SU1201673A1 - Способ измерения толщины - Google Patents
Способ измерения толщины Download PDFInfo
- Publication number
- SU1201673A1 SU1201673A1 SU843764254A SU3764254A SU1201673A1 SU 1201673 A1 SU1201673 A1 SU 1201673A1 SU 843764254 A SU843764254 A SU 843764254A SU 3764254 A SU3764254 A SU 3764254A SU 1201673 A1 SU1201673 A1 SU 1201673A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- electrode
- capacitance
- etched
- measure
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь^ эовано для определения толщины стравленного слоя металла с поверхности излома образцов, исследуемых 5 методами разрушающего контроля.
Целью изобретения является повышение точности измерения средней толщины слоя металла, стравленного с крупношероховатой поверхности об- 10 разцов. ;
На чертеже представлена схема осуществления способа измерения средней толщины стравленного с по-. верхности образца слоя металла. ,5
На схеме изображены базовая плоскость 1, установленный на ней контролируемый образец 2 с крупношероховатой поверхностью 3 (после его травления) , установленный параллельно 20
поверхности 3 с зазором плоский электрод 4 и подключенный между ним и образцом 2 измеритель 5 емкости (пунктирной линией показана контролируемая поверхность 3 и положение 25
электрода 4 до травления образца).
Способ осуществляют следующим образом.
Контролируемый образец 2 устанавливают основанием на базовую плос- 30 кость 1. Параллельно контролируемой крупношероховатой поверхности 3 образца· 2 до его травления устанавливают плоский электрод 4 (показан пунктиром) с зазором, величина кото- 35 рого соизмерима с амплитудой впадин и гребней поверхности 3 образца 2.
С помощью измерителя 5 емкости измеряют электрическую емкость между ним и образцом 2, измеренную величину емкости до травления образца фиксируют не меняя положения электрода 4, образец 2 снимают с базовой плоскости 1, его контролируемую поверхность 3 подвергают травлению и затем вновь устанавливают на базовой плоскости 1. Контролируя величину емкости между электродом 4 и образ*цом 2 с помощью измерителя 5 емкости перемещают плоский электрод 4 параллельно самому себе в направлении к контролируемой поверхности 3 до тех пор, пока значение измеряемой емкости не сравняется с зафиксированной величиной емкости до травления образца 2. С помощью преобразователя перемещений (не показан) определяют величину перемещения электрода 4. Среднюю толщину стравленного с поверхности образца слоя металла принимают равной величине измеренного перемещения электрода 4. Так как средние величины зазора между точками контролируемой поверхности 3 образца и электродом 4 до и после травления образца равны между собой, нелинейный характер изменения величины емкости между электродом и образцом в зависимости от величины зазора не влияет на ре- < зультаты измерений. Благодаря этому повышается точность измерения средней толщины слоя металла, стравленного с крупношероховатой поверхности образца, высота гребней которой соизмерима с толщиной стравленного слоя. ·
Claims (1)
- СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ стравленного с поверхности образца слоя металла, заключающийся в том, что образец устанавливают на базовую плоскость, параллельно его контролируемой поверхности размещают с зазором плоский электрод емкостного датчика зазора, измеряют электрическую емкость между ним и контролируемой поверхностью образца до травления, перемещают электрод параллельно самому себе в направлении к поверхности и измеряют электрическую емкость между ним и контролируемой поверхностью образца после травления, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения средней толщины слоя металла, стравленного с крупношероховатой поверхности образца, перемеще' ние электрода относительно поверхности образца после его травления осуществляют до тех пор, пока емкость между ним и контролируемой поверхностью образца станет равной © емкости между электродом и контролируемой поверхностью образца до травления, а затем измеряют величину перемещения электрода, по которой определяют контролируемую величину .5ϋ „„1201673< 1201673 1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843764254A SU1201673A1 (ru) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | Способ измерения толщины |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843764254A SU1201673A1 (ru) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | Способ измерения толщины |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1201673A1 true SU1201673A1 (ru) | 1985-12-30 |
Family
ID=21128105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843764254A SU1201673A1 (ru) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | Способ измерения толщины |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1201673A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2504730C1 (ru) * | 2012-07-19 | 2014-01-20 | Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Государственный научно-производственный ракетно-космический центр "ЦСКБ-Прогресс" (ФГУП "ГНПРКЦ "ЦСКБ-Прогресс") | Способ контроля целостности токопроводящего покрытия на диэлектрическом материале |
-
1984
- 1984-07-13 SU SU843764254A patent/SU1201673A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2504730C1 (ru) * | 2012-07-19 | 2014-01-20 | Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Государственный научно-производственный ракетно-космический центр "ЦСКБ-Прогресс" (ФГУП "ГНПРКЦ "ЦСКБ-Прогресс") | Способ контроля целостности токопроводящего покрытия на диэлектрическом материале |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1201673A1 (ru) | Способ измерения толщины | |
SU1049791A1 (ru) | Способ определени адгезии в жущего вещества к поверхности твердого тела | |
RU175976U1 (ru) | Устройство контроля целостности токопроводящего покрытия, нанесённого на диэлектрический материал | |
RU187120U1 (ru) | Устройство обнаружения локальных дефектов токопроводящего покрытия на основе измерения ёмкости с применением индуцирующего электрода | |
SU1458696A1 (ru) | Способ измерения толщины стравленного слоя металла- | |
SU1583763A1 (ru) | Способ определени механических напр жений | |
SU1525434A1 (ru) | Способ измерени отклонени от перпендикул рности | |
KR100376324B1 (ko) | 교량의 내하력평가를 위한 변위측정방법 및 장치 | |
SU1682834A1 (ru) | Способ определени остаточных напр жений | |
SU1663411A2 (ru) | Способ контрол шероховатости поверхности м гких материалов | |
SU1474452A1 (ru) | Способ контрол поверхности электропровод щих изделий и устройство дл его осуществлени | |
SU1375944A1 (ru) | Тензометр изгибных деформаций образца | |
SU853513A1 (ru) | Способ определени диэлектрическихСВОйСТВ МАТЕРиАлА | |
RU2688849C1 (ru) | Устройство для измерения деформаций | |
SU410246A1 (ru) | ||
SU1709180A1 (ru) | Умножитель деформаций дл измерителей накопленных повреждений конструкций | |
SU1515122A1 (ru) | Способ определени диэлектрической проницаемости материалов | |
RU1822245C (ru) | Интегральный преобразователь деформаций егиазаряна и способ его изготовления | |
JPH02213702A (ja) | 半導体基板エッジチップ測定器 | |
RU1806333C (ru) | Способ определени локальных механических напр жений контактируемых тел | |
SU518615A1 (ru) | Способ измерени реологических напр жений | |
SU1104358A1 (ru) | Устройство дл измерени деформаций | |
SU1288495A2 (ru) | Устройство дл поверки электромагнитного толщиномера покрытий | |
SU1733919A1 (ru) | Способ определени линейных перемещений | |
SU1397704A1 (ru) | Способ измерени деформаций цилиндрического образца и устройство дл его осуществлени |