SU1187623A1 - Источник ионов - Google Patents
Источник ионов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1187623A1 SU1187623A1 SU843731366A SU3731366A SU1187623A1 SU 1187623 A1 SU1187623 A1 SU 1187623A1 SU 843731366 A SU843731366 A SU 843731366A SU 3731366 A SU3731366 A SU 3731366A SU 1187623 A1 SU1187623 A1 SU 1187623A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- cathode
- anode
- collector
- electron
- electrode
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
1. ИСТОЧНИК ИОНОВ преимущественно дл масс-спектрометрии, содержащий катод, анод, систему формировани пучка ионов, систему подачи рабочего вещества и источник питани , отличающийс тем, что, с целью улучшени фокусировки пучка и : повышени его плотности, катод выполнен в виде диска, с отверстием на . оси, введен электрод-коллектор электронов , соосный отверстию в катоде, анод выполнен в виде кольца и установлен между катодом и коллектором, электронов, система формировани пучка установлена со стороны катода, противоположной аноду, введен дополнительный источник питани , положительный полюс которого соединен с электродом-коллектором , а отрицательный с анодом, и ме ду катодом и системой формировани пучка установлен, по крайней мере, один экран. 2.Источник ионов по п.1, отличающийс тем, что.система подачи рабочего вещества снабжена лазером и системой фокусировки лазерного (Л излучени в центре электрода-коллектора электронов. 3.Источник ионов по п.1, о т л ичающийс тем, что введена магнитна система фокусировки электронов в виде соленоида, установленного между анодом и коллектором-элек .. тродом электронов. 00 Од
Description
Изобретение относитс к масс-спек трометрии при исследовании веществ в твердой и газообразной фазах. Целью изобретени вл етс улучше ние фокусировки пучка и повышение ег . плотности. На чертеже изображен источник ионов. Источник содержит анод 1, катод 2 электрод-коллектор 3 электронов, сие тему формировани пучка ионов, образованную тормоз щим электродом 4, эк раном 5 и управл ющим электродом 6. Между электродом-коллектором 3 и айо - дом 1 установлен электромагнит.7. Система подачи рабочего вещества включает лазер с системой 8 фокусировки лазерного пучка в центре электрода-коллектора 3. На оси катода 2 выполнено отверстие 9 дл выхода пучка ионов 10. На чертеже также показан пучок электронов 11. Кроме источника питани , включенного между анодом 1 и катодом 2, введен дополнительный источник, включенный между электродом-коллектором 3 и анодом 1 (на чертеже схематично изображены клеммами с указанием примера распределени потенциалов). Источник работает следующим образом . Между анодо 1, катодом 2 и электродом-коллектором 3 подаетс ускор ющее напр жение дл электронов 11 пр их движении от катода 2 к. электроду- коллектору 3. При этом основное падение напр жени (98%) происходит в области анод-катод. Это же поле уско р ет ионы 10, движущиес от электрода-коллектора 3 к катоду 2. За экраном 5 ионы попадают в тормоз щее поле , созданное электродом 4. Потенциал на электроде 6 определ ет конечную энергию иона. Рассмотрим работу устройства на примере газообразной мишени, котора с помощью системы подачи рабочего ве щества заполн ет область между анодо 1 и электродом-коллектором 3. Так ка . ка(. то цилиндрический пучок электронов 11 будет иметь максимальную плотность на оси источника, кото ра будет спадатьот центра к перифе рии пучка, образу потенциальную му 55 дл ионов. Плотность пучка электронов 11 на оси в этой конфигурации будет мало мен тьс на пути от электрода-коллектора к катоду. Образованные внутри пучка электронов 11 ионы 10 полем пространственногозар да будут засасыватьс к оси пучка электронов 11. Движение ионов к катоду обеспечиваетс тем, что между анодом и электродом-коллектором подаетс разность потенциалов, обеспечивающа движение ионов к аноду (в слабом поле) и далее к катоду (в сильном поле). Таким образом, ион, который образуетс в области между электродомколлектором и анодом при исследовании газообразного вещества, будет сдвигатьс к оси пучка электронов и далее к катоду, ускорившись при этом до максимальной энергии, отвечающий разности потенциалов на ускор ющем электроде . Пройд сквозь отверстие в катоде и потер в () своей энергии при движении между катодом 2 и тормоз щим электродом 4, ион подаетс на . вход масс-анализатора в поле коррекции его энергии потенциалов на экране 6. Экран 6 преп тствует попаданию электронов на электрод 4. В обычных ускорител х электронов (без отверсти в центре катода) при инжекции пучка в услови х низкого вакуума ( Торр) ионы попадают на катод и образуют, так называемое , катодное п тно, которое хорошо видно визуально. При: исследовании твердой мишени достаточно коллектор заменить исследуемым образцом и обеспечить плоткость энергии пучка такой, чтобы происходило испарение вещества. На этом пути можно и сфокусировать пучок на мишени с помощью магнитного пол электромагнита 7. При облучении твердой мишени энергетический верхний предел разброса пучка ионов будет значительно ниже разброса при исследовании вещества в газообразной фазе. Последний не будет превьш1ать дл рассматриваемого случа 100 В и ограничиваетс напр жением, поданным между коллектором и анодом. Имеетс принципиальна возможность. снижени этой разности потенциалов и тем самым энергетического разброса ионов. Предлагаемое устройство можно так® использовать в комбинации с другим источником ионов, способным образовать ионы, например с лазерным. В этом случае лазер с системой фокусировки лазерного излучени , располо3 1 женной на оси электрода-коллектора электронов, замен ет собой систему подачи рабочего вещества. Предлагаемое устройство может выполн ть функции , св занные со сбором, фокусировкой и транспортировкой ионов. Пучок электронов, в данном случае может быть низкоэнергичным, малой мощности и направлен на исследуемый твердотельный образец . 34 Сфокусированное в п тно излучение лазера с необходимой удельной плотностью энергии (10 способное испар ть и ионизировать исследуемое вещество, нацравл ют строго в центр п тна, образованного пучком электронов . Образованные под воздействием лазерного излучени ионы, как было показано выше, будут захвачены и транспортированы вдоль пучка электронов,
Claims (3)
1. ИСТОЧНИК ИОНОВ преимущественно для масс-спектрометрии, содержащий. катод, анод, систему формирования пучка ионов, систему подачи рабочего вещества и источник питания, отличающийся тем, что, с целью улучшения фокусировки пучка и : повышения его плотности, катод выполнен в виде диска, с отверстием на оси, введен электрод-коллектор элек тронов, соосный отверстию в катоде, анод выполнен в виде кольца и уста новлен между катодом и коллектором, электронов, система формирования пуч ка установлена со стороны катода, противоположной аноду, введен дополнительный источник питания, положительный полюс которого соединен с элект родом-коллектором, а отрицательный с анодом, и между катодом и системой формирования пучка установлен, по крайней мере, один экран.
2. Источник ионов по п.1, о т л ичающийся тем, что.система подачи рабочего вещества снабжена лазером и системой фокусировки лазерного излучения в центре электрода-коллектора электронов.
3. Источник ионов по п,1, о т л ичающийся тем, что введена магнитная система фокусировки электронов в виде соленоида, установленного между анодом и коллектором-электродом электронов.
1 1187623 2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843731366A SU1187623A1 (ru) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | Источник ионов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843731366A SU1187623A1 (ru) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | Источник ионов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1187623A1 true SU1187623A1 (ru) | 1987-02-07 |
Family
ID=21115402
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843731366A SU1187623A1 (ru) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | Источник ионов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1187623A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1983504B (zh) * | 2005-12-14 | 2010-05-26 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 离子源及使用所述离子源的模具抛光装置 |
-
1984
- 1984-04-18 SU SU843731366A patent/SU1187623A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Габович М.Д. Плазменные источники ионов. Наукова думка, 1964, с. 73. Бернард Дж. Современна массспектрометри , /Пер. с англ, под ред. В.Н.Кондратьева, М.: Изд-во иностр. лит., 1957, с. 41. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1983504B (zh) * | 2005-12-14 | 2010-05-26 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 离子源及使用所述离子源的模具抛光装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6313475B1 (en) | Acceleration and analysis architecture for ion implanter | |
US5365070A (en) | Negative ion beam injection apparatus with magnetic shield and electron removal means | |
US2853641A (en) | Electron beam and wave energy interaction device | |
CN109712858B (zh) | 激光微波离子源 | |
GB1255962A (en) | Improvements in or relating to gas chromatography-mass spectrometry | |
SU1187623A1 (ru) | Источник ионов | |
US5034605A (en) | Secondary ion mass spectrometer with independently variable extraction field | |
JPS5812978B2 (ja) | イオン線装置 | |
US4939425A (en) | Four-electrode ion source | |
ES8306305A1 (es) | Un tubo acelerador de neutrones | |
US2611878A (en) | Particle source | |
Yurimoto et al. | Negative metal‐ion source for secondary‐ion mass spectrometry | |
Bertsche et al. | Status of the Berkeley small cyclotron AMS project | |
SU854197A1 (ru) | Источник отрицательных ионов | |
SU1039397A1 (ru) | Устройство дл создани радиоактивных алмазных индикаторов | |
JPH0757898A (ja) | 高周波型荷電粒子加速装置 | |
JPH0475622B2 (ru) | ||
RU2177659C1 (ru) | Электронно-лучевая пушка | |
JP2627420B2 (ja) | 高速原子線源 | |
JPH059899B2 (ru) | ||
JPH0622109B2 (ja) | 二次イオン質量分析計 | |
RU2067784C1 (ru) | Ионный источник | |
Dudnikov et al. | Surface plasma source for heavy negative ion production | |
JP2569517B2 (ja) | イオンマイクロアナライザ | |
JPH02112140A (ja) | 低速イオン銃 |