SU1265596A1 - Способ ультразвуковой дефектоскопии изделий - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к области испытаний и измерений. Цель изобре ,тени  - расширение области применени  способа путем обеспечени  возможности контрол  изделий с большим рассе нием ультразвука. Способ заключаетс  в том, что в изделие излучают зондирующий импульс, принимают эхо-сигнал и измер ют его амплитуду , измер ют амплитуду зхо-сигнала при неизменной амплитуде зондирующего импульса, увеличива  его длительность до величины, определ емой из соотношени  / 2,5 „ где t - первоначальна  длительность зондирующего импульса, равна  ие менее трех периодов колебаний ультразвука; 1 - увеличенна  длительность зондирующего импульса, сравнивают измеренные амплитуды эхо-сигналов и по их равенству определ ют наличие дефекта , 2 ил. .ДИЭК С

Description

Изобретение относитс  к области не,разрушающего контрол  и может быть использовано дл  обнаружени  дефектов 5 например, в крупногабаритных издели х и поковках из аустенитньгх марок сталей,

Цель изобретени  - расширение области применени  путем обеспечени  Возможности контрол  изделий с большим рассе нием ультразвука.

На фиг. 1 и 2 изображены осциллограммы , иллюстрирующие способ ультразвуковой дефектоскопии,

Claims (1)

1. В основе способа лежит расширение области применени  за счет уверенно вы влени  эхо-сигналов от дефектов на фоне эхо-сигналов от структурных неоднородностей. Возможности такого вы влени  обусловлена тем, что согласно теоретическим исследовани м амплитуда сигналов от структурных неоднородностей зависит от длитешьности 1 зондирующего импульса, а ;именно пропорционально , а амплпитуда эхо-сигнала от дефекта от р;лительности зондирунщего импульса не зависит. Поэтому при увеличении длительности зондирующего импульса амплитуды эхо-сигналов от структурных неоднородностей увеличиваютс  в J -- раз. Ввиду того, что равенство по амплитуде двух эхо-сигналов з станавливаетс  с точностью до 2 дБ, то на ; дежное вы вленьте дефекта требует та кого увеличени  длительности Зондирующего импульса, при котором эхо сигнал от структурньтх неоднородност увеличилс  бы н,е менее, чем на 4 дБ следовательно 1,6 4 (дБ) отсюда Способ осуществл етс  следуюпщм образом, В изделие излучаиот зондирующий импульс Б (фиг.1) длительностьюt не менее трех периодов. Это условие  вл етс  необходимым из-за инерционности пьезопластины, на возбуждение которой на частотах, испольsyeNaix в практике ультразвуковой де фектоскопии, требуетс  не менее трех периодов колебаний ультразвук Принимают эхо-сигналы В и Г, измер ют их амплитуды. Поддержива  амплитуду зондирующего импульса неизменной , увеличивают его длительность до величины, определ емой из соотношени  ,5Г (фиг,2, импульс Б), Измер ют амплитуды эхо-сигналов В и Г (фиг.2), сравнивают измеренные амплитуды эхо-сигналов В и в, Г и Г 5, по равенству амплитуд эхо-сигналов Г и Г определ ют наличие дефекта . Если же амплитуда эхо-сигнала В прин того при увеличенной длительности зондирующего импульса, превышает начальную амплитуду эхо-сигнала В, то такой сигнал  вл етс  эхосигналом от структурных неоднородностей . Таким образом, предлагаемый способ ультразвуковой дефектоскопии обладает более широкой областью применени  за счет обеспечени  возможности контрол  изделий, например изделий из чугунов с шаровидным графитом , поковок из аустенитных марок сталей и крупногабаритных изделий толщиной более 1 м из перлитных марок сталей, где вследствие большого рассе ни  ультразвука амплитуды эхосигналов от дефектов станов тс  сравнимы с амплитудами эхо-сигналов от структурных неоднородностей . Формула изобретени  Способ ультразвуковой дефектоскопии изделий, заключающийс  в том, что в изделие излучают зондируншдай импульс ультразвуковых колебаний длительностью 1 принимают эхосигнал и измер ют его амплитуду, о л и ч а ю щ и и с   Тем, что, с целью расширеши  области применени  путем обеспечени  возможности контрол  изделий с большим рассе нием ультразвука, дополнительно излучают зондирующий импульс той же амплитуды длительностью Т определ емой из соотношени  ,25Т , ftpини aют соответствующий ему эхосигнал , измер ют его амплитуду, а наличие дефекта определ ют по равенству измеренных амплитуд эхосигналов .