SU1262340A1 - Способ косвенного определени флуктуации микротвердости полимерных пленок - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к определению флуктуации микротвердости.и позвол ет расширить диапазон исследуемых пол1ф{ерных пленок при определении .флуктуации микротвердости. Иccлeдye o пленку помещают на отражапщую подложку из гомогенного материала j микротвердость которой измер ют при посто нной нагрузке и при заданном времени выдержки под нагрузкой,, затем в пленку внедр ют . о индентрр при услови х определени  (О микротбердости подложки и по отпечаткам индентора на отражающей подложке суд т о флуктуации микротвердости полимерной пленки,,

Description

1

Изобретение относитс  к измерению твердости материалов, в частности к способам определени  ф.луктуации микротвердости полимерньгк пленок .

Цель изобретени  расширение диапазона исследуемых материалов.

Способ реализуетс  следующим образом ,

f

При посто нной нагрузке и фиксированном времени определ ют микротвердость отражающей подложки, выполненной из гомогенного материала. Исследуемую полимерную пленку помещают на отражающзпо подложку и вдавливают в нее индентор при услови х измерени  микротвердости отражающей подложки. Удал ют пленку с подложки и по размерам .отпечатков индентора на подложке суд т о флуктуации микротвердости полимерной пленки.

12623402

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ косвенного определени  флуктуации микротвердости полимерных пленок, заключающийс  в том, что исследуемую пленку помеп ают на подложку , в поверхность пленки под действием посто нной нагрузки в течение заданного времени вдавливают остроконечньй индентор и определ ют флуктуацию микротвердости, о т л и ч аю щ и и с   тем, что, с целью расширени  диапазона исследуемых материалов , в качестве подложки исполь зуют отражаюпгуто подложку из гомогенного материала, измер ют ее микротвердость , вдавливают индентор в ; пленку при услови х измерени  микротвердости отражающей подложки, а о флуктуации микротв.ердости пленки суд т по размерам отпечатков на подложке .