SU1295346A1 - Device for measuring harmonic coefficient of power amplifiers - Google Patents
Device for measuring harmonic coefficient of power amplifiers Download PDFInfo
- Publication number
- SU1295346A1 SU1295346A1 SU853970379A SU3970379A SU1295346A1 SU 1295346 A1 SU1295346 A1 SU 1295346A1 SU 853970379 A SU853970379 A SU 853970379A SU 3970379 A SU3970379 A SU 3970379A SU 1295346 A1 SU1295346 A1 SU 1295346A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- unit
- amplifier
- voltage
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
Изобретение может быть использовано дл измерени коэффициента гармоник усилителей мощности, в частности, в интегральном исполнении . .Цель изобретени - повышение точности и достоверности измерени достигаетс за счет учета вли ни напр жени шумов, фона сети, более полной компенсации составл ющей первой гармоники в результирующем напр жении и исключени ложного эабра- ковани интегральных схем (ИС) при нарущении контакта корпуса с тепло- отводом. Устройство содержит генератор 1 синусоидального напр жени , дифференциальные усилители 2 и 3, резистивный делитель 4, блок 5 обработки , переключатель 6, блок 7 переключателей с контактами 71-7-3 клеммы 8 и 9, блок 10 подстройки фазы, образцовый усилитель 1I, задат- чик 12 напр жени , блоки пам ти 13, управлени 14, контрол 15 температуры корпуса ИС, управлени 16. 1 ил. (ЛThe invention can be used to measure the harmonics of power amplifiers, in particular, in an integral design. The purpose of the invention is to improve the accuracy and reliability of measurement by taking into account the effect of noise voltage, network background, more fully compensating the component of the first harmonic in the resulting voltage and eliminating the false operation of integrated circuits (IC) when the contact between the housing and the heat - tap. The device contains a sinusoidal voltage generator 1, differential amplifiers 2 and 3, resistive divider 4, processing unit 5, switch 6, switch unit 7 with contacts 71-7-3 terminals 8 and 9, phase adjustment unit 10, exemplary amplifier 1I, set - voltage pin 12, memory blocks 13, control 14, control 15 of the temperature of the IC case, control 16. 1 sludge. (L
Description
112112
Изобретение относитс к электроизмерительной технике и может быть использовано дху измерени коэффициента гармоник усилителей мощности, в частности, в интегральном исполнении .The invention relates to electrical measuring equipment and can be used to measure the harmonic ratio of power amplifiers, in particular, in integral design.
Цель изобретени - повьшение точности и достоверности измерени коэффициента тармоник за счет учета вли ни напр жени шумов фона сети, более полной компенсации составл ющей первой гармоники в резулъ - тирующем напр жении и исключени ложного забраковани интегральных микросхем из-за саморазогрева корпуса при нарушении контакта корпуса с теплоотводом.The purpose of the invention is to increase the accuracy and reliability of measuring the coefficient of harmonics by taking into account the effect of network noise noise, more complete compensation of the component of the first harmonic in the generating voltage and the elimination of false rejection of integrated circuits due to the body self heating. heat sink.
На чертеже представлена структурна схема устройства. The drawing shows a block diagram of the device.
Устройство содержит генератор. 1 синусоидального напр жени , второй 2 и первый 3 дифференциальные усилители , резистивный делитель 4, блок 5 обработки, переключатель 6, блок 7 переключателей с контактами 7-1 - 7-3, клеммы 8 и 9 дл подключени испытуемого усилител мощности , которым вл .етс интегральна микросхема блок 10 подстройки фазы, образ- The device contains a generator. 1 sinusoidal voltage, second 2 and first 3 differential amplifiers, resistive divider 4, processing unit 5, switch 6, switch unit 7 with contacts 7-1-7-3, terminals 8 and 9 for connecting the power amplifier under test, which is required. integrated circuit chip phase adjustment 10, the image
цовый усилитель i1, задатчик 12 нап- р жени , блок 13 пам ти, блок 14 анализа , блок 15 контрол температуры корпуса интегральной микросхемы, блок 16 управлени .I t1 amplifier, voltage setting device 12, memory unit 13, analysis unit 14, integrated circuit body temperature control unit 15, control unit 16.
Выход генератора 1 через переключатель 6 соединен с первым входом блока 10 подстройки фазы и третьим входом дифференциального усилител 3, первый вход которого соединен с первым входом дифференциального уси лител 2, первым входом блока 5 обработки и вторым входом блока 10 подстройки фазы, выход дифференци- ального усилител 2 подключен к второму входу блока 5 обработки, второму входу дифференциального усилител 3, выход блока 10 подстройки фазы соединен с вторым входом дифференциального усилител 2. Выход дифференциального усилител 3 подключен к одному выводу делител 4, второй вывод которого соединен с шиной ЗЕМЛЯ, а выход через блок 7 переключателей (контакты 7-1) - с входом образцового усилител 11-. Выход блока 5 обработки через блок переключателей (контакты 7-3) соединен с входом блока 13 пам ти и первым входомThe output of the generator 1 is connected via a switch 6 to the first input of the phase adjustment unit 10 and the third input of the differential amplifier 3, the first input of which is connected to the first input of the differential amplifier 2, the first input of the processing unit 5 and the second input of the phase adjustment unit 10, the differential output the amplifier 2 is connected to the second input of the processing unit 5, the second input of the differential amplifier 3, the output of the phase adjustment unit 10 is connected to the second input of the differential amplifier 2. The output of the differential amplifier 3 podk li ne to the one end of the divider 4, the second terminal of which is connected to the bus GND, and the output unit 7 through the switches (terminals 7-1) - to the input of amplifier 11 model. The output of the processing unit 5 is connected via a switch block (contacts 7-3) to the input of the memory block 13 and the first input
оabout
..
5five
00
5five
5five
00
5five
00
5555
блока 14 анализа, второй и третий входы блока 14 соединены соответственно с выходами блока 13 пам ти и задатчиком 2 напр жени . Блок 15 контрол температуры соединен с уп- равл ющим входом переключател 6, а первый, второй и третий выходы блока 16 управлени соединены с управл ющими входами блока 3 пам ти, блока 7 переключателей и блока 14 анализа.the analysis unit 14, the second and third inputs of the unit 14 are connected respectively to the outputs of the memory unit 13 and the voltage generator 2. The temperature control unit 15 is connected to the control input of the switch 6, and the first, second and third outputs of the control unit 16 are connected to the control inputs of the memory unit 3, the switch unit 7 and the analysis unit 14.
К клеммам 8 и 9 подключаетс испытуема микросхема. Клеммы 8 и 9 вл ютс контактами блока контактировани (не показан)A test chip is connected to terminals 8 and 9. Terminals 8 and 9 are contacts of a contact block (not shown)
Устройство работает, в два этапа.The device works in two stages.
На первом этапе определ ют и запоминают в блоке 3 пам ти напр жение , равное сумме напр жений.высших частот (гармоник) образцовой микросхемы , шумов и фона сети, на втором этапе - коэффициент гармоник испы г- туемой микросхемы.At the first stage, a voltage equal to the sum of the voltages of the reference circuit, noise and background of the network is determined and stored in memory block 3, and the harmonic ratio of the tested chip is at the second stage.
К клеммам 8 и 9 подключают испытуемую интегральную микросхему, подают питающие напр жени на устройство и интегральную микросхему, на выходе задатчика 12 устанавливают напр жение, пропорциональное К об-п. разцовой микросхемы 11, и запускают блок 16 управлени .A test IC is connected to the terminals 8 and 9, the supply voltage is supplied to the device and the IC, the output of the setting device 12 is set to a voltage proportional to OB-p. integrated chip 11, and start up the control unit 16.
На выходе генератора 1 по вл етс синусоидальное напр жение, которое через нормально-: замкнутые контакты переключател поступает на первые входы первого дифференциального усилител 3 и блока 10 подстройки фазы. С выхода дифференциального усилител 3 через делитель 4 и нормально замкнутые контакты 7-1 переключа.тел - напр жение подаетс на вход образцовой микросхемы 11. С выхода микросхемы 1I через нормально замкнутые контакты 7-2 переключател напр жение поступает на первые входы первого и второго дифференциальных усилителей -2 и 3 и блока 5 обработки. В результате к пр мому и обратному входам дифференциального усилител 2 прикладываютс с выходной образцовой микро- схемь П и блока 10 подстройки фазы напр жени , амплитуды первых гармоник которых равны, а фазы совпадают.At the output of the generator 1, a sinusoidal voltage appears, which through normal-: closed switch contacts is fed to the first inputs of the first differential amplifier 3 and the phase adjustment unit 10. From the output of the differential amplifier 3 through the divider 4 and the normally closed contacts 7-1 switch. - the voltage is applied to the input of the reference chip 11. From the output of the chip 1I through the normally closed contacts 7-2 of the switch the voltage goes to the first inputs of the first and second differential amplifiers -2 and 3 and block 5 processing. As a result, the direct and reverse inputs of the differential amplifier 2 are applied from the output reference microcircuit II and the voltage phase adjustment unit 10, the amplitudes of the first harmonics of which are equal, and the phases coincide.
Составл юпдае высших частот, вьще- ленные при вычитании сигналов дифференциальным усилителем 2 поступают на входы блока 5 обработки иThe compo- nents of higher frequencies, which are enriched when the signals are subtracted by the differential amplifier 2, are fed to the inputs of the processing unit 5 and
312312
на вход дифференциального усилител 3.На другой вход дифференциального усилител 3 постуцает также Напр жение с выхода образцовой микросхемы 11to the input of the differential amplifier 3. On the other input of the differential amplifier 3 also voltage is output from the output of the model chip 11
Таким образом, если коэффициент гармоник дифференциального.усилител 3 равен нулю, то на входе образцовой микросхемы присутствует образцовое синусоидальное напр жение.Thus, if the harmonic ratio of the differential amplifier is equal to zero, then an exemplary sinusoidal voltage is present at the input of the reference microcircuit.
Выходное напр жение микросхемы 11 а также напр жение высших частот с выхода дифференциального усилител 2 поступают на блок 5 обработки. На выходе блока 5 формируетс посто нное напр жение U,, пропорциональное сумме напр жений высших частот, шумов и фона сети дл образцового усилител 11. После запуска блока 16 управлени на его первом выходе формируетс импульс, по которому вы- ходное напр жение U, блока 5 обработки записываетс в блок 13 пам ти.The output voltage of the chip 11 as well as the voltage of the higher frequencies from the output of the differential amplifier 2 are fed to the processing unit 5. At the output of block 5, a constant voltage U ,, is proportional to the sum of the highest frequency, noise and network background voltages for the exemplary amplifier 11. After starting the control unit 16, a pulse is generated at its first output, through which the output voltage U, unit 5, the processing is recorded in the memory unit 13.
По концу импульса на первом выходе формируетс импульс на второмAt the end of the pulse at the first output, a pulse is formed at the second
выходе блока 16 управлени , по кото- рому замкнутые контакты 7-1, 7-2, 7-3 переключателей размыкаютс , нормально разомкнутые контакты замыкаютс и испытуема ИМС подключаетс к устройству вместо образцовойThe output of the control unit 16, by which the closed contacts 7-1, 7-2, 7-3 of the switches are opened, the normally open contacts are closed and the IC under test is connected to the device instead of the exemplary
микросхемы 1I, а выход блока 5 обработки соедин етс с соответствующим входом блока 14 анализа.the chips 1I, and the output of the processing unit 5 is connected to the corresponding input of the analysis unit 14.
Аналогично на выходе блока 5 обработки формируетс напр жение U, равное сумме напр жений высших частот , шумов и фона сети дл контролируемой интегральной микросхемы.Similarly, a voltage U is formed at the output of the processing unit 5, equal to the sum of the higher frequency, noise and network background voltages for the monitored integrated circuit.
Таким образом, к входам блока 14 анализа оказываютс приложенными напр жени U ,, V , U соответственно с блока 13 пам ти, блока 5 обработки и задатчика 12.Thus, voltages U ,, V, U are applied to the inputs of the analysis unit 14 from the memory unit 13, the processing unit 5 and the setting device 12, respectively.
В блоке происходит алгебраическое сложение этих напр жений и результи рующее напр жение II р содержит только составл ющие высших частот испытуемой интегральной микросхемы.In the block, an algebraic addition of these voltages occurs and the resulting voltage II p contains only the higher frequency components of the tested integrated circuit.
-и, -(и.-and, - (and.
.,,, +и +. ,,, + and +
+иш ,.е )(О+ ish, e) (O
де и.de and.
и and
гg
напр жение задатчика,12; напр жение высших частот образцовой микросхемы 11; 5i напр жение шумов канала измерени К-,.; напр жение фона сети (проникает через источТак какsetpoint voltage, 12; the higher frequency voltage of the exemplary microcircuit 11; 5i is the noise voltage of the measurement channel K - ,.; network background voltage (penetrates through the source
НИКИ питани устройства и интегральной микросхемы ; напр жение высших частот испытуемой микросхемы, напр жение U задатчикаNiki power device and integrated circuit; the voltage of the higher frequencies of the test chip, the voltage U of the setting device
12 выбираетс равным напр жению высших частот образцовой микросхемы I1, то из выражени (1) получим12 is chosen to be equal to the voltage of the higher frequencies of the exemplary chip I1, then from expression (1) we get
иand
-и-and
в. г..at. g ..
В блоке 14 анализа результирующее напр жение U преобразуетс в цифровой код по импульсу с третьего выхода блока 16 управлени выводитс на индикацию, устройство готово дл проведени следующего цикла измерений.In analyzing unit 14, the resulting voltage U is converted into a digital code by a pulse from the third output of control unit 16 is displayed, the device is ready for the next measurement cycle.
Непрерывный контроль температуры корпуса осуществл етс блоком 15 контрол , датчик которого устанавливаетс на теплоотвод щем выводе блока контактировани . При ненадежном контакте с теплоотводом к орпус ИМС разогреваетс и при превьшгенни граничного уровн измен етс состо ние переключател 6, который отключает вход блока 10 подстройки фазы и вход дифференциального усилител 3 от выхода генератора 1.The continuous monitoring of the temperature of the housing is carried out by the control unit 15, the sensor of which is mounted on the heat sink output of the contacting unit. With unreliable contact with the heatsink, the IC is heated and when the boundary level is exceeded, the state of the switch 6 changes, which disconnects the input of the phase adjustment unit 10 and the input of the differential amplifier 3 from the generator 1 output.
-5 -five
30thirty
5 five
00
i i
Фо.рмула изобретени Formula of Invention
Устройство дл измерени коэффициента гармоник усилителей мощности , содержащее генератор синусоидального напр жени , первый и второй дифференциальные усилители, дв литель напр жени , подключенный между шиной ЗЕМЛЯ и выходом первого дифференциального усилител , первый вход которого соединен с первым входом блока обработки и первым входом второго дифференциального усили тел , выход которого соединен с втоп рыми входами первого дифференциального усилител и блока обработки, первую и вторую клеммы дл подключени входа и выхода испытуемого усилител мощности соответственно, отличающеес тем, что, с целью повышени точности и досто верности измерени , в него введены блок подстройки фазы, образцовый уси- литель.задатчик иапр жени , блок пам ти, блок анализа, блок контрол температуры корпуса испытуемого усилител мощности с датчиком -температуры , установленным на теплоотвод щем выводе усилител мощности, блок уп512A device for measuring the harmonic ratio of power amplifiers, comprising a sinusoidal voltage generator, a first and second differential amplifiers, a voltage coupler connected between the GROUND bus and the output of the first differential amplifier, the first input of which is connected to the first input of the processing unit and the first input of the second differential force the body, the output of which is connected to the vp ry inputs of the first differential amplifier and processing unit, the first and second terminals for connecting the input and output The required power amplifier, respectively, is characterized in that, in order to increase the accuracy and reliability of the measurement, a phase adjustment block, an exemplary amplifier and a voltage controller, a memory unit, an analysis unit, a temperature amplifier unit of the tested power amplifier with temperature sensor installed on the heat sink output of the power amplifier unit up512
равлени , переключатель, блок переключателей , при этом выход генератора синусоидального напр жени через нормально замкнутые замыкающий и переключающий контакты переключател размыкающий контакт, управл ющий вход которого соединен соответственно с шиной ЗЕМЛЯ с выходом блока контрол температуры, подключен к третьему входу первого дифференциаль- него усилител и к первому входу блока подстройки фазы, второй вход которого соединен с первым входом блока обработки, а выход подключен к второму входу второго дифференци- ального усилител , выход делител через последовательно включенные первую группу нормально зам кнутых контактов блока переключателей, образцовый усилитель, вторую группу нормально замкнутых контактов бло66switch, the switch block, while the sinusoidal voltage generator output through normally closed closing and switching contacts of the switch disconnecting contact, the control input of which is connected respectively to the GROUND bus with the output of the temperature control unit, is connected to the third input of the first differential amplifier and to the first input of the phase adjustment block, the second input of which is connected to the first input of the processing unit, and the output is connected to the second input of the second differential gain l, divider output through the first group of normally closed contacts of the switch block in series, an exemplary amplifier, the second group of normally closed contacts of 66
ка переключателей подключен к первому входу первого дифференциальног о усилител , а перва и втора группы нормально разомкнутых контактов блока переключателей соединены соответственно с первой и второй клеммами дл подключени испытуемого усилител , выход блока обработки через третью группу нормально разомкнутых и нормально замкнутых контактов блока переключателей подключен соответственно к первому входу блока анализа и входу блока пам ти, выход которого соединен с вторым входом блока анализа, к третьему входу которого подключен задатчик напр жени , при этом первый второй и третий выходы блока управлени подключ« Ны .соответственно к. управл ющим входам блоков пам ти, переключателей и анализа.The switches are connected to the first input of the first differential amplifier, and the first and second groups of normally open contacts of the switch block are connected respectively to the first and second terminals for connecting the amplifier under test, the output of the processing unit through the third group of normally open and normally closed contacts of the switch block are connected respectively to the first input of the analysis unit and the input of the memory unit, the output of which is connected to the second input of the analysis unit, to the third input of which is connected A voltage adjuster is provided, with the first second and third outputs of the control unit being connected to us to the control inputs of the memory blocks, switches and analysis.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853970379A SU1295346A1 (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Device for measuring harmonic coefficient of power amplifiers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853970379A SU1295346A1 (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Device for measuring harmonic coefficient of power amplifiers |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1295346A1 true SU1295346A1 (en) | 1987-03-07 |
Family
ID=21203024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU853970379A SU1295346A1 (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Device for measuring harmonic coefficient of power amplifiers |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1295346A1 (en) |
-
1985
- 1985-10-28 SU SU853970379A patent/SU1295346A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 746320, кл. G 01 R 23/20, 1978. Авторское свидетельство СССР № 879493, кл. G 01 R 23/16, 1978. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR870002649A (en) | Power monitor circuit device | |
| US4228684A (en) | Remote temperature measuring system with semiconductor junction sensor | |
| IE823102L (en) | Test circuit | |
| SU1295346A1 (en) | Device for measuring harmonic coefficient of power amplifiers | |
| EP1635183B1 (en) | Device for monitoring quiescent current of an electronic device | |
| JPS57186351A (en) | Semiconductor device | |
| US3842349A (en) | Automatic ac/dc rms comparator | |
| JPS57137868A (en) | Test equipment for electronic wattmeter | |
| US2953748A (en) | Transistor testing | |
| SU1057890A1 (en) | Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic | |
| RU2808784C1 (en) | Method for measuring tripping time of electronic fuse | |
| SU1383231A1 (en) | Device for checking quality of ic contact | |
| SU1053010A1 (en) | Device for feeding primary converter | |
| SU401940A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR DEVICES | |
| SU993365A1 (en) | Device for measuring internal resistance of electrochemical current source | |
| SU1368811A1 (en) | Conductivity apparatus | |
| SU1017998A2 (en) | Electronic coulorimeter having controlled potential | |
| SU1674021A1 (en) | Tester output device for ic testing | |
| SU1401414A1 (en) | Method of quality control of integrated operational amplifiers | |
| SU1739325A1 (en) | Method of testing cmos chips of static main memory and device thereof | |
| SU1686481A1 (en) | Sampling and holding circuit | |
| SU1160321A1 (en) | Device for measuring amplitude values of a.c.electric signals | |
| SU623166A1 (en) | Device for measuring steepness of field-effect transistor current-voltage characteristic | |
| SU1190207A1 (en) | Device for measuring temperature | |
| SU615432A1 (en) | Arrangement for testing microcircuit parameters |