SU1030748A1 - Device for checking linear integrated circuit parameters - Google Patents
Device for checking linear integrated circuit parameters Download PDFInfo
- Publication number
- SU1030748A1 SU1030748A1 SU813244483A SU3244483A SU1030748A1 SU 1030748 A1 SU1030748 A1 SU 1030748A1 SU 813244483 A SU813244483 A SU 813244483A SU 3244483 A SU3244483 A SU 3244483A SU 1030748 A1 SU1030748 A1 SU 1030748A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- input
- amplifier
- detector
- switch
- Prior art date
Links
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ЛИНЕЙНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ, содержащее генератор стимулирующих сигналов, выход которого соединен с зажимом дл подключени входа испытуемого объекта и через последовательно соединенные масштабный усилитель , первый регулируемый усилитель , детектор, блок вычитани и уси литель посто ннного тока соединен с объединенными управл ющими входами первого и второго регулируемых усилителей , второй вход блока вычитани соединен с выходом источника опорного напр жени , выход второго регулируемого усилител соединен .с входом второго детектора, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерени коэффициента усилени микросхем во всем- динамическом диапазоне, в него введены управл емый аттенюатор, блок сравнени , генератор импульсов, переключатель и реверсивный счетчик, причем вход аттенюатора соединен с выходом испытуемого объекта, а выход - с входом второго управл емого усилител , выход генератора импульсов через переключатель соединен с пр мым и инверсным счетными входами реверсивного счетчика, кодовые выходы которого соединены с управл ющими входами управл емого аттенюатора, выход второго детектора соединен с первым входом блока сравнени , второй вход которого соединен с выходом источника опорного напр жени , а выход соединен с управл ющим входом переключател .A DEVICE FOR MONITORING PARAMETERS OF LINEAR INTEGRAL SCHEMES, containing a stimulus generator, the output of which is connected to a terminal for connecting the input of the test object and, through a serially connected large-scale amplifier the first and second adjustable amplifiers, the second input of the subtraction unit is connected to the output of the reference voltage source, the output of the second adjustable amplifier The body is connected to the input of the second detector, characterized in that, in order to improve the accuracy of measuring the gain of the microcircuits in the whole dynamic range, a controlled attenuator, a comparison unit, a pulse generator, a switch and a reversible counter are inserted in it, and the attenuator input is connected to the output of the test object, and the output to the input of the second controlled amplifier, the output of the pulse generator through a switch is connected to the direct and inverse counting inputs of the reversible counter, the code outputs of the cat The aux is connected to the control inputs of the controlled attenuator, the output of the second detector is connected to the first input of the comparison unit, the second input of which is connected to the output of the reference voltage source, and the output is connected to the control input of the switch.
Description
Изобретение относитс к контроль но-измерительной технике и может быть использоваЕю в измерительных Систем 1Х дл контрол и измерени параметров линейных схем. Известно устройство дл контрол Ейботоспособности линейных интегра/шных микросхем, содержащее генератор задающих сигналов, соединенны через коммутатор режимов работы q преобразователем аналог-код, согласовани , ВЕлчислитель и блок лндикацииг осуществл ющее измерение и контроль параметров микросхем пуlieM разновременного измерени сигна лов на входе и выходе микросхем с последующим вычислением значений параметров в вычислительном блоке Г1 Такое устройство обладает низкой точностью 1-1змерени коэффициента ус лени микросхемы из-за разнесени во времени измерительных операций, составл ющих процесс его вычислени Наиболее близким по техническому решеншо к предлагаемому вл етс устройство, содержащее -генератор сигналов, выход которого соединен с входом испытуемой схемы и через масштабный усилитель, первый регули руемый усилитель, детектор, блок вычитани .и усилитель посто нного тока соединен с объединенными управ л ющими входами первого и второго регулируемых усилителей, второй вхо схемы вычитани соединен с выходом источника опорного напр жени , выход второго регулируемого усилител соединен с входом второго детектора а вход его - с выходом испытуемой схемы 2. Недостаток устройства состоит в TQM, что точность измерени коэффициента усилени : испытуемой схемы в таком устройстве низка из-за вли ни на точность преобразовани погрешностей нелинейности детекторов напр жени , работающих в разных точ ках динамической характеристики. Целью изобретени вл етс повышение точности: измерени коэффициен та ус:и.пени испытуемых схем во всем динамическом диапазоне. Цель достигаетс тем, что в устро ство дл контрол параметров линейных интегральных схем, содержах ее генератор стимулирующих сигналов, выход которого соединен с зажимом: дл подключени входа испытуемого объекта и через последовательно сое диненные масштабный усилитель, первый регулируердый усилитель, детектор , блок вычитани и усилитель пос то нного тока соединен с объединенн ми управл ющими входами первого и второго регулируемых усилителей, вт рой вход блока вычитани соединен с выходом источника опорного напр жени , выход второго регулируемого усилител соединен с входом второго детектора , введены управл емый аттенюа-t тор, блок сравнени , генератор импульсов , пе1:)еключатель и реверсивный счетчик, причем вход аттенюатора соединен с выходом испытуемого объекта , а выход - с входом управл емого усилител , выход генератора импульсов через переключатель соединен-с пр мым и инверсным счетными входами реверсивного счетчика, кодовые выходы которого соединены с управл ющими входами управл емого аттенюатора , выход второго детектора соединен с первым входом блока сравнени , второй вход которого соединен с выходом источника опорного напр жени , а выход Соединен с управл ющим входом переключател . На фиг, 1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг, 2 структурна схема одного из возможных вариантов выполнени управл емого аттенюатора. Устройство дл контрол параметров микросхемы 1 содержит генератор 2 стимулирующих сигналов испытуемого объекта ( микросхемы , масштабный усилитель 3, первый регулируемый усилитель 4, первый детектор 5, блок б вычитани , источник 7 напр жени , аттенюатор 8, второй регулируемый усилитель 9, второй детектор 10 блок 11 сравнени , усилитель 12 пос- . то нного тока, переключатель- 13, генератор 14 импульсов, реверсивный счетчик 15, Управл емый аттенюатор состоит из последовательно соединенных чеек 16 ослаблени (фиг, 2), содержащих резисторы 17, реле 18, состо щее из обмотки 19, один конед которой заземлен, а другой вл етс одним из управл ющих входов аттенюатора 8, двух переключающ:их элементов 20, причем два неподвижных кон- , такта элементов соединены между собой , два других подк-гпочены к двум резисторам 17 Т-образной схемы, Подвижные контакты элементов представл ют собой вход и выход че-. ек 16 ослаблени . Коэффициенты ос лаблени чеек 16 соотнос тс как веса в двоичном коде. При положении переключающих элементов 20 внизу под воздействием®управл ющего кода чейки 16 ослаблени включаютс и напр жение, поступающее от микросхемы 1, ослабл етс на .величину, соответствующую поступающему управл ющему коду. Динамические характеристики первого 5 и второго 10 детекторов совпадают в точке, соответствующей значению их входного напр жени , равного значению выходного напр жени , $opNrapyeMoro источником 7 опорногоThe invention relates to the control of measuring technique and can be used in measuring Systems 1X for monitoring and measuring the parameters of linear circuits. A device is known for monitoring the Linear Integrity / IC microcircuit monitoring, which contains a generator of driving signals connected via an analog-code converter, an analog-code converter, matching, a calculator and a display unit that measures and monitors the parameters of puMie microcircuits for measuring signals at the input and output of the microcircuit at various times with the subsequent calculation of the values of the parameters in the computing unit G1. Such a device has a low accuracy of 1–1 measurements of the coefficient of a chip’s chip due to time diversity of the measurement operations constituting the process of its calculation The closest in technical solution to the proposed is a device containing a signal generator, the output of which is connected to the input of the tested circuit and through a large-scale amplifier, the first adjustable amplifier, detector, and subtractor. the DC amplifier is connected to the combined control inputs of the first and second adjustable amplifiers, the second input of the subtraction circuit is connected to the output of the reference voltage source, the output of the second This adjustable amplifier is connected to the input of the second detector and its input to the output of the circuit under test 2. A disadvantage of the device is the TQM, that the measurement accuracy of the gain: the circuit under test in such a device is low due to the effect on the accuracy of the nonlinearity error conversion of the voltage detectors, working at different points of the dynamic characteristic. The aim of the invention is to improve the accuracy of: measuring the ratio of the mustache: and the power of the tested circuits over the entire dynamic range. The goal is achieved by the device for monitoring the parameters of linear integrated circuits, its stimulating signal generator, whose output is connected to a terminal: to connect the input of the test object and sequentially connect a large-scale amplifier, first adjustable amplifier, detector, subtractor and amplifier this current is connected to the combined control inputs of the first and second adjustable amplifiers, the input of the subtraction unit is connected to the output of the reference voltage source, the output of the second An adjustable amplifier is connected to the input of the second detector, a controlled attenuator-t torus, a comparator unit, a pulse generator, pe1 are entered:) a switch and a reversible counter, the attenuator input connected to the output of the test object, and the output to the input of the controlled amplifier, output A pulse generator through a switch is connected to the direct and inverse counting inputs of a reversible counter, the code outputs of which are connected to the control inputs of the controlled attenuator, the output of the second detector is connected to the first input of the unit comparison, the second input of which is connected to the output of the voltage source, and the output is connected to the control input of the switch. Fig, 1 shows a diagram of the proposed device; Fig. 2 is a block diagram of one of the possible embodiments of a controlled attenuator. The device for monitoring the parameters of IC 1 contains a generator 2 stimulating signals of the test object (microcircuits, scale amplifier 3, first adjustable amplifier 4, first detector 5, subtraction unit 6, voltage source 7, attenuator 8, second adjustable amplifier 9, second detector 10 unit 11 comparisons, amplifier 12, current-controlled, switch-13, pulse generator 14, reversible counter 15, The controlled attenuator consists of series-connected attenuation cells 16 (FIG. 2) containing resistors 17, relay 18, and co The main of winding 19, one of which is grounded, and the other is one of the control inputs of the attenuator 8, two switches: their elements 20, with two fixed contacts, a cycle of elements connected to each other, two others are connected to two resistors 17 T-shaped circuit, Moving contacts of the elements are the input and output of the weakening cell 16. The attenuation coefficients of the cells 16 are related as weights in the binary code. When the switching elements 20 are at the bottom, under the influence of the control code, the attenuating cell 16 is turned on and the voltage coming from the chip 1 is attenuated by the magnitude corresponding to the incoming control code. The dynamic characteristics of the first 5 and second 10 detectors coincide at the point corresponding to the value of their input voltage equal to the value of the output voltage $ opNrapyeMoro by source 7 of the reference
напр жени . КоэФфициент.усилени масштабного усилител 3 равен номинальному значению коэффициента усилени испытуемых микросхем и служит дл масштабного/преобразовани входного напр жени испытуемоймикросхемы. Характеристики управлени коэффициентом усилени регулируемых усилителей 4 и 9 совпадают во всем их динамическом диапазоне. При этом погрешность нестабильности коэффициента усилени масштабного усилител 3 и погрешность от неидентичности характеристик управлени коэффициентом усилени регулируемых усилителей 4 и 9 пренебрежимо малы по сравнению с погрешностью нелинейности харак .теристики преобразовани второго детектора 10 в его динамическом диапазоне .tension The gain factor of the scale amplifier 3 is equal to the nominal value of the gain of the test chips and serves to scale / convert the input voltage of the test chip. The gain control characteristics of the adjustable amplifiers 4 and 9 coincide throughout their dynamic range. At the same time, the error in the instability of the gain factor of the scale amplifier 3 and the error from the nonidentity of the control characteristics of the gain of the adjustable amplifiers 4 and 9 are negligible compared to the error in the nonlinearity of the conversion characteristics of the second detector 10 in its dynamic range.
Устройство работает следующим образом. The device works as follows.
Испытательный сигнал напр жени синусовдальной формы заданного уровн поступает на нход испытуемой схемы , а также на вход масштабного усилител 3. Усиленный в k раз входной сигнал (х) микросхемы 1 в виде выходного сигнала у микросхемы 1 поступает на управл емый аттенюатор 8. Если значение , преобразованное масштабным ; усилителем 3, регулируемым усилителем 4, первом детектором 5 на первом входе блока вычитани , не равно значению ZQ сигнала на выходе источника опорного напр жени , то сигнал с выхода блока б вычитани , усиленный и проинвертированный усилителем посто нного тока 12, значение которого пропорционально разности . 2о), будет измен ть коэффициенты усилени первого и второго регулируеглых усилителей до тех пор, пока не наступит равенство к а The test signal of the sinusdal voltage of a given level is fed to the input of the circuit under test, as well as to the input of the scale amplifier 3. The input signal (x) of IC 1 amplified k times as output signal from IC 1 is fed to a controlled attenuator 8. If the value transformed scale; the amplifier 3, the adjustable amplifier 4, the first detector 5 at the first input of the subtractor, is not equal to the value of the ZQ signal at the output of the reference voltage source, the signal from the output of the subtractor b, amplified and inverted by the DC amplifier 12, whose value is proportional to the difference. 2o) will change the gains of the first and second variable amplifiers until equality to a
При этомWherein
ск .f Of где kpy. Ддд« - коэффициенты усилени масштабного усилител 3 и первого регулируемого усилител 4; погрешность преобразов .ани первого детектора среднеквадра тичных значений 5. ck .f of where kpy. Ddd are the gains of the scale amplifier 3 and the first adjustable amplifier 4; the conversion error of the first detector of the rms values 5.
При этом kpvp kp.2. где kpx .- коэффициент усилени второго регулируемого усилител 9.At the same time kpvp kp.2. where kpx. is the gain of the second adjustable amplifier 9.
Вместе с тем, если значение ур„ сигнала на выходе второго детектораHowever, if the value of ur „signal at the output of the second detector
10не равно значению Zj, сигнала источника опорного напр жени , то блок10 is not equal to the value of Zj, the voltage source signal, then the block
11сравнени , в зависимости от знака разности (уск - ZQ), установит переключатель 13 в такое состо ние, что импульсы с выхода генератора 1411 compared, depending on the sign of the difference (usc - ZQ), will set the switch 13 to such a state that the pulses from the output of the generator 14
будут поступать соответственно па пр мой или инверсный вход счетчика 15. Пусть (У(., - . Тогда импульсы с генератора 14 через пе зеключатель 13 будут поступать на пр мой вход счетчика 15, и код N в нем будет увеличиватьс . Соответственно коду N включаютс соответствующие чейки 16 ослаблени в аттенюаторе 8, и общий коэффициент ослаблени will be sent respectively to the direct or inverse input of the counter 15. Let (Y (., -. Then the pulses from the generator 14 through the switch 13 will go to the direct input of the counter 15 and the N code in it will increase. Accordingly, the N code will turn on the corresponding attenuating cells 16 in the attenuator 8, and the overall attenuation coefficient
0 kq-fj его увеличиваетс до тех пор, пока значение у выходного сигнала детектора 10 не превысит значение z выходного сигнала источника опорных напр жений. После этого блок 110 kq-fj increases it until the value of the output signal of the detector 10 does not exceed the value z of the output signal of the source of reference voltages. After that, block 11
5 установит переключатель 13 в состо ние , при котором импульсы с генератора 14 будут поступать на инверсный вход счетчика 15 и код N в нем,соответственно , коэффициент ослабле 5и 5 will set the switch 13 to a state in which the pulses from the generator 14 will be fed to the inverse input of the counter 15 and the code N in it, respectively, the attenuation factor 5 and
0 Й атузттенюатора 8 будут уменьшатьс до тех пор, пока значение у, не станет меньше значени z, и т.д. В результате нескольких чередующихс циклов увеличени и уменьшени коэффициент ослаблени аттенюатора 8 становитс равным с точностью до минимального значени коэффициенту ослаблени чейки 16 аттенюатора 8, соответствующей младшему разр ДуThe 0 th atutilizer 8 will decrease until the value of y, becomes less than the value of z, and so on. As a result of several alternating cycles of increase and decrease, the attenuation coefficient of the attenuator 8 becomes equal to the minimum value of the attenuation coefficient of the cell 16 of the attenuator 8, corresponding to the least significant bit Du
0 счетчика 15.0 counter 15.
При этом y- orfVyzt Р где у - значение сигнала на выходеIn this case, y- orfVyzt Р where y is the value of the output signal
микросхемы 1;microcircuits 1;
k - значение коэффициента ослабс лени аттенюатора 8 в момент равенства , kp kp ; Ь л - погрешность преобразовани , второго детектора 10 среднеквадратичных значений в момент равенства у - о При условии идентичности динамических xapaKTejiHCTHK функций преобразований первого 5 и второго 10 детекторов в точках х у z,k is the value of the attenuation coefficient of the attenuator 8 at the moment of equality, kp kp; Ll is the conversion error, the second detector has 10 rms values at the moment of equality y - o Under the condition that the dynamic xapaKTejiHCTHK transform functions of the first 5 and second 10 detectors are identical at x and z,
;9-| Лдй дд, ;, 5 .x-k.kp +дд у. +g.; 9- | L dd,;, 5 .x-k.kp + dd y. + g.
При этом значение kg. коэффициента ослаблени аттенюатора 8 и соответствующий ему код N в. счетчике 15 равныThe value of kg. attenuation coefficient of the attenuator 8 and the corresponding code N in. counter 15 are equal
° .. -fА:° .. -fA:
k vk v
;где k - коэффициент усилени испытуемой микросхемы.where k is the gain of the tested microcircuit.
55 При контроле и измерении коэффи:циен а усилени испытуемых микросхем при других значени х уровн входных сигналов, нaпpи / ep, при контроле линейности коэффициента усилени 55 When monitoring and measuring the coefficient: gain of the tested microcircuits at other values of the input signal level, for example / ep, while monitoring the linearity of the gain
60 вдоль динамического, диапазона уровн входных сигналов, значение испытательного сигнала, подаваемого от генератора 2, устанавливаетс равн;:. требуемому/ и в дальнейшем устройство60 along the dynamic, input level range, the value of the test signal supplied from oscillator 2 is set to:;. the required / and further device
55 работает аналогично описанному.55 works the same way as described.
Таким образом, код, полученный в .15 в результате действий устройства, обратно пропорционален Коэффициенту усилени испытуемой микросхемы. Значение N может подаватьс из счетчика 15 на ЭВМ дл преобразовани и обработки.Thus, the code obtained in .15 as a result of the device’s actions is inversely proportional to the Gain coefficient of the tested microcircuit. The value of N may be supplied from counter 15 to a computer for conversion and processing.
В устройстве второй детектор 10 работает в одной рабочей точке характеристики преобразовани при одном значении уровн его входного напр жени , определ емом опорным напр жением z независимо о изменени значени коэффициентов усилени испытуемых микросхем от образцак образцу или при контроле его при :изменном уровне входного напр жени и наличии нелинейности коэффициента усилени микросхем в динамическом диапазоне уровней входного напр жени .In the device, the second detector 10 operates at one operating point of the conversion characteristic at one value of its input voltage level determined by the reference voltage z regardless of the change in the gain values of the tested chips from the sample or when it is monitored at: a variable input voltage level and the presence of non-linear gain of microcircuits in the dynamic range of input voltage levels.
Таким образом, на величину кода .N, соответствующего контролируемому коэффициенту усилени испытуемой микросхемы, не вли ют погрешностиThus, the value of the .N code corresponding to the monitored gain of the tested chip is not affected by the error
-нелинейности преобразовани детекторов 5 и 10, так как они работают в одной точке, соответствующей значению их выходных напр$юкений, а-nonlinearity of the conversion of the detectors 5 and 10, since they operate at one point corresponding to the value of their output directives, and
также не вли ет п.огрешн.ость формировани опорного напр жени ZQ источником 7 опорного напр жени , требовани к которому могут быть снижены. Погрешность, вносима детекторами в пределах их динамического диапазона (менее 20 дБ) -в известных устройствах составл ет единицы процента. Погрешность аттенюаторов в диапазоне до 25-45 дБ составл ет 0,015-0,02 дБ. Погрешность от неидентичности характеристик управлени регyлиpye iыx усилителей в диапазоне 70-1-00 дБ, также как и погрешность нестабильности коэффициентов усилени масштабного усилител , составл ет доли процентов.Also, the suppression of the formation of the reference voltage ZQ by the source 7 of the reference voltage, the requirements for which can be reduced, does not affect. The error introduced by the detectors within their dynamic range (less than 20 dB) —in known devices, is a few percent. The error of attenuators in the range of up to 25-45 dB is 0.015-0.02 dB. The error in the non-identity of the control characteristics of regular amplifiers in the range of 70-1-00 dB, as well as the error in the instability of the gain factors of the large-scale amplifier, is a fraction of a percent.
- Таким образом, точность изменени коэффициента усилени линейных интегральных схем в устройстве увеличиваетс в 2-3 раза относительно 5 известного устройства.“Thus, the accuracy of the gain variation of the linear integrated circuits in the device is increased by a factor of 2-3 relative to 5 of the known device.
сЫ-Нa son
1818
22
WJf Wjf
ОABOUT
nn
YY
16sixteen
lom/Slom / s
J6J6
fSfS
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU813244483A SU1030748A1 (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Device for checking linear integrated circuit parameters |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU813244483A SU1030748A1 (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Device for checking linear integrated circuit parameters |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1030748A1 true SU1030748A1 (en) | 1983-07-23 |
Family
ID=20941803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU813244483A SU1030748A1 (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Device for checking linear integrated circuit parameters |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1030748A1 (en) |
-
1981
- 1981-02-09 SU SU813244483A patent/SU1030748A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 1.Авторское свидетельство СССР № 325571, кл. G 01 R 31/28, 1972. 2.Авторское свидетельство СССР № 777603, кл. G 01 R 31/26, 1979 (прототип). * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3971984A (en) | Wide-range logarithmic responding translation circuit | |
| US4350974A (en) | Logarithmic analog-to-digital converter | |
| SU1030748A1 (en) | Device for checking linear integrated circuit parameters | |
| SU503249A1 (en) | Multichannel analyzer | |
| US4356449A (en) | Logarithmic attenuating circuit | |
| JPS6149509A (en) | Signal level equalization processor | |
| JPS6154487A (en) | Radiation measuring device | |
| SU1478135A1 (en) | Multichannel detector of maximum signal | |
| SU374574A1 (en) | NULL BODY | |
| SU926634A1 (en) | Generator-calibrator | |
| SU758069A1 (en) | Device for automatic switching-over differential-proportional regulators | |
| SU1718239A1 (en) | Analog divider | |
| SU1196785A1 (en) | Apparatus for automatic testing of selective amplifiers | |
| SU385393A1 (en) | ANALOG-DISCRETE CONVERTER | |
| SU1640712A1 (en) | Dispersion detector | |
| SU1624351A1 (en) | Device for resistance checking and measurement | |
| SU955110A1 (en) | Logarithmic analog=digital converter | |
| SU1626222A1 (en) | Device for testing auto-frequency amplifiers | |
| SU1322339A1 (en) | Multichannel device for checking quality parameters of object | |
| SU1504562A1 (en) | Arrangement for automatic loading in strength testing | |
| SU1187118A1 (en) | Multiple-value standard of radiopulse voltage | |
| SU623210A1 (en) | Logarithmic analogue-digital functional converter | |
| SU1615632A2 (en) | Voltage converter | |
| SU1589187A1 (en) | Apparatus for investigating electrochemical processes | |
| SU1018028A1 (en) | Device for measuring current |