SU1418579A1 - Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1418579A1
SU1418579A1 SU853869025A SU3869025A SU1418579A1 SU 1418579 A1 SU1418579 A1 SU 1418579A1 SU 853869025 A SU853869025 A SU 853869025A SU 3869025 A SU3869025 A SU 3869025A SU 1418579 A1 SU1418579 A1 SU 1418579A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
emissivity
samples
determining
sample
test
Prior art date
Application number
SU853869025A
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Матвеевич Горбачев
Александр Петрович Бараненко
Евгений Иванович Фандеев
Виктор Петрович Данилов
Вячеслав Павлович Малов
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2015
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2015 filed Critical Предприятие П/Я В-2015
Priority to SU853869025A priority Critical patent/SU1418579A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1418579A1 publication Critical patent/SU1418579A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к исследованию материалов с помощью оптических средств. Цель изобретени  - повьшение точности определени  излу- чательной способности. Это достигаетс  путем двухкратного измерени  лучистых тепловых потоков от этйпон- ного и испытываемого образцов nps одинаковой эквивалентной температуре фона, в том числе один раз при обручении образцов импульсным .теплоЕьл потоком одной и той же длительности и мощности. В качестве эталоннсго образца используют модель абсолютно белого тела, а излучательную способность определ ют по формуле, приведенной в формуле изобретени , 2 с.гь ф-лы, 1 ил. .™«з Wa

Description

00 СП
со
Изобретение касаетс  исследований материалов с помощью оптических ме- 1тодов.
I Цель изобретени  - повышение точ- ;ности определе1И1,  излучательной спо- собности.
На чертеже схематично изображено устройство дл  определени  излучательной способности материалов. ; Устройство дл  определени  излуча- тельной способности материалов содержит импульсный инфракрасный излу- |чатель 1, установленный вне пол  |3рени , приемника 2 излучени , стаби- 5 эталонного образца без включени  из10
гатель 9 и по показани м термометра 18 добиваютс  воспроизведени  той же температуры в термостате 17, при которой быпа измерена температура
Тр,Выключают электродвигатель 9 так, чтобы магнит 13 остановилс  напротив второго геркона 12, при этом Б поле видени  ППП 14 устанавливаетс  эталонный образец 6. Аналогично тому, как производилось измерение температур Т р и Т р. испытываемого образца, измер ют температуры Т р (j,;
30
лизатор 3 напр жени , блок 4 включе- ни , таймер 5. Эталонный образец 6 закреплен на общем диске с испытывае- ;мым образцом 7, крыльчаткой 8 и ус- Iтановлен на валу электродвигател  9, 20 I Блок 10 управлени  электродвигателем I вместе с герконами 11 и 12 и посто- j нным магнитом 13 предназначен дл  включени  электродвигател  9 на непрерывную работу и дл  остановки его в одном из двух положений. Первичный -пирометрический преобразователь (ППП) 14 содержит оптическую систему 15 и защитную пластину 16. Все устройство, кроме ИПП, помещено в воздушный термостат 17, в котором установлен термометр 18.
Устройство работает следующим образом .
Включают термостат;. 17 в электродвигатель 9. Температура в различных 35 точках термостата 17 поддерживаетс  одинаковой за счет перемешивани  воздуха крыльчаткой В и посто нной за счет устройства терморегулировани  самой камеры. Этим достигаетс  равномерный прогрев испытываемого образца 7 и эталонного образца 6 до одинаковой температуры.
В установившемс  тепловом режиме с помощью блока 10 выключают электро 45 двигатель 9 так, чтобы магнит 13 остановилс  напротив одного из герко- нов, например геркона 11, при этом испытуемый образец 7 устанавливаетс  в поле видени  ППП 14. Произ- 0 вод т измерение радиационной температуры Тр испытываемого образца 7. Затем запускают таймер 5, который включает на определенное врем  инфракрасный излучатель 1. В это вре- S м  регистрируют наибольщее показание пирометра Т р.
После выключени  таймером 5 излучател  1 снова включают электродви40
лучател  и Т р (о) при включенном на строго определенное врем  инфракрасном Излучателе 1 . Полученные значени 
температур Тр РгСо)
1
Ра РЛо)
и
Подставл ют в уравнение
гг4 4
-(1-и . ,
т -т PjC Pilol
25 г Де
и излучательна  способность
эталонного образца,
и определ ют излучательную способность При определении излучательной способности по предлагаемому способу не требуетс  измер ть истинную температуру испытуемого и эталонного образцов, поддерживать эти температуры одинаковыми, а также не требуетс  измер ть интегральную температуру фона. Исключение этих операций за счет введени  операции облучени  каждого из образцов импульсным тепловым потоком одной и той же длительности и мощности позвол ет повысить точность определени  излучательной способности .

Claims (2)

1. Способ определени  излучательной способности материалов, заключающийс  в измерении и сравнении лучистого теплового потока, испускаемого испытьшаемым и эталонным образцами , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности оп- . ределени  излучательной способности, выполн ют по два измерени  на каждом из образцов при одинаковой эквивалентной температуре фона, при этом вторые измерени  выполн ют при дополнительном облучении каждого из об разцов импульсным тепловым потоком . одной и той же длительности и мощэталонного образца без включени  из
гатель 9 и по показани м термометра 18 добиваютс  воспроизведени  той же температуры в термостате 17, при которой быпа измерена температура
Тр,Выключают электродвигатель 9 так, чтобы магнит 13 остановилс  напротив второго геркона 12, при этом Б поле видени  ППП 14 устанавливаетс  эталонный образец 6. Аналогично тому, как производилось измерение температур Т р и Т р. испытываемого образца, измер ют температуры Т р (j,;
лучател  и Т р (о) при включенном на строго определенное врем  инфракрасном Излучателе 1 . Полученные значени 
Ра РЛо)
и
вл ют в уравнение
гг4 4
. ,
т -т PjC Pilol
г Де
и излучательна  способность
эталонного образца,
и определ ют излучательную способность При определении излучательной способности по предлагаемому способу не требуетс  измер ть истинную температуру испытуемого и эталонного образцов, поддерживать эти температуры одинаковыми, а также не требуетс  измер ть интегральную температуру фона. Исключение этих операций за счет введени  операции облучени  каждого из образцов импульсным тепловым потоком одной и той же длительности и мощности позвол ет повысить точность определени  излучательной способности .
Формула изобретени 
1. Способ определени  излучательной способности материалов, заключающийс  в измерении и сравнении лучистого теплового потока, испускаемого испытьшаемым и эталонным образцами , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности оп- . ределени  излучательной способности, выполн ют по два измерени  на каждом из образцов при одинаковой эквивалентной температуре фона, при этом вторые измерени  выполн ют при дополнительном облучении каждого из образцов импульсным тепловым потоком . - одной и той же длительности и
ности дл  каждого из образцов, причем в качестве эталонного образца ис пользуют модель абсолютно белого тела и излучательную способность определ ют по формуле
1-(1-,)
т г iPtliXi т -т
(1П Р,(01
де
о Pi fiW
fi PjO)
известна  излучате ьна  способность эталонного образца;
величины, пропорциональные лучистым тепловым потокам, испускаемым соот ветственно испытуемым и эталонным образцами при первом измерении; величины, пропорциональные лучистым тепловым потокам , испускаемым соответственно испытуемым и эталонным образцами при втором измерении.
10
579
2. Устройство дл  определени  излучательной способности материалов , содержащее зталонньй образец, приемник излучени  и механизм установки образцов перед объективом приемника излучени , отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерени , в него введен инфракрасньй импульсный излучатель, блок включени , таймер, стабилизатор напр жени , воздушньш термостат, причем механизм установки образцов перед объективом приемника излучени  и ин- J5 фракрасный импульсньпЧ излучатель размещены внутри воздушного термостата, инфракрасный импульсный излучатель расположен вне пол  обзора приемника излучени  и подключен к стабилизатору напр жени  через блок включени , который соединен с таймером, причем в качестве эталонного образца использован образец с излучательной способностью менее 0,5.
20
SU853869025A 1985-03-19 1985-03-19 Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени SU1418579A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853869025A SU1418579A1 (ru) 1985-03-19 1985-03-19 Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853869025A SU1418579A1 (ru) 1985-03-19 1985-03-19 Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1418579A1 true SU1418579A1 (ru) 1988-08-23

Family

ID=21167625

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853869025A SU1418579A1 (ru) 1985-03-19 1985-03-19 Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1418579A1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4969748A (en) * 1989-04-13 1990-11-13 Peak Systems, Inc. Apparatus and method for compensating for errors in temperature measurement of semiconductor wafers during rapid thermal processing
US4984902A (en) * 1989-04-13 1991-01-15 Peak Systems, Inc. Apparatus and method for compensating for errors in temperature measurement of semiconductor wafers during rapid thermal processing
US5114242A (en) * 1990-12-07 1992-05-19 Ag Processing Technologies, Inc. Bichannel radiation detection method

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Козьфев Б.П. и др. Определение спектральных коэффициентов диффузного отражени инфракрасной радиации от зачерненных поверхностей. - Оптика и спектроскопи , 1959, т. 6, с. 542. Новицкий Л.А. Методы и средства исследовани теплового излучени тел. - Теплофизика высоких температур, 1966, № 4, с. 580. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4969748A (en) * 1989-04-13 1990-11-13 Peak Systems, Inc. Apparatus and method for compensating for errors in temperature measurement of semiconductor wafers during rapid thermal processing
US4984902A (en) * 1989-04-13 1991-01-15 Peak Systems, Inc. Apparatus and method for compensating for errors in temperature measurement of semiconductor wafers during rapid thermal processing
US5114242A (en) * 1990-12-07 1992-05-19 Ag Processing Technologies, Inc. Bichannel radiation detection method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3616264A (en) Temperature-controlled discrete sample analyzer
WO1990006507A1 (en) Compact separation system with snap-in columns
SU1418579A1 (ru) Способ определени излучательной способности материалов и устройство дл его осуществлени
US3863049A (en) Temperature control apparatus for a centrifugal-type chemistry analyzer
DK386785A (da) Fremgangsmaade og maalesonde til konstatering af is- eller snedannelse
SU922670A1 (ru) Термомагнитометр
SU789690A1 (ru) Способ измерени лучистых потоков
SU819594A1 (ru) Терморадиометр дл измерени степеничЕРНОТы МАТЕРиАлОВ
WO1989003038A1 (en) A method for diagnosis using one or more cells, and apparatus intended therefor
SU1711052A1 (ru) Способ контрол теплофизических характеристик теплоизол ционных материалов
SU798513A1 (ru) Способ измерени количества тепла
SU1206627A1 (ru) Способ контрол температуры
SU1684644A1 (ru) Способ определени коэффициента теплопроводности твердых материалов и устройство дл его осуществлени
SU1002854A1 (ru) Дифференциальный калориметр
JPS6443748A (en) Heat resistance testing device for plastic
SU553481A1 (ru) Способ измерени температур газовых потоков
SU1026055A1 (ru) Устройство дл исследовани свойств строительных материалов
SU1357812A1 (ru) Устройство дл определени температуры кристаллизации жидких веществ
SU717637A1 (ru) Способ определени коэффициентов температуропроводности и теплопроводности образцов материалов
JPS63117442A (ja) 電子ビ−ム測定装置
SU970202A1 (ru) Устройство дл определени температуры точки росы
RU1222022C (ru) Способ измерени температуры поверхности конструкции при теплопрочностных испытани х
SU1332208A1 (ru) Способ дифференциального термического анализа
SU1493884A1 (ru) Устройство дл определени коэффициента теплоотдачи
SU785831A1 (ru) Солевой генератор влажного воздуха