SU1413441A2 - Astronomical two-channel photometer - Google Patents
Astronomical two-channel photometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU1413441A2 SU1413441A2 SU864092377A SU4092377A SU1413441A2 SU 1413441 A2 SU1413441 A2 SU 1413441A2 SU 864092377 A SU864092377 A SU 864092377A SU 4092377 A SU4092377 A SU 4092377A SU 1413441 A2 SU1413441 A2 SU 1413441A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- channel
- light
- astronomical
- measuring channel
- base
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к приборам, предназначенным дл квазиодновременного исследовани двух потоков излучени . С целью повышени точности фотометрировани за счет обеспечени возможности точного наведени второго измерительного канала на фотометриру- емый объект в астрономическом двух- канальном фотометре светоотражающий эллиптический элемент второго канала вл етс основанием элемента цилиндрической формы, установленного в све- тогерметичном корпусе, содержащем источник света. Второе основание элемента цилиндрической формы, обращенное к источнику света, и бокова цилиндрическа поверхность полированы, а по краю отражающей поверхности выполнена матова фаска. 2 ил. SThe invention relates to a measurement technique, namely to instruments for quasi-simultaneous investigation of two radiation fluxes. In order to improve photometric accuracy by allowing the second measuring channel to be accurately guided to the photometric object in an astronomical two-channel photometer, the retroreflective elliptical element of the second channel is the base of a cylindrical element installed in a light-sealed housing containing a light source. The second base of the cylindrical element facing the light source and the lateral cylindrical surface are polished, and a matte chamfer is made on the edge of the reflecting surface. 2 Il. S
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, а имение к приборам предназначенным дл квазиодновременного исследовани двух потоков излучени , и вл етс дополнительным к авт. св. № 1133485.The invention relates to a measuring technique, and to devices intended for quasi-simultaneous investigation of two radiation fluxes, and is in addition to the author. St. No. 1133485.
Целью изобретени вл етс повышение точности фотометрировани за сче обеспечени возможности точного наведени второго измерительного канала на фотсметрируемый объект.The aim of the invention is to improve the accuracy of photometry in order to ensure that the second measuring channel can be accurately pointed at the photometric object.
На фиг. 1 изображена оптическа схема астрономического двухканально- го фотометра; на фиг. 2 - светоотра- жающий элемент, разрез.FIG. 1 shows the optical scheme of an astronomical two-channel photometer; in fig. 2 - light reflecting element, section.
Устройство содержит установленное наклонно зеркало 1 с отверстием, центрированным относительно оптической оси первого измерительного канала, диафрагму 2, светоотражающий элемент 3, канал А-6 наблюдени , второй канал 3, 7, 8, 9, 6 наблюдени , зеркало 10 первого измерительного канала, зеркальный обтюратор 11, датчик 12 положени обтюратора, блок регистрации , содержащий блок светофильтров 13, линзу 14 пол и фотоприемник 15.The device contains an obliquely mounted mirror 1 with a hole centered relative to the optical axis of the first measuring channel, aperture 2, a light-reflecting element 3, an observation channel A-6, a second observation channel 3, 7, 8, 9, 6, a mirror 10 of the first measuring channel, specular the obturator 11, the sensor 12 of the position of the obturator, the registration unit containing the block of light filters 13, the floor lens 14 and the photodetector 15.
Светоотражающий элемент (фиг. 2) имеет отражающую эллиптическую поверхность 16, матовую фаску 17, полированное основание 18, обращенное к источнику 19 света. При этом цилиндрическое полированное основание 18 вместе с источником 19 света находитс в светонепроницаемом корпусе 20, а бокова поверхность 21 светоотражающего элемента выполнена полированной .The light reflecting element (FIG. 2) has a reflecting elliptical surface 16, a matte bevel 17, and a polished base 18 facing the source 19 of the light. In this case, the cylindrical polished base 18, together with the light source 19, is located in the opaque housing 20, and the side surface 21 of the reflective member is polished.
При наведении второго измерительного канала на второй измер емый объект включают источник 19 света, свет от которого проходит через по- , лированное основание 18, рассеиваетс на матовой фаске 17 по краю отражающей поверхности 16. При этом во втоWhen the second measuring channel is guided onto the second object to be measured, the source 19 of light, the light from which passes through the polystyrene base 18, is scattered on a matte facet 17 along the edge of the reflecting surface 16. At the same time,
00
00
5five
00
5five
00
5five
ром канале 3, 7, 8, 9-, 6 наблюдени видна свет ща с граница отражающей поверхности в виде окружности. После этого перемещают светонепроницаемый корпус 20 с элементом цилиндрической формы в направлении оптической оси второго измерительного канала и вращают фотометр относительно оси первого измерительного канала, чем достигают совмещени изображени второго измер емого объекта с центром светоотражающей поверхности 16, т.е. осуществл етс визуальное наведение центра светоотражающего элемента второго измерительного канала на второй измер емый объект.The observation channel 3, 7, 8, 9-, 6 is visible with a border with a reflecting surface in the form of a circle. After that, the light-tight housing 20 is moved with a cylindrical element in the direction of the optical axis of the second measuring channel and the photometer is rotated relative to the axis of the first measuring channel, thus achieving the image alignment of the second measured object with the center of the reflective surface 16, i.e. visual centering of the center of the light reflecting element of the second measuring channel to the second object being measured.
Использование изобретени позвол ет при подсмотре светоотражающего элемента эллиптической формы во втором канале наблюдени отчетливо видеть его край, что дает возможность повысить точность наведени второго измерительного канала на фотометри- руемый точечньй объект.The use of the invention makes it possible to clearly see its edge when viewing an elliptical-shaped reflective element in the second observation channel, which makes it possible to improve the accuracy of pointing the second measuring channel to the photometric point object.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864092377A SU1413441A2 (en) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | Astronomical two-channel photometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864092377A SU1413441A2 (en) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | Astronomical two-channel photometer |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1133485 Addition |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1413441A2 true SU1413441A2 (en) | 1988-07-30 |
Family
ID=21247054
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU864092377A SU1413441A2 (en) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | Astronomical two-channel photometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1413441A2 (en) |
-
1986
- 1986-07-11 SU SU864092377A patent/SU1413441A2/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 1133485, кл. G 01 J 1/04, 1983. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1035408A1 (en) | Apparatus for measuring characteristics of optical angle | |
| JPS61234837A (en) | Apparatus for measuring eye refraction | |
| US5103106A (en) | Reflective optical instrument for measuring surface reflectance | |
| KR880008043A (en) | Non-contact auto focus positioning method and device. | |
| JPH074967A (en) | Surveying apparatus | |
| US4907026A (en) | Light projection system for automatic focus detection | |
| SU1413441A2 (en) | Astronomical two-channel photometer | |
| US5710647A (en) | Target for laser leveling systems | |
| SU1300304A2 (en) | Astronomical two-channel photometer | |
| US5818633A (en) | Laser leveling target with fresnel lens system | |
| SU1511599A1 (en) | Diaphragm for photographic measuring of radiation from celestial bodies and sky background | |
| JPS57199909A (en) | Distance measuring device | |
| EP0859941B1 (en) | Target for laser leveling systems | |
| US3374046A (en) | Reading microscope with interpolation prism | |
| US5088203A (en) | Method and apparatus for eye glasses position measurement system and/or for vertex measurement system | |
| RU1825418C (en) | Photometer | |
| JPH0323559Y2 (en) | ||
| JPH0618410A (en) | Infrared micromeasuring device | |
| SU1133485A1 (en) | Astronomic two-channel photometer | |
| RU1805286C (en) | Device for measuring linear dimensions of parts | |
| JP2561141Y2 (en) | Diffuse reflection measurement device | |
| SU1182258A1 (en) | Device for measuring linear dimensions of objects | |
| RU2102702C1 (en) | Device for nondestructive measurement of width of dielectric and semiconductor films | |
| SU1446465A2 (en) | Device for monitoring surface roughness | |
| JPH10176927A (en) | Inclination sensor |