SU1170335A1 - Диспергирующий элемент дл рентгеноспектрального анализа элементного состава вещества - Google Patents

Abstract

1. ДИСПЕРГИРУЮЩИЙ ЭЛЕМЕНТ ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА с плоской рабочей поверхностью в плоскости дисперсии излучени , отличающийс  тем, что, с целью расширени  рабочего диапазона, он выполнен из набора кристаллов, линейный размер tfi каиздого из которых определ етс  соотношением . 2J9in c s 9 где Ъ -.рассто ние между центром кристалла и источником рентгеновских лучей. минимальна  разность длин волн Кд - линии анализируемого химического элемента, и Кд - линии этого же элемента с атомным номером Z-1; d - межплоскостное рассто ние кристалла, б - угол Вульфа-Брэгга, У - угол падени  излучени  на центр кристалла, а кристаллографические плоскости по крайней мере двух кристаллов расположены под разными углами относительно рабочей поверхности кристалла. 2. Элемент поп.1, отличающийс  тем, что угол oi между (Л кристаллографическими плоскост ми с и рабочей поверхностью дл  каждого кристалла удовлетвор ет соотношению , , П Л ,л oi агс sin -хзт , Л измер ема  длина волны анагде литической линии анализируемого химического элемента, пор док отражени  измер емой п u :о :л длины волны. 3.Элемент по пп.1-2, отличающийс  тем, что боковые поверхности соседних кристаллов плотно примыкают друг к другу. 4. Элемент по пп.1-3, о т л и .ч а ющ и и с   тем, что его рабоча  поверхность изогнута по Гамошу,

Description

1 изобретение относитс  к рентгено- спектральному анализу, а именно к конструкции диспергирующего элемент спектрометра, и может быть использо вано во всех отрасл х науки и промы ленности дл  определени  элементног состава вещества. Целью, изобретени   вл етс  расширение диапазона. На чертеже изображен диспергирующий элемент согласно изобретению. Диспергирующий эле14ент содержит набор из п ти кристаллов 1-5, непод вижно укрепленных друг относительно друга, боковые поверхности mj 1,2,.о.,5) соседних кристаллов 1 и 2, 2иЗ, Зи4, 4и5 плотно примы кают друг к другу, кристаллографические плоскости а ... а. в кристал лах 1-5 расположены под разными угл ми 0 ,.. aif относительно рабочей поверхности кристалла S, Линейный размер {А каждого криста ла К; удовлетвор ет соотношению .-Ч ZdcosSsinH где L - рассто ние между центром кристалла и источником рент геновских лучей, ( минимальна  разность длин волн К - линии анализируемо го элемента, и К - линии этого же элемента или элемен . та с атомным номером Z-1; 0 - угол Вульфа-Брэгга, а кристаллографические плоскости, по крайней мере в двух кристаллах, расположены под разными углами of- относительно рабочей поверхности кристалла . Рабоча  поверхность S. каждого кристалла плоска , а уголв,-- дл  каждого кристалла удовлетвор ет соотнощению об arc sin где Я - измер ема  длина волны аналитической , линии анализируемого химического элемента, п - пор док отражени  измер емой длины волны , 352 d - межплоскостное рассто ние кристалла, Ч - угол падени  луча на кристалл Межплоскостное рассто ние d в кристаллах 1,2 и 3 равно d, а в кристаллах 4 и 5 - d. Диспергирующий элемент работает следующим образом. При падении пучка полихроматического рентгеновского излучени  с угловым раствором 47 на диспергирующий элемент от него одновременно отражаетс  п ть монохроматических пучков излучени . При этом от ка эдого кристалла отразитс  только один пучок излучени  с длиной волны А. соответствующей аналитической линии анализируемого элемента. Это происходит потому, что каждый кристалл диспергирующего элемента обеспечивает услови  дифракции согласно закону Вульфа-Брэгга только дл  одной заранее известной длины волны Л из всего набора длин волн, попадающих на диспергирующий элемент. Эти услови  дифракции обеспечиваютс  не только за счет подбора кристаллов с разным межплоскостным рассто нием d и d, но и за счет расположени  кристаллографических плоскостей И; в кристаллах под разными углами аС относительно рабочей поверхности S кристаллов. При этом выбор линейного размера с , каждого кристалла обеспечиваёт отражение только одной линии с длиной волны л (К) . в рентгенооптической схеме нефокусирующего спектрометра предлагаемый диспергирующий элемент расположен неподвижно на рассто нии L от точечного источника полихроматического рентгеновского излучени . При освещении элемента расход щимис  в угловом диапазоне 4V пучком излучени  от источника отраженные от элемента монохроматические пучки излучени  с длинами волн ( 1 2,...N)одновременно регистрируютс  координатно-чувствительным детектором . При этом линейный размер сГК каждого кристалла элемента обеспечивает попадание в детектор только длины волны излучени  К линии анализируемого химического элемента.

SlB

/.° / /

Claims (4)

1. ДИСПЕРГИРУЮЩИЙ ЭЛЕМЕНТ ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА с плоской рабочей поверхностью в плоскости дисперсии излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения рабочего диапазона, он выполнен из набора кристаллов, линейный размер сГ? кавдого из которых определяется соотношением тельно рабочей поверхности кристалла.

2. Элемент поп.1, отличающийся тем, что угол ot между кристаллографическими плоскостями и рабочей поверхностью для каждого кристалла удовлетворяет соотношению oL -arc sin где L -расстояние между центром кристалла и источником рентгеновских лучей, где λ - измеряемая длина волны аналитической линии анализируемого химического элемента, η - порядок отражения измеряемой длины волны.

3.Элемент по пп.1-2, отличающийся тем, что боковые поверхности соседних кристаллов плотно примыкают друг к другу.

4. Элемент по пп.1-3, о т л и ч a rout и й с я тем, что его рабочая поверхность изогнута по Гамошу.

ί 1170335