SU1377787A1 - Device for measuring hall electromotive force in space-charge region - Google Patents
Device for measuring hall electromotive force in space-charge region Download PDFInfo
- Publication number
- SU1377787A1 SU1377787A1 SU853957289A SU3957289A SU1377787A1 SU 1377787 A1 SU1377787 A1 SU 1377787A1 SU 853957289 A SU853957289 A SU 853957289A SU 3957289 A SU3957289 A SU 3957289A SU 1377787 A1 SU1377787 A1 SU 1377787A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- potential
- hall
- charge region
- current
- reliability
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к магнитным измерени м и позвол ет повысить надежность и достоверность измерений. Холловские, потенциальные и токовые электроды (Э) 3, 2 и 4 расположены на изол ционной пластине 1. Потенциальный Э 7 расположен над полупроводниковой пластиной (П) 6. На токовые Э 4 подаетс переменное напр жение, которое наводит в П 6 высокочастотный ток, протекающий в плоскости П 6. Одновременно создают электростатическое поле, перпендикул рное плоскости П 6, путем подачи разности потенциалов между потенциальными Э 2 и 7, установленными с возможностью вертикального перемещени относительно друг друга а также посто нное магнитное поле. При этом зар ды, протекающие в области пространственного зар да, под действием переменного электрического пол отклон ютс к хол- ловским Э 3, где устанавливаетс переменна ЭДС Холла. 2 ил. S (ПThe invention relates to magnetic measurements and makes it possible to increase the reliability and reliability of measurements. Hall, potential and current electrodes (E) 3, 2 and 4 are located on an insulating plate 1. Potential E 7 is located above the semiconductor plate (P) 6. On the current E 4 an alternating voltage is applied, which induces in P 6 a high-frequency current, flowing in the P 6 plane. At the same time, an electrostatic field is created, perpendicular to the P 6 plane, by applying a potential difference between potential E 2 and 7, installed with the possibility of vertical movement relative to each other as well as a constant magnetic field. In this case, the charges flowing in the spatial charge region, under the action of an alternating electric field, are deflected to the Hall 3, where the Hall voltage is set. 2 Il. S (P
Description
J 25J 25
/ / / / / /
а -у - Щ , iand - y - i
III 11К/ХУ1/ /Y/j/ЛIIII 11К / ХУ1 / / Y / j / ЛI
X XX x
/ / f // f
(pt/г. /(pt / g. /
Изобретение относитс к магнитным измерени м и предназначено дл измерени ЭДС Холла в области пространственного зар да полупроводников на стадии промежуточного контрол в процессе изготовлени приборов и интегральных схем.The invention relates to magnetic measurements and is intended to measure the Hall voltage in the spatial charge region of semiconductors at the intermediate control stage during the manufacture of devices and integrated circuits.
Цель изобретени - повьшение надежности и достоверности измерений за счет возможности использовани одного и того же устройства дл измерени серии образцов без нарушени целостности их и за счет использовани бесконтактного метода измерений. На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, вид сбоку; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1.The purpose of the invention is to increase the reliability and validity of measurements due to the possibility of using the same device for measuring a series of samples without disturbing their integrity and by using a non-contact measurement method. FIG. 1 shows the proposed device, side view; in fig. 2 shows section A-A in FIG. one.
Устройство содержит изол ционную пластину 1, первый потенциальный электрод (резистивный) 2, холловские 3 и токовые 4 электроды, держатели 5, размещенные на пластине 1, образец 6 и второй потенциальный электрод 7, наход щийс в контакте с образцом.The device contains an insulating plate 1, a first potential electrode (resistive) 2, Hall 3 and current 4 electrodes, holders 5 placed on plate 1, sample 6 and the second potential electrode 7 in contact with the sample.
Образец 6 укрепл ют на держател х 5 исследуемой поверхностью к потенци альному электроду 2. При этом электрды 2 и 7 расположены друг под другом и укреплены на штативе (не показан) с возможностью вертикального перемещени относительно друг друга. Металлизированный электрод 8 опускают до соприкосновени с образцом и обеспечени электрического контакта с ним. На токовые электроды 4 подаетс переменное напр жение, которое из-за емкостной св зи наводит в образце 6Sample 6 is mounted on holders 5 with the test surface to potential electrode 2. In this case, electrodes 2 and 7 are located one under the other and are mounted on a tripod (not shown) with the possibility of vertical movement relative to each other. The metallized electrode 8 is lowered until it touches the sample and makes electrical contact with it. An alternating voltage is applied to the current electrodes 4, which, due to capacitive coupling, induces in sample 6
высокочастотный ток, протекающий в плоскости образца. Одновременно с переменным напр жением создают электростатическое поле, перпендикул рное плоскости образца при подаче разности потенциалов между потенциальными электродами 2 и 7, а также посто нное магнитное поле. При этом зар ды, протекающие в области пространственного зар да, под действием переменного электрического пол отклон ютс к холловским электродам 3, где устанавливаетс измер ема ЭДС Холла.high frequency current flowing in the plane of the sample. Simultaneously with the alternating voltage, they create an electrostatic field perpendicular to the sample plane when applying a potential difference between potential electrodes 2 and 7, as well as a constant magnetic field. In this case, the charges flowing in the spatial charge region, under the action of an alternating electric field, are deflected to the Hall electrodes 3, where the measured Hall voltage is established.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853957289A SU1377787A1 (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Device for measuring hall electromotive force in space-charge region |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853957289A SU1377787A1 (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Device for measuring hall electromotive force in space-charge region |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1377787A1 true SU1377787A1 (en) | 1988-02-28 |
Family
ID=21198711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853957289A SU1377787A1 (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Device for measuring hall electromotive force in space-charge region |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1377787A1 (en) |
-
1985
- 1985-07-09 SU SU853957289A patent/SU1377787A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Жарких Ю.С. и др. Иакроэлектро- ника, т. 12, вып. 4, 1983, с. 375. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5773989A (en) | Measurement of the mobile ion concentration in the oxide layer of a semiconductor wafer | |
DE60029483D1 (en) | NON-INVASIVE ELECTRIC MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR DISCS | |
JPS5979545A (en) | Electrostatic chucking device | |
US5591996A (en) | Recirculating charge transfer magnetic field sensor | |
JPS6482541A (en) | Method and device for measuring semiconductor surface | |
US7741850B2 (en) | Electric potential measuring apparatus, and image forming apparatus | |
DE3787041D1 (en) | METHOD FOR DETECTING AND / OR IDENTIFYING A BIOLOGICAL SUBSTANCE BY ELECTRICAL MEASUREMENTS AND DEVICE FOR CARRYING OUT THIS METHOD. | |
EP0980004B1 (en) | Microscopic capacitance measurement system and probing system | |
SU1377787A1 (en) | Device for measuring hall electromotive force in space-charge region | |
JP2965176B2 (en) | Method for evaluating transient characteristics of electrostatic chuck | |
US6496013B1 (en) | Device for testing circuit boards | |
EP0325453B1 (en) | Noninvasive method for characterization of semiconductors | |
JPH067562B2 (en) | Structure of mounting table for prober | |
US4774472A (en) | Apparatus for method to test efficiency of air ionizers and method for determining ability of an air ionizer to sustain a potential difference between an isolated object and a reference potential | |
JPS5871423A (en) | Circuit device for measuring temperature | |
JP2518301B2 (en) | Interval measuring device | |
JP2004063486A (en) | Chuck mechanism for prober | |
US4213086A (en) | Selector device for the determination of the type of electroconductivity in semiconductor wafers | |
SU1224858A1 (en) | Sounding head | |
JPS62138764A (en) | Electrostatic probe | |
JPH01315153A (en) | Wafer-mounting member of prober | |
US4307337A (en) | Method and apparatus for capacitively measuring variations in the nominal distance between a color selection electrode and a display window of a television display tube | |
SU1003394A1 (en) | Device for measuring potential difference | |
JPH04115545A (en) | Probe card | |
SU1341593A1 (en) | Device for measuring potential of charged layers |