SU1310929A1 - Test prod for voltammetric instrument - Google Patents
Test prod for voltammetric instrument Download PDFInfo
- Publication number
- SU1310929A1 SU1310929A1 SU843803582A SU3803582A SU1310929A1 SU 1310929 A1 SU1310929 A1 SU 1310929A1 SU 843803582 A SU843803582 A SU 843803582A SU 3803582 A SU3803582 A SU 3803582A SU 1310929 A1 SU1310929 A1 SU 1310929A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- pins
- housing
- parts
- measurement
- probe
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к электротехнике и предназначено дл подключени контролируемого объекта к схеме измерительного прибора. Цель изобретени - повьшение надежности работы, точности измерени путем сохранени посто нства зазора между штыр ми по всей их длине в процессе измерени . Щуп содержит корпус 1 с размещенными в нем двум штьф ми 3. Каждый штьгрь состоит из трех частей - средней, выполненной изогнутой и установленной с возможностью взаимодействи ее концевых участков с внутренней торцовой поверхностью полости корпуса, хвостовой 5, жестко установленной в корпусе, и контактной 4. Средние частк установлены эквидистантно относительно друг друга в S (Л io со N:) хThis invention relates to electrical engineering and is intended to connect a test object to a measuring device circuit. The purpose of the invention is to increase the reliability of operation, the accuracy of measurement by maintaining the same gap between the pins along their entire length during the measurement process. The probe includes a housing 1 with two pins 3 placed in it. Each pin consists of three parts - an average, made curved and installed with the possibility of interaction of its end sections with the internal end surface of the housing cavity, tail 5, rigidly installed in the case, and contact 4 The middle parts are set equidistant relative to each other in S (L io with N :) x
Description
параллельных плоскост х и изогнуты зигзагообразно. Жесткое закрепление в корпусе хвостовой части 5 исключает возможность усталостного разрыва соединительных проводов. Щуп своИзобретение относитс к области измерительной технике, в частности к вспом.огательным устройствам электроизмерительных приборов, и предназначено дл подключени конт- ролируемого объекта или его участка к схеме электроизмерительного прибора, использующего вольт-амперный способ измерений.parallel planes and curved zigzag. Rigid fastening in the body of the tail section 5 eliminates the possibility of fatigue rupture of the connecting wires. The probe of the invention relates to the field of measurement technology, in particular, to ancillary devices of electrical measuring instruments, and is intended to connect a controlled object or its section to the circuit of an electrical measuring instrument using a current-voltage measuring method.
Цель изобретени - повьщ1ение надежности работы и точности измерени путем сохранени посто нства зазора между штыр ми по всей ихThe purpose of the invention is to increase the reliability of operation and the accuracy of measurement by maintaining a constant gap between the pins throughout their
длине в процессе измерени .length in the measurement process.
На чертеже представлена конструкци щупа.The drawing shows the design of the probe.
Щуп содержит изол ционньш корпус с торцовым выступом 2 и выполнен- ные из упругого металла, например стальной пружинной проволоки, два идентичных штыр 3, каждый из которых состоит из трех частей - контактной заостренной части 4, средней выполненной с возможностью взаимо- действи ее концевых участков с внутренней торцовой поверхностью и изогнутой , и хвостовой части 5. Средн часть каждого штыр представл ет собой элемент 6, изогнутый зигзаго- образно, размещенный в полости 7 между ее торцовыми поверхност ми 8 и 9 с предварительным нат гом, обеспечивающим неподвижность штыр в нерабочем положении, Хвостова часть 5 каждого штыр неразъемно, например с помощью пайки, соединена соответственно с токовым и потенциальным входными проводами 10 измерительной схемы прибора. Элементы 6 установле- ны эквидистантно один относительно другого в параллельньЕх плоскост х.The probe contains an insulating body with an end protrusion 2 and made of elastic metal, for example steel spring wire, two identical pin 3, each of which consists of three parts - a pointed pointed part 4, an average made with the possibility of interaction of its end sections with an inner end surface and a bent, and a tail part 5. The middle part of each pin is an element 6, bent in a zigzag manner, placed in the cavity 7 between its end surfaces 8 and 9 with a preliminary tension , ensuring the immobility of the pin in the off position, the tail part 5 of each pin is inseparable, for example by soldering, connected respectively to the current and potential input wires 10 of the measuring circuit of the device. Elements 6 are set equidistantly relative to each other in parallel planes.
В процессе работы к корпусу 1 щупа прикладывают усилие,направленное вдоль его продольной оси. Это усилие через верхнюю торцовую подит к минимуму ошибки в показани х прибора из-за практически предельного сокращени базового рассто ни между токовым и потенциальным штыр ми . 1 ил.In the process, a force is applied to the probe body 1, which is directed along its longitudinal axis. This force, through the top end force, will minimize errors in the readings of the device due to the practically limit reduction of the base distance between the current and potential pins. 1 il.
5 five
00
5five
0 5 0 5 0 0 5 0 5 0
5 five
верхность 8 передаетс на среднюю часть штыр , выполненную в виде зигзагообразного элемента 6. При этом под действием силы реакции средн часть штыр упруго деформируетс , отход от нижней торцовой поверхности 9, а его заостренна часть 4 внедр етс в поверхность контролируемого объекта 11. Показани прибора снимают при усилии, обеспечивающем упор торцового выступа 2 в поверхность контролируемого объекта. В этом положении величина упругой деформации элемента 6 соответствует расчетному усилию прижати токового и потенциального штырей к контактным точкам поверхности контролируемого объекта.surface 8 is transferred to the middle part of the pin, made in the form of a zigzag element 6. At the same time, under the action of the reaction force, the middle part of the pin is elastically deformed, moving away from the lower end surface 9, and its pointed part 4 is inserted into the surface of the object under test 11. The instrument reads with the effort ensuring the stop of the end protrusion 2 against the surface of the object under control. In this position, the magnitude of the elastic deformation of the element 6 corresponds to the calculated force of pressing the current and potential pins to the contact points of the surface of the object under test.
Щуп имеет жестко закрепленные в корпусе неподвижные хвостовые части 5 штырей, исключающие возможность усталостного разрыва соединительных проводов в процессе длительной работы. Отсутствие подвижной св зи этих проводов со штыр ми и перенесение усталостных нагрузок на элемент конструкции, выполненный из материала , предназначенного дл работы в таком режиме, существенно повьшзает механическую надежность щупа, в 15-20 раз увеличива гарантийный срок службы.The probe has fixed fixed parts of 5 pins rigidly fixed in the housing, which exclude the possibility of fatigue rupture of the connecting wires during long-term operation. The absence of a mobile connection of these wires with pins and the transfer of fatigue loads on a structural element made of a material intended for work in this mode significantly increases the mechanical reliability of the probe, increasing the warranty period by 15–20 times.
Предлагаема конструкци обладает преимуществом и при оценке участков с малой прот женностью, свод к минимуму ошибки в показани х прибора из-за практически предельного (лимитируемого диаметром штыр ) сокращени базового рассто ни между то- ковЫм и потенциальным штыр ми щупа.The proposed design also has the advantage in evaluating areas with a small extent, minimizing errors in the readings of the instrument due to the practically limit (limited by the diameter of the pin) reduction of the base distance between the current and the potential probe.
Фор м у ла изобретени Formula of the invention
Щуп дл вольт-амперного измерительного прибора, содержащий корпус с размещенными в нем двум штьф ми.A probe for a current-voltage measuring device, comprising a housing with two pins in it.
3 ,131092943, 13109294
каждый из которых состоит из трехчающийс тем, что, с цельюeach of which consists of a threefold so as to
частей - средней, выполненной изог-повышени надежности работы и точноеparts - medium, made isog-increase reliability and accurate
нутой и установленной с возможностьюти измерени путем сохранени постовзаимодействи ее концевых участков нства зазора между штыр ми по всейmeasured and measured by keeping the post-interaction of its end portions of the gap between the pins throughout
с внутренней торцовой поверхностью длине в процессе измерени , средполости корпуса, контактной и части штырей установлены эквико установленной в корпусе хвосто-дистантно один относительно другогоwith the inner end surface of the length in the process of measurement, the middle cavity of the body, the contact and part of the pins are installed equiko installed in the body tail-distantly relative to each other
.вой, две последние из которых лежатв параллельных плоскост х и изогнув параллельньк плоскост х, о т л и-ты зигзагообразно.Yours, the last two of which lie in parallel planes and bending parallel planes, are zigzag-like.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843803582A SU1310929A1 (en) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | Test prod for voltammetric instrument |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843803582A SU1310929A1 (en) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | Test prod for voltammetric instrument |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1310929A1 true SU1310929A1 (en) | 1987-05-15 |
Family
ID=21143407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843803582A SU1310929A1 (en) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | Test prod for voltammetric instrument |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1310929A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5865641A (en) * | 1994-07-12 | 1999-02-02 | Delaware Capital Formation | Solid spring electrical contacts for electrical connectors and probes |
-
1984
- 1984-10-24 SU SU843803582A patent/SU1310929A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 875508, кл. Н 01 R 11/18, 1978. Патент DE № 2426337, кл. Н 01 R 11/18, 1975. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5865641A (en) * | 1994-07-12 | 1999-02-02 | Delaware Capital Formation | Solid spring electrical contacts for electrical connectors and probes |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6023171A (en) | Dual-contact probe tip for flying probe tester | |
US3411348A (en) | Electronic dynamometer | |
US4701702A (en) | Contact pin having a spring under tension | |
SU1310929A1 (en) | Test prod for voltammetric instrument | |
US4812745A (en) | Probe for testing electronic components | |
GB2159289A (en) | Load cell having a flexure connector | |
JP2021105547A (en) | Contact probe | |
JPH01128535A (en) | Probe for measuring semiconductor element | |
CN112858744A (en) | Probe needle | |
SU1647221A1 (en) | Device for measuring part surface contour | |
JP2577799Y2 (en) | Melt type thermistor resistance measurement jig | |
JPH06216215A (en) | Structure of contact in prove card | |
JP2002048815A (en) | Probe head | |
JP3628186B2 (en) | Method for predicting detection value of load sensor | |
JPH031822Y2 (en) | ||
SU1252850A1 (en) | Contact unit | |
JP2024076309A (en) | Contact Temperature Sensor | |
SU1307252A1 (en) | Device for measuring pressure | |
RU94013130A (en) | PRESSURE METER | |
SU1025998A1 (en) | Structure elastic line deflection measuring device | |
SU1478134A1 (en) | Ferrorecorder for measuring amplitude of current pulses | |
SU1193444A1 (en) | Resistance displacement transducer | |
JPH0745020Y2 (en) | Contact structure of probe | |
SU1670338A1 (en) | Device for measuring hole diameter | |
SU667832A1 (en) | Device for measuring contact-making effort of current collector brushes |