SU1288499A1 - Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин - Google Patents
Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин Download PDFInfo
- Publication number
- SU1288499A1 SU1288499A1 SU843783432A SU3783432A SU1288499A1 SU 1288499 A1 SU1288499 A1 SU 1288499A1 SU 843783432 A SU843783432 A SU 843783432A SU 3783432 A SU3783432 A SU 3783432A SU 1288499 A1 SU1288499 A1 SU 1288499A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measure
- meter
- measures
- diffraction
- slit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл поверки градуировки измерителей малых длин. Цель изобретени - повьшение точности и производительности поверки путем устранени погрешностей, св занных с определением положени краев элементов. На меру 2 малой длины, в качестве которой используют регулируемую щель, направл ют излучение лазера , Последовательно измен размер щели, измер ют его в каналах I и II отсчет- ной системы 3 путем счета интерференционных полос и отслеживани дифракционного максимума с помощью регистрирующего блока 4. Это соответствует изменению волново1 о параметра . По результатам сравнени полученных значений со значени ми, полученными при аттестации меры 2, суд т о погрешности измерител . 2 ил. с S (Л ю 00 00 фш. 1
Description
Способ относитс к измерительной технике и может быть использован дл поверки или градуировки измерителей мер малых длин.
Цель изобретени - повышение точности и производительности поверки за счет устранени погрешностей, св занных с определением положени краев элементов.
На фиг.1 изображена функциональна схема устройства дл реализации способа; на фиг.2 - конструкци многозначной меры малой длины.
Устройство дл реализации способа содержит когерентный источник излучени , например He-Ne лазер 1, многозначную меру 2 малой длины, отсчетную систему 3, регистрирующий блок 4, лазерньй измеритель 5 перемещений с цифровым электронным блоком 6 индикации .
Конструкци меры 2 малой длины состоит из корпуса 7, на т ордах которого креп тс плоские пружины 8 при помощи стопорных колец 9 и цилиндрических стаканов 10. Центры плоских пружин 8 жестко св заны с рамкой 11, на которой крепитс подвижный нож 12, а неподвижный нож 13 крепитс на выступе 14 корпуса 7 регулируемой щели Юстировка и крепление ножей 12 осуществл етс с помощью плоских планок 15 и винтов 16. Между плоским упором 17 рамки 11 с одной стороны и сферическим упором дифференциального микровинта 18 устанавливаютс последовательно концевые меры 19 с разными номинальными значени ми, при этом рамка 11с другой стороны жестко соединена с корпусом УГОЛКОВО1Ю отражател 20 посредством т ги 21. Дл смены концевьгх мер длины или установки произвольного размера щели рамка 11 с уголковым отражателем 20 отводитс от концевой меры 2 длины при помощи электромагнитной системы 22.
Способ поверки дифракционного из- .мерител осуществл етс следующим образом:,
Излучение Не-1Те лазера 1 направл етс на многозначную меру 2 малой длины, в качестве которой используетс регулируема щель в сочетании с уголковым отражателем 20, и дифрагирует на m максимумов и минимумов. Первоначально устанавливаетс произвольный размер d щели в заданном диапазоне, например, с помощью концевой меры 19 длины и дифференциального микровинта 18 или электромагнитной системы 22, измер етс волновой параметр 1 с помощью регистрируемого блока 4 и отсчетной системы 3, измерител 5 и блока 6 индикации по второму каналу, а размер do щели определ етс по формуле
10
d
(1)
0
5
0
5
0
0
5
m
h L
5
где tn,/I ,L - известные волновые пара- метры;
-пор док дифракционного максимума или минимума;
-длина волны He-Ne лазера;
-базова длина - рассто ние между объектом измерени
и плоскостью изображени , дифракционной картины, расположенной в области регистрирующей системы; d -произвольный размер щели. Последующее изменение размера щели измер етс по обоим каналам отсчетной системы 3. Перемещение уголкового отражател 20 в первом канале I соответствует изменению, id размера щели измерител 5 в абсолютных значени х единицы длины путем счета числа интерференциальных полос ad :| N, где
/1 - длина волны He-Ne лазера 1, N - число полос.
Перемещение уголкового отражател 20 во втором канале II при автоматическом отслеживании центра дифракционного максимума с помощью регистрирующего блока 4 соответствует изменению волнового параметра д1, которое св зано с изменением размера щели первого канала I следующим выражением:
.о
.,,IB -CilI Sl iL:iIl 2)
- о 1
где (3) - волновой параметр
при последующем изменении размера щели.
Использу выражение (3), формулу (2) можно преобразовать
т/1
Г() О- 1 .«.
-Li/L4(+Aty..
(4)
Информаци , полученна по первому I и второму II каналам при каждом
3
последующем изменении размера щели, обрабатываетс электронным блоком 6 и по результатам измерени определ етс погрешность дифракционного измерител мер малых длин.
Сравнение последовательного р да разностей мер малых длин проводитс дл заданного диапазона измерений мер малых длин, например 1-250 мкм с определенной дискретностью 1-10 мкм использу набор концевых мер длины соответствующего класса точности, или плавным изменением размера щели при помощи электромагнитной системы
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ поверки дифракционных из- Ме ителей мер малых длин, заключающийс в том, что на измерителе с помощью эталонной меры регистрируютволновые параметры дифракционной кар- аттестации меры, суд т о погрешности тины, по которым рассчитывают размеры измерител .меры, сравнивают полученные результаты с результатами, полученными при аттестации меры,и определ ют погрешность измерител , о т л и ч а ю - щ и и с тем, что, с целью повышени точности и производительности поверки, в качестве эталонной мерыиспользуют регулируемзто щель, по волновым параметрам дифракционной картины устанавливают начальное значение меры, последовательно измен ют размер меры и одновременно с волновыми параметрами дифракционной картины регистрируют число интерференционных полос, соответствующих изменению размеров меры, а размеры меры рассчитывают одновременно по волновым параметрам меры и подсчитываемому числу интерференционных полос и по результатам сравнени полученных значений со значени ми, полученными при/ /гг 21I I I15 16 12 13 14 фи2.212ПСоставитель В.Климова Редактор А.Ворович Техред И.Попович Корректор С.ЧерниЗаказ 7796/37 Тираж 700ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предпри тие, г.Ужгород, ул.Проектна , 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843783432A SU1288499A1 (ru) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843783432A SU1288499A1 (ru) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1288499A1 true SU1288499A1 (ru) | 1987-02-07 |
Family
ID=21135773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843783432A SU1288499A1 (ru) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1288499A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2767709C1 (ru) * | 2021-06-09 | 2022-03-18 | Общество с ограниченной ответственностью "Инженерно-метрологический центр "Микро" (ООО "ИМЦ "Микро") | Компаратор для поверки плоскопараллельных концевых мер длины |
-
1984
- 1984-07-02 SU SU843783432A patent/SU1288499A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Метрологи , 1979, № 4, с.18-25. Solid State Technology, 1976, № 19,4, p.55-61. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2767709C1 (ru) * | 2021-06-09 | 2022-03-18 | Общество с ограниченной ответственностью "Инженерно-метрологический центр "Микро" (ООО "ИМЦ "Микро") | Компаратор для поверки плоскопараллельных концевых мер длины |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0132978B1 (en) | Displacement measuring apparatus and method | |
US4925308A (en) | Calibration of three-dimensional space | |
GB1603155A (en) | Apparatus and method for determination of wavelength | |
CA2311014A1 (en) | In situ projection optic metrology method and apparatus | |
US4654524A (en) | Method and apparatus for measuring a displacement of one member relative to another using a vernier with an even numbered difference of elements | |
JPH06258102A (ja) | 測定装置 | |
US6774355B2 (en) | Optical encoder | |
DE69324288T2 (de) | Beschleunigung- und Winkelbeschleunigungsmesser | |
GB2249192A (en) | Hologram scales | |
US4541181A (en) | Metal tape transducer for the micrometric measurement linear quantities | |
US5332896A (en) | Instrument for producing harmonics-free periodic signals | |
US5760392A (en) | Scale for use with a displacement sensor | |
SU1288499A1 (ru) | Способ поверки дифракционных измерителей мер малых длин | |
US4128762A (en) | Apparatus for measuring mechanical stress using white X-rays | |
US5038491A (en) | Scale for use for measurement of the displacement of an object to be examined, and displacement measuring apparatus | |
JPH06317431A (ja) | エンコーダの校正方法 | |
US4047585A (en) | Scale optical detector with spring constant variation compensator | |
US2532964A (en) | Automatic electronic tolerance monitor | |
GB2153995A (en) | Coordinate measuring instrument | |
LaCoste | A new calibration method for gravity meters | |
SU1402799A1 (ru) | Способ измерени перемещений | |
CA1056593A (en) | Apparatus for direct measurement of linear and angular displacements with digital readout | |
SU1516806A1 (ru) | Устройство дл передачи размера единицы средней мощности лазерного излучени средствам измерени | |
SU603843A1 (ru) | Устройство дл измерени угла поворота | |
US5111040A (en) | Photoelectric device for position measuring |