SU1288499A1 - Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин - Google Patents

Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин Download PDF

Info

Publication number
SU1288499A1
SU1288499A1 SU843783432A SU3783432A SU1288499A1 SU 1288499 A1 SU1288499 A1 SU 1288499A1 SU 843783432 A SU843783432 A SU 843783432A SU 3783432 A SU3783432 A SU 3783432A SU 1288499 A1 SU1288499 A1 SU 1288499A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measure
meter
measures
diffraction
slit
Prior art date
Application number
SU843783432A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Дмитриевич Лизунов
Виктор Михайлович Весельев
Original Assignee
Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии filed Critical Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии
Priority to SU843783432A priority Critical patent/SU1288499A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1288499A1 publication Critical patent/SU1288499A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  поверки градуировки измерителей малых длин. Цель изобретени  - повьшение точности и производительности поверки путем устранени  погрешностей, св занных с определением положени  краев элементов. На меру 2 малой длины, в качестве которой используют регулируемую щель, направл ют излучение лазера , Последовательно измен   размер щели, измер ют его в каналах I и II отсчет- ной системы 3 путем счета интерференционных полос и отслеживани  дифракционного максимума с помощью регистрирующего блока 4. Это соответствует изменению волново1 о параметра . По результатам сравнени  полученных значений со значени ми, полученными при аттестации меры 2, суд т о погрешности измерител . 2 ил. с S (Л ю 00 00 фш. 1

Description

Способ относитс  к измерительной технике и может быть использован дл  поверки или градуировки измерителей мер малых длин.
Цель изобретени  - повышение точности и производительности поверки за счет устранени  погрешностей, св занных с определением положени  краев элементов.
На фиг.1 изображена функциональна  схема устройства дл  реализации способа; на фиг.2 - конструкци  многозначной меры малой длины.
Устройство дл  реализации способа содержит когерентный источник излучени , например He-Ne лазер 1, многозначную меру 2 малой длины, отсчетную систему 3, регистрирующий блок 4, лазерньй измеритель 5 перемещений с цифровым электронным блоком 6 индикации .
Конструкци  меры 2 малой длины состоит из корпуса 7, на т ордах которого креп тс  плоские пружины 8 при помощи стопорных колец 9 и цилиндрических стаканов 10. Центры плоских пружин 8 жестко св заны с рамкой 11, на которой крепитс  подвижный нож 12, а неподвижный нож 13 крепитс  на выступе 14 корпуса 7 регулируемой щели Юстировка и крепление ножей 12 осуществл етс  с помощью плоских планок 15 и винтов 16. Между плоским упором 17 рамки 11 с одной стороны и сферическим упором дифференциального микровинта 18 устанавливаютс  последовательно концевые меры 19 с разными номинальными значени ми, при этом рамка 11с другой стороны жестко соединена с корпусом УГОЛКОВО1Ю отражател  20 посредством т ги 21. Дл  смены концевьгх мер длины или установки произвольного размера щели рамка 11 с уголковым отражателем 20 отводитс  от концевой меры 2 длины при помощи электромагнитной системы 22.
Способ поверки дифракционного из- .мерител  осуществл етс  следующим образом:,
Излучение Не-1Те лазера 1 направл етс  на многозначную меру 2 малой длины, в качестве которой используетс  регулируема  щель в сочетании с уголковым отражателем 20, и дифрагирует на m максимумов и минимумов. Первоначально устанавливаетс  произвольный размер d щели в заданном диапазоне, например, с помощью концевой меры 19 длины и дифференциального микровинта 18 или электромагнитной системы 22, измер етс  волновой параметр 1 с помощью регистрируемого блока 4 и отсчетной системы 3, измерител  5 и блока 6 индикации по второму каналу, а размер do щели определ етс  по формуле
10
d
(1)
0
5
0
5
0
0
5
m
h L
5
где tn,/I ,L - известные волновые пара- метры;
-пор док дифракционного максимума или минимума;
-длина волны He-Ne лазера;
-базова  длина - рассто ние между объектом измерени 
и плоскостью изображени  , дифракционной картины, расположенной в области регистрирующей системы; d -произвольный размер щели. Последующее изменение размера щели измер етс  по обоим каналам отсчетной системы 3. Перемещение уголкового отражател  20 в первом канале I соответствует изменению, id размера щели измерител  5 в абсолютных значени х единицы длины путем счета числа интерференциальных полос ad :| N, где
/1 - длина волны He-Ne лазера 1, N - число полос.
Перемещение уголкового отражател  20 во втором канале II при автоматическом отслеживании центра дифракционного максимума с помощью регистрирующего блока 4 соответствует изменению волнового параметра д1, которое св зано с изменением размера щели первого канала I следующим выражением:
.,,IB -CilI Sl iL:iIl 2)
- о 1
где (3) - волновой параметр
при последующем изменении размера щели.
Использу  выражение (3), формулу (2) можно преобразовать
т/1
Г() О- 1 .«.
-Li/L4(+Aty..
(4)
Информаци , полученна  по первому I и второму II каналам при каждом
3
последующем изменении размера щели, обрабатываетс  электронным блоком 6 и по результатам измерени  определ етс  погрешность дифракционного измерител  мер малых длин.
Сравнение последовательного р да разностей мер малых длин проводитс  дл  заданного диапазона измерений мер малых длин, например 1-250 мкм с определенной дискретностью 1-10 мкм использу  набор концевых мер длины соответствующего класса точности, или плавным изменением размера щели при помощи электромагнитной системы

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ поверки дифракционных из- Ме ителей мер малых длин, заключающийс  в том, что на измерителе с помощью эталонной меры регистрируют
    волновые параметры дифракционной кар- аттестации меры, суд т о погрешности тины, по которым рассчитывают размеры измерител .
    меры, сравнивают полученные результаты с результатами, полученными при аттестации меры,и определ ют погрешность измерител , о т л и ч а ю - щ и и с   тем, что, с целью повышени  точности и производительности поверки, в качестве эталонной меры
    используют регулируемзто щель, по волновым параметрам дифракционной картины устанавливают начальное значение меры, последовательно измен ют размер меры и одновременно с волновыми параметрами дифракционной картины регистрируют число интерференционных полос, соответствующих изменению размеров меры, а размеры меры рассчитывают одновременно по волновым параметрам меры и подсчитываемому числу интерференционных полос и по результатам сравнени  полученных значений со значени ми, полученными при
    / /
    гг 21
    I I I
    15 16 12 13 14 фи2.2
    12
    П
    Составитель В.Климова Редактор А.Ворович Техред И.Попович Корректор С.Черни
    Заказ 7796/37 Тираж 700Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5
    Производственно-полиграфическое предпри тие, г.Ужгород, ул.Проектна , 4
SU843783432A 1984-07-02 1984-07-02 Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин SU1288499A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843783432A SU1288499A1 (ru) 1984-07-02 1984-07-02 Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843783432A SU1288499A1 (ru) 1984-07-02 1984-07-02 Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1288499A1 true SU1288499A1 (ru) 1987-02-07

Family

ID=21135773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843783432A SU1288499A1 (ru) 1984-07-02 1984-07-02 Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1288499A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2767709C1 (ru) * 2021-06-09 2022-03-18 Общество с ограниченной ответственностью "Инженерно-метрологический центр "Микро" (ООО "ИМЦ "Микро") Компаратор для поверки плоскопараллельных концевых мер длины

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Метрологи , 1979, № 4, с.18-25. Solid State Technology, 1976, № 19,4, p.55-61. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2767709C1 (ru) * 2021-06-09 2022-03-18 Общество с ограниченной ответственностью "Инженерно-метрологический центр "Микро" (ООО "ИМЦ "Микро") Компаратор для поверки плоскопараллельных концевых мер длины

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0132978B1 (en) Displacement measuring apparatus and method
US4925308A (en) Calibration of three-dimensional space
GB1603155A (en) Apparatus and method for determination of wavelength
CA2311014A1 (en) In situ projection optic metrology method and apparatus
US4654524A (en) Method and apparatus for measuring a displacement of one member relative to another using a vernier with an even numbered difference of elements
JPH06258102A (ja) 測定装置
US6774355B2 (en) Optical encoder
DE69324288T2 (de) Beschleunigung- und Winkelbeschleunigungsmesser
GB2249192A (en) Hologram scales
US4541181A (en) Metal tape transducer for the micrometric measurement linear quantities
US5332896A (en) Instrument for producing harmonics-free periodic signals
US5760392A (en) Scale for use with a displacement sensor
SU1288499A1 (ru) Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин
US4128762A (en) Apparatus for measuring mechanical stress using white X-rays
US5038491A (en) Scale for use for measurement of the displacement of an object to be examined, and displacement measuring apparatus
JPH06317431A (ja) エンコーダの校正方法
US4047585A (en) Scale optical detector with spring constant variation compensator
US2532964A (en) Automatic electronic tolerance monitor
GB2153995A (en) Coordinate measuring instrument
LaCoste A new calibration method for gravity meters
SU1402799A1 (ru) Способ измерени перемещений
CA1056593A (en) Apparatus for direct measurement of linear and angular displacements with digital readout
SU1516806A1 (ru) Устройство дл передачи размера единицы средней мощности лазерного излучени средствам измерени
SU603843A1 (ru) Устройство дл измерени угла поворота
US5111040A (en) Photoelectric device for position measuring