SU1185303A1 - Device for manufacturing diffraction lenses - Google Patents

Device for manufacturing diffraction lenses Download PDF

Info

Publication number
SU1185303A1
SU1185303A1 SU843761464A SU3761464A SU1185303A1 SU 1185303 A1 SU1185303 A1 SU 1185303A1 SU 843761464 A SU843761464 A SU 843761464A SU 3761464 A SU3761464 A SU 3761464A SU 1185303 A1 SU1185303 A1 SU 1185303A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
flat
interferometer
lenses
focal length
paraboloid
Prior art date
Application number
SU843761464A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Константинович Блинов
Владимир Борисович Кравцов
Борис Викторович Телешов
Яков Борисович Шац
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8657
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8657 filed Critical Предприятие П/Я В-8657
Priority to SU843761464A priority Critical patent/SU1185303A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1185303A1 publication Critical patent/SU1185303A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к устройствам- дл  изготовлени  дифракционных оптических элементов и может быть использовано в частности при изготовлении дифракционных линз.The invention relates to devices for the manufacture of diffractive optical elements and can be used in particular in the manufacture of diffractive lenses.

Цель изобретени  - увеличение производительности путем уменьшени  времени экспозиции при повышении разрешающей .способности.The purpose of the invention is to increase productivity by reducing the exposure time with an increase in resolving power.

На чертеже представлена оптическа  схема устройства.The drawing shows the optical layout of the device.

Устройство включает источник 1 когерентного излучени , коллимационную систему 2, интерферометр и держатель 3 фотопластины. При э.том нитЧрферометр вьиюлнен в виде склейки плоско-вогнутой4 и плосковыпуклой 5 линз с одинаковыми коэффициепта 1И преломлени . Поверхность 6 склейки представл ет собой параболотд вращени  с фокусным рассто нием F. На поверхность 6, а также на плоскую поверхность 7 линзы 5 нанесены полупрозрачные отражающие покрыти . Коэффициенты отражени  RI и R 2 покрытий поверхностей 6 и 7 св заны соотношениемThe device includes a coherent radiation source 1, a collimation system 2, an interferometer, and a holder of 3 photoplates. In this case, a nitroferometer is produced in the form of a flat-concave gluing 4 and a flat-convex 5 lenses with the same refractive index 1 and 1. The gluing surface 6 is a parabolt of rotation with a focal distance F. A translucent reflective coating is applied on the surface 6 as well as on the flat surface 7 of the lens 5. The reflection coefficients RI and R 2 of the coatings of surfaces 6 and 7 are related by

где f - заданное фокусное рассто ние дифракционной линзы. Устройство, работает следующим образом1where f is the given focal length of the diffraction lens. The device works as follows1

Излучение от источника 1 поступает в коллимационную систему 2, котора  формирует параллельный пучок когерентного света и направл ет его в интерферометр. Часть светового потока проходит сквозь интерферометр на фотопластину 3 без изменени  формы фронта волны (плоска  волна), а друга  часть, отразившись от поверхностей 7 и б, создает сферическую волну. В результате интерференции плоской и сферической волн формируетс  рисунок дифракционной ЛИНЗЫ) который регистрируетс  фотопластиной 3 Соблюдение указанного соотношени  обеспечивает равенство освещенностей, соответствующих плоской и сферическрй волнам.The radiation from source 1 enters the collimation system 2, which forms a parallel beam of coherent light and directs it to the interferometer. Part of the light flux passes through the interferometer onto the photoplate 3 without changing the shape of the wave front (plane wave), and the other part, reflected from surfaces 7 and b, creates a spherical wave. As a result of the interference of plane and spherical waves, a pattern of a diffraction LENS is formed) which is recorded by the photoplate 3. Observance of this ratio ensures equality of illumination corresponding to plane and spherical waves.

Claims (1)

- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ДИФРАКЦИОННЫХ ЛИНЗ, содержащее источник когерентного излученйя, коллимационную систему, интерферометр и . держатель фотопластины, отличающееся тем^ что, с целью ;увеличения производительности пу.тем уменьшения времени экспозиции при повышении разрешающей способ ности, интерферометр выполнен в виде склейки плоско-вогнутой и плоско-выпуклой линз с одинаковым коэффициентом преломления·, причем поверхность склейки представляет собой параболоид вращения,а на эту поверхность и на плоскую поверхность плоско-выпуклой линзы нанесены полупрозрачные отражающие покрытия, коэффициенты отражения которых R( и R2 соответственно связаны соотношением где £ - заданное фокусное расстояние дифракционной линзы;- DEVICE FOR MANUFACTURING DIFFRACTION LENSES, containing a source of coherent radiation, a collimation system, an interferometer and. a photographic plate holder, characterized in that, in order to increase productivity by reducing the exposure time with increasing resolution, the interferometer is made in the form of gluing flat-concave and flat-convex lenses with the same refractive index ·, and the bonding surface is a paraboloid rotations, and on this surface and on the flat surface of a plane-convex lens, translucent reflective coatings are applied, the reflection coefficients of which R ( and R 2 are respectively related by the ratio e £ is the given focal length of the diffraction lens; F - фокусное расстояние параболоида вращения.F is the focal length of the paraboloid of revolution.
SU843761464A 1984-06-25 1984-06-25 Device for manufacturing diffraction lenses SU1185303A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843761464A SU1185303A1 (en) 1984-06-25 1984-06-25 Device for manufacturing diffraction lenses

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843761464A SU1185303A1 (en) 1984-06-25 1984-06-25 Device for manufacturing diffraction lenses

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1185303A1 true SU1185303A1 (en) 1985-10-15

Family

ID=21126992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843761464A SU1185303A1 (en) 1984-06-25 1984-06-25 Device for manufacturing diffraction lenses

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1185303A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
- Борн М. Вольф Э. Основы оптикит М. Наука, 1973, с, 288-290./ Патент DE К 1772583, кл. 42hs 38, опублик. 1971. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5498870A (en) Rotation information detection apparatus
US5841596A (en) Lighting system with a micro-telescope integrated in a transparent plate
US5021649A (en) Relief diffraction grating encoder
JPS63311121A (en) Encoder
JP3254737B2 (en) encoder
JPH07218709A (en) Super-zone holograph mirror
JPS63231217A (en) Measuring instrument for movement quantity
US4072423A (en) Light interference device with low degree of spacial coherence
SU1185303A1 (en) Device for manufacturing diffraction lenses
JP2603338B2 (en) Displacement measuring device
JPH08286009A (en) Device for forming chirp grating
US5372900A (en) Method of reproducing reflecting type hologram and apparatus therefor
JP3432235B2 (en) How to create a holographic filter
SU523274A1 (en) Interferometer to control the quality of convex hyperbolic mirrors of a cassegrain telescope
JPH0695027A (en) Optical system for uniform illumination
JPH0319528B2 (en)
JP2773401B2 (en) Optical lens
JP3490128B2 (en) Photoelectric encoder
SU1682950A1 (en) Reflection-interference light filter
JPH06258534A (en) Optical device
SU1656493A1 (en) Device for manufacture of reflection holograms
SU1420583A1 (en) Reflector system
SU1567868A1 (en) Angular scanning interferometer
SU854123A1 (en) Interference spectrometer
SU939933A1 (en) Multi-beam interferometer with lateral beam input