Изобретение относитс к технике рефрактометрии и может использоват| с в рефрактометрах отражени . Известен способ измерени показател преломлени , включающий формиро вание пучка света, последовательное двухкратное отражение его от поверхности раздела отражательного элемент и исследуемой среды под одним и тем же углом и регистрацию С ЗНедостаток указанного способа заключаетс в том, что регистрируема граница светотени в сечении отраженного сход щегос или расход щегос пучка света при наличии мутности или окраски у исследуемой среды тер ет контраст, что приводит к снижению точности измерений. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности вл етс tno соб измерени показател преломлени включающий формирование пучка света, последовательное двухкратное отражение его от поверхности раздела отражательного элемента и исследуемой среды под одним и тем же углом причем пучок при помощи системы отражаю щих поверхностей направл ют таким образом, что изменение угла падени пучка при первом отражении вызывает равное по величине и противоположное по знаку изменение угла падени пучк при втором отражении, и регистрацию параметров пучка. Способ основан на предельных соот ношени х Френел . Пучок света неправ л ют на поверхностьРаздела сред рас ход щимс или сход щимс со средним углом падени , равным критическому. При выполнении этих условий граница светотени в отраженном пучке становитс более контрастной, что обеспечивает более высокую точность измерений , и по вл етс возможность исследовани мутных и окрашенных сред PJ К недостаткам известного способа относитс невысока точность, по скольку положение светотени измен ет с при случайных изменени х угла пад ни пучка света,Ёызываекых изменени t положени источника излучени либо отражательного элемента. Цель изобретени - повышение точности измерений путем исключени погрешности , вызванной случайными флук туаци ми УГЛ9 падени пучка. Указанна цель достигаетс тем, что согласно способу измерени показ тел преломлени , включающему форми.рование пучка света, последовательное двухкратное отражение его от поверхности раздела отражательного элемента и исследуемой среды под одним и тем же , причем пучок при помощи системы отражающих поверхностей направл ют таким образом, что изменение угла падени пучка при первом отражении вызывает равное по величине и противоположное по знаку изменение угла падени пучка при втором отражении , и регистрацию параметров пучка, пучок света формируют параллельным, угол падени пучка выбирают меньше критического и регистрируют интенсивность дважды отраженного пуЧка света. Интенсивность параллельного пучка света, дважды последовательно отраженного от поверхности раздела отражательного элемента и исследуемой среды, по предлагаемому способу описываетс выражением У- KJoR(n,f)R(n,p), (1) где К - коэффициент св зи; JP - интенсивность исходно1о пучка света; R(n, f) - энергетический коэффициeнt отражени дл первого отражени ; R(n,vp) - энергетический коэффициент отражени Дл второго отражени ; п - показётёль преломлени исследуемой среды; f - угол падени пучка света при первом отражении; - угол падени пучка света при втором отражении. Разлага выражение (1) в р д Тейлора относительно If, ф в малой их окрестности и ограничива сь членами С производными первого пор дка, получим выражение J К7оО(п,1()о)В(п,)Ч + Rf((n,%)uP + 4 ft(n,%}R(n,v)4(foA4l . (2) где ,tp - Исходные углы падени , относительно которых могут происходить их изменени f-vpo - H ;H Vu p; АЧ возможное изменение углов падени ; %-Го , Очевидно, Лф и R (n,(f). - R4(n,S) 103237 4The invention relates to the technique of refractometry and can be used | with reflection refractometers. A known method for measuring the refractive index, which includes the formation of a light beam, its successive twofold reflection from the interface of the reflective element and the medium under study at the same angle and recording the main drawback of this method is that the recorded light or shadow in the cross section of the reflected converging or the divergence of the light beam in the presence of turbidity or color in the test medium loses contrast, which leads to a decrease in the measurement accuracy. The closest to the proposed technical entity is the tno measurement of the refractive index, which includes the formation of a light beam, its successive twofold reflection from the interface of the reflective element and the medium under investigation at the same angle, the beam being guided by a system of reflecting surfaces that a change in the angle of incidence of the beam at the first reflection causes a change in the angle of incidence of the beam at the second reflection, equal in magnitude and opposite in sign, beam dimensions. The method is based on limiting ratios x Fresnel. A beam of light is not placed on the surface. The medium section is diverging or converging with an average angle of incidence equal to the critical one. When these conditions are met, the reflection of light and light in the reflected beam becomes more contrasting, which provides higher accuracy of measurements, and it becomes possible to study turbid and colored PJ media. The disadvantages of this method are low accuracy, since the position of light and shadow changes with random changes. The angle of the pad or beam of light changes the t position of the radiation source or reflective element. The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy by eliminating the error caused by random fluctuations of the UGL9 beam incidence. This goal is achieved by the fact that, according to the method of measurement, the display of refractive bodies, including the formation of a light beam and its successive twofold reflection from the interface of the reflective element and the medium under investigation, is the same, the beam is guided by a system of reflecting surfaces that a change in the angle of incidence of the beam at the first reflection causes a change in the angle of incidence of the beam at the second reflection, equal in magnitude and opposite in sign, to the registration of the beam parameters, the beam the light is formed in parallel, the angle of incidence of the beam is chosen less than the critical one, and the intensity of the twice reflected beam of light is recorded. The intensity of a parallel beam of light, twice successively reflected from the interface of the reflective element and the medium under investigation, according to the proposed method, is described by the expression Y-KJoR (n, f) R (n, p), (1) where K is the coupling coefficient; JP is the intensity of the initial light beam; R (n, f) is the reflection energy coefficient for the first reflection; R (n, vp) is the energy reflection coefficient for the second reflection; n is the refractive index of the medium under study; f is the angle of incidence of the light beam at the first reflection; - the angle of incidence of the light beam during the second reflection. Expansion of the expression (1) in the Taylor series with respect to If, f in their small neighborhood and limited to the terms C derivatives of the first order, we obtain the expression J К7оО (п, 1 () о) В (п,) Ч + Rf ((n ,%) uP + 4 ft (n,%} R (n, v) 4 (foA4l. (2) where, tp - Initial angles of incidence, relative to which their changes can occur f-vpo - H; H Vu p; ACh possible change of the angles of incidence;% -Go, Obviously, Lf and R (n, (f). - R4 (n, S) 103237 4
ГГри этом выражение (2) запишетс Предлагаемый способ позвол ет пов виде .высить точность измерени показателейHere, expression (2) will be written down. The proposed method allows to increase the accuracy of measurement of indicators.
je , ()L (3)преломлени различных веществ путемje, () L (3) refract various substances by
Из выражени (3) видно, что интен-исключени погрешности, вызваннойFrom expression (3) it can be seen that the intensity of the error caused by
сивность отраженногопучка светане за-5 случайными флуктуаци ми угла па; висит от флуктуации угла пaдeни vf ,дени .the intensity of the reflected beam of light is due to the 5 random fluctuations of the angle a; depends on the fluctuation of the angle of the vf, day.