SU1187623A1 - Источник ионов - Google Patents

Источник ионов Download PDF

Info

Publication number
SU1187623A1
SU1187623A1 SU843731366A SU3731366A SU1187623A1 SU 1187623 A1 SU1187623 A1 SU 1187623A1 SU 843731366 A SU843731366 A SU 843731366A SU 3731366 A SU3731366 A SU 3731366A SU 1187623 A1 SU1187623 A1 SU 1187623A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
cathode
anode
collector
electron
electrode
Prior art date
Application number
SU843731366A
Other languages
English (en)
Inventor
Г.Г. Манагадзе
Original Assignee
Институт космических исследований АН СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт космических исследований АН СССР filed Critical Институт космических исследований АН СССР
Priority to SU843731366A priority Critical patent/SU1187623A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1187623A1 publication Critical patent/SU1187623A1/ru

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

1. ИСТОЧНИК ИОНОВ преимущественно дл  масс-спектрометрии, содержащий катод, анод, систему формировани  пучка ионов, систему подачи рабочего вещества и источник питани , отличающийс  тем, что, с целью улучшени  фокусировки пучка и : повышени  его плотности, катод выполнен в виде диска, с отверстием на . оси, введен электрод-коллектор электронов , соосный отверстию в катоде, анод выполнен в виде кольца и установлен между катодом и коллектором, электронов, система формировани  пучка установлена со стороны катода, противоположной аноду, введен дополнительный источник питани , положительный полюс которого соединен с электродом-коллектором , а отрицательный с анодом, и ме ду катодом и системой формировани  пучка установлен, по крайней мере, один экран. 2.Источник ионов по п.1, отличающийс  тем, что.система подачи рабочего вещества снабжена лазером и системой фокусировки лазерного (Л излучени  в центре электрода-коллектора электронов. 3.Источник ионов по п.1, о т л ичающийс  тем, что введена магнитна  система фокусировки электронов в виде соленоида, установленного между анодом и коллектором-элек .. тродом электронов. 00 Од

Description

Изобретение относитс  к масс-спек трометрии при исследовании веществ в твердой и газообразной фазах. Целью изобретени   вл етс  улучше ние фокусировки пучка и повышение ег . плотности. На чертеже изображен источник ионов. Источник содержит анод 1, катод 2 электрод-коллектор 3 электронов, сие тему формировани  пучка ионов, образованную тормоз щим электродом 4, эк раном 5 и управл ющим электродом 6. Между электродом-коллектором 3 и айо - дом 1 установлен электромагнит.7. Система подачи рабочего вещества включает лазер с системой 8 фокусировки лазерного пучка в центре электрода-коллектора 3. На оси катода 2 выполнено отверстие 9 дл  выхода пучка ионов 10. На чертеже также показан пучок электронов 11. Кроме источника питани , включенного между анодом 1 и катодом 2, введен дополнительный источник, включенный между электродом-коллектором 3 и анодом 1 (на чертеже схематично изображены клеммами с указанием примера распределени  потенциалов). Источник работает следующим образом . Между анодо 1, катодом 2 и электродом-коллектором 3 подаетс  ускор  ющее напр жение дл  электронов 11 пр их движении от катода 2 к. электроду- коллектору 3. При этом основное падение напр жени  (98%) происходит в области анод-катод. Это же поле уско р ет ионы 10, движущиес  от электрода-коллектора 3 к катоду 2. За экраном 5 ионы попадают в тормоз щее поле , созданное электродом 4. Потенциал на электроде 6 определ ет конечную энергию иона. Рассмотрим работу устройства на примере газообразной мишени, котора  с помощью системы подачи рабочего ве щества заполн ет область между анодо 1 и электродом-коллектором 3. Так ка . ка(. то цилиндрический пучок электронов 11 будет иметь максимальную плотность на оси источника, кото ра  будет спадатьот центра к перифе рии пучка, образу  потенциальную  му 55 дл  ионов. Плотность пучка электронов 11 на оси в этой конфигурации будет мало мен тьс  на пути от электрода-коллектора к катоду. Образованные внутри пучка электронов 11 ионы 10 полем пространственногозар да будут засасыватьс  к оси пучка электронов 11. Движение ионов к катоду обеспечиваетс  тем, что между анодом и электродом-коллектором подаетс  разность потенциалов, обеспечивающа  движение ионов к аноду (в слабом поле) и далее к катоду (в сильном поле). Таким образом, ион, который образуетс  в области между электродомколлектором и анодом при исследовании газообразного вещества, будет сдвигатьс  к оси пучка электронов и далее к катоду, ускорившись при этом до максимальной энергии, отвечающий разности потенциалов на ускор ющем электроде . Пройд  сквозь отверстие в катоде и потер в () своей энергии при движении между катодом 2 и тормоз щим электродом 4, ион подаетс  на . вход масс-анализатора в поле коррекции его энергии потенциалов на экране 6. Экран 6 преп тствует попаданию электронов на электрод 4. В обычных ускорител х электронов (без отверсти  в центре катода) при инжекции пучка в услови х низкого вакуума ( Торр) ионы попадают на катод и образуют, так называемое , катодное п тно, которое хорошо видно визуально. При: исследовании твердой мишени достаточно коллектор заменить исследуемым образцом и обеспечить плоткость энергии пучка такой, чтобы происходило испарение вещества. На этом пути можно и сфокусировать пучок на мишени с помощью магнитного пол  электромагнита 7. При облучении твердой мишени энергетический верхний предел разброса пучка ионов будет значительно ниже разброса при исследовании вещества в газообразной фазе. Последний не будет превьш1ать дл  рассматриваемого случа  100 В и ограничиваетс  напр жением, поданным между коллектором и анодом. Имеетс  принципиальна  возможность. снижени  этой разности потенциалов и тем самым энергетического разброса ионов. Предлагаемое устройство можно так® использовать в комбинации с другим источником ионов, способным образовать ионы, например с лазерным. В этом случае лазер с системой фокусировки лазерного излучени , располо3 1 женной на оси электрода-коллектора электронов, замен ет собой систему подачи рабочего вещества. Предлагаемое устройство может выполн ть функции , св занные со сбором, фокусировкой и транспортировкой ионов. Пучок электронов, в данном случае может быть низкоэнергичным, малой мощности и направлен на исследуемый твердотельный образец . 34 Сфокусированное в п тно излучение лазера с необходимой удельной плотностью энергии (10 способное испар ть и ионизировать исследуемое вещество, нацравл ют строго в центр п тна, образованного пучком электронов . Образованные под воздействием лазерного излучени  ионы, как было показано выше, будут захвачены и транспортированы вдоль пучка электронов,

Claims (3)

1. ИСТОЧНИК ИОНОВ преимущественно для масс-спектрометрии, содержащий. катод, анод, систему формирования пучка ионов, систему подачи рабочего вещества и источник питания, отличающийся тем, что, с целью улучшения фокусировки пучка и : повышения его плотности, катод выполнен в виде диска, с отверстием на оси, введен электрод-коллектор элек тронов, соосный отверстию в катоде, анод выполнен в виде кольца и уста новлен между катодом и коллектором, электронов, система формирования пуч ка установлена со стороны катода, противоположной аноду, введен дополнительный источник питания, положительный полюс которого соединен с элект родом-коллектором, а отрицательный с анодом, и между катодом и системой формирования пучка установлен, по крайней мере, один экран.
2. Источник ионов по п.1, о т л ичающийся тем, что.система подачи рабочего вещества снабжена лазером и системой фокусировки лазерного излучения в центре электрода-коллектора электронов.
3. Источник ионов по п,1, о т л ичающийся тем, что введена магнитная система фокусировки электронов в виде соленоида, установленного между анодом и коллектором-электродом электронов.
1 1187623 2
SU843731366A 1984-04-18 1984-04-18 Источник ионов SU1187623A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843731366A SU1187623A1 (ru) 1984-04-18 1984-04-18 Источник ионов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843731366A SU1187623A1 (ru) 1984-04-18 1984-04-18 Источник ионов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1187623A1 true SU1187623A1 (ru) 1987-02-07

Family

ID=21115402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843731366A SU1187623A1 (ru) 1984-04-18 1984-04-18 Источник ионов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1187623A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1983504B (zh) * 2005-12-14 2010-05-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 离子源及使用所述离子源的模具抛光装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Габович М.Д. Плазменные источники ионов. Наукова думка, 1964, с. 73. Бернард Дж. Современна массспектрометри , /Пер. с англ, под ред. В.Н.Кондратьева, М.: Изд-во иностр. лит., 1957, с. 41. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1983504B (zh) * 2005-12-14 2010-05-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 离子源及使用所述离子源的模具抛光装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6313475B1 (en) Acceleration and analysis architecture for ion implanter
US5365070A (en) Negative ion beam injection apparatus with magnetic shield and electron removal means
US2853641A (en) Electron beam and wave energy interaction device
CN109712858B (zh) 激光微波离子源
GB1255962A (en) Improvements in or relating to gas chromatography-mass spectrometry
SU1187623A1 (ru) Источник ионов
US5034605A (en) Secondary ion mass spectrometer with independently variable extraction field
JPS5812978B2 (ja) イオン線装置
US4939425A (en) Four-electrode ion source
ES8306305A1 (es) Un tubo acelerador de neutrones
US2611878A (en) Particle source
Yurimoto et al. Negative metal‐ion source for secondary‐ion mass spectrometry
Bertsche et al. Status of the Berkeley small cyclotron AMS project
SU854197A1 (ru) Источник отрицательных ионов
SU1039397A1 (ru) Устройство дл создани радиоактивных алмазных индикаторов
JPH0757898A (ja) 高周波型荷電粒子加速装置
JPH0475622B2 (ru)
RU2177659C1 (ru) Электронно-лучевая пушка
JP2627420B2 (ja) 高速原子線源
JPH059899B2 (ru)
JPH0622109B2 (ja) 二次イオン質量分析計
RU2067784C1 (ru) Ионный источник
Dudnikov et al. Surface plasma source for heavy negative ion production
JP2569517B2 (ja) イオンマイクロアナライザ
JPH02112140A (ja) 低速イオン銃