SU1163161A1 - Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении - Google Patents
Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении Download PDFInfo
- Publication number
- SU1163161A1 SU1163161A1 SU833637333A SU3637333A SU1163161A1 SU 1163161 A1 SU1163161 A1 SU 1163161A1 SU 833637333 A SU833637333 A SU 833637333A SU 3637333 A SU3637333 A SU 3637333A SU 1163161 A1 SU1163161 A1 SU 1163161A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- internal reflection
- total internal
- light wave
- parallel
- phase shift
- Prior art date
Links
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА ФАЗЫ СВЕТОЮЙ ВОЛНЫ ПРИ ШОГОКРАТНО НАРУШЕННОМ ПОЛНОМ ВНУТРЕННЕМ ОТРАЖЕНИИ, состо щее из осветител . пол ризатора, элемента многократно нарушенного полного внутреннего отражени в виде пр мой призмы, в основании которой лежит параллелограмм, а боковые грани, предназначенные дл нанесени исследуемого объекта, попарно параллельны, отличающеес тем, что, с целью осуществлени раздельных измерений сдвигов фазы дл параллельной и перпендикул рной составл ющих линейно пол ризованного -света, элемент многократно нарушенного полного внутреннего отражени размещен внутри двухлучевого интерферометра Жамена на пути проход щих через него обоих пучков интерферометра , а участки, предназначен (Л ные длл нанесени исследуемого объекта и свободные, чередуютс .
Description
t1 Изобретение относитс к устройствам дл измерени величин, характери зунщих оптические свойства вещества. Известно устройство дп измерени разности сдвигов фаз перпендикул рной и параллельной компоненты пол ризованного света П. Недостатком устройства вл етс невозможность получени абсолютных значений сдвига фазы при отражении каждой из компонент перпендикул рно и параллельно пол ризованного света. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к предлагаемому вл етс устройство дл измерени сдвигов фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении (МНПВО), состо щее из осветител , пол ризатора,элемента МНПВО в виде пр мой призмь, в основании которой лежит параллелограмм , а боковые грани, предназначенные дл нанесени объекта, попарно параллельны 2 . Недостатком известного устройства вл етс невозможность осуществлени раздельных измерений сдвигов фазы дл параллельной и перпендикул рной составл ющих линейно пол ризованного света. Цель изобретени - осуществление раздельных измерений сдвигов фазы дл параллельной и перпендикул рной составл ющих линейно пол ризованного света. Эта цель достигаетс тем, что в устройстве дл измерени сдвигов фазы световой волны при многократно на . рушенном полном внутреннем отражении , состо щем из осветител , пол ризатора , элемента многократно нарушенного полного внутреннего отражени в виде пр мой призмы,, в основа нии которой лежит параллелограмм, а боковые грани, предназначенные дл нанесени объекта, попарно параллель HЫJ элемент многократно нарушенного полного внутреннего отражени размещен внутри двухлучевого ин терферомет ра Жамена на пути проход щих через него обоих пучков интерферометра, а участки, предназначенные дл нанесени исследуемого объекта и свободные чередуютс . На чертеже изображено устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при МНПВО. 1 Между пластинами 1 и 2 интерферометра Жамена введен элемент МНПВО в виде пр мой призмы 3, в основании которой лежит параллелограмм, боковые грани которого попарно параллельны. Исследуемые слои 4 нанос тс на боковые грани призмы. Пол ризатор 5 . позвол ет устанавливать либо перпендикул рную , либо параллельную пол ризацию линейно пол ризованного света . Пол ризатор 5 формирует нужное направление линейной пол ризации световой волны, идущей от источника света. С помощью пластины 1 интерферометра линейной пол ризованное излучение расщепл етс на два луча, которые попадают в элемент МНПВО 3. Один из лучей отражаетс от границы призма - воздуха, а другой - от границы призма - объект - воздух. Сначала фиксируетс интерференционна картина, когда в интерферометр помещен элемент МНПВО без измер емого объекта, а затем тот же элемент МНПВО с нанесенным объектом измерений. Вычисление искомого сдвига фаз ведут по формуле сдвиг фазы при отражении от объекта дл перпендикул рной и параллельной компоненты света; сдвиг фазы при отражении на границе элемент МНПВО - возсмещение интерференционной картины от элемента МНПВО с объектом измерени и без . объекта измерени ; Н - ширина полосы. Эффективность предлагаемого устройства по сравнению с известным определ етс тем, что.оно дает возможность измер ть величины сдвига фаз при отражении от тонкой пленки, нанесенной на прозрачную подложку, в отдельности дл перпендикул рной 6, и параллельной 9ц пол ризаций. Это дает большую информацию об оптических свойствах тонких пленок, в частности об их анизотропии. Расшир ютс возможностй применени методов контрол технологии нанесений пленок на различные подложки.
Фмг.2
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА ФАЗЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ ПРИ МНОГОКРАТНО НАРУШЕННОМ ПОЛНОМ ВНУТРЕННЕМ ОТРАЖЕНИИ, состоящее из осветителя, поляризатора, элемента многократно нарушенного полного внутреннего отражения в виде прямой призмы, в основании которой лежит параллелограмм, а боковые грани, предназначенные для нанесения исследуемого объекта, попарно параллельны, отличающ е е с я тем, что, с целью осуществления раздельных измерений сдвигов фазы для параллельной и перпендикулярной составляющих линейно поляризованного -света, элемент многократно нарушенного полного внутреннего отражения размещен внутри двухлучевого интерферометра Жамена на пути проходящих через него обоих пучков интерферометра, а участки, предназначенные для нанесения исследуемого объекта и свободные, чередуются.(•9) S.U (1„1163161А
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833637333A SU1163161A1 (ru) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833637333A SU1163161A1 (ru) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1163161A1 true SU1163161A1 (ru) | 1985-06-23 |
Family
ID=21079943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833637333A SU1163161A1 (ru) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1163161A1 (ru) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5568256A (en) * | 1993-04-21 | 1996-10-22 | Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Method and apparatus utilizing an optical stage for topographic surface analysis |
US6249351B1 (en) | 1999-06-03 | 2001-06-19 | Zygo Corporation | Grazing incidence interferometer and method |
CN110023819A (zh) * | 2016-11-30 | 2019-07-16 | 奇跃公司 | 用于高分辨率数字显示的方法和系统 |
-
1983
- 1983-07-01 SU SU833637333A patent/SU1163161A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Харрик Н. Спектроскопи внутреннего отражени .М.,1970,с.183. 2. Морозов В.Н. Теоретическое исследование возможностей эллипсометрических методов в спектроскопии НПВО, В кн.: Современные проблемы эллипсометрии. Новосибирск, Наука, .1980, с. 176. . * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5568256A (en) * | 1993-04-21 | 1996-10-22 | Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Method and apparatus utilizing an optical stage for topographic surface analysis |
US6249351B1 (en) | 1999-06-03 | 2001-06-19 | Zygo Corporation | Grazing incidence interferometer and method |
CN110023819A (zh) * | 2016-11-30 | 2019-07-16 | 奇跃公司 | 用于高分辨率数字显示的方法和系统 |
US11686944B2 (en) | 2016-11-30 | 2023-06-27 | Magic Leap, Inc. | Method and system for high resolution digitized display |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5682236A (en) | Remote measurement of near-surface physical properties using optically smart surfaces | |
US4655595A (en) | Ellipsometric method and apparatus for studying physical properties of the surface of a testpiece | |
JPS63228003A (ja) | 干渉計 | |
CN107462149B (zh) | 一种相移干涉测量系统及其波片相移方法 | |
EP0200978B1 (en) | Static interferometric ellipsometer | |
JPH02503115A (ja) | デファレンシャルエリプソメーター | |
CN110487173A (zh) | 反射式相位正交单频激光干涉测量装置及测量方法 | |
SU1163161A1 (ru) | Устройство дл измерени сдвига фазы световой волны при многократно нарушенном полном внутреннем отражении | |
Shabana | Determination of film thickness and refractive index by interferometry | |
Stenberg et al. | A new ellipsometric method for measurements on surfaces and surface layers | |
JP3063843B2 (ja) | 液晶初期配向角測定法及び液晶初期配向角測定装置 | |
JPH0726816B2 (ja) | 透明薄膜の厚さ及び音速の同時測定法 | |
Kobayashi et al. | Optical activity of some non-enantiomorphous ferroelectrics | |
SU1280311A1 (ru) | Способ измерени толщины тонких пленок,нанесенных на подложку | |
RU2075727C1 (ru) | Способ измерения углов поворота нескольких объектов и устройство для его осуществления | |
SU958922A1 (ru) | Устройство дл измерени неоднородностей двулучепреломлени в кристаллах | |
Nasr et al. | Interferometric studies on thin photoactive polymer films | |
SU1308829A1 (ru) | Способ определени толщины кристаллической пластины | |
SU1027669A1 (ru) | Теневой прибор | |
SU1612201A1 (ru) | Способ измерени величины зазора между прозрачными диэлектрическими поверхност ми | |
Woolard et al. | Combined thermoelastic and photoelastic full-field stress measurement | |
SU1693483A1 (ru) | Способ определени показател преломлени прозрачных слоев на прозрачных подложках | |
SU1213398A1 (ru) | Интерференционный способ определени показател преломлени | |
SU197218A1 (ru) | Многолучевой интерферометр | |
RU42661U1 (ru) | Устройство для исследования переходного слоя проводящей поверхности |