SU1201673A1 - Способ измерения толщины - Google Patents

Способ измерения толщины Download PDF

Info

Publication number
SU1201673A1
SU1201673A1 SU843764254A SU3764254A SU1201673A1 SU 1201673 A1 SU1201673 A1 SU 1201673A1 SU 843764254 A SU843764254 A SU 843764254A SU 3764254 A SU3764254 A SU 3764254A SU 1201673 A1 SU1201673 A1 SU 1201673A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
electrode
capacitance
etched
measure
Prior art date
Application number
SU843764254A
Other languages
English (en)
Inventor
Anatolij G Zhizherin
Gennadij V Klevtsov
Aleksandr L Menner
Original Assignee
Anatolij G Zhizherin
Gennadij V Klevtsov
Aleksandr L Menner
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anatolij G Zhizherin, Gennadij V Klevtsov, Aleksandr L Menner filed Critical Anatolij G Zhizherin
Priority to SU843764254A priority Critical patent/SU1201673A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1201673A1 publication Critical patent/SU1201673A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь^ эовано для определения толщины стравленного слоя металла с поверхности излома образцов, исследуемых 5 методами разрушающего контроля.
Целью изобретения является повышение точности измерения средней толщины слоя металла, стравленного с крупношероховатой поверхности об- 10 разцов. ;
На чертеже представлена схема осуществления способа измерения средней толщины стравленного с по-. верхности образца слоя металла. ,5
На схеме изображены базовая плоскость 1, установленный на ней контролируемый образец 2 с крупношероховатой поверхностью 3 (после его травления) , установленный параллельно 20
поверхности 3 с зазором плоский электрод 4 и подключенный между ним и образцом 2 измеритель 5 емкости (пунктирной линией показана контролируемая поверхность 3 и положение 25
электрода 4 до травления образца).
Способ осуществляют следующим образом.
Контролируемый образец 2 устанавливают основанием на базовую плос- 30 кость 1. Параллельно контролируемой крупношероховатой поверхности 3 образца· 2 до его травления устанавливают плоский электрод 4 (показан пунктиром) с зазором, величина кото- 35 рого соизмерима с амплитудой впадин и гребней поверхности 3 образца 2.
С помощью измерителя 5 емкости измеряют электрическую емкость между ним и образцом 2, измеренную величину емкости до травления образца фиксируют не меняя положения электрода 4, образец 2 снимают с базовой плоскости 1, его контролируемую поверхность 3 подвергают травлению и затем вновь устанавливают на базовой плоскости 1. Контролируя величину емкости между электродом 4 и образ*цом 2 с помощью измерителя 5 емкости перемещают плоский электрод 4 параллельно самому себе в направлении к контролируемой поверхности 3 до тех пор, пока значение измеряемой емкости не сравняется с зафиксированной величиной емкости до травления образца 2. С помощью преобразователя перемещений (не показан) определяют величину перемещения электрода 4. Среднюю толщину стравленного с поверхности образца слоя металла принимают равной величине измеренного перемещения электрода 4. Так как средние величины зазора между точками контролируемой поверхности 3 образца и электродом 4 до и после травления образца равны между собой, нелинейный характер изменения величины емкости между электродом и образцом в зависимости от величины зазора не влияет на ре- < зультаты измерений. Благодаря этому повышается точность измерения средней толщины слоя металла, стравленного с крупношероховатой поверхности образца, высота гребней которой соизмерима с толщиной стравленного слоя. ·

Claims (1)

  1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ стравленного с поверхности образца слоя металла, заключающийся в том, что образец устанавливают на базовую плоскость, параллельно его контролируемой поверхности размещают с зазором плоский электрод емкостного датчика зазора, измеряют электрическую емкость между ним и контролируемой поверхностью образца до травления, перемещают электрод параллельно самому себе в направлении к поверхности и измеряют электрическую емкость между ним и контролируемой поверхностью образца после травления, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения средней толщины слоя металла, стравленного с крупношероховатой поверхности образца, перемеще' ние электрода относительно поверхности образца после его травления осуществляют до тех пор, пока емкость между ним и контролируемой поверхностью образца станет равной © емкости между электродом и контролируемой поверхностью образца до травления, а затем измеряют величину перемещения электрода, по которой определяют контролируемую величину .
    5ϋ „„1201673
    < 1201673 1
SU843764254A 1984-07-13 1984-07-13 Способ измерения толщины SU1201673A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843764254A SU1201673A1 (ru) 1984-07-13 1984-07-13 Способ измерения толщины

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843764254A SU1201673A1 (ru) 1984-07-13 1984-07-13 Способ измерения толщины

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1201673A1 true SU1201673A1 (ru) 1985-12-30

Family

ID=21128105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843764254A SU1201673A1 (ru) 1984-07-13 1984-07-13 Способ измерения толщины

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1201673A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2504730C1 (ru) * 2012-07-19 2014-01-20 Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Государственный научно-производственный ракетно-космический центр "ЦСКБ-Прогресс" (ФГУП "ГНПРКЦ "ЦСКБ-Прогресс") Способ контроля целостности токопроводящего покрытия на диэлектрическом материале

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2504730C1 (ru) * 2012-07-19 2014-01-20 Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Государственный научно-производственный ракетно-космический центр "ЦСКБ-Прогресс" (ФГУП "ГНПРКЦ "ЦСКБ-Прогресс") Способ контроля целостности токопроводящего покрытия на диэлектрическом материале

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1201673A1 (ru) Способ измерения толщины
SU1049791A1 (ru) Способ определени адгезии в жущего вещества к поверхности твердого тела
RU175976U1 (ru) Устройство контроля целостности токопроводящего покрытия, нанесённого на диэлектрический материал
RU187120U1 (ru) Устройство обнаружения локальных дефектов токопроводящего покрытия на основе измерения ёмкости с применением индуцирующего электрода
SU1458696A1 (ru) Способ измерения толщины стравленного слоя металла-
SU1583763A1 (ru) Способ определени механических напр жений
SU1525434A1 (ru) Способ измерени отклонени от перпендикул рности
KR100376324B1 (ko) 교량의 내하력평가를 위한 변위측정방법 및 장치
SU1682834A1 (ru) Способ определени остаточных напр жений
SU1663411A2 (ru) Способ контрол шероховатости поверхности м гких материалов
SU1474452A1 (ru) Способ контрол поверхности электропровод щих изделий и устройство дл его осуществлени
SU1375944A1 (ru) Тензометр изгибных деформаций образца
SU853513A1 (ru) Способ определени диэлектрическихСВОйСТВ МАТЕРиАлА
RU2688849C1 (ru) Устройство для измерения деформаций
SU410246A1 (ru)
SU1709180A1 (ru) Умножитель деформаций дл измерителей накопленных повреждений конструкций
SU1515122A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости материалов
RU1822245C (ru) Интегральный преобразователь деформаций егиазаряна и способ его изготовления
JPH02213702A (ja) 半導体基板エッジチップ測定器
RU1806333C (ru) Способ определени локальных механических напр жений контактируемых тел
SU518615A1 (ru) Способ измерени реологических напр жений
SU1104358A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций
SU1288495A2 (ru) Устройство дл поверки электромагнитного толщиномера покрытий
SU1733919A1 (ru) Способ определени линейных перемещений
SU1397704A1 (ru) Способ измерени деформаций цилиндрического образца и устройство дл его осуществлени