SU1379617A1 - Способ контрол чистоты поверхности - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  бесконтактного контрол  чистоты радиусных поверхностей. преимущественно тонких проволок, i диаметр которых составл ет доли миллиметра . Цель изобретени  - обеспечение контрол  радиусных поверхностей . Направл ют луч лазера 1 под углом на исследуемую поверхность проволоки 3. На экране 2 получают кольцеобразную дифракционную картину отражени , выдел ют из нее кольцеобразную диффузную зону и по ее ширине суд т о чистоте поверхности. Из-за цилиндричности исследуемой поверхности получаема  дифракционна  картина отражени  имеет значительную величину, что позвол ет путем непосредственного визуального набЛ1сщени  за шириной диффузной зоны судить о чистоте исследуемой поверхности. 1 ил. W

Description

со

со

Од

1

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  бесконтактного контрол  чистоты радиусных noBepxHocTeii, преимущественно тонких проволок, диаметр которых составл ет доли миллиметра .

Цель изобретени  - обеспечение контрол  радиусных поверхностей.

На чертеже изображена принципиальна  схема устройства дл  реализации способа контрол  чистоты поверхности .

Устройство содержит лазер 1 и экран 2.

Способ осуществл етс  следующим образом.

Направл ют наклонно луч лазера 1 на исследуемую поверхность проволоки 3. Экран 2 устанавливают так, что на нем образуетс  кольцеобразна  дифракционна  картина отражени . Дифракционна  картина отражени  имее центральный дифракционный максимум, образующийс  из-за зеркального отражени  и не несущий информацию о чистоте поверхности, и диффузную зону, симметричную относительно центрального дифракционного максимума, ширина которой пропорциональна загр зненности поверхности проволоки 3. Выделение кольцеобразной диффузной зоны осуществл етс  визуально, поскольку при отражении от цилиндрической поверхности величина картины отражени  пропорциональна рассто нию от места освещени  поверхности до экрана 2 и может составл ть от нескольких сантиметров до нескольких дес тков сантиметров , или при помощи линзы с

0

0

96

25

30

ЗЬ

40

172

непрозрачньм экраном на ее части (не показаны).Количественное определение чистоты поверхности осуществл ют путем преобразовани  интенсивности освещенности диффузной зоны в электрический сигнал и сравнени  его величины с эталонной или при помощи любого известного метода преобразовани  оптического вида в электрический сигнал.

Определение чистоты радиусных поверхностей по ширине диффузной зоны кольцеобразной дифракционной картины отражени  позвол ет просто (визуально) определ ть чистоту поверхности . Кольцеобразна  форма получаемой картины отражени  обусловлена радиусной формой проволоки 3, котора  при освещении про вл ет свойство цилиндрической линзы. Способ целесообразно примен ть дл  исследовани  чистоты поверхности тонких проволок диаметром 20-100 мкм.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ контрол  чистоты поверхности , заключающийс  в том, что направл ют наклонно луч лазера на исследуемую поверхность и наблюдают дифракционную картину отражени , по которой суд т о чистоте поверхности, отличающийс  тем, что, с целью обеспечени  контрол  радиусных поверхностей, например проволоки , при наблюдении кольцеобразной дифракционной картины отражени  выдел ют из нее кольцеобразную диффузную зону, а о чистоте поверхности суд т по ширине этой зоны.