SU1388721A1 - Способ измерени фазового сдвига световых волн - Google Patents

Способ измерени фазового сдвига световых волн Download PDF

Info

Publication number
SU1388721A1
SU1388721A1 SU864083460A SU4083460A SU1388721A1 SU 1388721 A1 SU1388721 A1 SU 1388721A1 SU 864083460 A SU864083460 A SU 864083460A SU 4083460 A SU4083460 A SU 4083460A SU 1388721 A1 SU1388721 A1 SU 1388721A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
frequency
measuring
light waves
periodic structure
light fluxes
Prior art date
Application number
SU864083460A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Ильич Телешевский
Сергей Александрович Игнатов
Сергей Викторович Капезин
Original Assignee
Московский станкоинструментальный институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский станкоинструментальный институт filed Critical Московский станкоинструментальный институт
Priority to SU864083460A priority Critical patent/SU1388721A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1388721A1 publication Critical patent/SU1388721A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике. Цель изобретени  повышение точности и разрешающей способности измерений. Сущность способа заключаетс  в том, что электрический измерительный сигнал с выхода фотопреобразовател  направл ют на питание излучател  светомодул тора, создава  положительную обратную св зь в акус- тооптическом тракте обработки измерительной информации, котора  преобразует фазовый сдвиг световых волн на входе в частотный сдвиг выходного электрического измерительного сигнала , по величине которого суд т о фазовом сдвиге световых волн. 1 ил.

Description

&0
эо
X)
113
Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к лазерной интерферометрии, и может быть использовано дл  измерений перемещений объектов.
Цель изобретени  - повышение точности и разрешающей способности измерений путем измерени  в качестве информативного параметра, частоты пери- одической структуры.
На чертеже изображена функциональна  схема устройства, реализующего способ.
Устройство, реализующее способ, содержит оптически св занные лазер 1 интерферометр Майкельсона, включающий светоделитель 2, измерительный 3 и опорный 4 уголковые отражатели, двойной оптический клапан 5, распо- ложенный в опорном канале интерферометра , модул тор 6 (например, акусто-оптическую  чейку), щелевую диафрагму 7 и фотопреобразователь 8, излучатель 9 ультразвуковой волны, последовательно соединенные резонансный усилитель 10 и коммутатор 11, генератор 12 гармонических колебаний.
Выход генератора 12 гармонических колебаний подключен ко второму входу коммутатора 11. Выход фотопреобразовател  8 подключен ко входу резонансного усилител  10.
Способ осуществл ют следующим образом .
Излучение лазера 1, направл емое на светоделитель 2 интерферометра Майкельсона, делитс  на два световых пучка соответственно измерительного и опорного каналов. Отраженные от измерительного 3 и опорного 4 уголковых- отражателей световые волны EJ, и Ед„ пространственно совмещаютс  на светоделителе 2 под углом об , задаваемым двойным оптическим клином 5 опорной световой волне и направл ютс на модул тор 6, в котором излучателем 9 создана ультразвукова  волна. В результате дифракции световых волн на ультразвуковой волне, щелевой диафрагмой 7 отфильтровывают на фотопреобразователь 8 пространственно совмещенные пор дки дифракционного спектра: нулевой пор док дифракции измерительной световой волны Е„(д и любой из первых пор дков дифракции опорной световой волны ЕОП(О ческое гетеродинирование на плоскости фотоприема двух разночастотных из
Я Е
лучений приводит к по влению на выходе фотопреобразовател  8 электрического измерительного сигнала U..,,
В 01 А
на частоте, равной разности взаимодействующих оптических частот, который поступает на резонансный усилитель 10 и далее на выход измерительного преобразовател , а также по каналу положительной обратной св зи через коммутатор 11 на возбуждение излучател  9. Генератор 12 гармонических колебаний на частоте f и
д
коммутатор 11 служат дл  организации канала положительной обратной св зи. Световые волны Е, и Е о„ на выходе из периодической движущейс  структуры , отфильтрованные на плоскость фотоприема , описываютс  формулами
f . -i 2 ir(;). x.v. Е„1„(а)е ; (1)
Е
on(0
Е
()-i.ta.Ub.2)
Я Е
и(о)
и Е
on (О
o(q)
И I
1(0.)
.
соответственно нулевой пор док дифракции измери- тельной и первый пор док дифракции опорной световых волн;
функции Бессел  первого рода нулевого и первого пор дков ;
частота световых волн;
частота периодической структуры; фаза измерительной и опорной световых волн;
амплитуда фазовой модул ции света на периодической структуре.
fu ч Ч-с
а
В результате оптического гетеро- динировани , описываемого формулами (1) и (2), на выходе фотопреобразовател  8 возникает электрический измерительный сигнал на частоте, равной разности частот взаимодействующих оптических компонент:
и.
BblV
и. sin2 ir(
+ Cf,), (3)
где Ug - амплитудное значение напр жени  выходного сигнала;
Cf - фаза электрического сигнала равна  разности фаз оптических компонент.
Электрический сигнал, определ емый формулой (3), по каналу положительной обратной св зи поступает на возбуждение излучател  9 и образует замкнутый контур преобразовани  измерительной информации в виде накопител  (сумма- тора) доплеровского сдвига частоты. При этом нулевой пор док дифракции измерительной световой волны  вл  сь независимым от частоты периодической структуры, служит кана- лом ввода информации в измерительную систему, а частотнозависимьй первый пор док дифракции опорной световой волны Е. . выполн ет роль оптического гетеродина при фотосмешении све- товых излучений.
Наличие канала положительной обратной св зи с выхода фотопреобразовател  8 на возбуждение излучател  9 при изменении выходного электричес- кого сигнала, определ емого по формуле (3), приводит к изменению частоты периодической движущейс  структуры, котора , облада  конечной скоростью V pраспространени , достигает коор- динаты Y взаимодействи  со световыми волнами Е и Е через врем  Л С . Наличие канала положительной обратной св зи в структуре измерительной системы дает возможность автоматического управлени  частотой оптического гетеродина Egj,, посредством управлени  частотой периодической структуры и тем самьп осуществл ет операцию суммировани , возникающего в световой измерительной волне доплеровского сдвига частоты с дискретностью времени задержки, равной дсГ , характеризующей процесс распространени  периодической структуры от излучател  до координаты Уд взаимодействи  со световыми волнами.
Таким образом, электрический измерительный сигнал в конце измерени 
описываетс  выражением
-tu
75
UpSin2 Tr
fco- И
x(t-mi E-) t+cp, UoSin2 Trr f + + f CuCfjJt +(f,},
где n- число дискрет, сумвани ;
с 5 0
5 О 0
35
0
5
t - врем  измерени , равное времени воздействи  доплеровского сдвига частоты;
Af(t) - доплеровский сдвиг частоты измерительной световой волны.
Суммарный частотный сдвиг f. (лд..) п .
(t - mu c) в выражении (4)  вhl O
л етс  дискретным аналогом интеграла и характеризует линейность переноса информации из фазового в частотный спектр электрического измерительного сигнала, причем врем  лС задержки определ ет масштабность преобразовани  фазового сдвига световых волн в пропорциональное изменение частоты выходного сигнала и может регулироватьс  изменением координаты взаимодействи  периодической структуры со световыми волнами, функци  изменени  частоты апроксимирует функцию изменени  фазыь(с), перенос  численное значение фазового сдвига световых волн в частотный спектр выходного электрического измерительного сигнала.
Таким образом, предлагаемый способ измерени  фазового сдвига световых волн, основанный на организации положительной обратной св зи по фазе с выхода фотопреобразовател  на вход излучател  (в отличие от известных) преобразует измер емый фазовый сдвиг световых волн в пропорциональное изменение частоты электрического сигнала и обеспечивает повьшение точности и разрешающей способности интерференционных измерений за счет повьппе- ни  точности измерени  информативного параметра - частоты, применение в качестве цифровых отсчетных устройств стандартных электронных приборов, например частотомеров, серийно выпускаемых отечественной промьшленностью, что устран ет расходы на разработку и производство специальных блоков индикации , а следовательно дает экономию в народном хоз йстве, а также оптимизирует процесс дальнейшей обработки измерительной информации с применением микропроцессорной техники .

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ измерени  фазового сдвига световых волн, заключающийс  в том, что формируют движущуюс  с посто н5138872
    ной скоростью периодическую структуру , направл ют на нее монохроматические когерентные световые потоки опорного и измерительного каналов интерферометра так, что они пересекаютс  в плоскости периодической структуры под углом, обеспечивающим пространственное совмещение пор дков дифракции световых потоков опорного и измери- о тельного каналов интерферометра, разность оптических частот которых равна частоте периодической структуры, регистрируют результат интерференции двух дифрагированных световых пото-
    ков опорного и измерительного каналов интерферометра, преобразуют его в электрический сигнал, определ ют разность фаз интерферирующих световых потоков, отличающийс  тем, что, с целью повышени  -точности и разрешающей способности измерений, измен ют частоту возбуждени  движущейс  периодической структуры путем воздействи  на ее формирование выходным электрическим сигналом, а разность фаз интерферирующих световых потоков определ ют по изменению частоты выходного электрического сигнала.
    Л1
    ,
SU864083460A 1986-05-11 1986-05-11 Способ измерени фазового сдвига световых волн SU1388721A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864083460A SU1388721A1 (ru) 1986-05-11 1986-05-11 Способ измерени фазового сдвига световых волн

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864083460A SU1388721A1 (ru) 1986-05-11 1986-05-11 Способ измерени фазового сдвига световых волн

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1388721A1 true SU1388721A1 (ru) 1988-04-15

Family

ID=21243628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864083460A SU1388721A1 (ru) 1986-05-11 1986-05-11 Способ измерени фазового сдвига световых волн

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1388721A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 572646, кл. G 01 В 11/30, 1975. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0640846B1 (en) Optical measuring apparatus
KR900002117B1 (ko) 레이저 광선을 이용한 거리측정방법과 장치
US4759628A (en) Wavelength scanning interferometry and interferometer employing laser diode
CN112083401B (zh) 一种调频连续波激光雷达非线性校正装置及方法
SU1388721A1 (ru) Способ измерени фазового сдвига световых волн
JPH06186337A (ja) レーザ測距装置
CN208671919U (zh) 一种光纤位移传感探头及光纤位移传感系统
SU1245884A1 (ru) Устройство дл измерени геометрических параметров
JP2929387B2 (ja) 光波距離計
JPH0749922B2 (ja) 光計測装置
SU1179103A1 (ru) Интерферометр дл измерени рассто ний
SU1142731A1 (ru) Измерительна система с трехзеркальным лазер-интерферометром
JPS5866881A (ja) 光波測量機
CN108709506A (zh) 一种光纤位移传感探头及光纤位移传感系统
JP2655647B2 (ja) 光集積回路型干渉計
SU1404812A1 (ru) Способ измерени отрезков рассто ний
RU2097710C1 (ru) Способ исследования колебаний
SU890068A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды периодической разности хода лучей винтерферометрах
SU896392A1 (ru) Система регистрации перемещений в оптико-электронных измерительных устройствах с интерференционной модул цией
JP2568561B2 (ja) 光干渉計
SU834396A1 (ru) Светодальномер
SU1413422A1 (ru) Акустооптическое устройство дл измерени перемещений
SU938660A1 (ru) Устройство дл дистанционного измерени рассто ний
Urakseev et al. Microcontroller Information-Measuring Systems of Control of Movements with Acoustooptical Transducers in Bragg Mode
RU2086917C1 (ru) Устройство для измерения отклонений от прямолинейности