SE512041C3 - Foerfarande foer etsning av oeppning - Google Patents
Foerfarande foer etsning av oeppningInfo
- Publication number
- SE512041C3 SE512041C3 SE9801575A SE9801575A SE512041C3 SE 512041 C3 SE512041 C3 SE 512041C3 SE 9801575 A SE9801575 A SE 9801575A SE 9801575 A SE9801575 A SE 9801575A SE 512041 C3 SE512041 C3 SE 512041C3
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- etching
- pit
- protective layer
- doped
- silicon wafer
- Prior art date
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 20
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 19
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 17
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 claims 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 3
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1626—Manufacturing processes etching
- B41J2/1628—Manufacturing processes etching dry etching
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/162—Manufacturing of the nozzle plates
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1626—Manufacturing processes etching
- B41J2/1629—Manufacturing processes etching wet etching
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1631—Manufacturing processes photolithography
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1632—Manufacturing processes machining
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/30604—Chemical etching
- H01L21/30608—Anisotropic liquid etching
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Weting (AREA)
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
20 30 40 512 041 z sidan att bryta igenom bottnen och öppna munstycket. Etsen kan sedan fortsättas för att frilägga ett koniskt munstycke som höjer sig ifiån kiselytan. Detta sker alltså oberoende av brickans tjocklek, eftersom positionen för munstycksöppningen redan är fastställd. Därigenom erhålles en hög noggrannhet vid alla munstyckena över hela kiselskivan.
Sammanfattning av uppfinningen Sålunda tillhandahåller föreliggande uppfinning ett förfarande för etsning av en öppning i en kiselskiva.
Enligt uppfinningen skyddas kiselskivans ena sida med ett skyddsskikt och ett urtag upptas i skyddsskiktet. Etsning sker anisotropt genom uttaget så att en grop i forrn av en stympad pyramid bildas till ett bestämt djup i kiselskivan. Gropen dopas så att ett dopat skikt bildas vid det bestämda djupet. Därefter fortsätter etsningen tills bottenytan av gropen passerat det dopade skiktet. Därefter sker etsning från andra sidan alltmedan etsstoppet i det dopade skiktet aktiveras så att munstycksöppningen frilägges vid den andra sidan.
Uppfinningen är definierad i patentkrav 1 medan fördelaktiga utföringsforrner är angivna i de underordnade patentkraven.
Kortfattad beskrivning av ritningarna Uppfinningen kommer att beskrivas i detalj nedan med hänvisning till åtföljande ritningar i vilka: figurerna la till lf visar olika steg i förfarandet enligt föreliggande upp- finning, figur 2 visar ett altemativt steg enligt uppfinningen, och figur 3 visar ytterligare ett alternativt steg enligt uppfinningen.
Detaljerad beskrivning av föredragna utföringsformer I den följande beskrivningen antages det att fackmannen på området har kännedom om de tidigare allmänt kända enskilda bearbetningsmetodema. Dessa kommer därför inte att diskuteras i detalj utan sammanfattas endast som följer.
Vid anisotrop etsning i kisel utnyttjar man att kristallplanens orientering i princip stoppar etsning i vissa definierade riktningar. Detta ger upphov till de pyramidforrniga strukturerna som t ex utnyttjas i föreliggande uppfinning.
Etsningen utföres med en för kisel anisotrop etslösning t ex kaliumhydroxid (KOH) i lämplig koncentration och vid lämplig temperatur. Eftersom etshastig- heten är känd kan man styra etsdjupet genom att etsa under en bestämd tid. Detta ger en hög noggrannhet.
En alternativ etsteknik är reaktiv jonetsning (DRIE Deep Reactive Ion Etching). Genom denna teknik kan man bilda en cylindrisk grop med väldefini- 10 20 25 30 35 40 3 512 041 erade dimensioner. En cylindrisk grop kan användas på samma sätt som den pyramidforrniga gropen som används i den nedan beskrivna utföringsformen av uppfinningen.
Etsning kan blockeras genom att använda s k pn-etsstopp. Ett skikt av kislet n-dopas med t ex fosfor. En positiv potential läggs på det dopade skiktet och en negativ potential läggs på en elektrod i etslösningen. I och med polariseringen skyddas det dopade området från etsningen. Om spänningen avlägsnas kan man etsa som vanligt. Etsstoppet kan alltså slås till och fiån som man önskar.
En alternativ etsstoppteknik är så kallad fotovoltaisk elektrokemisk etsstopp- teknik. Här dopar man kislet med p-typ på n. Potentialen i det dopade skiktet alstras med belysning i stället för en elektrisk spänning. Etsstoppet aktiveras alltså med ljus.
Kiselskivan kan också skyddas mot etsmedlet genom att anbringa ett skydds- skikt, t ex kiseloxid (SiOg). För att etsa måste ett hål tas upp i oxiden. Detta kan göras t ex med fotolitografiska tekniker som ger hög noggrannhet.
Dessutom ingår andra moment såsom sköljningar och poleringar m m som är välkända inom ornrådet och inte beskrivs här. Uppfinningen avser också att täcka in metoder som är likvärdiga med de ovan nämnda tidigare kända bearbetnings- metoderna.
Förfarandet enligt uppfmningen börjar med att en kiselskiva skyddas på ena sidan med en oxid. Ett väldefinierat hål eller urtag upptages i oxiden. Genom att göra hålet med hög noggrannhet kommer den efterföljande etsningen att ge upphov till en pyramidfonnig grop vars dimensioner vid ett bestämt djup också har hög noggrannhet.
I F ig la visas kiselskivan 1 med ett skyddsskikt 2. Genom urtaget 5 i skydds- skiktet har etsningen påbörjats så att en grop 4 har bildats. När etsningen har fortgått under en bestämd tid stoppas denna. Gropen har då ett bestämt djup och en tillhörande noggrant bestämd bredd x vid bottnen. Denna bottenyta kommer senare att bilda själva munstycksöppningen.
För att etsningen sedennera skall kunna stoppas exakt vid detta djup, på- lägges nu ett dopskikt 3, såsom visas i Fig lb. Innan kiselskivan dopas har skyddsoxiden i Fig lb avlägsnats.
Därefter lägges åter en tunn oxid på skivan och urtag tas på samma ställen som tidigare såsom visas i F ig lc. ' I en altemativ utföringsforrn kan man först dopa hela skivan och därefier lägga på ett skyddsskikt. Efier håltagning i skyddsskiktet och etsning erhåller man då strukturen som visas i F ig 2 med ett skyddsskikt 2' överst och underliggande dopskikt 3'. Därefter kan man återigen dopa och erhålla strukturen såsom visas i Fig lc.
Som ett ytterligare altemativ kan man dopa direkt när den forsta etsningen LJ] 10 lS 20 25 30 40 512 041 4 är stoppad och erhålla strukturen som visas i Pig 3. Man får då inget dopat skikt under skyddsskiktet 2" men det erfordras inget dopat område på detta ställe, såsom kommer att framgå av det följande. Dopskikten 3" vid gropen är tillräckligt. För att aktivera dopskikten 3" används lärnpligen den fotovoltaiska elektrokemiska etsstopptekniken efiersom dopskikten 3" inte är sammanhängande från grop till grop.
Efter dopningen vid det bestämda djupet fortsätter sedan etsningen från samma håll. Något etsstopp aktiveras inte utan etsningen fortsätter anisotropt på samma sätt som tidigare tills hela den pyramidformiga gropen är utetsad till sin spets eller åtminstone tills den dopade regionen har passerats. Detta visas i Fig Id.
För att nu ta hål i gropen och bilda munstycksöppningen etsar man nu från andra hållet, dvs bulketsning från undersidan såsom visas i Fig le.
Vid etsningen från undersidan aktiveras etsstoppet t ex genom att polarisera det dopade skiktet på framsidan relativt en elektrod 7 i etslösningen (visas ej).
Såsom nämnts tidigare, skyddas då det dopade området ifrån den anisotropa etsningen och en munstyckestruktur med en munstycksöppning 6 länmas kvar på undersidan av kiselskivan. Etsningen på baksidan fortgår till en längd som är markerad y i Fig lf. Längden y påverkar munstyckestrukturen endast såtillvida hur långt ner munstycket sträcker sig från undersidan av kiselskivan. Denna parameter är dock okritisk och det har ingen betydelse att den varierar något över de olika munstyckena som bildas samtidigt på skivan. Det skall dock påpekas att i många fall är en utskjutande munstyckestruktur fördelaktig jämfört med en öppning i nivå med en plan yta eftersom den utskjutande strukturen är mer okänslig mot variationer i fysikaliska fluidumparametrar som t ex viskositet, ytspärming och densitet. En utskjutande munstyckestruktur är alltså i de flesta fall önskvärd.
Detta skall järnföras med den tidigare kända tekniken, där man först etsar ut hela den pyramidformiga gropen och först därefter utför dopningen. Då erhåller man en struktur liknande Fi g le men med dopning utmed hela gropen (visas ej).
Därefter bulketsar man från baksidan och avbryter etsningen genom att lägga på spänning på dopskiktet när munstycksöppningen anses ha nått korrekt storlek. Det inses då att munstycksöppningens ytarea blir beroende av etslängden (y) med de därigenom tidigare påtalade nackdelarna.
Således tillhandahåller föreliggande uppfinning stora fördelar jämfört med den tidigare kända tekniken. Munstycksöppningens ytarea kan kontrolleras på ett noggrant och reproducerbart sätt. Metoden enligt uppñnningen kräver inte höga toleranser i skivans tjocklek utan en billigare råvara med tjockleksvariationer kan användas utan att försämra den slutliga produktens kvalitet.
Uppfinningen utnyttjar ett antal tidigare kända bearbetningsmetoder som skisserats ovan. Uppfinningen kan likaväl tillämpas med andra likvärda metoder.
Ansökans skyddsomfång är endast begränsat av nedanstående patentkrav.
Claims (9)
1. Förfarande för etsning av en öppning i en kiselskiva, kännetecknat av stegen: att vid en sida skydda kiselskivans (1) yta med ett skyddsskikt (2, 2', 2"); att bilda ett väldeñnierat urtag (5) i skyddsskiktet (2); att genom urtaget etsa en grop (4) till ett bestämt djup i kiselskivan (1), att dopa gropen (4) så att ett dopat skikt (3, 3") bildas vid det bestämda djupet; att fortsätta etsningen åtminstone tills bottenytan i gropen (4) passerat det dopade skiktet; att etsa från andra sidan alltmedan etsstoppet i det dopade skiktet (3, 3") aktiveras, så att öppningen (6) fiilägges vid den andra sidan.
2. Förfarande enligt krav 1, kännetecknat av att etsstoppet aktiveras genom att en mot den anisotropa etsen skyddande spänning pålägges på det dopade skiktet (3 3 ").
3. Förfarande enligt krav 1, käimetecknat av att etsstoppet aktiveras genom att belysa det dopade skiktet (3, 3"). _
4. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att dopningen av gropen (4) innefattar stegen: att skyddsskiktet (2) avlägsnas och gropen dopas; att ett nytt skyddsskikt genereras; och att ett nytt urtag bildas i skyddsskiktet, genom vilket urtag etsningen skall fortsättas.
5. Förfarande enligt något av krav 1 - 3, kännetecknat av att kiselskivan dopas (3') före genereríngen av det första skyddsskiktet (2').
6. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att gropen (4) etsas anisonopt i form av en stympad pyramid till ett bestämt djup i kiselskivan. _
7. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att skydds- skiktet (2, 2', 2") består av kiseloxid (SiO,).
8. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att öppningen (5) i skyddsskiktet bildas med litografisk teknik.
9. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att gropens (4) djup bestämmes genom att stoppa etsningen efter en bestämd tid. 7
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9801575A SE512041C3 (sv) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | Foerfarande foer etsning av oeppning |
JP2000547281A JP2002513857A (ja) | 1998-05-06 | 1999-05-06 | 開口部のエッチング方法 |
PCT/SE1999/000757 WO1999057332A1 (en) | 1998-05-06 | 1999-05-06 | A method of etching an opening |
CA002330998A CA2330998A1 (en) | 1998-05-06 | 1999-05-06 | A method of etching an opening |
US09/700,044 US6620331B1 (en) | 1998-05-06 | 1999-05-06 | Method of etching an opening |
EP99948557A EP1076730A1 (en) | 1998-05-06 | 1999-05-06 | A method of etching an opening |
AU43054/99A AU4305499A (en) | 1998-05-06 | 1999-05-06 | A method of etching an opening |
NO20005478A NO20005478L (no) | 1998-05-06 | 2000-10-31 | Fremgangsmåte for etsing av en åpning |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9801575A SE512041C3 (sv) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | Foerfarande foer etsning av oeppning |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE9801575D0 SE9801575D0 (sv) | 1998-05-06 |
SE9801575L SE9801575L (sv) | 1999-11-07 |
SE512041C2 SE512041C2 (sv) | 2000-01-17 |
SE512041C3 true SE512041C3 (sv) | 2000-02-07 |
Family
ID=20411198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE9801575A SE512041C3 (sv) | 1998-05-06 | 1998-05-06 | Foerfarande foer etsning av oeppning |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6620331B1 (sv) |
EP (1) | EP1076730A1 (sv) |
JP (1) | JP2002513857A (sv) |
AU (1) | AU4305499A (sv) |
CA (1) | CA2330998A1 (sv) |
NO (1) | NO20005478L (sv) |
SE (1) | SE512041C3 (sv) |
WO (1) | WO1999057332A1 (sv) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008126504A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Canon Inc | インクジェット記録ヘッドの製造方法、およびインクジェット記録ヘッド |
KR101975928B1 (ko) * | 2011-09-08 | 2019-05-09 | 삼성전자주식회사 | 프린팅 장치 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5204690A (en) * | 1991-07-01 | 1993-04-20 | Xerox Corporation | Ink jet printhead having intergral silicon filter |
US5392064A (en) * | 1991-12-19 | 1995-02-21 | Xerox Corporation | Liquid level control structure |
US5332469A (en) * | 1992-11-12 | 1994-07-26 | Ford Motor Company | Capacitive surface micromachined differential pressure sensor |
US5726100A (en) | 1996-06-27 | 1998-03-10 | Micron Technology, Inc. | Method of forming contact vias and interconnect channels in a dielectric layer stack with a single mask |
CA2327421A1 (en) * | 1998-04-10 | 1999-10-21 | Jeffrey T. Borenstein | Silicon-germanium etch stop layer system |
US6159385A (en) * | 1998-05-08 | 2000-12-12 | Rockwell Technologies, Llc | Process for manufacture of micro electromechanical devices having high electrical isolation |
-
1998
- 1998-05-06 SE SE9801575A patent/SE512041C3/sv not_active IP Right Cessation
-
1999
- 1999-05-06 US US09/700,044 patent/US6620331B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-05-06 WO PCT/SE1999/000757 patent/WO1999057332A1/en not_active Application Discontinuation
- 1999-05-06 CA CA002330998A patent/CA2330998A1/en not_active Abandoned
- 1999-05-06 EP EP99948557A patent/EP1076730A1/en not_active Withdrawn
- 1999-05-06 AU AU43054/99A patent/AU4305499A/en not_active Abandoned
- 1999-05-06 JP JP2000547281A patent/JP2002513857A/ja active Pending
-
2000
- 2000-10-31 NO NO20005478A patent/NO20005478L/no not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NO20005478D0 (no) | 2000-10-31 |
WO1999057332A1 (en) | 1999-11-11 |
NO20005478L (no) | 2000-10-31 |
AU4305499A (en) | 1999-11-23 |
CA2330998A1 (en) | 1999-11-11 |
US6620331B1 (en) | 2003-09-16 |
SE9801575D0 (sv) | 1998-05-06 |
SE512041C2 (sv) | 2000-01-17 |
EP1076730A1 (en) | 2001-02-21 |
JP2002513857A (ja) | 2002-05-14 |
SE9801575L (sv) | 1999-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5683591A (en) | Process for producing surface micromechanical structures | |
US6423563B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor dynamic quantity sensor | |
KR100515423B1 (ko) | 회전속도센서제조방법 | |
US7067344B1 (en) | Method of manufacturing an external force detection sensor | |
JPS5690525A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
US7074635B2 (en) | MEMS structure and method for fabricating the same | |
CA2340059C (en) | Micromechanical sensor and method for producing same | |
CN102275868B (zh) | 硅微机械结构的预埋掩模湿法腐蚀工艺 | |
CN203719797U (zh) | 一种压电式压力传感器 | |
US5595940A (en) | Method of producing micromechanical structures | |
EP4140941A1 (en) | Fabrication of mems structures from fused silica for inertial sensors | |
SE512041C3 (sv) | Foerfarande foer etsning av oeppning | |
US4306951A (en) | Electrochemical etching process for semiconductors | |
JP2001091262A (ja) | 半導体センサの製造方法、及び半導体センサ | |
Sooriakumar et al. | A comparative study of wet vs. dry isotropic etch to strengthen silicon micro-machined pressure sensor | |
JPH0472190B2 (sv) | ||
US8070265B2 (en) | Heater stack in a micro-fluid ejection device and method for forming floating electrical heater element in the heater stack | |
CN203200012U (zh) | 微机电系统传感器 | |
JPH01222489A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
CN105383177A (zh) | 元件基板的制造方法 | |
JPS5595339A (en) | Preparation of semiconductor device | |
US6713403B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
CN100454144C (zh) | 双面蚀刻晶片的方法 | |
KR100365701B1 (ko) | 티엠에이에이취용액에 의한 매스의 언더컷팅을 보상하기 위한반도체 가속도센서의 제조방법 | |
JP3569950B2 (ja) | 振動型半導体素子の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |