SU1013744A1 - Устройство дл контрол полупроводниковых пластин - Google Patents

Устройство дл контрол полупроводниковых пластин Download PDF

Info

Publication number
SU1013744A1
SU1013744A1 SU813366118A SU3366118A SU1013744A1 SU 1013744 A1 SU1013744 A1 SU 1013744A1 SU 813366118 A SU813366118 A SU 813366118A SU 3366118 A SU3366118 A SU 3366118A SU 1013744 A1 SU1013744 A1 SU 1013744A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
unit
inputs
base table
Prior art date
Application number
SU813366118A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Петрович Оксанич
Анатолий Леонидович Анистратенко
Валерий Павлович Воронин
Анатолий Михайлович Тузовский
Александр Вячеславович Елютин
Original Assignee
Ордена Трудового Красного Знамени Завод Чистых Металлов Им.50-Летия Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Трудового Красного Знамени Завод Чистых Металлов Им.50-Летия Ссср filed Critical Ордена Трудового Красного Знамени Завод Чистых Металлов Им.50-Летия Ссср
Priority to SU813366118A priority Critical patent/SU1013744A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1013744A1 publication Critical patent/SU1013744A1/ru

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, содержащее подвижный базовый стол с приводом , св занный с базовым столом преобразователь линейных перемещений, подключенный к его выходу первым входом блок обработки и индикации, отличающеес  тем, что, с целью расширени - функциональных зоз можностей, оно снабжено опорным столом, установленным в плоскости, эквидистантной gnoBepxHocTH базового стола,-на сферическом шарнире и трех подпружиненных аксиальных упорах, . четырьм  измерител ми смещени  исходного положени  опорного стола, измерителем прижимного усили  базо- . вого стола, узлом управлени  приводом, блок обработки и индикации выполнен в виде совокупности двух электронных преобразователей, узла коммутации, анализатора,  чейки пам ти, двух сумматоров,  чейки запуска, узла коррекции , индикаторов отклонени  от плоскостности, толщины, отклонени  от параллельности, и остаточного . напр жени , выход первого электронного преобразовател  св зан с входами узла коммутации и анализатора, первый выход узла коммутации соеди|нен с  чейкой пам ти, второй - с индикатором толщины и вторыми входами первого сумматора и узла коррекции, выход  чейки пам ти соединен с первым входом, первого сумматора, св занного с индикатором отклонени  от плоскостности, каждЕЛй из четырех выходов второго электронного преобразовател  св зан с соответствующим входом второго сумматора, первый выход второго сумматора подключен к индикатору отклонени  от параллельности , второй - к третьему входу узла коррекции, выход которого св зан с индикатором остаточного напр жени ,  чейка запуска св зана с вторым вхо дом узла коммутации, блок обработки и индикации имеет шесть входов и два выхода, причем второй, третий, четвертый, п тый входы соединены с (Л соответствующими входами второго. Электронного преобразовател  и соответствующими измерител ми смещени  ИСХОДНОГО положени  опорного стола,10 «Ьстой вход св зан с первым входом узла коррекции и выходом измерител  прижимного усили  базового .стола, ;первый выход соединен с выходом ана-. лизатора и первым входом узла управлени  приводом, второй - с выходом  чейки, запуска и вторым входом уз00 ла управлени  приводом, а пёр1ВЫЙ вход блока обработки и виндикации св зан с входом 4 4 первого электронного преобразовател . 2. Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что привод св зан с базовым столом через рычаг . . и толкатель, толкатель выполнен в виде двух плунжеров, св занных между ::обой с помощью стержневого ограничител  с расположенной на нем пружиной , а измеритель прижимного усили  базового стола кинематически св зан с плунжерами толкател .

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  геометрических араметров и остаточных напр жений ластин, в частности полупроводникоых .
Известно устройство дл  контрол  геометрии изделий сложной формы, содержащее базовый стол, программный привод, датчик перемещений стола., аретку, модульную головку, блок регистрации сигналов
Недостатком устройства  вл ютс  граниченные возможности. УстройствО| не позвол ет измер ть остаточные напр жени  в издели х, а также такие параметры как непараллельность или неплоскостность.,
Наиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретении  вл етс  устройство дл  контрол  полупроводниковых пластин, содержащее подвижный базовый стол с приводом , св занный с базовым столом преобразователь линейных перемещений, подключенный к его выходу первым ходом блок обработки и индикации C2J .
Недостатком устройства  вл етс  также его ограниченные возможности измерени  геометрических параметров .(возможно только одностороннее измлрение координат реального профил ), а также невозможность определени  остаточных напр жений в полупроводниковых образцах.
Целью -изобретени   вл етс  расширение функциональных возможностей УJCтpoйcтвa.
поставленна  цель достигаетс  тем, что устройство дл  контрол  полупроводниковых пластин, содержащее подвижный базовый стол с приводом , св занный с базовым столом преобразователь линейных перемещений, подключенный к его выходу первым входом блок обработки и индикации, снабжено опорным столом, установленным в , плоскости, эквидистантной поверхности базового стола, на сферическом шарнире и tpex подпружиненных аксиальных упорах, четырьм  измерител ми смещени  исходного положени  опорного стола, измерителем прижимного усили  базового стола, узлом управлени  приводом, блок обработки и индикации выполнен в виде совокупности двух электронных преобразователей, узла коммутации, анализатора,  чейки пам ти, двух сумматоров,  чейки запуска, узла коррекций, индикаторов отклонени  от плоскос1ности,ТОЛЩИНЕ, отклонени  от параллельностиj остаточного напр жени , выход первого электронного преобразовател  св зан с входами узла коммутации и анализа-тора , первый выход узла коммутации соединен с  чейками пам ти, второй с индикатором толщины и вторыми входами первого сумматора и узла коррекции , выход  чейки пам ти соединен с первым входом первого сумматора, св занного с индикатором отклонени  от плоскостности, каждый из четырех выходов второго электронного преобра зовател  св зан с соответствующим входом второго сумматора, первый выход второго сумматора подключен к индикатору отклонени  от параллельности , второй - к третьему узла коррекции, выход которого св зан с индикатором остаточного напр жени ,  чейка запуска св зана с вторым входом узла коммутации, блок обработки и индикации имеет шесть вхо-: дов и два выхода, причем второй, тре тий, четвертый, п тый входы соедине-г ны с соответствующими входами второго электронного преобразовател  и соответствующими измерител ми смещени  исходного положени  опорного стола ,шестой вход св зан с первым входом узла коррекции и выходом измерител  прижимного усили  базового стола/ Первый выход соединен с выходом анализатора и первым входом узла управлени  приводом, второй - с выходом  чейки sianycKa и входом узла управлени  приводом, а первый вход блока обработки и индикации св зан с входом п«рвого электронного преобразовател  .
Кроме того, привод св зан с базовым столсж через рычаг и толкатель, .толкатель выполнен в виде двух плун;керов , св занных между собой с помощью стержневого ограничител  с расположенной на нём пружиной, а измеритель прижимного усили  базового
стола кинематически св зан с плунжерами толкател .
На фиг. 1 представлена блок-схема устройства; на фиг. 2 -механический узел, разрез; на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2.
Основным узлами устройства  вл ютс  механический узел 1 и блок 2 обработки и индикации (фиг. 1).
Механический узел Кфйг. 2) состоит из корпуса 3, опорного стола 4 и позиционера 5, кинематическое замыкание которого с приводом 6 выполнено посредством рычага 7 и толкател  8. Опорный стол 4 зафиксирован в исходном положении ферическим шарниром 9 и трем  подпружинейными упорами 10 и взаимодействует с аксиально установленными измерител ми 11 смещекик -ИСХОДНОГО положени  опорного стола. Позиционер 5 со стороны рычага 7 взаймодействует с установленным вдоль его оси преобразователем 12 линейных перемещений и несет базовый стол 13.
Рабоча  поверхность опорного стола 4. в исходном положении совпадает с плосйостью, эквидистантной плоскос ти базового стола 1-3, Толкатель 8 выполнен в виде плунжеров 14 и 15, между кото{  йи размещена пружина 16. Взаимное исходное положение плунжеров зафиксировано стержневым огранич телем 17. Плунжеры 14 и 15 св заны между собой, например, резис ивным измерителе м 18 прижимного усили  бам зового стола. Исходное положение рычага 7 зафиксировано подпружиненны упором 19i Узлы взаимодействи  рычаг с позиционером 5 и толкателем 8 выполнены с зазорами свободного хода {фиг. 2). Электронный блок 2 содержит первы электронный прео.бразователь 20, вход которого соединен с выходом преобразовател  12 линейных (eний, а выход - с входами узла 21 ко «лутацйи и анализатора 22, выход анализатора с первым входом узла 23 управлени  приводом 4. Первый выход узла 21 ком мутации соединен с входом  чейки 24 пам ти, а выход  чейки пам ти - с первым входом первого сулвлатора 25, выход которого соединен с входом индикатора 26 отклонени  от плоскост ности. Управл ющий вход узла 21 коммутации соединен с выходом  чейки. 27 запуска , а второй ныход - с вторым входом первого суишатора 25, входом индикатора 28 толщины и вторым входом узла 29 коррекции. Выход резистивного из - ерител : 18 соединен с первым входом 29 кЬррекции, выход которого соединен с входом индикатора 30 остаточного напр жени  контролируемой пластины. Выходы измерителей 11 положени  опорного стола 4 через второй электронный пре образователь 31 соеданены с соответствующШДИ входами второго сумматора 32, первый выход которого соединен с входом индикатора-33 отклонени  от параллельности, а второй выход с третьим входом узла 29 коррекции (фиг. 1 Устройство работает следуюицш образом. В исходном положении позиционер неисодитс  в крайнем положении, повер ности базового 13 и опорного 4 стсую соприкасаютс , а сигналы на выходе электронных преобразователей 20,31 и резистивного. измерител  18 имеют нулевое значение% Поворотом рычага 7, в пределах хода подпр5Гжиненного упора 19, баро вый стол 13 отвод т от опорного 4 и в образующуюс  между столами щель устанавливают полупроводниковую пластину 34. Рычаг 7 возвращают в исходное положение и позиционер 5 под действием усили  пружины преобразовател  12 базовым столом 13 прижимает пластину 34 к опорному столу 4. Дл  снижени  погрешности изме-рени  отклонени  от плоскостности жесткость пружины преобразовател  12. устанавливаетс  таким образом, чтобы . значение измерительного усили  пози-j ционера 5 не превышало.5 сН. Зазор свободного хода узла взаимодействи  рычага 7 с позиционердм необходим дл  исключени  вли ни  рычага 7 На формирование измерительного усили  , позиционера 5. . Аналоговый сигнал с. выхода перво-го электронного преобразовател  20, пропорциональный значению хода | , i позиционера 5 через узел 21 коммутации и  чейку 24 пам ти поступнет на первый вход сумматора 25« Затем производ т включение  чейки запуска и сигнал с ее выхода поступает на первый вход узла 23 управлени  приводом , запуска  привод 6 силового перемещени  -позиционера 5 и на управ-; л кжшй вход узла 21 коммутации, пе-j реключающий выход с  чейки 2А пам ти на cyiiwaTOp 25, инд)1катор .28 и узел коррекции 29. Привод 6, взаинйздейству , напри- .. мер при помощи кулачка, с плунжером 15, перемещает его в направлении плунжера 14, сккма  пружину 16, и соответственно,.нагружгш полупроводниковую .пластину 34 до полного ее выравнивани  (фиг. 2). В момент остановки позиционера 5 после выравнивани  пластины 34 прекращаетс  возрастание сигнала на выходе электронг ного преобразовател  20, что обеспечивает формирование анализатором 22 Сигнала отключени  питан1Ь| {Привода 6, поступающего на второй 23 управлени . Аналоговый сигнал с выхода электронного преобразовател  20, пропорцнональный значению Ь , рассто ни  между столами 4 и-13, через узел 21- коммутации поступает на вторые входы сумлаго ра 25 к узла 29 коррекции. С выхода сумматора 25 сигнал, аналоговое значение которого соответствует разнос-, |ТИ величин ti - ti-i f поступает на бкод индикатора 26 отклонени  от плоскостности. Одновременно аналоговый сигнал величины ij поступает на вход индикат ра 28 толпщны пластины в центральной части. Если полупроводникова  пластина имеет отклонение отпараллельности , опорный стол 4 откло|н етс  от исходного положени , воз- ; действу  на измерители 11. Сигналы : с выхода измерителей 11 через второй , |электроннцй преобразователь 31 nocTj - пают на входы сумматора 32. С первого выхода сумматора 32 результат изме- рени  .поступает на вход индикатора 313 отклонени  от..параллельности.
Сигнал с выхода резистивного измерител  18, пропорциональный величине относительного хода плунжеров 14 и 15, и соответственно, пропорциональный величине нагрузки, приложенной к пластине дл  ее выравнивани , поступает через узел 29 коррекции на вход индикатора 30 остаточного напр жени .
Ввод корректирующих сигналов с выхода электронного преобразовател  -20 и сумматора 32 на вход узла 29 коррекции позвол ет повысить точность измерени  остаточных напр жений . Так сигнал с второго выхода суммато 4а 32, пропорциональный приращению усили , приложенного к позиционеру 5 дл  сжати  пружин упоров 10 ( в процессе измерени  полупроводниковых пластин, имеющих отклонение от параллельности), позвол ет выделить значение усили , затрачиваемого только на выравнивание пластины, а сигнал с второго выхода узла коммутации 21, пропорциональный
величине |i, позвол ет учитывать изменение жесткости пластины в зависимости от толщины, поскольку толщина полупроводниковой пластины - величина переменна .
Устройство благодар  возможности измерений р да параметров пластин позвол ет повысить производительность контрол . Количественный контроль
5 остаточных напр жений позвол ет
уменьшить процент брака на процессах фотолитографии и вскрыти  структур/ а также оптимизировать режимы технологических процессов.
18 17 №

Claims (2)

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, содержащее подвижный базовый стол с приводом, связанный с базовым столом преобразователь линейных перемещений, подключенный к его выходу первым входом блок обработки и индикации, отличающееся тем, что, с целью расширения- функциональных воз4 можностей, оно снабжено опорным столом, установленным в плоскости, эквидистантной «поверхности базового стола, на сферическом шарнире и трех подпружиненных аксиальных упорах, . четырьмя измерителями смещения исходного положения опорного стола, измерителем прижимного усилия базо- . вого стола, узлом управления приводом, блок обработки и индикации выполнен в виде совокупности двух электронных преобразователей, узла коммутации, анализатора, ячейки памяти, двух сумматоров, ячейки запуска, узла коррекции, индикаторов отклонения от плоскостности, толщины, отклонения от параллельности, и остаточного напряжения, выход первого электронного преобразователя связан с входами узла коммутации и анализатора, первый выход узла коммутации соединен с ячейкой памяти, второй -.с индикатором толщины и вторыми входами первого сумматора и узла коррекции, выход ячейки памяти соединен с первым входом, первого сумматора, связанного с индикатором отклонения от плоскостности, каждый из четырех выходов второго электронного преобразователя связан с соответствующим входом второго сумматора, первый выход второго сумматора подключен к индикатору отклонения от параллельности, второй - к третьему входу узла коррекции, выход которого связан с индикатором остаточного напряжения, ячейка запуска связана с вторым входом узла коммутации, блок обработки и индикации имеет шесть входов и два выхода, причем второй, третий, <g четвертый, пятый входы соединены с соответствующими входами второго. Электронного преобразователя и соответствующими измерителями смещения •исходного положения опорного стола, шестой вход связан с первым входом узла коррекции и выходом измерителя прижимного усилия базового стола, ’ первый выход соединен с выходом анализатора и первым входом узла управления приводом, второй - с выходом ячейки, запуска и вторым входом узла управления приводом, а пёр;вый вход блока обработки и виндикации связан с входом первого электронного преобразователя.
2. Устройство поп. 1, отличающееся тем, что привод связан с базовым столом через рычаг
- . 4 и толкатель, толкатель выполнен в виде двух плунжеров, связанных между собой с помощью стержневого ограничителя с расположенной на нем пружиной, а измеритель прижимного усилия базового стола кинематически связан с плунжерами толкателя.
SU ...1013744
SU813366118A 1981-12-16 1981-12-16 Устройство дл контрол полупроводниковых пластин SU1013744A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813366118A SU1013744A1 (ru) 1981-12-16 1981-12-16 Устройство дл контрол полупроводниковых пластин

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813366118A SU1013744A1 (ru) 1981-12-16 1981-12-16 Устройство дл контрол полупроводниковых пластин

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1013744A1 true SU1013744A1 (ru) 1983-04-23

Family

ID=20986802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813366118A SU1013744A1 (ru) 1981-12-16 1981-12-16 Устройство дл контрол полупроводниковых пластин

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1013744A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № 328330, G 01 В 7/28, 1970. 2. Авторское свидетельство СССР (по за вке 2614824/18-28), кл. G 01 В 7/28, 1978 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4097996A (en) Apparatus for three dimensional measurement
JPS586882B2 (ja) 伸び計
CN107462175A (zh) 一种有机玻璃厚度测试装置及其检测方法
JPS60228913A (ja) 部品寸法の測定装置
CN103776628A (zh) 减速器扭转刚度和空程误差测试实验台及其测试方法
CN110260755A (zh) 一种曲面壳体外表面检测装置
CN100501336C (zh) 一种通用型精密位移测量辅助装置
SU1013744A1 (ru) Устройство дл контрол полупроводниковых пластин
CN106767625B (zh) 一种外径千分尺校对用量杆校准装置及校准方法
CN211084984U (zh) 一种百分表校准装置
Bradley Parallel movement for high finesse interferometric scanning
EP0824668B1 (en) Measuring apparatus with an analog-digital display unit
CN209214529U (zh) 一种蜂窝式脱硝催化剂宽度方向变形测量装置
GB2253056A (en) Method of determining the geometric dimensions of a testpiece by means of gauging with mechanical contact
CN214372275U (zh) 一种用于测量滚珠丝杠导程误差的精密运动平台
JPS582605A (ja) 測定方法および装置
JPH0262901A (ja) 外径測定装置
US5044186A (en) System and method of detecting roll position in a rotary straightener
CN112504538B (zh) 一种机械解耦的测力传感器
Oliveira et al. Performance of the new primary torque standard machine of INMETRO, Brazil
CN203274606U (zh) 双杠杆沉台外径千分尺
CN204165491U (zh) 一种同步器滑套拨叉槽内外径检具
Zeng et al. Standard measuring device for thickness of silicon wafer based on laser compensation system
CN109085076A (zh) 一种用于沥青混凝土恒温恒湿蠕变回复实验的装置
SU646194A1 (ru) Устройство дл измерени пластической деформации издели в процессе нагружени