SU1292457A1 - Устройство дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах - Google Patents
Устройство дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1292457A1 SU1292457A1 SU853861895A SU3861895A SU1292457A1 SU 1292457 A1 SU1292457 A1 SU 1292457A1 SU 853861895 A SU853861895 A SU 853861895A SU 3861895 A SU3861895 A SU 3861895A SU 1292457 A1 SU1292457 A1 SU 1292457A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measuring
- vessel
- measuring chamber
- electrodes
- wall thickness
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение отноеттс к конт- 1 оль80 йзмерительнЫ1 технике. Цель изобретени - стабилизаци температурного режима испытуемого полупроводникового прибора (П). Электроды исштуемого П 7 через отверсти 6 сосуда 4 размещаютс в пазах кон- Ti KTHoft колодки на-панели измеритель- вой устаиовки Ь. 1фиоге1(на жидкость (Ж), залита в сосуд 4, вызывает затвердение его стенок. прои Ьходит обжатие электродов П 7 и, тек самлм, самогерметизаци всего сосуда 4. После окончани бурного испарени Ж сосуд 4 закрывают крыш- кой 5 и провод т испытани П 7. По окончаний испытаний Ж испар етс из измерительна камеры 2. Выполне1«е измерительвой камеры.. 2 из зластич- ного материала с толщиной стеной , 3d $ D i 5d (где D - толщина стенок измерительной камеры, d - диаметр электродов П Д позвол ет стабилизировать температурный режим П 7 на уровне температуры кип щей Ж. Отсутствие удлиненшлх соединительных проводников устран ет услови возникновени автогенерации в измерительной системе. I ил. (Л ьо со s 4 СП м
Description
Изобретение относитс к контроль- но -измерительной техинке и направле но на Испытание папупроводниковых приборов при криогенных температурах .
Целью изобретени вл етс стабилизаци температурного режима испытуемого полупроводникового прибора.
На чертеже представлено схематическое изображение устройства дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах.
Устройство содержит измерительную установку 1 и измерительную камеру 2, закрепленную на столике 3, Измерительна камера 2 состоит из сосуда 4 дл криогенной жидкости и крьпп- ки 5, причем в дне сосуда 4 имеютс отверсти 6 под электроды испытуемо- го полупроводникового прибора 7,
Устройство дл испытани полупро- водниковых приборов при криогенных температурах работает следующим образом , В отверсти 6 эластичного дна сосуда 4 вставл ютс электроды испытуе мого полупроводникового прибора 7 так, чтобы сам прибсф находилс внутри сосуда 4, а его электроды обжимали сь эластичным дном сосуда 4. Измерительную камеру 2 устанавливают в отверстие столика 3, При этом борта сосуда 4 в форме фпанца, упира сь в верхнюю поверхность столика 3, .фиксируют измерительную камеру 2 в вертикальном положении, а столик располагают на такой высоте, чтобы концы электродов испытуемого попу1Ч о- водникового прибора вошли в пазы контактной колодки на панели измери тельной установки 1. Затем в сосуд 4 заливают криогенную жидкость, например жидкий азот. При этом эластичное дно и стенки, сосуда 4 при охлаждении начинают затвердевать. Происходит обжатие электродов испытуемого полупроводникового прибора и тем cahftiM самогерметизации всего сосуда 4. При достаточном охлаждении сосуда бурное испарение криогенной жидкости прекращаетс . Заполненный сосуд 4 накрывают крышкой 5 и провод т испытани полупроводникового прибора при помощи измерительной установ
ки 1, После окончани испытаний криогенна жидкость испар етс из измерительной камеры 2, Сосуд 4, нагрева сь , приобретает прежнее свойство эластичности, и испытуемый полупроводниковый прибор свободно вынимаетс из измерительной камеры 2.
Сосуд 4 изготавливаетс из эластичного материала, например резины с толщиной стенок 3-/5 мм. При толщине стенок менее 3 мм ухудшаетс качество обжати электродов испытуемого прибора, а толщина более 5 мм приводит к затрате большего количества криогенной жидкости на охлаждение сосуда.
Использу измерительную камеру из эластичного материала, самогерметизируемого при охлаждении, удалось стабилизировать температурный ре- ;жим испытуемого полупроводникового прибора на уровне температуры кип щей криогенной жидкости. Отсутствие удлиненных сэединительных проводников между испытуемым прибором и измерительной установкой устран ет . УСЛОВИЯ возникйовени автогенерации в измерительной системе
Claims (1)
- Формула изобретениУстройство дл испытани полупро- водниковых приборов при криогенныхтемпературах, содержащее измеритель- ную камеру, одна стенка которойрасположена параллельно панели измерительной установки,, отличаю- щ е е с тем, что, с целью стабилизации температурного режима, иэ- мерительна камера выполнена из эластичного материала, а в ее стенке , расположенной параллельно панели измерительной установки, выполнены отверсти под электроды испытуемого полупроводникового прибора, при- этом толщина стенок измерительной камеры выбираетс из следующих условий:3d 1 D 4 5d,где D - толщина стенки измерительнойкамеры;d - диаметр электрода испытуемого полупроводникового прибора .Редактор О.СтенинаСоставитель С.ФоменкоТехред Л. ОлейникКорректор О.ЛуговаЗаказ 3381 Тираж 772Подписное,ВНИИПИ Государстве ного icoMHTeta СССРпо делам нэобрете1в1й-и открытийП3035, Москва Ж-35, Раушска наб., д. 4/5Проиэводственно-папигра4 1ческое предпри тие, г, Ужгород, ул. Проектна , 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853861895A SU1292457A1 (ru) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Устройство дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853861895A SU1292457A1 (ru) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Устройство дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1292457A1 true SU1292457A1 (ru) | 1988-05-07 |
Family
ID=21165093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853861895A SU1292457A1 (ru) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Устройство дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1292457A1 (ru) |
-
1985
- 1985-02-27 SU SU853861895A patent/SU1292457A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Аронов В.Л, Федотов Я.А. Испытание и исследование полупроводниковых приборов. М,1 Высша вкола 1975, с. 233-234. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ATE378587T1 (de) | Messsonde für potentiometrische messungen, verfahren zur überwachung des alterungszustandes der messsonde und ihre verwendung | |
SU1292457A1 (ru) | Устройство дл испытани полупроводниковых приборов при криогенных температурах | |
US4318301A (en) | Apparatus for measuring papillary muscle contractility | |
US2445073A (en) | Vapor detector | |
RU2147740C1 (ru) | Устройство для определения водонепроницаемости бетонов | |
GB2008770A (en) | Automatic Regeneration of Electrode Surfaces | |
KR900006959Y1 (ko) | 중유의 안정성 시험장치 | |
SU706762A1 (ru) | Устройство дл определени повреждений эмальпроводов | |
KR100290274B1 (ko) | 멀티 스트레스 절연파괴전압 측정용 셀 | |
US4416551A (en) | Battery microcalorimeter | |
SU932373A1 (ru) | Устройство дл электрохимических испытаний | |
JPS56132566A (en) | Thermostat photometrical apparatus | |
SU1187001A1 (ru) | Устройство дл термомеханических испытаний электроизол ции проводов | |
SU1298367A1 (ru) | Устройство дл исследовани нефтегазоводонасыщенных кернов | |
SU1704052A1 (ru) | Устройство дл определени теплофизических свойств материалов | |
SU406162A1 (ru) | Прибор для контроля процесса ферментации чая | |
SU1107031A1 (ru) | Устройство дл лабораторных коррозионных испытаний | |
SU372489A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАГОСОДЕРЖАНИЯ | |
US3049915A (en) | Specimen holder for conductometric corrosion measurement | |
SU411353A1 (ru) | ||
SU736747A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициентаТЕплОпРОВОдНОСТи СублиМиРующиХ ВЕщЕСТВ | |
SU1698710A1 (ru) | Установка дл климатических испытаний | |
SU1718086A1 (ru) | Электролитическа чейка дл измерени электропроводности растворов электролитов | |
SU427264A1 (ru) | Стенд для испытания контактных элементов колонных аппаратов | |
SU1226232A1 (ru) | Устройство дл определени деформативных свойств влажных капилл рно-пористых материалов при различных температурах |