SU1259159A1 - Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров - Google Patents
Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров Download PDFInfo
- Publication number
- SU1259159A1 SU1259159A1 SU853893202A SU3893202A SU1259159A1 SU 1259159 A1 SU1259159 A1 SU 1259159A1 SU 853893202 A SU853893202 A SU 853893202A SU 3893202 A SU3893202 A SU 3893202A SU 1259159 A1 SU1259159 A1 SU 1259159A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- filter
- optical axis
- extremum
- transmittance
- interference
- Prior art date
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области спектрофотометрии.Оно позвол ет с высокой точностью определить коэффициент пропускани интерференционных фи.- льтров(ИФ) в устройствах, имеющих возможность поворота ИФ вокруг оси. перпендикул рной к оптической оси лучистого потока, падающего на них. Это достигаетс путем установки ИФ строго перпендикул рно к оптической оси. В исходном состо нии ИФ устанавливают произвольно, при этом угол между ИФ и оптической осью не должен превышать 20 . Измер ют спектральную кривую пропускани ИФ. На склоне с высоким пропусканием (пор дка 70-90%) из участка с наибольшей крутизной определ ют рабочую точку и соответствующую ей длину волны. Поворачивают ИФ в сторону увеличени меньшего угла, образованного плоскостью ИФ и рпти- ческой осью, и одновременно на длине волны, соответствующей рабочей точке, измер ют пропускание ИФ до прохождени экстремума. После прохождени экстремума ИФ возвращают в положение , соответствующее этому экстремуму. 1 кл. (Л
Description
f1
Изобретение относитс к спек7 рофотометрии5 в частности к технике измерений спектрофотомет- рич.еских характеристик интерференционных фильтров.
Цель изобретени - повышение TO4HQCTH определени коэффициента пропускани интерференционных фильтрод путем установки их строго перпендикул рно к оптической оси светового потока.
На чертеже приведена схема измерений ,
Схема содержит осветитель 1, монохроматор 2, интерференционный фильтр 3, приемник 4 излучени .
Способ осуществл етс следующим образом.
В исходном состо нии интерферен- ционньй фильтр 3 устанавливаетс произвольным образом по отношению к оптической оси. Угол, образованный плоскостью фиЛьтра и оптической осью равен ip (угол ч не должен превышать 20° дл исключени про в- лени эффекта пол ризации излучени ) Монокроматором 2 выдел етс лучистый поток в интервале длин волн, в пре- делак которого определ ют спектральную кривую пропуска ни , и регистри- руетс эта крива . Определение спектральной кривой пропускани провод т с вьшолнением услови (дл полосовых фильтров)
,
.10где S спектральна ширина щели монохроматора; йл - полуширина спектральной кривой , т.е..ширина спектрально го интервала на границах которого пропускание равно половине максимального.
В случае полосовых интерференци- онньк фильтров выбираетс на одном из склонов с высоким пропусканием, пощгченной спектральной кривой прот пускани , рабоча точка на участке с наибольшей крутизной, например, из интервала, равного 0,7-0,9 от пропускани в максимуме, т.е. (Оз7-0,9) , из участка с наиболшей крутизной, где - пропускание фильтра в максимуме.
У отрезающих фильтров спектральна крива пропускани имеет только один склон, поэтому на нем выбира
0 5 о
5
0
5
0
5
592
етс рабоча точка на участке с наибольшей крутизной.
Далее определ ют по спектральной кривой пропускани длину волны, соответствующую рабочей точке. Мо- нохроматором 2 выдел етс лучистый поток, соответствующий этой длине волны. Приемником 4 излучени измер етс полученное при этом пропускание.
Поворачива фильтр в сторону увеличени меньшего из углов, образованного плоскостью фильтра и оптической осью, т.е. в сторону увеличени угла. 1 вокруг оси, перпендикул рной к оптической, измер ют пропускание фильтра на той же самой длине волны. Спектральна крива пропускани одинаковым образом смещаетс в коротковолновую область при симметричных поворотах фильтра относительно оси.
Поворот интерференционного фильтра с одновременной регистрацией пропускани на длине волны, соответствующей рабочей точки до прохождени экстремума, с последующим возвращением фильтра в положение, соответствующее этому экстремуму, позвол ет выставить фильтр строго перпендикул рно к оптической оси.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ определени коэффициента пропускани интерференционых фильтров , при котором облучают фильтр, установленный с возможностью поворота вокруг оси, перпендикул рной к оптической оси падающего на него лучистого потока, и регистрируют спектральную кривую пропускани , отличающийс TgMj что, с целью повышени точности, регистрируют спектральную кривую пропускани интерференционного фильтра, наход щегос в произвольном положении по отнощению к оптической оси, выбирают рабочую .точку из участка кривой с наибольшей крутизной, определ ют длину волны, соответствующую рабочей точке, поворачивают интерференционный фильтр в сторону увеличени меньшего угла, обр азованнрго плоскостью фильтра и оптической осью лучистого потока, и одновременно с поворотом на длине волнЫ, соответствующей рабочей точке, измер ют пропускание интерференцион312591594ного фильтра до прохождени экстре- фильтра в положение, соответствующее мума с последующим возвращениемэтому экстремуму.Редактор Н. МарголннаСоставитель В.ВарнавскийТехред М.Ходанич Корректор с. Шекмар5114/41Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д.4/5Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4фильтра в положенэтому экстремуму.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853893202A SU1259159A1 (ru) | 1985-05-05 | 1985-05-05 | Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853893202A SU1259159A1 (ru) | 1985-05-05 | 1985-05-05 | Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1259159A1 true SU1259159A1 (ru) | 1986-09-23 |
Family
ID=21176368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853893202A SU1259159A1 (ru) | 1985-05-05 | 1985-05-05 | Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1259159A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106092974A (zh) * | 2016-05-31 | 2016-11-09 | 南京理工大学 | 特种截止滤光片透射率曲线高精度测试装置及方法 |
-
1985
- 1985-05-05 SU SU853893202A patent/SU1259159A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Спектрофотометр инфракрасный ИКС-29. Техническое описание и инструкци по эксплуатации.- Л.: ЛОМО, 1960, с. 47. Фурман Ш.А. Тонкослойные оптические покрыти ,-- Л.: Машиностроение, 1977, с. 214. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106092974A (zh) * | 2016-05-31 | 2016-11-09 | 南京理工大学 | 特种截止滤光片透射率曲线高精度测试装置及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69320623T2 (de) | Mikropolarimeter, Mikrosensorsystem und Methode zum charakterisieren Dünner Filme | |
KR100356108B1 (ko) | 이중 통과 에탈론 분광계 | |
US11320377B2 (en) | Detection device | |
US3669545A (en) | Apparatus and method for analysis by attenuated total reflection | |
JPS591971B2 (ja) | ブンコウコウドケイ | |
GB1382081A (en) | Transmission spectra | |
US3306158A (en) | Grating spectroscopes | |
SU1259159A1 (ru) | Способ определени коэффициента пропускани интерференционных фильтров | |
JPS634650B2 (ru) | ||
US4120592A (en) | Multiplex optical analyzer apparatus | |
JPH031615B2 (ru) | ||
US3211051A (en) | Optical measuring device for obtaining a first derivative of intensity with respect to wavelength | |
SU1700359A1 (ru) | Способ измерени среднего квадратического отклонени высот неровностей анизотропной поверхности издели и устройство дл его осуществлени | |
Prince | Absorption spectrophotometry | |
RU2036418C1 (ru) | Устройство для определения толщины и оптических свойств слоев в процессе их формирования | |
RU2247969C1 (ru) | Спектральный эллипсометр | |
JPS6244215B2 (ru) | ||
Brinkman et al. | Simple, inexpensive monochromator modification permitting dual-channel operation | |
SU1341495A1 (ru) | Интерферометрический способ контрол качества оптических поверхностей | |
RU1777054C (ru) | Концентратомер | |
SU1550378A1 (ru) | Способ определени показател преломлени прозрачных сред | |
JPH04326026A (ja) | 分光測光装置 | |
JPS63201539A (ja) | 分光分析装置 | |
SU269522A1 (ru) | Фотоколориметр | |
JPS6219945Y2 (ru) |