SU1259159A1 - Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров - Google Patents

Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров Download PDF

Info

Publication number
SU1259159A1
SU1259159A1 SU853893202A SU3893202A SU1259159A1 SU 1259159 A1 SU1259159 A1 SU 1259159A1 SU 853893202 A SU853893202 A SU 853893202A SU 3893202 A SU3893202 A SU 3893202A SU 1259159 A1 SU1259159 A1 SU 1259159A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
filter
optical axis
extremum
transmittance
interference
Prior art date
Application number
SU853893202A
Other languages
English (en)
Inventor
Вячеслав Алексеевич Шеволдин
Анатолий Дмитриевич Шнырев
Владимир Гавриилович Воробьев
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU853893202A priority Critical patent/SU1259159A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1259159A1 publication Critical patent/SU1259159A1/ru

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области спектрофотометрии.Оно позвол ет с высокой точностью определить коэффициент пропускани  интерференционных фи.- льтров(ИФ) в устройствах, имеющих возможность поворота ИФ вокруг оси. перпендикул рной к оптической оси лучистого потока, падающего на них. Это достигаетс  путем установки ИФ строго перпендикул рно к оптической оси. В исходном состо нии ИФ устанавливают произвольно, при этом угол между ИФ и оптической осью не должен превышать 20 . Измер ют спектральную кривую пропускани  ИФ. На склоне с высоким пропусканием (пор дка 70-90%) из участка с наибольшей крутизной определ ют рабочую точку и соответствующую ей длину волны. Поворачивают ИФ в сторону увеличени  меньшего угла, образованного плоскостью ИФ и рпти- ческой осью, и одновременно на длине волны, соответствующей рабочей точке, измер ют пропускание ИФ до прохождени  экстремума. После прохождени  экстремума ИФ возвращают в положение , соответствующее этому экстремуму. 1 кл. (Л

Description

f1
Изобретение относитс  к спек7 рофотометрии5 в частности к технике измерений спектрофотомет- рич.еских характеристик интерференционных фильтров.
Цель изобретени  - повышение TO4HQCTH определени  коэффициента пропускани  интерференционных фильтрод путем установки их строго перпендикул рно к оптической оси светового потока.
На чертеже приведена схема измерений ,
Схема содержит осветитель 1, монохроматор 2, интерференционный фильтр 3, приемник 4 излучени .
Способ осуществл етс  следующим образом.
В исходном состо нии интерферен- ционньй фильтр 3 устанавливаетс  произвольным образом по отношению к оптической оси. Угол, образованный плоскостью фиЛьтра и оптической осью равен ip (угол ч не должен превышать 20° дл  исключени  про в- лени  эффекта пол ризации излучени ) Монокроматором 2 выдел етс  лучистый поток в интервале длин волн, в пре- делак которого определ ют спектральную кривую пропуска ни , и регистри- руетс  эта крива . Определение спектральной кривой пропускани  провод т с вьшолнением услови  (дл  полосовых фильтров)
,
.10где S спектральна  ширина щели монохроматора; йл - полуширина спектральной кривой , т.е..ширина спектрально го интервала на границах которого пропускание равно половине максимального.
В случае полосовых интерференци- онньк фильтров выбираетс  на одном из склонов с высоким пропусканием, пощгченной спектральной кривой прот пускани , рабоча  точка на участке с наибольшей крутизной, например, из интервала, равного 0,7-0,9 от пропускани  в максимуме, т.е. (Оз7-0,9) , из участка с наиболшей крутизной, где - пропускание фильтра в максимуме.
У отрезающих фильтров спектральна  крива  пропускани  имеет только один склон, поэтому на нем выбира
0 5 о
5
0
5
0
5
592
етс  рабоча  точка на участке с наибольшей крутизной.
Далее определ ют по спектральной кривой пропускани  длину волны, соответствующую рабочей точке. Мо- нохроматором 2 выдел етс  лучистый поток, соответствующий этой длине волны. Приемником 4 излучени  измер етс  полученное при этом пропускание.
Поворачива  фильтр в сторону увеличени  меньшего из углов, образованного плоскостью фильтра и оптической осью, т.е. в сторону увеличени  угла. 1 вокруг оси, перпендикул рной к оптической, измер ют пропускание фильтра на той же самой длине волны. Спектральна  крива  пропускани  одинаковым образом смещаетс  в коротковолновую область при симметричных поворотах фильтра относительно оси.
Поворот интерференционного фильтра с одновременной регистрацией пропускани  на длине волны, соответствующей рабочей точки до прохождени  экстремума, с последующим возвращением фильтра в положение, соответствующее этому экстремуму, позвол ет выставить фильтр строго перпендикул рно к оптической оси.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ определени  коэффициента пропускани  интерференционых фильтров , при котором облучают фильтр, установленный с возможностью поворота вокруг оси, перпендикул рной к оптической оси падающего на него лучистого потока, и регистрируют спектральную кривую пропускани , отличающийс  TgMj что, с целью повышени  точности, регистрируют спектральную кривую пропускани  интерференционного фильтра, наход щегос  в произвольном положении по отнощению к оптической оси, выбирают рабочую .точку из участка кривой с наибольшей крутизной, определ ют длину волны, соответствующую рабочей точке, поворачивают интерференционный фильтр в сторону увеличени  меньшего угла, обр азованнрго плоскостью фильтра и оптической осью лучистого потока, и одновременно с поворотом на длине волнЫ, соответствующей рабочей точке, измер ют пропускание интерференцион312591594
    ного фильтра до прохождени  экстре- фильтра в положение, соответствующее мума с последующим возвращением
    этому экстремуму.
    Редактор Н. Марголнна
    Составитель В.Варнавский
    Техред М.Ходанич Корректор с. Шекмар
    5114/41
    Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д.4/5
    Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
    фильтра в положен
    этому экстремуму.
SU853893202A 1985-05-05 1985-05-05 Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров SU1259159A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853893202A SU1259159A1 (ru) 1985-05-05 1985-05-05 Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853893202A SU1259159A1 (ru) 1985-05-05 1985-05-05 Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1259159A1 true SU1259159A1 (ru) 1986-09-23

Family

ID=21176368

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853893202A SU1259159A1 (ru) 1985-05-05 1985-05-05 Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1259159A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106092974A (zh) * 2016-05-31 2016-11-09 南京理工大学 特种截止滤光片透射率曲线高精度测试装置及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Спектрофотометр инфракрасный ИКС-29. Техническое описание и инструкци по эксплуатации.- Л.: ЛОМО, 1960, с. 47. Фурман Ш.А. Тонкослойные оптические покрыти ,-- Л.: Машиностроение, 1977, с. 214. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106092974A (zh) * 2016-05-31 2016-11-09 南京理工大学 特种截止滤光片透射率曲线高精度测试装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69320623T2 (de) Mikropolarimeter, Mikrosensorsystem und Methode zum charakterisieren Dünner Filme
KR100356108B1 (ko) 이중 통과 에탈론 분광계
US11320377B2 (en) Detection device
US3669545A (en) Apparatus and method for analysis by attenuated total reflection
JPS591971B2 (ja) ブンコウコウドケイ
GB1382081A (en) Transmission spectra
US3306158A (en) Grating spectroscopes
SU1259159A1 (ru) Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров
JPS634650B2 (ru)
US4120592A (en) Multiplex optical analyzer apparatus
JPH031615B2 (ru)
US3211051A (en) Optical measuring device for obtaining a first derivative of intensity with respect to wavelength
SU1700359A1 (ru) Способ измерени среднего квадратического отклонени высот неровностей анизотропной поверхности издели и устройство дл его осуществлени
Prince Absorption spectrophotometry
RU2036418C1 (ru) Устройство для определения толщины и оптических свойств слоев в процессе их формирования
RU2247969C1 (ru) Спектральный эллипсометр
JPS6244215B2 (ru)
Brinkman et al. Simple, inexpensive monochromator modification permitting dual-channel operation
SU1341495A1 (ru) Интерферометрический способ контрол качества оптических поверхностей
RU1777054C (ru) Концентратомер
SU1550378A1 (ru) Способ определени показател преломлени прозрачных сред
JPH04326026A (ja) 分光測光装置
JPS63201539A (ja) 分光分析装置
SU269522A1 (ru) Фотоколориметр
JPS6219945Y2 (ru)