SU1198423A1

SU1198423A1 - Method of thermal flaw detection

Info

Publication number: SU1198423A1
Application number: SU833676730A
Authority: SU
Inventors: Anatolij F Romanchenko; Natalya L Timochko; Anatolij N Petrov
Original assignee: Ufim Mo T I
Priority date: 1983-12-22
Filing date: 1983-12-22
Publication date: 1985-12-15

Description

Изобретение относится к измерительной технике в тепловой дефектоскопии и может использоваться при выявлении внутренних дефектов (полости, инородные включения и т.д.) твердых тел.The invention relates to a measuring technique in thermal inspection and can be used to detect internal defects (cavities, foreign matter, etc.) of solids.

Целью изобретения является уменьшение времени измерения и обспечение возможности контроля внутренних дефектов.The aim of the invention is to reduce the measurement time and ensure the possibility of monitoring internal defects.

На фиг.1 приведена кривая нагрева рабочего элемента объект-зонд (где Т - температура; I - время нагрева); на фиг.2 - функциональная схема устройства реализующего способ.Figure 1 shows the heating curve of the working element of the object-probe (where T is the temperature; I is the heating time); figure 2 - functional diagram of the device implements the method.

Способ включает следующую последовательность рабочих операций.The method includes the following sequence of operations.

Объект излучения и зонд тепловой дефектоскопии, выполненные из одного материала, включаются в плечо мостовой схемы. Контактное сопротивление зонд-объект разоревается рабочим током моста, регистрируется значение сопротивления, по которому пересчитывается температура. Переходное контактное сопротивление разогревают до температуры Т., (участок а кривой на фиг.1), меньшей чем максимальная температура переходного процесса нагрева.' При достижении температурыThe radiation object and thermal flaw probe made of the same material are included in the shoulder of the bridge circuit. The contact resistance of the probe object is ruined by the operating current of the bridge, the resistance value is calculated, according to which the temperature is recalculated. The transitional contact resistance is heated to a temperature T., (section a curve in figure 1), less than the maximum temperature of the transition process of heating. When the temperature reaches

скачком изменяют ток, протекающий по цепи объект-зонд. При этом величина тока выбирается меньшей,stepwise change the current flowing through the circuit object probe. In this case, the current value is chosen smaller,

чем в первоначальном режиме. Система зонд—объект охлаждается до температуры Т_г. После достижения значения Т₂ снова скачком увеличивают токthan in the original mode. Probe-object system is cooled to a temperature T _r. After reaching the value of T ₂ again abruptly increase the current

5 до величины, соответствующей режиму Τη. Т.е. процедуру нагрев - охлаждение периодически повторяют (участок сГкривой на фиг.1).5 to the value corresponding to the Τη mode. Those. The heating-cooling procedure is periodically repeated (section c of the curve in Fig. 1).

По частоте импульсов нагрева10 охлаждения определяют наличие дефектов в материале и его величину.The frequency of heating pulses10 cooling determine the presence of defects in the material and its value.

Устройство, реализующее способ 'A device that implements the method '

. тепловой дефектоскопии (фиг.2) содержит зонд I, касающийся поверхности. thermal flaw detection (figure 2) contains a probe I, touching the surface

15 контролируемого объекта 2, и составляет плечо моста, остальными плечами которого являются сопротивление 3 и параллельные цепи из сопротивлений 4—7 и ключей 8 и 9. Одна диа—15 of the controlled object 2, and is the shoulder of the bridge, the remaining arms of which are resistance 3 and parallel chains of resistances 4–7 and keys 8 and 9. One diameter

20 гональ мостовой схемы соединена с входом источника питания 10, а вторая - с входом амплитудного ограничителя 11, выход которого соединен с входом диодной схемы 12. ВыходThe 20 gonal bridge circuit is connected to the input of the power source 10, and the second to the input of the amplitude limiter 11, the output of which is connected to the input of the diode circuit 12. The output

25 диодной схемы соединен с управляющими цепями ключей и является рабочим выходом устройства.The diode circuit 25 is connected to the control key circuits and is the working output of the device.

Переключение режима нагрев охлаждение осуществляется автомати30 чески включением дополнительных сопротивлений 6 и 7 в плечи моста. Положение включенных ключей 8 и 9 соответствует режиму нагрева, выключенных — режиму охлаждения.Switching the mode to heating and cooling is carried out automatically by the inclusion of additional resistances 6 and 7 in the shoulders of the bridge. The position of the switched on keys 8 and 9 corresponds to the heating mode, the disabled ones to the cooling mode.

11984231198423

Claims

METHOD OF HEAT DETECTION, consisting in measuring the transient resistance of the probe-object system, made of one

material, with the help of a bridge measuring circuit, which differs from me in that, for the purpose of decreasing. the measurement time and the ability to control internal defects, transient resistance is heated to a temperature T _p less than the maximum temperature T _{o of the} transient heating process, then, changing the current flowing through the object probe circuit, cool the system to the temperature, after which the procedure heating-cooling is periodically repeated and the presence of defects in the material is determined by the frequency of the heating-cooling pulses.

§

Phie. one

1 1198423

2