SU1216751A2 - Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter - Google Patents

Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter Download PDF

Info

Publication number
SU1216751A2
SU1216751A2 SU843783979A SU3783979A SU1216751A2 SU 1216751 A2 SU1216751 A2 SU 1216751A2 SU 843783979 A SU843783979 A SU 843783979A SU 3783979 A SU3783979 A SU 3783979A SU 1216751 A2 SU1216751 A2 SU 1216751A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
filter
radiation
angle
intensity
incidence
Prior art date
Application number
SU843783979A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Валентин Михайлович Гримблатов
Олег Николаевич Окунишников
Original Assignee
Одесский государственный университет им.И.И.Мечникова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Одесский государственный университет им.И.И.Мечникова filed Critical Одесский государственный университет им.И.И.Мечникова
Priority to SU843783979A priority Critical patent/SU1216751A2/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1216751A2 publication Critical patent/SU1216751A2/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

Изобретение позвол ет повысить точность измерени  характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени  точности определени  угла падени  излучени  на светофильтр, соответствующего поло- вине максимума интенсивности прошедшего излучени . Дл  этого одновременно с регистрацией интенсивности прошедшего через светофильтр излучени  измер ют угол падени  пучка на светофильтр, соотйетствую- щий максимуму интенсивности прошедшего излучени . Угол падени  излучени  на светофильтр, соответствующий половине максимума пропускани , измер ют в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интенсивности отраженного от светофильтра излучени  при угле падени , соответствующем максимуму пропускани  светофильтра. Посто нна  составл юща  отраженного пучка может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускани . Q S (Л елThe invention makes it possible to increase the accuracy of measuring the characteristics of an interference filter by increasing the accuracy of determining the angle of incidence of the radiation on the filter corresponding to half the maximum of the intensity of the transmitted radiation. For this, simultaneously with recording the intensity of the radiation transmitted through the filter, the angle of incidence of the beam on the filter is measured, corresponding to the maximum of the intensity of the transmitted radiation. The angle of incidence of the radiation on the filter corresponding to half the maximum transmission is measured at the moment when the difference between the intensities of the transmitted and reflected radiation is equal to the intensity of the radiation reflected from the optical filter at the angle of incidence corresponding to the maximum transmission of the optical filter. The constant component of the reflected beam can be measured by installing the filter at an angle corresponding to its maximum transmittance. Q S (L ate

Description

Изобретение относитс  к оптичес- KObfy приборостроению,в частности к методам из14ерени  характеристик уэкополосных интерференционных светофильтров , и  вл етс  усовершен ствованием известного способа по авт. св. № 1024862.The invention relates to optical-KObfy instrument making, in particular to methods for measuring the characteristics of high-pass interference filters, and is an improvement of the known method according to the author. St. No. 1024862.

Целью изобретени   вл етс  повьше ние точности измерени  Характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени  точности определени  угла падени  излучени  на свето. фильтр, соответствующего половине максимума интенсивности й рошедшего излучени .The aim of the invention is to increase the measurement accuracy of the characteristics of an interference light filter by increasing the accuracy of determining the angle of incidence of radiation on the light. a filter corresponding to half the maximum of the intensity of the last radiation.

По основному авт. св. № 1024862 известен способ определени  ширины полосы и дайны волны максимума пропускани  интерференционного светофильтра путем его просвечивани  параллельным пучком монохроматического света и последующей регистрации интенсивности прошедшего излучени при изменении угла падени  излучени  .на светофильтр. Просвечивание осуществл ют излучением с длиной волны. меньшей длины, соответствукицей максимуму пропускани  фильтра. Далее измер ют угол падени  пучка на светофильтр , соответствукщий максимуму интенсивности прошедшего излучени , а также угол падени , соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучени . Ширину полосы и длину волны максимума пропускани  определ ют по следующим соотношени м:According to the main author. St. No. 1024862 discloses a method for determining the bandwidth and a wave of a maximum transmission wavelength of an interference optical filter by scanning it with a parallel beam of monochromatic light and then recording the transmitted radiation intensity when the angle of incidence of the radiation changes to the optical filter. Transmission is carried out by radiation with a wavelength. shorter length, corresponding to the maximum pass of the filter. Next, the angle of incidence of the beam on the filter corresponding to the maximum of the transmitted radiation intensity is measured, as well as the angle of incidence corresponding to the half of the maximum of the intensity of the transmitted radiation. The width of the band and the wavelength of the maximum transmittance are determined by the following relations:

4,)four,)

Ul fQjMK l Q :Ul fQjMK l Q:

маис maize

де - длина волны, соответствующа  максимуму пропускани :de is the wavelength corresponding to the maximum transmittance:

Aj, - длина волнь просвечивающего пучка:Aj, is the wavelength of the transmission beam:

махс- угол падени  пучка на светофильтр, соответствующий максимальной интенсивности прошедшего излучени ; max is the angle of incidence of the beam on the filter corresponding to the maximum intensity of the transmitted radiation;

П - показатель преломлени  разделительного сло  светофильтра;P is the refractive index of the separation layer of the filter;

51 .251 .2

S-ii - ширина полосы пропуска-ни  светофильтра; Qg, - угол падени  пучка на светофильтр, соотнетствующий половине максимума интенсивности про- шедшего излучени . Известно, что формы полос пропускани  и отражени  узкополосного ин- терференционного светофильтра  вл ютс  взаимно дополнительными, поэтому при условии малости потерь световой энергии на поглощение внутри светофильтра интенсивность отра- женного -И прошедшего через светофильтр излучени  также дополнительны друг другу с точностью до посто нной составл  ощей. Таким образом, устранив посто нную составл ющую от- раженного пучка, можно получить,S-ii - the bandwidth of the pass-no filter; Qg, is the angle of incidence of the beam on the filter corresponding to half the maximum of the intensity of the transmitted radiation. It is known that the shapes of the transmission band and the reflection of the narrowband interference filter are mutually additional, therefore, provided that the loss of light energy to absorption inside the filter is small, the intensity of the reflected radiation and the radiation transmitted through the filter are also complementary to each other with an accuracy of . Thus, by eliminating the constant component of the reflected beam, it is possible to obtain

что при угле падени  светового излучени , соответствующем половинеthat at the angle of incidence of the light radiation corresponding to half

максимума пропускани  светофильтра, интенсивности отраженного и прошедthe maximum transmission of the filter, the intensity of the reflected and transmitted

шего через светофильтр излучени through the light filter

одинаковы, а их разность равна нулю. Это обсто тепьство позвол ет более точно определить угол, соответствующий половине максимума пропускани are the same, and their difference is zero. This situation allows us to more accurately determine the angle corresponding to half the maximum transmission

светофильтра. Пои этом посто нна  составл юща  отраженного пучка : может быть измерена при установке фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускани .light filter. Therefore, the constant component of the reflected beam: can be measured by installing the filter at an angle corresponding to its maximum transmittance.

В процессе измерени  угла наклона светофильтра измер ютс  два близких по величине световьк потока, поэтому ошибка измерени , вызываема  нелинейностью фотоприемного устройства , мала. Кроме того, значительно ослабл етс  вли ние мешающих фоновых засветок, так как вносима  ими погрешность пропорциональна разности световых потоков фонового излучени , а н-г самому световому потоку. По стой причине нестабильность мощности источника излучени  такхсе мало сказываетс  на результатах измерени  .In the process of measuring the angle of inclination of the light filter, two similarly high fluxes are measured, so the measurement error caused by the non-linearity of the photoreceiver is small. In addition, the effect of interfering background light is significantly weakened, as the error introduced by them is proportional to the difference in the light fluxes of the background radiation, and the n – g light flux itself. For good reason, the instability of the power of the radiation source also has little effect on the measurement results.

Предлагаемый способ позвол ет повысить точность измерени  основных характеристик узкополосных и контрастных светофильтровразличных пор дков.The proposed method makes it possible to increase the accuracy of measuring the main characteristics of narrowband and contrast light filters of various orders.

5555

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Способ определени  ширины полосы и длины волны максимума пропускани  интерференционного светофильтра по авт. св. № 102Д862, о т л и - чающийс   тем, что, с цельк повышени  точности измерени  характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличени  точности определени  угла падени  излучени  на светофильтр, соответствующего половине максимума интенсивности прошедшего излучени , одновременно с регистрацией интенсивности прошед The method of determining the bandwidth and wavelength of the maximum transmission of an interference filter according to the author. St. No. 102D862, which is based on the fact that, with the aim of increasing the accuracy of measurement of the characteristics of the interference filter by increasing the accuracy of determining the angle of incidence of radiation on the filter corresponding to half of the maximum intensity of the transmitted radiation, 167Ы-4167Ы-4 шего через светофильтр излучени  ре- . гистрируют интенсивность отраженного от него излучени , а угол падени  излучени  на светофильтр, соот- J вествующий половине максимума пропускани , измер ет в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интен- сивностиотраженного отсветофильтра из- 10 лучени  при угле падени ,соответствующем максимуму пропускани  светофильтра.through the filter of radiation of re-. The intensity of the radiation reflected from it is reflected, and the angle of incidence of radiation on the optical filter, corresponding to half of the maximum transmission, is measured at the moment when the difference between the intensities of transmitted and reflected radiation is equal to the intensity of the reflected optical radiation filter at 10 times the angle of incidence light filter.
SU843783979A 1984-08-22 1984-08-22 Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter SU1216751A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843783979A SU1216751A2 (en) 1984-08-22 1984-08-22 Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843783979A SU1216751A2 (en) 1984-08-22 1984-08-22 Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1024862 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1216751A2 true SU1216751A2 (en) 1986-03-07

Family

ID=21135967

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843783979A SU1216751A2 (en) 1984-08-22 1984-08-22 Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1216751A2 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1024862, кл. G 02 В 5/28, 11.01.82. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1216751A2 (en) Method of determining bandwidth and maximum transmission wavelength of interference light filter
JPH0354292B2 (en)
CN110986803A (en) System and method for measuring thickness of air layer in glass gap
JPS633236A (en) Wavelength dispersion measuring instrument for optical fiber
JPS5821527A (en) Fourier converting type infrared spectrophotometer
SU1458779A1 (en) Autocollimation method of determining refraction indexes of wedge-shaped specimens
SU1024862A1 (en) Interferential light filter maximum of transmission band width and wave length determination method
JPS62159027A (en) Detecting device for degree of deterioration of oil
SU1672206A1 (en) Method of measuring decentering of optical parts and device for effecting same
SU1644067A1 (en) Method for calibration testing photometer scales
JP3474021B2 (en) Birefringence measurement device
SU1242890A2 (en) Method of determining bandwidth and wavelength of maximum of interference light filter
SU1312400A1 (en) Optical analyzer
SU1476353A1 (en) Method for measuring optic constants of absorbing media
SU1668922A1 (en) Determining transmission coefficient of objective
SU934281A1 (en) Method of determining amplitude-frequency characteristics of of light guides
SU550564A1 (en) Modulation method for determining plate index
SU1449842A1 (en) Method of measuring radius of curvature of spherical surface of optical part
SU1509688A1 (en) Device for measuring reflection factor of mirror
SU1545197A1 (en) Method of interference resolution measurements
SU1122898A2 (en) Device for measuring coefficients of light transmission of optical systems and components
SU575917A1 (en) Interference method of measuring phase distribution across laser bundle section
SU913182A1 (en) Gas mixture analysis method
SU1531690A1 (en) Method and meter for measuring radiation wavelength
SU872973A1 (en) Photometer for measuring optical surface reflection factor