Изобретение относитс к контроль но-измерительиой области техники и может быть использовано дл измерени вектора смещени диффузно отражающих объектов. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению вл етс устройство дл измерени вектора смещени диффузно отражаюш11х объектов, содержащее источник когерентного излучени и последовательно установленные по ходу излучени спекл-фотрграфию и приемник излучени ij . Недостатком известного устройств вл етс невысокий диапазон измерени вектора смещени вследствие шум вызванного п тнистой структурой когерентного света. Целью изобретени вл етс увели чение диапазона измерени вектора смещени . Поставленна цель достигаетс тем, что устройство дл измерени вектора смещени диффузно отражающи объектов, содержащее источник когерентного излучени и последовательн установленные по ходу излучени спекл-фотографию и приемник излучени , снабжено .отклон ющим элементом эталонной спекл-фотографией и интер ферометром сдвига, последовательно установленными меноду спекл-фотографией и приемником излучени , двум дополнительными приемниками излучени , один из которых установлен в ходе излучени , прошедшего отклон ю щий элемент и интерферометр, другой в ходе излучени , прошедшего откло- н ющий элемент и отраженного от интерферометра , блоком обработки сигналов , входы которого электрически св заны с выходами всех приемников излучени , интерферометр выполнен в виде двух дифракционных решеток, установленных с возможностью одновр менного относительного перемещени в направлении, перпендикул рном к штрихам решеток в плоскости располо жени этих штрихов и в направлении, перпендикул рном к этой плоскости, дифракционные решетки установлены п углом Брэгга к оптической оси устро ства, а спекл-фотографии ориентированы так, чтобы их плоскости были параллельны плоскост м дифракционны решеток. 212 На чертеже представлена схема устройства дл измерени вектора смещени диффузно отражающих объектов. Устройство содержит источник t когерентного излучени и последователь-, но установленные по ходу излучени спекл-фотографию 2 и приемник 3 излучени , последовательно установленные между спекл-фотографией 2 и приемником 3 излучени отключаюп(ий элемент 4, эталонную спекл-фотографию 5 и интерферометр сдвига, выполненный в виде двух дифракционных решеток 6 и 7, два дополнительных приемника 8 и 9 излучени , приемник 8 установлен в ходе излучени , прошедшего отклон ющий элемент 4 и интерферометр приемник 9 - в ходе излучени , прошедшего отклон ющий элемент 4 и отраженного от интерферометра, блок 10 обработки сигналов, входы которого электрически св заны с выходами приемников 3, 8 и 9, дифракционные решетки 6 и 7 установлены с возможностью одновременного относительного перемещени в направлении, перпендикул рном к штрихам решеток в плоскости расположени этих штрихов, и в направлении, перпендикул рном к этой плоскости, дифракционные решетки 6 и 7 установлены под углом Брэгга к оптической оси устройства, а спекл-фотографии 2 и 5 ориентированы так, чтобы их плоскости были параллельны плоскост м дифракционных решеток 6 и 7. Устройство работает следующим образом. Источник 1 .когерентного излучени освещает спекл-фотографию 2. Дл того,чтобы исследовать различные точки поверхности объекта, спеклфотографи закреплена на площадке (не показана), котора может перемещатьс в двух взаимно перпендикул рных направлени х в плоскости спеклфотографии . Дл определени ориентации вектора смещени площадка и спекл-фотографи 2 вращаютс с посто нной скоростью вокруг нормали к ним из точки пересечени с оптической осью устройства. Свет, рассе нный спекл-фотографией 2, падает на дифракционные решетки 6 и 7. Одна из них закреплена неподвижно, а втора жестко св зана с параллельным механизмом (не показан), в результате движени которого периодическиThe invention relates to the monitoring of the measuring area of technology and can be used to measure the displacement vector of diffusely reflecting objects. The closest in technical essence and the achieved result to the invention is a device for measuring the displacement vector of diffusely reflecting objects, containing a source of coherent radiation and sequentially installed along the course of radiation of speckle photographic and radiation receiver ij. A disadvantage of the known devices is the low measurement range of the displacement vector due to the noise caused by the spotted structure of coherent light. The aim of the invention is to increase the measurement range of the displacement vector. The goal is achieved by the fact that a device for measuring the displacement vector of a diffusely reflecting object, containing a source of coherent radiation and a speckle photograph and a radiation receiver, successively installed along the radiation path, is equipped with a deflecting element and a reference speckle photograph and a speckle interferometer consistently installed - a photograph and a radiation receiver, two additional radiation receivers, one of which is installed during the radiation that passed the deflecting element and a terferometer, another in the course of radiation, which passed a diverting element and reflected from the interferometer, a signal processing unit, whose inputs are electrically connected to the outputs of all radiation receivers, the interferometer is made in the form of two diffraction gratings installed with simultaneous relative movement in the direction perpendicular to the grating grooves in the plane of these grooves and in the direction perpendicular to this plane, the diffraction gratings are set by the Bragg angle to the optical the axes of the device, and the speckle photographs are oriented so that their planes are parallel to the planes of the diffraction gratings. 212 The drawing shows a diagram of a device for measuring the displacement vector of a diffusely reflecting object. The device contains a source of coherent radiation and sequentially, but installed along the radiation, the speckle photograph 2 and the radiation receiver 3, successively installed between the speckle photograph 2 and the radiation receiver 3, turn off (I element 4, the reference speckle photograph 5 and the shift interferometer, made in the form of two diffraction gratings 6 and 7, two additional radiation receivers 8 and 9, the receiver 8 is installed during the radiation passed through the deflecting element 4 and the interferometer the receiver 9 - during the radiation passing the deflecting Element 4 and reflected from the interferometer, signal processing unit 10, whose inputs are electrically connected to the outputs of receivers 3, 8 and 9, diffraction gratings 6 and 7 are installed with the possibility of simultaneous relative movement in the direction perpendicular to the strokes of the gratings in the plane of these strokes, and in the direction perpendicular to this plane, diffraction gratings 6 and 7 are set at a Bragg angle to the optical axis of the device, and speckle photographs 2 and 5 are oriented so that their planes are parallel planes of the diffraction gratings 6 and 7. The device operates as follows. The coherent radiation source 1 illuminates the speckle photograph 2. In order to investigate various points of the surface of the object, the speckle photograph is fixed on a platform (not shown) which can move in two mutually perpendicular directions in the plane of the speckle photograph. In order to determine the orientation of the displacement vector, the platform and speckle photograph 2 rotate at a constant speed around their normal from the intersection point with the optical axis of the device. The light scattered by the speckle photograph 2 falls on diffraction gratings 6 and 7. One of them is fixed and the second is rigidly connected to a parallel mechanism (not shown), as a result of which movement