Изобретение относитс к электроизмерительной технике СВЧ и. предназ начено дл использовани при ,испыта ни х твердотельных, например полупроводниковых , приборов в сильных электрических пол х, где дл анализ качественно новых свойств материало Требуетс повышенна точность измер ни . Известно устройство дл исследовани вольт-амперных характеристик твердотельных приборов, содержащее последовательно соединенные генератор наносекундных импульсов, ртутно реле и коаксиальный измерительный Тракт с включенными на его входе ог раничителем тока, а на выходе твердотельным прибором, два стробоскопических осциллографа, первые входы которых соединены с выходами соответствующих потенциальных зон ДОН, а вторые непосредственно и через линию задержки подключены к выходу ограничител тока, ЭВМ, входы которой соединены с выходами стробо скопических осциллографов, а выход с входом двухкоординатного самописца 1. ., Недостаток известного устройства св зан со значительной конструктивн сложностью., Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности вл етс устройство дл исследовани вольтамперных характеристик твердотельных приборов, содержащее генератор наносекундных импульсов, к выходу которого подключен коаксиальный из мерительный тракт с включенным на . ,его конце твердотельным прибором, источник посто нного напр жени , соединенный с питающим входом упом нутого генератора, стробоскопичес кий осциллограф, вход которого подключен к выходу потенциального зонда , включенного в рассечку коаксиал ного измерительного тракта Гз . Недостаток указанного устройства определ етс низкой точностью,обусловленной зависимостью результирующих погрешностей измерени от величины сопротивлени образца, котора в свою очередь, может зависеть от напр женности электрического пол . . Цель изобретени - повышение точ ности измерений. Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл исследова ни вольт-амперных характеристик твердотельных приборов, содержащее генератор наносекундных импульсов, к выходу которого подключён коаксиальный измерительный тракт с включенным на его конце твердотельным прибором, источник посто нного напр жени , соединенный с питающим входом упом нутого генератора, стробоскопический осциллограф, вход которого подключен с выходу потенциального зонда, включенного в рассечку коаксиального измерительного тракта, введены регулируемый резистор, омметр и вольтметр посто нного тока, причем регулируемый резистор включен в конце коаксиального измерительного тракта последовательно с твердотельным прибором, вход омметра подключен к выводам регулируемого резистора ,, а вход вольтметра посто нного тока соединен с полюсами источника посто нного напр жени . На чертеже представлена функциональна схема устройства дл исследовани вОЛЬт-амперных характеристик твердотельных приборов. Устройство содержит генератор 1 наносекундных импульсов (типа ключ), к выходу которого подключен коаксиальный измерительный тракт 2 с последовательно включенными на его конце твердотельным прибором 3 и регулируемым резистором 4. В состав устройства вход т также источник 5 посто нного напр жени , соединенный с литающим входом генератора 1, стробоскопический осциллограф.6, вход которого подключен к выходу потенциального зонда 7, включенного в рассечку коаксиального измерительн го тракта 2 на рассто нии от конца тракта равном или больыем двойном электрической длины импульса, вольт- . метр 8 посто нного тока, вход которого соединен с полюсами источника 5 посто нного напр жени , и омметр 9, вход которого подключен к выводам регулируемого реэйстора 4. Работа устройства происходитследующим образом. Наносекундный импульс, генерируемый генератором 1, поступает в коаксиальный измерительный тракт 2с волновым сопротивлением. Z , в конце которого отражаетс . Коэффициент ; отражени по напр жению Гопредел етс соотношением где R J - сопротивление твердотельного прибора 3; R. - сопротивление регулируемого резистора 4, Резистор 4 устанавливаетс в таком положении, чтобы выполн лось равенство . . . В ЭТОМ случае Г О и на экране стробоскопического осциллографа 6 отраженный импульс не наблюдаетс . После фиксации на экране осциллогра||а 6 нулевого уровн все измерени в дальнейшем провод тс на посто нном токе. При помощи вольтме ра 8 измер етс напр жение Uj на по люсах источника 5, а посредством омметра 9 - сопротивление R резистора 4. Напр жение Uj на твердотель ном приборе 3 определ ют из выражен 0-% з-ТR , прибора 3 наход а сопротивление как разность J- через прибор 3 При этом ток соответствует Дгшее измен ют напр жение (Jg -источника 5 и снимают другие точки вольт-амперной характеристики. Предлагаемое техническое решение позвол ет, таким , измерение импульсных величин тока и напр жени подменить простыми измерени ми их на посто нном токе. Это в конечном счете и предопредел ет повышенную точность подобного измерительного устройства. Стробоскопический осциллограф 6 используетс в данном случае лишь в качестве нуль-индикатора что также способствует увеличению результирующей точности измерени .This invention relates to a microwave and electrical measuring technique. Designed for use in testing solid-state, for example, semiconductor, devices in strong electric fields, where the analysis of qualitatively new material properties requires increased measurement accuracy. A device is known for studying the current-voltage characteristics of solid-state devices, containing a series-connected nanosecond pulse generator, a mercury relay, and a coaxial measuring path with a current limiter connected at its input, and two strobe oscilloscopes at the output of a solid-state device, the first inputs of which are connected to the outputs of the corresponding potential zones DON, and the second directly and through the delay line are connected to the output of the current limiter, a computer whose inputs are connected to the output The signals of the strobic oscilloscopes and the output from the input of a two-coordinate recorder 1.. The disadvantage of the known device is associated with considerable structural complexity. The device for studying the current-voltage characteristics of solid-state devices containing a nanosecond pulse generator is closest to that proposed by the technical nature which is connected to the coaxial measuring path with the included on. Its end is a solid-state device, a constant voltage source connected to the power input of the said generator, a stroboscopic oscilloscope, the input of which is connected to the output of a potential probe included in the dissecting of the coaxial measuring path Gz. The disadvantage of this device is determined by low accuracy due to the dependence of the resulting measurement errors on the sample resistance value, which in turn may depend on the strength of the electric field. . The purpose of the invention is to improve the accuracy of measurements. The goal is achieved by the fact that a device for researching the current-voltage characteristics of solid-state devices, containing a nanosecond pulse generator, to the output of which is connected a coaxial measuring path with a solid-state device connected at its end, is connected to a power input of the above-mentioned oscillator, a stroboscopic oscilloscope, the input of which is connected to the output of a potential probe included in the dissection of the coaxial measuring path, has been introduced A resistor, an ohmmeter, and a DC voltmeter, the adjustable resistor is connected at the end of the coaxial measuring path in series with the solid-state device, the input of the ohmmeter is connected to the terminals of the adjustable resistor, and the input of the DC voltmeter is connected to the poles of the constant voltage source. The drawing shows the functional diagram of the device for the study of the volt-ampere characteristics of solid-state devices. The device contains a generator of 1 nanosecond pulses (of the key type), to the output of which a coaxial measuring path 2 is connected, with a solid-state device 3 and an adjustable resistor 4 connected in series at its end. A constant voltage source 5 connected to a cast input is also included in the device. generator 1, a stroboscopic oscilloscope; 6, the input of which is connected to the output of the potential probe 7, included in the dissection of the coaxial measuring path 2 at a distance equal to or from the end of the path m double electric pulse length, volt-. 8 meter of direct current, the input of which is connected to the poles of the source of the constant voltage 5, and an ohmmeter 9, the input of which is connected to the outputs of the adjustable resistor 4. The device operates as follows. The nanosecond pulse generated by the generator 1 enters the coaxial measuring path 2 with wave impedance. Z, at the end of which is reflected. Coefficient ; voltage reflection is defined by the relation where R J is the resistance of the solid-state device 3; R. is the resistance of the adjustable resistor 4. Resistor 4 is set in such a position that equality holds. . . In this case, GO and on the screen of the stroboscopic oscilloscope 6, the reflected pulse is not observed. After fixing the zero level on the screen of the oscillograph || 6, all measurements are subsequently carried out at a direct current. With the help of a voltmeter 8, the voltage Uj is measured on the lumens of source 5, and through ohmmeter 9 - the resistance R of resistor 4. The voltage Uj on a solid-state device 3 is determined from 0% z-TR expressed, device 3 is found as the difference J- through the device 3 At the same time, the current corresponds to the next, the voltage is changed (the Jg of the source 5 and the other points of the current-voltage characteristic are removed. The proposed technical solution makes it possible to replace the measurement of current and voltage pulses by simple measurements at constant current ohm lead and predetermining an improved accuracy of such measurement devices. stroboscopic oscilloscope 6 is used in this case only as a null indicator which also contributes to increase the accuracy of the resulting measurement.