SU1317319A1 - Способ измерени твердости материалов - Google Patents
Способ измерени твердости материалов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1317319A1 SU1317319A1 SU853880596A SU3880596A SU1317319A1 SU 1317319 A1 SU1317319 A1 SU 1317319A1 SU 853880596 A SU853880596 A SU 853880596A SU 3880596 A SU3880596 A SU 3880596A SU 1317319 A1 SU1317319 A1 SU 1317319A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- indenter
- hardness
- area
- electromagnetic radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к испыта- ци м материалов, а именно к измерению твердости. Целью изобретени вл етс повьшение точности за счет определени площади отпечатков под нагрузкой. Поставленна цель достигаетс тем, что в способе измерени твердости помещают индентор 4 и образец 1 в защитную среду 2, вдавливают индентор 4 в образец и пропускают через них г-лектромагнитное излучение, дл которого индентор 4 11 образец 1 прозрачны , а защитна среда - непрозрачна. По измеренной интенсивности излучени , прошедшего через отпечаток, суд т о его площади и о твердости материала . 1 ил. (Л
Description
113
Изобретение относитс к испытани м материалов, а именно к измерению твердости.
Цель изобретени - повышение точности измерений твердости за счет определени площади отпечатков под нагрузкой.
На чертеже приведена схема устрой- -ства, реализующего способ.
Образец 1 покрыт защитной средой 2 и установлен на приемник 3 электромагнитного излучени . Через индентор 4 подводитс электромагнитное излучение от источника 5 (не показан). Образец 1 и индентор 4 прозрачны дл электромагнитного излучени , а слой 2 - непрозрачен.
Способ реализуетс следующим образом .
ВдавливаЪт под нагрузкой индентор 4 в образец 1, при этом защитна среда 2 выдавливаетс из образующегос на поверхности образца 1 отпеча,тка и он начинает служить диафрагмой дл электромагнитного излучени , которое проходит через инденСоставитель С.Барабанов Редактор В.Ковтун Техред А.Кравчук Корректор С.Шекмар
- «-, - ---------- ---« -------- - - -- - - - - - - - - --- - - - - ----Заказ 2415/38 Тираж 776Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска иаб-., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предпри тие, г.Ужгород, ул.Проектна , 4
73192
тор 4, отпечаток и образец 1 на приемник 3. Последний измер ет интенсивность электромагнитного излучени , завис щую от площади отпечатка. 5 Данные с приемника 3 обрабатываютс и по ним определ етс твердость образца. После этого нагрузку с ин- дентора снимают.
10
t5
20
25
Claims (1)
- Формула изобретени .Способ измерени твердости материалов , заключающийс в том, что вдавливают индентор в испытуемый образец и определ ют площадь отпечатка, по которой суд т о твердости, отличающийс тем, что, с целью повышени точности, помещают индентор и образец в защитную среду, после вдавливани индентора пропускают через него и образец электромагнитное излучение, дл которого они вл ютс прозрачными, а защитна среда - непрозрачной , и измер ют интенсивность прошедшего излучени , по которой суд т о площади отпечатка.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853880596A SU1317319A1 (ru) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | Способ измерени твердости материалов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853880596A SU1317319A1 (ru) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | Способ измерени твердости материалов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1317319A1 true SU1317319A1 (ru) | 1987-06-15 |
Family
ID=21171809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853880596A SU1317319A1 (ru) | 1985-04-08 | 1985-04-08 | Способ измерени твердости материалов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1317319A1 (ru) |
-
1985
- 1985-04-08 SU SU853880596A patent/SU1317319A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Хрущев М.М. и Беркович Е .С. Приборы IIMT-2 и ПМТ-З дл испытани на микротвердость. М.: Извести , АН СССР, 1950, № 11. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR950011404B1 (en) | Apparatus and method for sensing fluid components | |
DE3377591D1 (en) | Method and device for measuring reflection | |
ATE65605T1 (de) | Anordnung zur optischen messung von stoffkonzentrationen. | |
EP0414223A3 (en) | Method for measuring an immunologically active material and apparatus suitable for practising said method | |
CA1129670A (en) | Fluorescent standard for scanning devices | |
ES528006A0 (es) | Aparato y metodo para determinar la consistencia de parte papelera | |
US4689558A (en) | Non-destructive method of measuring the fatigue limit of ferromagnetic materials by use of the mechanical Barkhauser phenomenon | |
SU1317319A1 (ru) | Способ измерени твердости материалов | |
SE7700667L (sv) | Forfarande och anordning for bestemning av totalproteinhalten eller av enskilda aminosyror | |
PT88049A (pt) | Method and apparatus for determining the propensity of a paper or board to dust | |
JPS5752806A (en) | Method and device for measuring film thickness | |
EP0185285A3 (en) | Liquid level measurement apparatus | |
US3445670A (en) | Photoelectric method for testing the life and quality of inked ribbons | |
JPH0535376B2 (ru) | ||
WO1983001836A1 (en) | Method for measuring fatigue strength of ferromagnetic materials non-destructively | |
SU1185227A1 (ru) | Настроечный образец дл ультразвукового контрол | |
ATE46764T1 (de) | Oberflaechenprofilmessung. | |
IT1248992B (it) | Cella optoacustica per la misura di concentrazioni di specie chimiche in fluidi in genere | |
JPS55146040A (en) | Measuring method of concentration | |
FI60934C (fi) | Saett att definiera utmattningshaollfasthet hos ferromagnetiskt material utan att bryta materialet | |
JPS5387783A (en) | Minute temperature detecting system | |
SE7910034L (sv) | Sett att prova materialhardhet och provkropp for utforande av settet | |
SU463038A1 (ru) | Индентер твердомера | |
JPS5717873A (en) | Inspection method of semiconductor element | |
JPS55159143A (en) | Metal surface flaw detector |