SU1216751A2 - Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter - Google Patents
Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter Download PDFInfo
- Publication number
- SU1216751A2 SU1216751A2 SU843783979A SU3783979A SU1216751A2 SU 1216751 A2 SU1216751 A2 SU 1216751A2 SU 843783979 A SU843783979 A SU 843783979A SU 3783979 A SU3783979 A SU 3783979A SU 1216751 A2 SU1216751 A2 SU 1216751A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- filter
- radiation
- angle
- intensity
- incidence
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Изобретение позвол ет повысить точность измерени характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени точности определени угла падени излучени на светофильтр, соответствующего поло- вине максимума интенсивности прошедшего излучени . Дл этого одновременно с регистрацией интенсивности прошедшего через светофильтр излучени измер ют угол падени пучка на светофильтр, соотйетствую- щий максимуму интенсивности прошедшего излучени . Угол падени излучени на светофильтр, соответствующий половине максимума пропускани , измер ют в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интенсивности отраженного от светофильтра излучени при угле падени , соответствующем максимуму пропускани светофильтра. Посто нна составл юща отраженного пучка может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускани . Q S (Л елThe invention makes it possible to increase the accuracy of measuring the characteristics of an interference filter by increasing the accuracy of determining the angle of incidence of the radiation on the filter corresponding to half the maximum of the intensity of the transmitted radiation. For this, simultaneously with recording the intensity of the radiation transmitted through the filter, the angle of incidence of the beam on the filter is measured, corresponding to the maximum of the intensity of the transmitted radiation. The angle of incidence of the radiation on the filter corresponding to half the maximum transmission is measured at the moment when the difference between the intensities of the transmitted and reflected radiation is equal to the intensity of the radiation reflected from the optical filter at the angle of incidence corresponding to the maximum transmission of the optical filter. The constant component of the reflected beam can be measured by installing the filter at an angle corresponding to its maximum transmittance. Q S (L ate
Description
Изобретение относитс к оптичес- KObfy приборостроению,в частности к методам из14ерени характеристик уэкополосных интерференционных светофильтров , и вл етс усовершен ствованием известного способа по авт. св. № 1024862.The invention relates to optical-KObfy instrument making, in particular to methods for measuring the characteristics of high-pass interference filters, and is an improvement of the known method according to the author. St. No. 1024862.
Целью изобретени вл етс повьше ние точности измерени Характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени точности определени угла падени излучени на свето. фильтр, соответствующего половине максимума интенсивности й рошедшего излучени .The aim of the invention is to increase the measurement accuracy of the characteristics of an interference light filter by increasing the accuracy of determining the angle of incidence of radiation on the light. a filter corresponding to half the maximum of the intensity of the last radiation.
По основному авт. св. № 1024862 известен способ определени ширины полосы и дайны волны максимума пропускани интерференционного светофильтра путем его просвечивани параллельным пучком монохроматического света и последующей регистрации интенсивности прошедшего излучени при изменении угла падени излучени .на светофильтр. Просвечивание осуществл ют излучением с длиной волны. меньшей длины, соответствукицей максимуму пропускани фильтра. Далее измер ют угол падени пучка на светофильтр , соответствукщий максимуму интенсивности прошедшего излучени , а также угол падени , соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучени . Ширину полосы и длину волны максимума пропускани определ ют по следующим соотношени м:According to the main author. St. No. 1024862 discloses a method for determining the bandwidth and a wave of a maximum transmission wavelength of an interference optical filter by scanning it with a parallel beam of monochromatic light and then recording the transmitted radiation intensity when the angle of incidence of the radiation changes to the optical filter. Transmission is carried out by radiation with a wavelength. shorter length, corresponding to the maximum pass of the filter. Next, the angle of incidence of the beam on the filter corresponding to the maximum of the transmitted radiation intensity is measured, as well as the angle of incidence corresponding to the half of the maximum of the intensity of the transmitted radiation. The width of the band and the wavelength of the maximum transmittance are determined by the following relations:
4,)four,)
Ul fQjMK l Q :Ul fQjMK l Q:
маис maize
де - длина волны, соответствующа максимуму пропускани :de is the wavelength corresponding to the maximum transmittance:
Aj, - длина волнь просвечивающего пучка:Aj, is the wavelength of the transmission beam:
махс- угол падени пучка на светофильтр, соответствующий максимальной интенсивности прошедшего излучени ; max is the angle of incidence of the beam on the filter corresponding to the maximum intensity of the transmitted radiation;
П - показатель преломлени разделительного сло светофильтра;P is the refractive index of the separation layer of the filter;
51 .251 .2
S-ii - ширина полосы пропуска-ни светофильтра; Qg, - угол падени пучка на светофильтр, соотнетствующий половине максимума интенсивности про- шедшего излучени . Известно, что формы полос пропускани и отражени узкополосного ин- терференционного светофильтра вл ютс взаимно дополнительными, поэтому при условии малости потерь световой энергии на поглощение внутри светофильтра интенсивность отра- женного -И прошедшего через светофильтр излучени также дополнительны друг другу с точностью до посто нной составл ощей. Таким образом, устранив посто нную составл ющую от- раженного пучка, можно получить,S-ii - the bandwidth of the pass-no filter; Qg, is the angle of incidence of the beam on the filter corresponding to half the maximum of the intensity of the transmitted radiation. It is known that the shapes of the transmission band and the reflection of the narrowband interference filter are mutually additional, therefore, provided that the loss of light energy to absorption inside the filter is small, the intensity of the reflected radiation and the radiation transmitted through the filter are also complementary to each other with an accuracy of . Thus, by eliminating the constant component of the reflected beam, it is possible to obtain
что при угле падени светового излучени , соответствующем половинеthat at the angle of incidence of the light radiation corresponding to half
максимума пропускани светофильтра, интенсивности отраженного и прошедthe maximum transmission of the filter, the intensity of the reflected and transmitted
шего через светофильтр излучени through the light filter
одинаковы, а их разность равна нулю. Это обсто тепьство позвол ет более точно определить угол, соответствующий половине максимума пропускани are the same, and their difference is zero. This situation allows us to more accurately determine the angle corresponding to half the maximum transmission
светофильтра. Пои этом посто нна составл юща отраженного пучка : может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускани .light filter. Therefore, the constant component of the reflected beam: can be measured by installing the filter at an angle corresponding to its maximum transmittance.
В процессе измерени угла наклона светофильтра измер ютс два близких по величине световьк потока, поэтому ошибка измерени , вызываема нелинейностью фотоприемного устройства , мала. Кроме того, значительно ослабл етс вли ние мешающих фоновых засветок, так как вносима ими погрешность пропорциональна разности световых потоков фонового излучени , а н-г самому световому потоку. По стой причине нестабильность мощности источника излучени такхсе мало сказываетс на результатах измерени .In the process of measuring the angle of inclination of the light filter, two similarly high fluxes are measured, so the measurement error caused by the non-linearity of the photoreceiver is small. In addition, the effect of interfering background light is significantly weakened, as the error introduced by them is proportional to the difference in the light fluxes of the background radiation, and the n – g light flux itself. For good reason, the instability of the power of the radiation source also has little effect on the measurement results.
Предлагаемый способ позвол ет повысить точность измерени основных характеристик узкополосных и контрастных светофильтровразличных пор дков.The proposed method makes it possible to increase the accuracy of measuring the main characteristics of narrowband and contrast light filters of various orders.
5555
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843783979A SU1216751A2 (en) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843783979A SU1216751A2 (en) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1024862 Addition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1216751A2 true SU1216751A2 (en) | 1986-03-07 |
Family
ID=21135967
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843783979A SU1216751A2 (en) | 1984-08-22 | 1984-08-22 | Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1216751A2 (en) |
-
1984
- 1984-08-22 SU SU843783979A patent/SU1216751A2/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1024862, кл. G 02 В 5/28, 11.01.82. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1216751A2 (en) | Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter | |
JPH0354292B2 (en) | ||
CN110986803A (en) | System and method for measuring thickness of air layer in glass gap | |
JPS633236A (en) | Wavelength dispersion measuring instrument for optical fiber | |
JPS5821527A (en) | Fourier converting type infrared spectrophotometer | |
SU1458779A1 (en) | Autocollimation method of determining refraction indexes of wedge-shaped specimens | |
SU1024862A1 (en) | Interferential light filter maximum of transmission band width and wave length determination method | |
JPS62159027A (en) | Detecting device for degree of deterioration of oil | |
SU1672206A1 (en) | Method of measuring decentering of optical parts and device for effecting same | |
SU1644067A1 (en) | Method for calibration testing photometer scales | |
JP3474021B2 (en) | Birefringence measurement device | |
SU1242890A2 (en) | Method of determining bandwidth and wavelength of maximum of interference light filter | |
SU1312400A1 (en) | Optical analyzer | |
SU1476353A1 (en) | Method for measuring optic constants of absorbing media | |
SU1668922A1 (en) | Determining transmission coefficient of objective | |
SU934281A1 (en) | Method of determining amplitude-frequency characteristics of of light guides | |
SU550564A1 (en) | Modulation method for determining plate index | |
SU1449842A1 (en) | Method of measuring radius of curvature of spherical surface of optical part | |
SU1509688A1 (en) | Device for measuring reflection factor of mirror | |
SU1545197A1 (en) | Method of interference resolution measurements | |
SU1122898A2 (en) | Device for measuring coefficients of light transmission of optical systems and components | |
SU575917A1 (en) | Interference method of measuring phase distribution across laser bundle section | |
SU913182A1 (en) | Gas mixture analysis method | |
SU1531690A1 (en) | Method and meter for measuring radiation wavelength | |
SU872973A1 (en) | Photometer for measuring optical surface reflection factor |