SE516308C2 - Anordning och metod för optisk mätning på små partiklar såsom korn från spannmål och liknande grödor - Google Patents

Description

30 35 516 308 2 antingen göras genom fysisk separation eller med hjälp av digital bildbehandling.

Således förekommer det idag vissa optiska mätmetoder för analys av korns kvalitet. Dessa mätmetoder är base- rade på att ett korn belyses, varefter någon form av detektering göres av det ljus som kommer ut från kornet för analys av kornets kvalitet. Belysningen kan variera kraftigt med avseende på exempelvis varifrån kornet belyses, vilken våglängd som används, etc. Detekteringen kan variera med avseende på att exempelvis reflekterat ljus, transmitterat ljus eller diffust ljus detekteras.

Instrument som använder någon eller flera av dessa optiska mätmetoder har någon form av fysisk utsortering av kornen så att endast ett korn mäts åt gången. Man vill dock ogärna stoppa frammatningen av korn varje gång en mätning pà ett korn skall göras. Detta innebär att den optiska mätningen måste kunna göras på korn i rörelse.

Härigenom ställs höga krav pà den optiska detektionen för att kornets rörelse inte skall förstöra mätningen.

Antingen måste man använda sig av en mycket snabb detektor, vilket innebär stora kostnader, eller mäste provframmatningen ske så långsamt att en billigare, långsammare detektor hinner med, vilket gör att man får en lång väntetid mellan mätningarna på två korn.

En snabb detektor medför dessutom kringutrustning, som ger en skrymmande storlek. Eftersom exponeringstiden måste vara mycket kort, ställer detektorn dessutom höga krav på tillgängliga ljusmängder, vilka är mycket svåra att uppfylla.

För att rörelseoskärpa inte skall skapas kan ett korn under detektorns mättid inte förflytta sig mer än ytterst marginellt. Detektorns mättid och den sträcka ett korn kan förflytta sig under mätningen avgör därmed hastigheten med vilken provframmatning kan ske. För en vanlig detektor innebär detta en mycket långsam hastighet och oacceptabla analystider. 10 15 20 25 30 35 516 3-08 3 En kompromiss skulle kunna vara att variera hastig- heten på frammatningen, så att kornen matas snabbt, när ingen mätning sker, och långsamt under mätning. Detta medför dock slitage på mekaniska delar, som matar fram proven, eftersom ständig acceleration och inbromsning sker. Vidare ställer det krav på styrningen, så att rätt hastighet hålls under och mellan mätningar.

Sammanfattning av uppfinningen Ändamålet med föreliggande uppfinning är att åstad- komma en snabb, automatisk metod för optisk mätning av partiklar för analys. Ett ytterligare ändamål är att lösa ovanstående problem och åstadkomma optiska mätningar med konventionella, relativt billiga detektorer på partiklar som matas fram i en hög hastighet. Ändamålet med uppfinningen uppnås medelst en anord- ning enligt patentkrav 1 och en metod enligt patentkrav 14. Ytterligare fördelar med uppfinningen framgår av de osjälvständiga patentkraven 2-13 samt 15-27.

Således tillhandahåller uppfinningen en anordning för optisk mätning på små partiklar, såsom korn från spannmål och liknande grödor, för analys av partiklarnas kvalitet. Anordningen innefattar en provframmatande bärare, vilken är anordnad att ta upp partikelprov, som vart och ett innefattar minst en partikel, i provhållare och transportera partikelproven till en plats för optisk mätning, ett spegeluppbärande organ, vilket följer bärarens rörelse och har till provhållarna svarande speglar, en anordning för belysning av ett partikelprov då detta är på platsen för optisk mätning och en för elektromagnetisk strålning känslig detektor, vilken registrerar minst ett resultat av en optisk mätning på det belysta partikelprovet. En spegel i det spegel- uppbärande organet reflekterar partikelprovet så att en spegelbild av detta står i huvudsak still sett från detektorn, då mätningsregistrering sker, till följd av 10 15 20 25 30 35 516 308 '* 4 att spegelbilden av partikelprovet hamnar pà en centrum- axel för det spegeluppbärande organets rörelse.

Denna utformning innebär att exponeringstiden kan förlängas avsevärt i detektorn, eftersom spegelbilden av partikeln står still. Den förlängda exponeringstiden ger dá inga problem med rörelseoskärpa och konventionella detektorer kan användas. Frammatningen av partiklar kan således göras med en hög hastighet, vilket ger en hög mätningshastighet. Med att spegelbilden i huvudsak står still avses att ingen translatorisk rörelse sker utan endast en liten vridning av spegelbilden sker och detta pga spegelns rörelse framför detektorn. Denna vridnings- rörelse är dock sà liten att ingen eller mycket liten rörelseoskärpa skapas.

Enligt en föredragen utföringsform är den prov- frammatande bäraren anordnad att mata fram partikelproven under kontinuerlig rörelse.

Eftersom partiklarna kan matas med hög hastighet utan att rörelseoskärpa skapas i detektorn finns det inget behov av att ha högre matningshastighet mellan mätningarna. Den kontinuerliga rörelsen innebär att slitaget pà mekaniska delar i anordningen är litet.

Detektorn är företrädesvis ett bildupptagande organ, som registrerar en bild av partikelprovet vid den optiska mätningen. En bild innehåller så mycket information om partikelprovet att detta kan analyseras med avseende pà flera egenskaper utifràn en mätning.

Anordningen innefattar med fördel ett organ för bildanalys av den registrerade bilden, varvid en bild av ett partikelprov, som innefattar flera partiklar, medelst organet för bildanalys är uppdelbar i bilder av var sin partikel. Härigenom kan flera partiklar analyseras fràn en bild. Anordningen blir inte beroende av att man kan garantera att endast en partikel i taget alltid förs fram till den optiska mätningen.

Det bildupptagande organet är lämpligen en digital kamera. Härigenom tas en bild av hela partiklar och »nn-- 10 15 20 25 30 35 516 303 5 bildanalys kan utnyttjas för att analysera delar av partiklarna. Ingen medelvärdesbildning sker därvid för ljuset från partikeln, vilket skulle kunna gömma eller försvåra upptäckandet av defekter. Den digitala kameran ger en bild i digitalt format, vilket behövs för bild- analysen.

Enligt en föredragen utföringsform är provhällarna anordnade att ta upp endast en partikel. Detta innebär att en fysisk separering av partiklarna erhålls. Vid flera analyser på samma partikel med olika belysnings- tekniker är en fysisk separation att föredra.

Bäraren är företrädesvis cirkulär och roterar för frammatning av partikelproven. Härigenom säkerställs en enkel provframmatning och frekvensen i frammatningen kan med enkelhet göras konstant.

Enligt ytterligare en föredragen utföringsform är det spegeluppbärande organet och bäraren förbundna med en central axel och följer därmed varandras rörelser. Detta innebär att exakt följning av partikelprovens rörelser pà ett enkelt sätt àstadkommes. Den exakta följningen är viktig för att spegelbilden skall stå still på centrum- axeln för rörelsen.

Speglarna i det spegeluppbärande organet är före- trädesvis anordnade med en 45° vinkel till centrumaxeln, varvid avståndet mellan partikelprovet och tillhörande spegel är lika stort som avståndet mellan spegeln och centrumaxeln för att spegelbilden av partikelprovet skall hamna på centrumaxeln. Härigenom riktas detektorn in vinkelrätt mot centrumaxeln för att den skall uppfatta spegelbilden av provet på centrumaxeln. Detta ger en bra placering av detektorn, som då enkelt kan justeras korrekt vinkelmässigt och även kan utnyttja samma stativ som bäraren och det spegeluppbärande organet.

Bärarens provhållare innefattar lämpligen fördjup- ningar, som erbjuder ett utrymme för ett partikelprov.

Partiklarna faller således ned i fördjupningarna då dessa vapn- 10 15 20 25 30 35 5 1 6 3 Û 3 *fF- - IÅÉ* IÃf 6 kommer in under partiklarna. Detta ger ett enkelt sätt att ta upp partiklar i provhàllarna.

Enligt en föredragen utföringsform innefattar bärarens provhàllare genomgående häl i bäraren och en undre partikelhållarskiva, som hindrar partiklarna från att falla igenom hålen, varvid hålen och partikelhàllar- skivan därigenom erbjuder ett utrymme för ett partikel- prov. Även denna utföringsform ger ett enkelt sätt att ta upp partikelprov i provhàllarna. Dessutom kan provhàl- larna enkelt tömmas genom att ett tömningshál anordnas i partikelhàllarskivan. Dà en full provhàllare kommer fram till tömningshålet faller partikelprovet ur provhàllaren genom att det inte längre finns en botten i provhàllaren.

Enligt en annan utföringsform har anordningen ett organ för skapande av ett undertryck på bärarens undre sida, varvid bärarens provhàllare innefattar hàl mot vilka partikelprov sugs fast av undertrycket. Detta innebär att ett hål omöjligt kan ta upp flera partiklar pà en gång, vilket säkerställer frammatningen av endast en partikel i taget.

Flera platser för optisk mätning, vilka har var sin detektor, finns med fördel i anordningen, varvid belys- ningen kan varieras mellan platserna för olika analyser.

Härigenom kan partiklarna analyseras med avseende pà flera olika egenskaper vid samma utsortering av partik- larna. Anordningens fördelar med làng exponeringstid trots hög frammatningshastighet kan därvid utnyttjas vid samtliga bildupptagningar. Ändamålet med uppfinningen uppnås även genom en metod för optisk mätning på små partiklar, såsom korn från spannmål och liknande grödor, för analys av partik- larnas kvalitet. Metoden innefattar stegen att mata fram partikelprov, som vart och ett innefattar minst en partikel, till en plats för optisk mätning, att så följa ett partikelprovs rörelse med en spegel, att, vid platsen för optisk mätning, en spegelbild av partikelprovet hamnar på en centrumaxel för spegelns rörelse, att belysa -nrun 10 15 20 25 30 35 516 3 0 8 ïfë- " 7 partikelprovet då det är på platsen för optisk mätning och att registrera minst ett resultat av en optisk mätning pà det belysta partikelprovet medelst en för elektromagnetisk strålning känslig detektor. Spegelbilden av partikelprovet stàr i huvudsak still sett från detektorn, då mätningsregistrering sker, till följd av att spegelbilden av partikelprovet hamnar pà centrumaxeln för rörelsen.Genom metoden tillhandahålls ett automatiskt sätt att snabbt och med konventionella detektorer registrera resultat av optiska mätningar för analys av partiklar. Partiklarna kan därvid matas fram i hög hastighet utan att kraven pà kortast möjliga exponeringstid i detektorn blir för svåra för att klaras av konventionell utrustning.

Metoden innefattar företrädesvis steget att analysera den registrerade bilden medelst bildanalys för bestämning av partikelprovets kvalitet. Härigenom kan analysen ske direkt vid bildupptagningen och ett prov- resultat kan erhållas av anordningen snabbt och på plats.

Kort beskrivning av ritninqarna Nedan beskrivs i exemplifierande syfte en för närvarande föredragen utföringsform av uppfinningen under hänvisning till bifogade ritningar.

Fig l är en perspektivvy av en provframmatande bärare och ett spegeluppbärande organ enligt upp- finningen.

Fig 2 är en perspektivvy av ett stativ i vilket bäraren och organet i fig 1 kan monteras.

Fig 3 är en schematisk vy och illustrerar en registrering av en spegelbild av en partikel.

Detalierad beskrivning av en föredraqen utföringsform I fig 1 visas en provmatningsenhet 1, vilken innefattar en provframmatande bärare 2 i form av en skiva och ett spegeluppbärande organ 3. Dessa är förbundna med en central axel 4, vilken gör att deras rörelser är 516 308 8 synkroniserade. Bäraren 2 är anordnad att föra fram de partiklar 5 som skall analyseras till en plats där en bild av partikeln 5 kan registreras.

Längs bärarens 2 ytterkanter finns provhàllare 6 i 5 form av häl, vilka är avsedda att ta upp partiklar 5 som skall analyseras. Till varje hàl 6 finns en motsvarande spegel 7, som är sà placerad pà det spegeluppbärande organet 3 att en spegelbild av en partikel 5 i hålet 6 projiceras pà en centrumaxel för det spegeluppbärande 10 organet 3. Speglarna 7 är plana och anordnade med 45° vinkel till centrumaxeln, vilket innebär att spegelbilden av partikeln 5 vrids 90°.

Bäraren 2 kan demonteras fràn den centrala axeln 4 för att ersättas av andra bärare 2. Därigenom kan anpass- 15 ning göras för olika sorters grödor genom att bäraren 2 bytes ut. Provhàllarna 6 pä varje bärare 2 är då anpas- sade för en viss sorts gröda.

Bäraren 2 och det spegeluppbärande organet 3 är cirkulära och roterar vid användning runt sin gemensamma 20 axel 4 för provframmatning. Provmatningsenheten 1 är monterad att rotera i ett stativ 8, vilket visas i fig 2.

Rotationen drivs av en motor 9, som är monterad pà stativet 8.

Partiklar 5 som faller ner i hälen 6 pà bäraren 2, 25 ligger an mot en partikelhàllarskiva 10, vilken hindrar partiklarna 5 fràn att falla igenom hälen 6. Partikel- hàllarskivan 10 är därför anordnad omedelbart under HH_ bäraren 2 och bildar således en botten för hàlen 6. Hàlen 6 är formade som partiklarna 5 och styr således partik- 30 larnas 5 orientering i hålen 6. Detta är tillämpbart pà exempelvis ris, där man för vissa mätningar vill orien- fï tera riskornens làngsträckta form rätt. Detta förenklar också bildupptagningen, då det bildupptagande organet - v... enkelt kan ställas in sà att riskornet fyller hela 35 exponeringsytan.

En partikel 5 som förs fram av den kontinuerligt roterande provmatningsenheten 1, glider pà partikel- 10 15 20 25 30 35 516 308 9 hàllarskivan 10 under hela matningen. Partikeln 5 matas fram för optisk mätning och matas sedan vidare till ett tömningshål 11 i partikelhållarskivan 10. Där faller partikeln 5 genom tömningshàlet ll ner i ett uppsam- lingskärl.

Bäraren 2 bildar ett lutande plan, vilket gör att partiklar 5, som inte tas upp i provhållare 6 på bäraren 2, faller ner mot en partikelhållarficka, vid botten av det lutande planet. Partikelhållarfickan bildar en vägg längs en del av bärarens 2 omkrets och hindrar partik- larna 5 att glida av bäraren 2. En partikel 5 som ligger an mot partikelhållarfickans vägg befinner sig på samma avstånd som provhållarna 6 från bärarens 2 center. Alla partiklar i ett prov kommer därför att tas upp av provhållare 6, då dessa roterar fram till partikelhällar- fickan.

Då partiklarna 5 faller genom tömningshålet 11 blir provhàllaren 6 tom och då bäraren 2 roteras kommer prov- hàllaren 6 sedan fram till partikelhållarfickan där en ny partikel 5 tas upp. Skulle två partiklar 5 falla ner i samma hål 6 sä kommer något av dessa att sticka upp ur hålet 6. Provhållaren 6 passerar en borste som föser ut den uppstickande partikeln 5 ur hålet 6. Om någon partikel 5 år bruten kan denna vara så liten att två partiklar 5 kan tas upp i samma hål 6. Detta problem löses vid registreringen av den optiska mätningen och behandlas vidare nedan.

En anordning för belysning i form av belysningsorgan 12, som utgör ljuskällor för belysning av partiklarna 5, kan monteras på olika sätt. De kan vara monterade vid varje provhàllare 6 på bäraren 2 i form av ytmonterade lysdioder eller någonstans på stativet 8. Ljuskällan kan då exempelvis vara monterad under bäraren 2, varvid transmitterat ljus mäts, eller vid en detektor 13, varvid reflekterat ljus mäts. Belysningsorganen 12 kan natur- ligtvis vara vilken form av ljuskälla som helst, såsom någon form av laser eller en gasurladdningslampa. u~n lO 15 20 25 30 35 516 308 ” lO Detektorn 13 är monterad på stativet 8 så att en vinkel mellan den riktning, i vilken detektorn 13 tar in ljus, och planet hos en spegel 7 i det spegeluppbärande organet 3 är lika stor som vinkeln mellan planet hos spegeln 7 och centrumaxeln. En sådan anordning innebär att detektorn 13 ser en spegelbild av partikeln 5, vilken är projicerad på centrumaxeln. Eftersom spegeln 7 lutar 45° mot centrumaxeln är detektorn 13 anordnad i det spegeluppbärande organets 3 plan och vinklad att registrera mätningar vinkelrätt mot rörelsen, d v s i 45° vinkel mot spegeln 7.

Detektorn 13 är lämpligen ett bildupptagande organ.

Det bildupptagande organet 13 är i sin tur i denna utformning en konventionell CCD-kamera. Den bild som registreras fås då i elektronisk form och kan enkelt i kameran överföras på ett digitalt format, vilket behövs för den fortsatta bildanalysen. Vidare kan bilden som registreras i kameran delas upp i flera bilder. Detta behövs om bilden innefattar flera partiklar. Denna bild delas då upp i flera bilder, så att varje bild endast innehåller en partikel. Därefter kan den fortsatta bildanalysen utföras för varje partikel för sig.

Det finns även en referensskiva 14, som kan vridas fram över bäraren 2. Referensskivan 14 drivs av en stegmotor, som för fram provplattor på referensskivan 14 för registrering i detektorn 13. Härigenom kan kända provplattor användas för kalibrering av detektorn 13.

I fig 3 visas schematiskt en bildupptagning av en partikel 5. Partiklarna 5 fixeras i fasta positioner på bäraren 2 under transport förbi det bildupptagande organet 13. En plan spegel 7 placeras fast ovanför varje partikelposition i 45° vinkel och roterar med bäraren 2.

Avståndet mellan partikelns 5 center och spegeln 7 (dfl ska därvid vara detsamma som avståndet mellan spegeln 7 och bärarens 2 centrumaxel (dg) för att spegelbilden av partikeln 5 skall projiceras på centrumaxeln¿ Avståndet v u . -u-u u 10 15 20 25 30 35 51 6 3 0 8 ll till det bildupptagande organet 13 bestäms av den optik som används för att få önskade egenskaper.

Det bildupptagande organet 13, som är fast placerat, ser pà detta vis spegelbilden projicerad pà bärarens 2 centrumaxel under den tid som spegeln 7 är framför det bildupptagande organet 13. Effekten blir en stillastående spegelbild under en viss tid som är beroende på bärarens 2 och spegelns 7 rotationshastighet och storlek. Spegel- bilden är dock inte helt stillastående. Partikeln 5 vrids runt sitt center, men vinkeln pá denna vridning är lika med den vinkel bäraren 2 vrids under den tid spegeln 7 är framför det bildupptagande organet 13. Detta är en sà liten vinkel att partikelns 5 vridning inte orsakar rörelseoskärpa i en bild som registreras av det bild- upptagande organet 13.

Den förlängda tiden som nu är tillgänglig för att samla upp mätdata ökar markant vilket radikalt förenklar konstruktionen för belysning och övriga komponenter i systemet. Detektorn 13 kan tack vare den förlängda tiden, hinna med att göra flera optiska mätningar på partikeln 5 under den tid partikeln 5 är framför detektorn. Även andra optiska mätmetoder som man vill kombinera med en snabb provmatning kan utnyttja den ovan beskrivna lösningen.

En metod för optisk mätning pá partiklar 5 för analys skall nu närmare beskrivas. Ett prov som skall analyseras placeras i en tratt i analysinstrumentet.

Provet består oftast av ungefär 1200 korn eller partiklar (ca 30 gram), men kan vara upp till 150 gram. Provet slussas sedan ned till partikelhàllarfickan som är monterad vid trattens mynning. Provmekanismen startas och partiklarna 5 separeras ut individuellt pà bäraren 2 och matas fram till en kamera 13. Här belyses partikeln 5 och kameran 13 registrerar en bild av den belysta partikeln 5. Bäraren 2 roteras i en kontinuerlig rörelse, men genom anordnandet av det spegeluppbärande organet 3, som beskrivits ovan, kan en relativt lång exponeringstid ~ v .-v- ~ uu.. :- 10 15 20 25 30 35 516 308 12 användas i kameran 13 utan att rörelseoskärpa uppstår.

Sedan matas partikeln 5 vidare till eventuellt flera kameror 13 som registrerar bilder av partikeln 5 under annan belysning. Efter det att alla nödvändiga bilder av partikeln 5 har registrerats matas denna vidare av provmatningsenheten l och släpps sedan ut i uppsamlings- kärlet. Bildanalys utförs på de registrerade bilderna för att upptäcka defekter pà partiklarna 5 sàsom missfärg- ningar, skador etc. Då provet är färdiganalyserat, efter ca en minut, visas resultatet upp på en display och operatören kan tömma uppsamlingskärlet. Resultatet visar en statistik på hur stor andel av partiklarna 5 som hade olika sorters skador och hur stor andel som var godkända.

Det inses att en mängd modifieringar av den ovan beskrivna utföringsformen är möjliga inom ramen för upp- finningen såsom definierad av de efterföljande patent- kraven. Exempelvis skulle bärarens provhàllare kunna vara utformade på annorlunda vis. Hålen skulle kunna vara så små att en partikel inte kan falla igenom dessa.

Partikelhållarskivan skulle i sådant fall ersättas av en fläkt, som skapar ett undertryck på bärarens undersida.

Partiklarna skulle då sugas fast mot hålen av under- trycket och pà grund av att hålen är små skulle partik- larna inte kunna falla genom hälen. Dessutom skulle två partiklar inte kunna lägga sig vid ett hål, eftersom dessa är mindre än partiklarna och undertrycket får partiklarna att lägga sig med centrum över hålet. Då partiklarna passerat den optiska mätningen skulle bäraren kunna passera en plats där inget undertryck finns anordnat under bäraren. Partiklarna skulle då falla av den lutande bäraren ned i ett uppsamlingskärl.

Bärarens provhàllare skulle också kunna vara utformade som fördjupningar i bäraren. Partiklarna skulle då falla ned i dessa fördjupningar och på så sätt föras fram till den optiska mätningen. Tömningen av prov- hàllarna skulle då kunna ske genom att man blåser ut partiklarna eller med exempelvis en borste föser ut dem. 10 15 20 25 516 308 13 Tack vare möjligheten att dela upp en bild av flera partiklar, kan alternativt partikelprov, som innefattar flera partiklar, matas fram på bäraren. Man får då en samtidig mätning pà flera partiklar, men màste behandla bilden så att denna delas upp i flera bilder av var sin partikel.

Enligt ett annat alternativt utförande skulle speglarna i det spegeluppbärande organet kunna vara anordnade med en annan vinkel mot centrumaxeln. Det bildupptagande organet skulle då behöva vara flyttat därefter så att spegelbilden av partikeln stàr still sett från det bildupptagande organet.

Den optiska mätningen kan vara vilken form av ljuskänslig mätning som helst. Detektorn behöver därvid inte ta upp en bild, utan kan registrera ljusintensitet i vissa punkter eller någon form av medelvärdesbildning mellan flera egenskaper, exempelvis direkt reflekterat ljus jämfört med diffust reflekterat ljus. Ett bildupp- tagande organ skulle exempelvis kunna vara någon annan form av digital kamera, exempelvis en CMOS-kamera.

Vidare behöver provmatningsenheten inte rotera under kontinuerlig rörelse. Det är dock oftast en fördel eftersom det innebär ett litet slitage pá mekaniska delar. n o c oooo o... a

Claims (27)

10 15 20 25 30 35 u so. s a nu nu 516 308 14 PATENTKRAV

1. Anordning för optisk mätning pà smà partiklar (5), såsom korn fràn spannmàl och liknande grödor, för analys av partiklarnas (5) kvalitet, vilken innefattar: en provframmatande bärare (2), vilken är anordnad att ta upp partikelprov, som vart och ett innefattar minst en partikel (5), i provhàllare (6) och transportera partikelproven till en plats för optisk mätning, ett spegeluppbärande organ (3), vilket följer bàrarens (2) rörelse och har till provhàllarna (6) svarande speglar (7), 7 en anordning för belysning (lå) av ett partikelprov då detta är på platsen för optisk mätning och en för elektromagnetisk strålning känslig detektor (13), vilken registrerar minst ett resultat av en optisk mätning pà det belysta partikelprovet, varvid en spegel (7) i det spegeluppbärande organet (3) reflekterar partikelprovet så att en spegelbild av detta står i huvudsak still sett från detektorn (13), dà mätningsregistrering sker, till följd av att spegelbilden av partikelprovet hamnar pà en centrumaxel för det spegeluppbärande organets (3) rörelse.

2. Anordning enligt krav 1, vid vilken den provframmatande bäraren (2) är anordnad att mata fram partikelproven under kontinuerlig rörelse.

3. Anordning enligt krav 1 eller 2, vid vilken detektorn (13) är ett bildupptagande organ, som regist- rerar en bild av partikelprovet vid den optiska mät- ningen.

4. Anordning enligt krav 3, vilken vidare innefattar ett organ för bildanalys av den registrerade bilden, varvid en bild av ett partikelprov, som innefattar flera partiklar (5), medelst organet för bildanalys är upp- delbar i bilder av var sin partikel (5).

5. Anordning enligt krav 3 eller 4, vid vilken det bildupptagande organet är en digital kamera. 10 15 20 25 30 35 5 16 3 0 8 šïï* - IÄÃÉIÄÉÉ 15

6. Anordning enligt något av föregående krav, vid vilken provhållarna (6) är anordnade att ta upp endast en partikel (5).

7. Anordning enligt något av föregående krav, vid vilken bäraren (2) är cirkulär och roterar för fram- matning av partikelproven.

8. Anordning enligt krav 7, vid vilken det spegel- uppbärande organet (3) och bäraren (2) är förbundna med en central axel (4) och därmed följer varandras rörelser.

9. Anordning enligt något av föregående krav, vid vilken speglarna (7) i det spegeluppbärande organet (3) är anordnade med en 45° vinkel till centrumaxeln, varvid avståndet mellan partikelprovet och tillhörande spegel (7) är lika stort som avståndet mellan spegeln (7) och centrumaxeln för att spegelbilden av partikelprovet skall hamna på centrumaxeln.

10. Anordning enligt något av föregående krav, vid vilken bärarens (2) provhållare (6) innefattar fördjup- ningar, som erbjuder ett utrymme för ett partikelprov.

11. Anordning enligt något av krav 1-9, vid vilken bärarens (2) provhållare (6) innefattar genomgående hål i bäraren (2) och en undre partikelhållarskiva (10), som hindrar partiklarna (5) från att falla igenom hålen, varvid hålen och partikelhållarskivan (10) därigenom erbjuder ett utrymme för ett partikelprov.

12. Anordning enligt något av krav 1-9, vilken har ett organ för skapande av ett undertryck på bärarens (2) undre sida, varvid bärarens (2) provhållare (6) inne- fattar hål mot vilka partikelprov sugs fast av under- trycket.

13. Anordning enligt något av föregående krav, i vilken flera platser för optisk mätning är anordnade, vilka har var sin detektor (13), varvid belysningen kan varieras mellan platserna för olika analyser.

14. Metod för optisk mätning på små partiklar (5), såsom korn från spannmål och liknande grödor, för analys av partiklarnas (5) kvalitet, vilken innefattar stegen: 10 15 20 25 30 35 516 3 Û 3 - ~ ÉÉIÃ' 16 att mata fram partikelprov, som vart och ett innefattar minst en partikel (5), till en plats för optisk mätning, att så följa ett partikelprovs rörelse med en spegel (7), att, vid platsen för optisk mätning, en spegelbild av partikelprovet hamnar pá en centrumaxel för spegelns (7) rörelse, att belysa partikelprovet då det är pà platsen för optisk mätning och att registrera minst ett resultat av en optisk mätning pä det belysta partikelprovet medelst en för elektromagnetisk strålning känslig detektor (13), varvid spegelbilden av partikelprovet står i huvudsak still sett fràn detektorn (13), då mätningsregistrering sker, till följd av att spegelbilden av partikelprovet hamnar pà centrumaxeln för rörelsen.

15. Metod enligt krav 14, vid vilken partikelproven matas fram under kontinuerlig rörelse.

16. Metod enligt krav 14 eller 15, vid vilken detektorn (13) är ett bildupptagande organ, som regist- rerar en bild av partikelprovet vid den optiska mät- ningen.

17. Metod enligt krav 16, vilken vidare innefattar steget att dela upp en bild av ett partikelprov, som innefattar flera partiklar (5), i bilder av var sin partikel (5).

18. Metod enligt krav 16 eller 17, vilken vidare innefattar steget att analysera den registrerade bilden medelst bildanalys för bestämning av partikelprovets kvalitet.

19. Metod enligt nàgot av krav 16-18, vid vilken en digital kamera utnyttjas som det bildupptagande organet.

20. Metod enligt nàgot av krav 14-16, vid vilken endast en partikel (5) matas fram i varje partikelprov.

21. Metod enligt nàgot av krav 14-20, vid vilken partikelproven matas fram av provhàllare (6) i en 10 15 20 25 30 516 308 17 cirkulär bärare (2), vilken roteras för frammatning av partikelproven.

22. Metod enligt krav 21, vid vilken ett spegel- uppbärande organ (3), som bär upp speglar (7), vilka följer partikelprov, är förbundet med bäraren (2) via en central axel (4) och därmed bringas att följa bärarens (2) och partikelprovens rörelser.

23. Metod enligt krav 22, vid vilken speglarna (7) i det spegeluppbärande organet (3) är anordnade med en 45° vinkel till centrumaxeln, varvid avståndet mellan ett partikelprov och tillhörande spegel (7) är lika stort som avståndet mellan spegeln (7) och centrumaxeln för att spegelbilden av partikelprovet skall bringas att hamna pà centrumaxeln.

24. Metod enligt nàgot av krav 21-23, vid vilken bärarens (2) provhàllare (6) innefattar fördjupningar, som erbjuder ett utrymme för ett partikelprov.

25. Metod enligt nàgot av krav 21-23, vid vilken bärarens (2) provhàllare (6) innefattar genomgående hàl i bäraren (2) och en undre partikelhàllarskiva (10), som hindrar partiklarna (5) från att falla igenom hälen, varvid hålen och partikelhàllarskivan (10) därigenom erbjuder ett utrymme för ett partikelprov.

26. Metod enligt något av krav 21-23, vid vilken ett organ för skapande av ett undertryck är anordnat på bärarens (2) undre sida, varvid bärarens (2) provhàllare (6) innefattar hål mot vilka partikelprov sugs fast av undertrycket.

27. Metod enligt nàgot av krav 14-26, vilken vidare innefattar steget att registrera flera optiska mätningar av varje partikelprov med olika sorters belysning under mätningarna, varvid registreringarna sker pà olika platser medelst flera detektorer (13).