SU1163161A1 - Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении - Google Patents

Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении Download PDF

Info

Publication number
SU1163161A1
SU1163161A1 SU833637333A SU3637333A SU1163161A1 SU 1163161 A1 SU1163161 A1 SU 1163161A1 SU 833637333 A SU833637333 A SU 833637333A SU 3637333 A SU3637333 A SU 3637333A SU 1163161 A1 SU1163161 A1 SU 1163161A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
internal reflection
total internal
light wave
parallel
phase shift
Prior art date
Application number
SU833637333A
Other languages
English (en)
Inventor
Лев Исакович Альперович
Original Assignee
Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина filed Critical Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина
Priority to SU833637333A priority Critical patent/SU1163161A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1163161A1 publication Critical patent/SU1163161A1/ru

Links

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА ФАЗЫ СВЕТОЮЙ ВОЛНЫ ПРИ ШОГОКРАТНО НАРУШЕННОМ ПОЛНОМ ВНУТРЕННЕМ ОТРАЖЕНИИ, состо щее из осветител . пол ризатора, элемента многократно нарушенного полного внутреннего отражени  в виде пр мой призмы, в основании которой лежит параллелограмм, а боковые грани, предназначенные дл  нанесени  исследуемого объекта, попарно параллельны, отличающеес  тем, что, с целью осуществлени  раздельных измерений сдвигов фазы дл  параллельной и перпендикул рной составл ющих линейно пол ризованного -света, элемент многократно нарушенного полного внутреннего отражени  размещен внутри двухлучевого интерферометра Жамена на пути проход щих через него обоих пучков интерферометра , а участки, предназначен (Л ные длл нанесени  исследуемого объекта и свободные, чередуютс .

Description

t1 Изобретение относитс  к устройствам дл  измерени  величин, характери зунщих оптические свойства вещества. Известно устройство дп  измерени  разности сдвигов фаз перпендикул рной и параллельной компоненты пол ризованного света П. Недостатком устройства  вл етс  невозможность получени  абсолютных значений сдвига фазы при отражении каждой из компонент перпендикул рно и параллельно пол ризованного света. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к предлагаемому  вл етс  устройство дл измерени  сдвигов фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении (МНПВО), состо  щее из осветител , пол ризатора,элемента МНПВО в виде пр мой призмь, в основании которой лежит параллелограмм , а боковые грани, предназначенные дл  нанесени  объекта, попарно параллельны 2 . Недостатком известного устройства  вл етс  невозможность осуществлени  раздельных измерений сдвигов фазы дл  параллельной и перпендикул рной составл ющих линейно пол ризованного света. Цель изобретени  - осуществление раздельных измерений сдвигов фазы дл  параллельной и перпендикул рной составл ющих линейно пол ризованного света. Эта цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  измерени  сдвигов фазы световой волны при многократно на . рушенном полном внутреннем отражении , состо щем из осветител , пол ризатора , элемента многократно нарушенного полного внутреннего отражени  в виде пр мой призмы,, в основа нии которой лежит параллелограмм, а боковые грани, предназначенные дл  нанесени  объекта, попарно параллель HЫJ элемент многократно нарушенного полного внутреннего отражени  размещен внутри двухлучевого ин терферомет ра Жамена на пути проход щих через него обоих пучков интерферометра, а участки, предназначенные дл  нанесени  исследуемого объекта и свободные чередуютс . На чертеже изображено устройство дл  измерени  сдвига фазы световой волны при МНПВО. 1 Между пластинами 1 и 2 интерферометра Жамена введен элемент МНПВО в виде пр мой призмы 3, в основании которой лежит параллелограмм, боковые грани которого попарно параллельны. Исследуемые слои 4 нанос тс  на боковые грани призмы. Пол ризатор 5 . позвол ет устанавливать либо перпендикул рную , либо параллельную пол ризацию линейно пол ризованного света . Пол ризатор 5 формирует нужное направление линейной пол ризации световой волны, идущей от источника света. С помощью пластины 1 интерферометра линейной пол ризованное излучение расщепл етс  на два луча, которые попадают в элемент МНПВО 3. Один из лучей отражаетс  от границы призма - воздуха, а другой - от границы призма - объект - воздух. Сначала фиксируетс  интерференционна  картина, когда в интерферометр помещен элемент МНПВО без измер емого объекта, а затем тот же элемент МНПВО с нанесенным объектом измерений. Вычисление искомого сдвига фаз ведут по формуле сдвиг фазы при отражении от объекта дл  перпендикул рной и параллельной компоненты света; сдвиг фазы при отражении на границе элемент МНПВО - возсмещение интерференционной картины от элемента МНПВО с объектом измерени  и без . объекта измерени ; Н - ширина полосы. Эффективность предлагаемого устройства по сравнению с известным определ етс  тем, что.оно дает возможность измер ть величины сдвига фаз при отражении от тонкой пленки, нанесенной на прозрачную подложку, в отдельности дл  перпендикул рной 6, и параллельной 9ц пол ризаций. Это дает большую информацию об оптических свойствах тонких пленок, в частности об их анизотропии. Расшир ютс  возможностй применени  методов контрол  технологии нанесений пленок на различные подложки.
Фмг.2

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА ФАЗЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ ПРИ МНОГОКРАТНО НАРУШЕННОМ ПОЛНОМ ВНУТРЕННЕМ ОТРАЖЕНИИ, состоящее из осветителя, поляризатора, элемента многократно нарушенного полного внутреннего отражения в виде прямой призмы, в основании которой лежит параллелограмм, а боковые грани, предназначенные для нанесения исследуемого объекта, попарно параллельны, отличающ е е с я тем, что, с целью осуществления раздельных измерений сдвигов фазы для параллельной и перпендикулярной составляющих линейно поляризованного -света, элемент многократно нарушенного полного внутреннего отражения размещен внутри двухлучевого интерферометра Жамена на пути проходящих через него обоих пучков интерферометра, а участки, предназначенные для нанесения исследуемого объекта и свободные, чередуются.
    (•9) S.U (1„1163161
    А
SU833637333A 1983-07-01 1983-07-01 Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении SU1163161A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833637333A SU1163161A1 (ru) 1983-07-01 1983-07-01 Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833637333A SU1163161A1 (ru) 1983-07-01 1983-07-01 Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1163161A1 true SU1163161A1 (ru) 1985-06-23

Family

ID=21079943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833637333A SU1163161A1 (ru) 1983-07-01 1983-07-01 Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1163161A1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5568256A (en) * 1993-04-21 1996-10-22 Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Method and apparatus utilizing an optical stage for topographic surface analysis
US6249351B1 (en) 1999-06-03 2001-06-19 Zygo Corporation Grazing incidence interferometer and method
CN110023819A (zh) * 2016-11-30 2019-07-16 奇跃公司 用于高分辨率数字显示的方法和系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Харрик Н. Спектроскопи внутреннего отражени .М.,1970,с.183. 2. Морозов В.Н. Теоретическое исследование возможностей эллипсометрических методов в спектроскопии НПВО, В кн.: Современные проблемы эллипсометрии. Новосибирск, Наука, .1980, с. 176. . *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5568256A (en) * 1993-04-21 1996-10-22 Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Method and apparatus utilizing an optical stage for topographic surface analysis
US6249351B1 (en) 1999-06-03 2001-06-19 Zygo Corporation Grazing incidence interferometer and method
CN110023819A (zh) * 2016-11-30 2019-07-16 奇跃公司 用于高分辨率数字显示的方法和系统
US11686944B2 (en) 2016-11-30 2023-06-27 Magic Leap, Inc. Method and system for high resolution digitized display

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5682236A (en) Remote measurement of near-surface physical properties using optically smart surfaces
US4655595A (en) Ellipsometric method and apparatus for studying physical properties of the surface of a testpiece
JPS63228003A (ja) 干渉計
CN107462149B (zh) 一种相移干涉测量系统及其波片相移方法
EP0200978B1 (en) Static interferometric ellipsometer
JPH02503115A (ja) デファレンシャルエリプソメーター
CN110487173A (zh) 反射式相位正交单频激光干涉测量装置及测量方法
SU1163161A1 (ru) Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении
Shabana Determination of film thickness and refractive index by interferometry
Stenberg et al. A new ellipsometric method for measurements on surfaces and surface layers
JP3063843B2 (ja) 液晶初期配向角測定法及び液晶初期配向角測定装置
JPH0726816B2 (ja) 透明薄膜の厚さ及び音速の同時測定法
Kobayashi et al. Optical activity of some non-enantiomorphous ferroelectrics
SU1280311A1 (ru) Способ измерени толщины тонких пленок,нанесенных на подложку
RU2075727C1 (ru) Способ измерения углов поворота нескольких объектов и устройство для его осуществления
SU958922A1 (ru) Устройство дл измерени неоднородностей двулучепреломлени в кристаллах
Nasr et al. Interferometric studies on thin photoactive polymer films
SU1308829A1 (ru) Способ определени толщины кристаллической пластины
SU1027669A1 (ru) Теневой прибор
SU1612201A1 (ru) Способ измерени величины зазора между прозрачными диэлектрическими поверхност ми
Woolard et al. Combined thermoelastic and photoelastic full-field stress measurement
SU1693483A1 (ru) Способ определени показател преломлени прозрачных слоев на прозрачных подложках
SU1213398A1 (ru) Интерференционный способ определени показател преломлени
SU197218A1 (ru) Многолучевой интерферометр
RU42661U1 (ru) Устройство для исследования переходного слоя проводящей поверхности