этом закрываютс транзисторы 2-5 и открываютс транзистор ры 10, 11 и 14, 15, в результате чего на обоих выходах 21 и 22 восстанавливаютс высокие потенциалы, на выходе элемента 17 - низкий потенциал , затем на выходе элемента 18 - высокий потенциал и, наконец, на выходе инвертора 19, т.е. на управл ющем выходе 27 устройства, - низкий потенциал, что вл етс признаком завершени переходных процессов в режиме хранени .23 and 24. At the same time, transistors 2-5 are closed and transistors 10, 11 and 14, 15 are opened, as a result of which high potentials are restored at both outputs 21 and 22, low potential is output at element 17, then output 18 - high potential and, finally, at the output of the inverter 19, i.e. at the control output 27 of the device, a low potential, which is a sign of the completion of transients in the storage mode.
Б случае задержки закрывани транзисторов 2 и 3, например из-за запаздывани установки низкого потенциала на адресном входе 20, искажени информации в элементе 1 пам ти не происходит, так как выходы 21 и 22 подключены открытыми транзисторами 10, 11 и 14, 15 к шине питани через резисторы 16, что позвол ет сохранить низкий потенциал на соответствующем выходе 21 или 22 до тех пор, пока не закроютс транзисторы 2 и 3.In the case of delaying the closing of transistors 2 and 3, for example, due to the delay of the low potential setting at address input 20, there is no distortion of information in memory element 1, since the outputs 21 and 22 are connected by open transistors 10, 11 and 14, 15 to the bus power through resistors 16, which allows the potential to be kept low at the corresponding output 21 or 22 until transistors 2 and 3 are closed.
Признаком завершени переходных процессов в устройстве при смене режимов вл етс изменение потенциала на управл ющем выходе 27 готовности. Этот сигнал по вл етс по окончании реальных переходных процессов при любых величинах задержек транзисторов устройства. Таким образом, в устройстве индицируютс моменты окончани переходных процессов, что позвол ет организовать его работу по реальным задержкам, а следовательно, повысить его быстродействие.A sign of the completion of transients in the device when changing modes is a change in potential at the control output 27 of readiness. This signal appears at the end of the actual transients at any delay values of the device transistors. Thus, in the device, the end points of transients are displayed, which allows organizing its work according to real delays and, consequently, increasing its speed.
Из приведенного описани работы запоминающего устройства видно, что .в любом из режимов устойчивое состо ние характеризуетс тем, что в каждой из цепей устройства между его шиной питани и шиной нулевого потенциала включен хот бы один закрытый МДП-транзистор р- или п-типа, что обеспечивает в предлагаемом устройстве столь же низкое потребление энергии, что и в известном.From the above description of the memory operation, it can be seen that in any of the modes the steady state is characterized by the fact that in each of the circuits of the device between its power supply bus and the zero potential bus there is at least one closed MOSFET transistor that provides in the proposed device as low energy consumption as in the known.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874237506A SU1474738A1 (en) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | Memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874237506A SU1474738A1 (en) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | Memory |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1474738A1 true SU1474738A1 (en) | 1989-04-23 |
Family
ID=21301300
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874237506A SU1474738A1 (en) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | Memory |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1474738A1 (en) |
-
1987
- 1987-04-27 SU SU874237506A patent/SU1474738A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1336112, кл. G 11 С 11/34, 1986. Journal of Solid-State Circuits, IEEE, V. 17, Ns 5, p. 806, fig. 4. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4802122A (en) | Fast flush for a first-in first-out memory | |
US5604705A (en) | Static random access memory sense amplifier | |
US4397000A (en) | Output circuit | |
JPS5951072B2 (en) | semiconductor memory device | |
KR850008563A (en) | Semiconductor memory device | |
GB1122411A (en) | Data storage circuit | |
US4339809A (en) | Noise protection circuits | |
US3638039A (en) | Operation of field-effect transistor circuits having substantial distributed capacitance | |
US4551821A (en) | Data bus precharging circuits | |
JPS5755592A (en) | Memory device | |
IE42579B1 (en) | Memory circuit | |
KR880006698A (en) | I / O circuit of SeaMOS semiconductor memory device | |
SU1474738A1 (en) | Memory | |
US5742185A (en) | Data bus drive circuit for semiconductor memory device | |
EP0377840A3 (en) | Nonvolatile semiconductor memory device having reference potential generating circuit | |
US3936810A (en) | Sense line balancing circuit | |
SU1411823A2 (en) | Mos-transistor storage | |
SU1336112A1 (en) | Storage unit employing mos-transistors | |
KR900005442A (en) | Semiconductor memory | |
KR850008238A (en) | Semiconductor memory | |
SU1365129A1 (en) | Memory unit employing mos-transistors | |
SU1532977A1 (en) | Memory unit of "queue" type | |
KR960012725A (en) | Control circuit for output buffer circuit of semiconductor memory device | |
SU1238157A1 (en) | Semiconductor storage | |
JP2557835B2 (en) | First-stage control circuit for semiconductor memory device |