SE512041C3 - Foerfarande foer etsning av oeppning - Google Patents

Foerfarande foer etsning av oeppning

Info

Publication number
SE512041C3
SE512041C3 SE9801575A SE9801575A SE512041C3 SE 512041 C3 SE512041 C3 SE 512041C3 SE 9801575 A SE9801575 A SE 9801575A SE 9801575 A SE9801575 A SE 9801575A SE 512041 C3 SE512041 C3 SE 512041C3
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
etching
pit
protective layer
doped
silicon wafer
Prior art date
Application number
SE9801575A
Other languages
English (en)
Other versions
SE9801575D0 (sv
SE512041C2 (sv
SE9801575L (sv
Inventor
Thomas Laurell
Johan Drott
Johan Nilsson
Lars Wallman
Original Assignee
Thomas Laurell
Johan Nilsson
Lars Wallman
Johan Drott
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thomas Laurell, Johan Nilsson, Lars Wallman, Johan Drott filed Critical Thomas Laurell
Priority to SE9801575A priority Critical patent/SE512041C3/sv
Publication of SE9801575D0 publication Critical patent/SE9801575D0/sv
Priority to PCT/SE1999/000757 priority patent/WO1999057332A1/en
Priority to CA002330998A priority patent/CA2330998A1/en
Priority to US09/700,044 priority patent/US6620331B1/en
Priority to EP99948557A priority patent/EP1076730A1/en
Priority to AU43054/99A priority patent/AU4305499A/en
Priority to JP2000547281A priority patent/JP2002513857A/ja
Publication of SE9801575L publication Critical patent/SE9801575L/sv
Publication of SE512041C2 publication Critical patent/SE512041C2/sv
Publication of SE512041C3 publication Critical patent/SE512041C3/sv
Priority to NO20005478A priority patent/NO20005478L/no

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/16Production of nozzles
    • B41J2/1621Manufacturing processes
    • B41J2/1626Manufacturing processes etching
    • B41J2/1628Manufacturing processes etching dry etching
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/16Production of nozzles
    • B41J2/162Manufacturing of the nozzle plates
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/16Production of nozzles
    • B41J2/1621Manufacturing processes
    • B41J2/1626Manufacturing processes etching
    • B41J2/1629Manufacturing processes etching wet etching
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/16Production of nozzles
    • B41J2/1621Manufacturing processes
    • B41J2/1631Manufacturing processes photolithography
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet
    • B41J2/135Nozzles
    • B41J2/16Production of nozzles
    • B41J2/1621Manufacturing processes
    • B41J2/1632Manufacturing processes machining
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/30604Chemical etching
    • H01L21/30608Anisotropic liquid etching

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

20 30 40 512 041 z sidan att bryta igenom bottnen och öppna munstycket. Etsen kan sedan fortsättas för att frilägga ett koniskt munstycke som höjer sig ifiån kiselytan. Detta sker alltså oberoende av brickans tjocklek, eftersom positionen för munstycksöppningen redan är fastställd. Därigenom erhålles en hög noggrannhet vid alla munstyckena över hela kiselskivan.
Sammanfattning av uppfinningen Sålunda tillhandahåller föreliggande uppfinning ett förfarande för etsning av en öppning i en kiselskiva.
Enligt uppfinningen skyddas kiselskivans ena sida med ett skyddsskikt och ett urtag upptas i skyddsskiktet. Etsning sker anisotropt genom uttaget så att en grop i forrn av en stympad pyramid bildas till ett bestämt djup i kiselskivan. Gropen dopas så att ett dopat skikt bildas vid det bestämda djupet. Därefter fortsätter etsningen tills bottenytan av gropen passerat det dopade skiktet. Därefter sker etsning från andra sidan alltmedan etsstoppet i det dopade skiktet aktiveras så att munstycksöppningen frilägges vid den andra sidan.
Uppfinningen är definierad i patentkrav 1 medan fördelaktiga utföringsforrner är angivna i de underordnade patentkraven.
Kortfattad beskrivning av ritningarna Uppfinningen kommer att beskrivas i detalj nedan med hänvisning till åtföljande ritningar i vilka: figurerna la till lf visar olika steg i förfarandet enligt föreliggande upp- finning, figur 2 visar ett altemativt steg enligt uppfinningen, och figur 3 visar ytterligare ett alternativt steg enligt uppfinningen.
Detaljerad beskrivning av föredragna utföringsformer I den följande beskrivningen antages det att fackmannen på området har kännedom om de tidigare allmänt kända enskilda bearbetningsmetodema. Dessa kommer därför inte att diskuteras i detalj utan sammanfattas endast som följer.
Vid anisotrop etsning i kisel utnyttjar man att kristallplanens orientering i princip stoppar etsning i vissa definierade riktningar. Detta ger upphov till de pyramidforrniga strukturerna som t ex utnyttjas i föreliggande uppfinning.
Etsningen utföres med en för kisel anisotrop etslösning t ex kaliumhydroxid (KOH) i lämplig koncentration och vid lämplig temperatur. Eftersom etshastig- heten är känd kan man styra etsdjupet genom att etsa under en bestämd tid. Detta ger en hög noggrannhet.
En alternativ etsteknik är reaktiv jonetsning (DRIE Deep Reactive Ion Etching). Genom denna teknik kan man bilda en cylindrisk grop med väldefini- 10 20 25 30 35 40 3 512 041 erade dimensioner. En cylindrisk grop kan användas på samma sätt som den pyramidforrniga gropen som används i den nedan beskrivna utföringsformen av uppfinningen.
Etsning kan blockeras genom att använda s k pn-etsstopp. Ett skikt av kislet n-dopas med t ex fosfor. En positiv potential läggs på det dopade skiktet och en negativ potential läggs på en elektrod i etslösningen. I och med polariseringen skyddas det dopade området från etsningen. Om spänningen avlägsnas kan man etsa som vanligt. Etsstoppet kan alltså slås till och fiån som man önskar.
En alternativ etsstoppteknik är så kallad fotovoltaisk elektrokemisk etsstopp- teknik. Här dopar man kislet med p-typ på n. Potentialen i det dopade skiktet alstras med belysning i stället för en elektrisk spänning. Etsstoppet aktiveras alltså med ljus.
Kiselskivan kan också skyddas mot etsmedlet genom att anbringa ett skydds- skikt, t ex kiseloxid (SiOg). För att etsa måste ett hål tas upp i oxiden. Detta kan göras t ex med fotolitografiska tekniker som ger hög noggrannhet.
Dessutom ingår andra moment såsom sköljningar och poleringar m m som är välkända inom ornrådet och inte beskrivs här. Uppfinningen avser också att täcka in metoder som är likvärdiga med de ovan nämnda tidigare kända bearbetnings- metoderna.
Förfarandet enligt uppfmningen börjar med att en kiselskiva skyddas på ena sidan med en oxid. Ett väldefinierat hål eller urtag upptages i oxiden. Genom att göra hålet med hög noggrannhet kommer den efterföljande etsningen att ge upphov till en pyramidfonnig grop vars dimensioner vid ett bestämt djup också har hög noggrannhet.
I F ig la visas kiselskivan 1 med ett skyddsskikt 2. Genom urtaget 5 i skydds- skiktet har etsningen påbörjats så att en grop 4 har bildats. När etsningen har fortgått under en bestämd tid stoppas denna. Gropen har då ett bestämt djup och en tillhörande noggrant bestämd bredd x vid bottnen. Denna bottenyta kommer senare att bilda själva munstycksöppningen.
För att etsningen sedennera skall kunna stoppas exakt vid detta djup, på- lägges nu ett dopskikt 3, såsom visas i Fig lb. Innan kiselskivan dopas har skyddsoxiden i Fig lb avlägsnats.
Därefter lägges åter en tunn oxid på skivan och urtag tas på samma ställen som tidigare såsom visas i F ig lc. ' I en altemativ utföringsforrn kan man först dopa hela skivan och därefier lägga på ett skyddsskikt. Efier håltagning i skyddsskiktet och etsning erhåller man då strukturen som visas i F ig 2 med ett skyddsskikt 2' överst och underliggande dopskikt 3'. Därefter kan man återigen dopa och erhålla strukturen såsom visas i Fig lc.
Som ett ytterligare altemativ kan man dopa direkt när den forsta etsningen LJ] 10 lS 20 25 30 40 512 041 4 är stoppad och erhålla strukturen som visas i Pig 3. Man får då inget dopat skikt under skyddsskiktet 2" men det erfordras inget dopat område på detta ställe, såsom kommer att framgå av det följande. Dopskikten 3" vid gropen är tillräckligt. För att aktivera dopskikten 3" används lärnpligen den fotovoltaiska elektrokemiska etsstopptekniken efiersom dopskikten 3" inte är sammanhängande från grop till grop.
Efter dopningen vid det bestämda djupet fortsätter sedan etsningen från samma håll. Något etsstopp aktiveras inte utan etsningen fortsätter anisotropt på samma sätt som tidigare tills hela den pyramidformiga gropen är utetsad till sin spets eller åtminstone tills den dopade regionen har passerats. Detta visas i Fig Id.
För att nu ta hål i gropen och bilda munstycksöppningen etsar man nu från andra hållet, dvs bulketsning från undersidan såsom visas i Fig le.
Vid etsningen från undersidan aktiveras etsstoppet t ex genom att polarisera det dopade skiktet på framsidan relativt en elektrod 7 i etslösningen (visas ej).
Såsom nämnts tidigare, skyddas då det dopade området ifrån den anisotropa etsningen och en munstyckestruktur med en munstycksöppning 6 länmas kvar på undersidan av kiselskivan. Etsningen på baksidan fortgår till en längd som är markerad y i Fig lf. Längden y påverkar munstyckestrukturen endast såtillvida hur långt ner munstycket sträcker sig från undersidan av kiselskivan. Denna parameter är dock okritisk och det har ingen betydelse att den varierar något över de olika munstyckena som bildas samtidigt på skivan. Det skall dock påpekas att i många fall är en utskjutande munstyckestruktur fördelaktig jämfört med en öppning i nivå med en plan yta eftersom den utskjutande strukturen är mer okänslig mot variationer i fysikaliska fluidumparametrar som t ex viskositet, ytspärming och densitet. En utskjutande munstyckestruktur är alltså i de flesta fall önskvärd.
Detta skall järnföras med den tidigare kända tekniken, där man först etsar ut hela den pyramidformiga gropen och först därefter utför dopningen. Då erhåller man en struktur liknande Fi g le men med dopning utmed hela gropen (visas ej).
Därefter bulketsar man från baksidan och avbryter etsningen genom att lägga på spänning på dopskiktet när munstycksöppningen anses ha nått korrekt storlek. Det inses då att munstycksöppningens ytarea blir beroende av etslängden (y) med de därigenom tidigare påtalade nackdelarna.
Således tillhandahåller föreliggande uppfinning stora fördelar jämfört med den tidigare kända tekniken. Munstycksöppningens ytarea kan kontrolleras på ett noggrant och reproducerbart sätt. Metoden enligt uppñnningen kräver inte höga toleranser i skivans tjocklek utan en billigare råvara med tjockleksvariationer kan användas utan att försämra den slutliga produktens kvalitet.
Uppfinningen utnyttjar ett antal tidigare kända bearbetningsmetoder som skisserats ovan. Uppfinningen kan likaväl tillämpas med andra likvärda metoder.
Ansökans skyddsomfång är endast begränsat av nedanstående patentkrav.

Claims (9)

10 15 20 25 30 512 041 PATENTKRAV
1. Förfarande för etsning av en öppning i en kiselskiva, kännetecknat av stegen: att vid en sida skydda kiselskivans (1) yta med ett skyddsskikt (2, 2', 2"); att bilda ett väldeñnierat urtag (5) i skyddsskiktet (2); att genom urtaget etsa en grop (4) till ett bestämt djup i kiselskivan (1), att dopa gropen (4) så att ett dopat skikt (3, 3") bildas vid det bestämda djupet; att fortsätta etsningen åtminstone tills bottenytan i gropen (4) passerat det dopade skiktet; att etsa från andra sidan alltmedan etsstoppet i det dopade skiktet (3, 3") aktiveras, så att öppningen (6) fiilägges vid den andra sidan.
2. Förfarande enligt krav 1, kännetecknat av att etsstoppet aktiveras genom att en mot den anisotropa etsen skyddande spänning pålägges på det dopade skiktet (3 3 ").
3. Förfarande enligt krav 1, käimetecknat av att etsstoppet aktiveras genom att belysa det dopade skiktet (3, 3"). _
4. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att dopningen av gropen (4) innefattar stegen: att skyddsskiktet (2) avlägsnas och gropen dopas; att ett nytt skyddsskikt genereras; och att ett nytt urtag bildas i skyddsskiktet, genom vilket urtag etsningen skall fortsättas.
5. Förfarande enligt något av krav 1 - 3, kännetecknat av att kiselskivan dopas (3') före genereríngen av det första skyddsskiktet (2').
6. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att gropen (4) etsas anisonopt i form av en stympad pyramid till ett bestämt djup i kiselskivan. _
7. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att skydds- skiktet (2, 2', 2") består av kiseloxid (SiO,).
8. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att öppningen (5) i skyddsskiktet bildas med litografisk teknik.
9. Förfarande enligt något av föregående krav, kännetecknat av att gropens (4) djup bestämmes genom att stoppa etsningen efter en bestämd tid. 7
SE9801575A 1998-05-06 1998-05-06 Foerfarande foer etsning av oeppning SE512041C3 (sv)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9801575A SE512041C3 (sv) 1998-05-06 1998-05-06 Foerfarande foer etsning av oeppning
JP2000547281A JP2002513857A (ja) 1998-05-06 1999-05-06 開口部のエッチング方法
PCT/SE1999/000757 WO1999057332A1 (en) 1998-05-06 1999-05-06 A method of etching an opening
CA002330998A CA2330998A1 (en) 1998-05-06 1999-05-06 A method of etching an opening
US09/700,044 US6620331B1 (en) 1998-05-06 1999-05-06 Method of etching an opening
EP99948557A EP1076730A1 (en) 1998-05-06 1999-05-06 A method of etching an opening
AU43054/99A AU4305499A (en) 1998-05-06 1999-05-06 A method of etching an opening
NO20005478A NO20005478L (no) 1998-05-06 2000-10-31 Fremgangsmåte for etsing av en åpning

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9801575A SE512041C3 (sv) 1998-05-06 1998-05-06 Foerfarande foer etsning av oeppning

Publications (4)

Publication Number Publication Date
SE9801575D0 SE9801575D0 (sv) 1998-05-06
SE9801575L SE9801575L (sv) 1999-11-07
SE512041C2 SE512041C2 (sv) 2000-01-17
SE512041C3 true SE512041C3 (sv) 2000-02-07

Family

ID=20411198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE9801575A SE512041C3 (sv) 1998-05-06 1998-05-06 Foerfarande foer etsning av oeppning

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6620331B1 (sv)
EP (1) EP1076730A1 (sv)
JP (1) JP2002513857A (sv)
AU (1) AU4305499A (sv)
CA (1) CA2330998A1 (sv)
NO (1) NO20005478L (sv)
SE (1) SE512041C3 (sv)
WO (1) WO1999057332A1 (sv)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008126504A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Canon Inc インクジェット記録ヘッドの製造方法、およびインクジェット記録ヘッド
KR101975928B1 (ko) * 2011-09-08 2019-05-09 삼성전자주식회사 프린팅 장치

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5204690A (en) * 1991-07-01 1993-04-20 Xerox Corporation Ink jet printhead having intergral silicon filter
US5392064A (en) * 1991-12-19 1995-02-21 Xerox Corporation Liquid level control structure
US5332469A (en) * 1992-11-12 1994-07-26 Ford Motor Company Capacitive surface micromachined differential pressure sensor
US5726100A (en) 1996-06-27 1998-03-10 Micron Technology, Inc. Method of forming contact vias and interconnect channels in a dielectric layer stack with a single mask
CA2327421A1 (en) * 1998-04-10 1999-10-21 Jeffrey T. Borenstein Silicon-germanium etch stop layer system
US6159385A (en) * 1998-05-08 2000-12-12 Rockwell Technologies, Llc Process for manufacture of micro electromechanical devices having high electrical isolation

Also Published As

Publication number Publication date
NO20005478D0 (no) 2000-10-31
WO1999057332A1 (en) 1999-11-11
NO20005478L (no) 2000-10-31
AU4305499A (en) 1999-11-23
CA2330998A1 (en) 1999-11-11
US6620331B1 (en) 2003-09-16
SE9801575D0 (sv) 1998-05-06
SE512041C2 (sv) 2000-01-17
EP1076730A1 (en) 2001-02-21
JP2002513857A (ja) 2002-05-14
SE9801575L (sv) 1999-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5683591A (en) Process for producing surface micromechanical structures
US6423563B2 (en) Method for manufacturing semiconductor dynamic quantity sensor
KR100515423B1 (ko) 회전속도센서제조방법
US7067344B1 (en) Method of manufacturing an external force detection sensor
JPS5690525A (en) Manufacture of semiconductor device
US7074635B2 (en) MEMS structure and method for fabricating the same
CA2340059C (en) Micromechanical sensor and method for producing same
CN102275868B (zh) 硅微机械结构的预埋掩模湿法腐蚀工艺
CN203719797U (zh) 一种压电式压力传感器
US5595940A (en) Method of producing micromechanical structures
EP4140941A1 (en) Fabrication of mems structures from fused silica for inertial sensors
SE512041C3 (sv) Foerfarande foer etsning av oeppning
US4306951A (en) Electrochemical etching process for semiconductors
JP2001091262A (ja) 半導体センサの製造方法、及び半導体センサ
Sooriakumar et al. A comparative study of wet vs. dry isotropic etch to strengthen silicon micro-machined pressure sensor
JPH0472190B2 (sv)
US8070265B2 (en) Heater stack in a micro-fluid ejection device and method for forming floating electrical heater element in the heater stack
CN203200012U (zh) 微机电系统传感器
JPH01222489A (ja) 半導体装置の製造方法
CN105383177A (zh) 元件基板的制造方法
JPS5595339A (en) Preparation of semiconductor device
US6713403B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
CN100454144C (zh) 双面蚀刻晶片的方法
KR100365701B1 (ko) 티엠에이에이취용액에 의한 매스의 언더컷팅을 보상하기 위한반도체 가속도센서의 제조방법
JP3569950B2 (ja) 振動型半導体素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed