SU1032375A1 - Способ измерени коэффициента отражени оптической поверхности - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к оптическим измерени м и может быть использовано дл  измерени  коэффициента отражени о оптических поверхностей, например лазерных зеркал. Известен способ измерени  коэффи циента отражени  оптической поверхНости , состо щий в том что излучение от источника пропускают через полупрозрачный светоделитель на при емник излучени , а затем измен ют оптическую схему, перемеща  оптические элементы дл  получени  отраж ни  от измер емой поверхности, при сохранении общей длины оптического пути в измерительном тракте X О Q Однако указанный способ не позвол ет измер ть коэффициент отражени  при нормальном падении излучени  на измер емую поверхность, что необходимо при исследовании характеристик лазерных зеркал. Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ измерени  коэффициента отражени  оптической поверхности .путем направлени  потока излучени  перпендикул рно к исследуемой оптической поверхности через / полупрозрачный светоделитель, расположенный перед этой поверхностью под углом к потоку, регистрации отраженного от светоделител  излучени  1-1, поворота светоделител  на 1800 вокруг оси потока и регистрации отраженного от светоделител  излучени  в обратном ходе после .iop мального отражени  от исследуемой оптической поверхности. Затем вычис коэффициент отражени , причем коэффициент О пропускани  светоделител  измер ют заранее, например, путём калибровки по эталонному-зеркалу с заранее известным коэффициентом отражени  2}. .Недостаток известного способа заключаетс  в низкой точности измерени , В частности, при несовпадении Спектрального состава излучени  источника и кривых спектрального пропускани  оптического тракта при изменении отражени  эталонного зеркала и при изменении характеристик неизвестного зеркала ошибка в окончательном значении коэффициента отражени  может быть значительной. Цель изобретени  - повышение точ ности измерени  коэффициента отраже ни  оптической поверхности за счет исключени  использовани  эталонного зеркала. Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу измерени  коэффициента отражени  оптической поверхности путем направлени  потока излучени  перпендикул рно к исследуемой оптической поверхности через Полупрозрачный светоделитель, расположенный перед этой поверхностью под углом к потоку, регистрации отраженного светоделителем излучени  , поворота светоделител  на 180 вокруг оси потока и регистрации отраженного от светоделител  излучени  Iji в обратном ходе после нормального отражени  от исследуемой оптической поверхности, дополнительно поворачивают светоделитель на угол 90 .вокруг оси, перпендикул рной к Ос м направл емого на светоделитель и отраженного от него потоков , регистрируютотраженное от светоделител  излучение f и коэффициент отражени  Rx вычисл ют по формуле R Такое выполнение способа позвол ет повысить точность измерений коэффициента отражени  зеркал, так как в нем исключена операци  калибровки по эталонному зеркалу из-за дополнительного поворота светоделител  и регистрации 19 На фиг. 1-3 представлена схема осуществлени  предлагаемого способа при расположении светоделител  под углом kS, 180 и соответственно. Схема включает измер емую поверхность 1 и полупрозрачный светоделитель 2, На фиг, 1-5 обозначены коэффициент R отражени , подлежащий измерению ; коэффициент R отражени  отражающей поверхности светоделител ; коэффициент р пропускани  светоделител ; интенсивность 1 потока излучени  отисточника (не показан); измер ема  интенсивность I , |,и Iвыходного потока излучени  соответственно в первом, втором и третьем замерах. Измерение коэффициента отражени  выполн ют следующим образом. Пропускают поток излучени  l, от источника через светоделитель, установленный под углом к оси потока (фиг, 1)у и регистрируют интенсивность излучени , отраженного от светоделител  и падающего на фотоприемник (не показан).

Claims (1)

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ путем направления потока излучения перпендикулярно к исследуемой оптической поверхности через полупрозрачный светоделитель, располо- женный перед этой поверхностью под , ' углом 45^ к потоку регистрации отра-* женного светоделителем излучения , поворота светоделителя на 180° во. круг оси потока и регистрации отраженного от светоделителя излучения Ij в обратной ходе после нормального отражения от.исследуемой оптической поверхности, от л и ч а ю щ ий с я тем, что, с целью повышения точности измерения, дополнительно поворачивают светоделитель на „угол 90* вокруг оси, перпендикулярной к осям направляемого на светом делитель и отраженного от него потоков, регистрируют отраженное от светоделителя излучение I» и коэффициент формуле § <7>

   отражения Йх вычисляют по Rl«=Vl£/l< 1з .

   hO·

   Μ in < 1032375 ¹