SU1012775A1 - Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов - Google Patents
Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1012775A1 SU1012775A1 SU813280570A SU3280570A SU1012775A1 SU 1012775 A1 SU1012775 A1 SU 1012775A1 SU 813280570 A SU813280570 A SU 813280570A SU 3280570 A SU3280570 A SU 3280570A SU 1012775 A1 SU1012775 A1 SU 1012775A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ion
- effective cross
- ions
- interaction
- inelastic
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов по скорости образовани вторичных частиц, возникающих в результате столкновени ионов, отличающийс тем, что, с целью измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи двух одинаковых ионов, формируют полый пучок монокристаллических ионов, а их столкновени осуществл ют фокусировкой пучка.
Description
Изобретение относитс к области. техники эксперимента атомной физики с преимущественным применением в области физики атомных столкновений Известные способы 1 Jизмерени эффективных сечений неупругого взаи модействи ионов основаны на анализе изменени характеристик ионного пучка после его пересечени с други пучком под пр мым или острым углом. Недостаток этих способов состоит в том, что используют два ионных пучка в том случае, когда необходим измерить эффективное сечение неупру гого взаимодействи двух одинаковых ионов. Известен способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодей стви ионов по скорости образовани вторичных частиц, образующихс в дв пучках ионов с разными энерги ми по ле их пространственного совмещени и совместного прохождени C2J. Однако этот способ не позв-ол ет измер ть эффективные сечени неупругого взаимодействи двух одинаковьгх ионов с использованием одного Ионного пучка, поскольку из-за полной идентичности взаимодерЧствующих ионов разделение их на две группы, отличающиес по энерги м, невозможно , целью изобретени вл етс измерение эффективных сечений неупругог взаимодействи двух одинаковых ио ков, Указанна цель достигаетс тем, что в известном способе измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов по скорости образовани вторичных частиц, возни кающих в результате столкновени ио нов, формируют полый пучок монокрис таллических ионов, а их столкновени осуществл ют фокусировкой пучка На чертеже представлена схема траекторий ионов пучка 1 в районе фокуса 2 конечных размеров. Стрелко указано общее направление движени ионов в пучке. Сплошными лини ми обозначены траектории, участвующие в создании изображени - точек фокуса 3, 4, 5, 6. Пунктирные линии продолжение траекторий, оканчивающихс на прерывателе 7. Одинарной штриховкой обозначены семейства тра екторий, пропущенных прерывателем. Двойной штриховкой обозначена область 8 взаимодействи ионов, дви .жущихс по траектори м, пропущенным прерывателем. V и 4-/iVмаксимальный и минимальный углы пересечени траекторий, оканчивающихс на прерывателе 7, Одинарной штриховкой обозначены семейства траекторий , пропущенных прерывателем. Двойной штриховкой обозначена область 8 взаимодействи ионов, движущихс по траектори м, пропущенным прерывателем . / и Ч-(3 максимальный и минимальный углы пересечени траекторий ионов в области взаимодействи . Предлагаемый способ осуществл ют следующим образом. Создают монокинетический пучок ионов с энергией Е. Обеспечивают фокусировку созданного пучка с углом расходимости (максимальный угол пересечени траекторий ионов в районе фокуса пучка). Формируют полый пучок, ввод прерыватель траекторий ионов, исключающий прохождение в район фокуса тех из них, УГОЛ пересечени между которыми меньше некоторого Ч- л Ч (ми- . нимальный угол пересечени траекторий ионов в районе фокуса пучка). За областью пересечени траекторий регистрируют изменение состава пучка за счет образовани вторичных частиц в результате неупругого взаимодействи ионов и определ ют скоpocTb образовани вторичных частиц. По скорости образовани в пучке вторичных частиц определ ют величину .эффективного сечени неупругого взаимодействи , привод щего к образованию этих вторичных частиц при энергии Т, определ емой относительным движением ионов в районе фокуса пучка, равной с неопределейностью AT(d4) (Угол Ч прин т малым: 4c;:,sin Ч tp . Неопределенность энергии столкновени Т, определ ема наличием энергетического разброса в пучке ДЕ, равна ЛТ(лЕ)ЛЕ , что позвол ет ь измер ть эффективные сечени при энерги х, величины которых меньше энергетического разброса в пучке. Изобретение позвол ет в экспериментах по измерению эффективных сечений неупругого взаимодействи
31012775
одинаковых ионов использовать лишь сравнению с аналогичными способами один ионный источник, что сокращает измерени эффективных сечений неупэкспериментальное оборудование по ругого взаимодействи ионов.
Claims (1)
- Способ измерения эффективных сечений неупругого взаимодействия ионов по скорости образования вторичных частиц, возникающих в результате столкновения ионов, отличающийся тем, что, с целью измерения эффективных сечений неупругого взаимодействия двух одинаковых ионов, формируют полый пучок монокристаллических ионов, а их столкновения осуществляют фокусировкой пучка.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813280570A SU1012775A1 (ru) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813280570A SU1012775A1 (ru) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1012775A1 true SU1012775A1 (ru) | 1984-07-23 |
Family
ID=20955153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813280570A SU1012775A1 (ru) | 1981-01-30 | 1981-01-30 | Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1012775A1 (ru) |
-
1981
- 1981-01-30 SU SU813280570A patent/SU1012775A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. K.F. Dunn, G.C. Angel, Н.В. .Gilbody, I.Phys. В., 1979, V. 12, 1 20, L 623-625. Т.П.Gaily, M.F.A. Harrison, I.Phys.В., 1970, V. 3, № 8, 1098-1104. 2. F. Brouillard, W. Claeys, G. Poulaert, G. Rahmat, G. Van Wassenhove, Double charge transfer in H -Hcollisions, I. Phys. В., 1979, V. 12, № 7, 1253-1258 (прототип) . * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Pifer et al. | A high stopping density μ+ beam | |
JPS5464299A (en) | Beam deflector for charged particles | |
Mobley | Proposed Methods for Producing Short Intense Monoenergetic Ion Pulses | |
JPS57126056A (en) | Scanning-type electronic microscope which can display plural sample images simultaneously, and device similar to it | |
EP1872372A1 (de) | Laserbestrahlter hohlzylinder als linse für ionenstrahlen | |
DE102010048276A1 (de) | Ionentransporter, Ionentransportverfahren, Ionenstrahlstrahler und medizinischer Teilchenstrahlstrahler | |
Langer et al. | 7A11-Laser induced emission of electrons, ions, and X rays from solid targets | |
SU1012775A1 (ru) | Способ измерени эффективных сечений неупругого взаимодействи ионов | |
Baranov et al. | Highly efficient deflection of the divergent beam by bent single crystal | |
DE3218592A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum ablenken eines ionenstrahls bei einem ionenimplantator zu einem ionen absorbierenden auffaenger | |
US3287558A (en) | Charged particle deflecting device consisting of sequentially positioned uniform and non-uniform magnetic field sectors | |
DE1765714A1 (de) | Einrichtung zur Energiestrahlenbearbeitung von Werkstuecken | |
US3287584A (en) | Focusing arrangement for guiding particles from an accelerator device toward a laterally shifted target | |
DE3878939D1 (de) | Verfahren zur elektronenstrahl-fuehrung mit energieselektion und elektronenspektrometer. | |
GB1045522A (en) | Method and apparatus for producing bunched beams of neutrons, ions and gamma rays | |
Wenzel | Bevatron external proton beam | |
Hoffmann | Beam-plasma interaction experiments with heavy ion beams | |
Flynn | Magnetic horn focusing for a low-energy neutrino beam | |
Yekutieli et al. | Nature of the Neutral Particles in the K μ 3 Decay | |
Cosslett | The resolving power of the magnetic electron lens used as a beta-ray spectrometer | |
JPS55136585A (en) | Electron beam welding method | |
JPS5326192A (en) | Compound analyzer | |
JPH0262815B2 (ru) | ||
JPS5714489A (en) | Laser welding equipment | |
Van Der Raay | Focusing of the synchroton scattered-out beam |