SE461936B - Anordning foer att maeta mikrovaagsbrus - Google Patents
Anordning foer att maeta mikrovaagsbrusInfo
- Publication number
- SE461936B SE461936B SE8603552A SE8603552A SE461936B SE 461936 B SE461936 B SE 461936B SE 8603552 A SE8603552 A SE 8603552A SE 8603552 A SE8603552 A SE 8603552A SE 461936 B SE461936 B SE 461936B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- frequency
- signal
- cavity
- output signal
- oscillator
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Description
461 936 2
under testning. Man gör bruk av en fördröjningsledning, till
vilken källans utsignal matas och en fasdetektor, som jämför
utsignalen på fördröjningsledningen med källans utsignal 90°
ur fas med denna. Fördröjningsledningen transformerar frek-
vensfluktuationer till fasfluktuationer, och fasdetektorn
omvandlar dessa till spänningsfluktuationer på sin utgång.
Olyckligtvis har ett dylikt system låg känslighet på grund av
den begränsade storleken hos ineffekten, som kan matas till
systemet.
En annan metod, som undviker detta problem, använder en av-
stämbar hålrumsresonator för att åstadkomma en fördröjning
istället för fördröjningsledningen. Hålrummet avstäms till
signalkällans frekvens och har verkan att undertrycka käll-
frekvensen under det att den lämnar brusfrekvenssignalerna.
Detta medger att större effekt kan matas till mätsystemet och
ökar sålunda känsligheten. De problem, som uppstår vid använd-
ning av denna metod, är förknippade med användningen av ett
avstämbart resonanshålrum. Först måste hålrummet åter avstäm-
mas för varje källfrekvens, och detta tar tid. Dessutom kan
hålrummets resonansfrekvens mycket väl vara känslig för
mekaniska vibrationer. Slutligen måste alla komponenterna i
mätsystemet ha breda bandbredder för att täcka det
avstämningsområde, som systemet måste täcka.
Ett syfte med uppfinningen är att åstadkomma en anordning för
att mäta fasbrusinnehållet i utsignalen från en mikrovågssig-
nalkälla, vilken anordning kräver enbart en enkel mikrovågs-
källa och som icke lider av de ovan angivna problemen.
Ovan nämnda syfte uppnås med en anordning. som erhållit de i
patentkravet 1 angivna kännetecknen. Ytterligare egenskaper
hos och vidareutvecklingar av uppfinningen anges i de övriga
patentkraven.
uppfinningen beskrivs närmare nedan under hänvisning till de
bifogade ritníngarna, där
fig. 1 visar ett blockschema av en känd anordning under an-
461 936
vändning av ett avstämbart resonanshålrum:
fig. 2 är ett blockschema av en första utföringsform av upp-
finningen: och
fig. 3 visar en modifiering av anordningen i fig. 2.
I fig. 1 innefattar ett känt fasbrusmätsystem den källa 10,
som är under test och som matar en signal via en lågbrusig
förstärkare 11, en 10 dB-kopplare 12 och en cirkulator 13 till
ett avstämbart resonanshâlrum 14. En utsignal från hålrummet
14 passerar via cirkulatorn 13 till en fasdetektor 15. Den
till 10 dB-kopplaren 12 matade signalen matas också via en
fasförskjutare 16 till fasdetektorn 15, varvid fasförskjutaren
är så anordnad att dess utsignal ligger 90° ur fas med utsig-
nalen från resonanshålrummet. Fasdetektorns 15 utsignal är
utsignalen hos fasbrusmätsystemet och kan t.ex. matas till en
spektrumanalysanordning 17. Analysanordningen är speciellt
användbar om den källa. som är under testning, frekvensmodule-
-ras med en lågfrekvensoscillator 18.
vid användning måste resonanshâlrummet 14 avstämmas till den
testade källans frekvens. Verkan av det avstämda hålrummet 14,
vad beträffar signaler inom hâlrummets bandbredd, är att
transformera alla frekvensfluktuationer till fasfluktuationer.
Fasdetektorn 15 omvandlar dessa till spänningsfluktuationer,
vilka matas till spektrumanalysanordningen 17. Alla brussigna-
ler, vilka ligger utanför hålrummets bandbredd, omvandlas till
amplitudmodulationssignaler.
såsom har nämnts redan är en av de väsentliga nackdelarna med
det ovan beskrivna arrangemanget att hålrummet måste åter av-
stämmas för varje skild frekvensutsignal från den källa, som
är under testning. De därav resulterande nackdelarna har redan
Klällllltß .
Fig. 2 visar en utföringsform av systemet enligt uppfinningen.
Bortsett från det faktum att ett resonanshålrum med fast frek-
vens används, kvarstår delar av systemet efter 10 dB-kopplaren
väsentligen oförändrade. Kretselement, som finns i den í fig.
1 visade kopplingen, har givits samma referensbeteckningar.
10
15
20
25
30
35
461 936 4
I fig. 2 är den under test befintliga källan 10 via en
balanserad/dubbelbalanserad blandare 20 och ett bandpassfilter
2l kopplat till en lâgbrusig förstärkare ll och följaktligen
till kopplaren 12. Kopplaren är såsom tidigare kopplad till en
cirkulator 13. men resonanshalrummet 22 är avstämt till en
fast frekvens. Fasdetektorn 15 och fasförskjutaren 16 är kopp-
lade som tidigare, och spektrumanalysanordningen 17 kan använ-
das för att undersöka fasdetektorns 15 utsignal.
Blandaren 20 matas också med utsignalen från en mellanfrek-
vensoscillator 23. Denna genererar en frekvens, som när den
kombineras med utsignalen frän källan 10. alstrar en signal
med hâlrummets 22 resonansfrekvens. Oscillatorns 23 frekvens
styrs av utsignalen från fasdetektorn 15 via en likspännings-
styrförstärkare 24. Likspänningsförstärkarens 24 utsignal
matas till oscillatorn 23 via en blandare 25. till vilken ut-
signalen frân en kalibreringsoscillator 18 kan adderas. Oscil-
latorn 23 kan vara av en typ, som kan avstämnas exakt av en
analog signal.
I drift avstäms oscillatorn 23 till en frekvens, som kommer
att omvandla en speciell källfrekvens till det avstämda hål-
rummets 22 resonansfrekvens. Bandpassfiltret 21 borttar alla
icke önskade signaler genererade av blandningsprocessen. under
det att förstärkaren ll höjer signalens anplitud till den
önskade nivån.
Anordningens mätsektion fungerar på samma sätt son i det
tidigare utförandet. En likspânningssignal alstrad av fas-
detektorn 15 matas tillbaka genom likspänningsförstärkaren 24
för att styra oscillationsfrekvensen hos oscillatorn 23.
Det är uppenbart att varje ändring i frekvensen hos källans 10
utsignal behandlas med ändring av frekvensen hos oscillatorn
23, och de problem, som tidigare var förknippade med ett av-
stämbart resonanshâlrum, undviks sålunda.
Det finns en gräns beträffande hur nära källfrekvensen kan
10
15
20
25
30
35
5 461 936
närma sig hâlrummets resonansfrekvens. Detta uppkommer från
det faktum att den av blandaren 20 utförda blandningsprocessen
genererar falska signaler. som måste borttas av bandpass-
filtret 21. Ju närmare källfrekvensen närmar sig hâlrummets
resonansfrekvens ju närmare mäste filtrets bandpassbredd vara.
Praktiska filterutformningsgränser innebär att hålrummets
resonansfrekvens måste skilja sig från den av källan generera-
de frekvensen med minst 1% från hâlrumsfrekvensen. För
arbetande X-band innebär detta att källfrekvensen icke får
komma närmare än 50 MHz till hålrumsresonansfrekvensen. Om ä
andra sidan skillnaden mellan källfrekvensen och hålrumsreso-
nansfrekvensen blir för stor kommer oscillatorn 23 att behöva
vara samma typ av mikrovâgsoscillator som själva källan. Där-
för bör ånyo av praktiska skäl källfrekvensen icke skilja sig
från hälrummets med mer än ca 10% av hâlrummets resonansfrek-
vens. Ånyo innebär detta för X-band-källor att oscillatorn 23
kräver ett avstämningsomrâde från ca 50 MHz till ca 16 Hz.
Den i fig. 2 visade lâgfrekvensoscillatorn 18 kan användas för
att överlagra en moduleringsfrekvens på oscillatorns 23 utsig-
nal för kalibreringssyfen.
Hellanfrekvensoscillatorn 23 i fig. 2 manövreras i en likspän-
nings frekvensmodulerad mod. och detta ger icke det bästa
resultatet i form av fasbrus. Den i fig. 3 visade modifiering-
en förbättrar fasbrusprestanda genom att använda fasdetektorns
likspänningsutsignal för att styra en lågfrekvent spännings-
styrd kristalloscillator 30. Utsignalen från denna oscillator
blandas med mellanfrekvensoscillatorns 23 utsignal av en
blandare 31. Den resulterande signal förstärks av en för-
stärkare 32 och överförs till blandaren 20 för att blandas med
källans 10 utsignal. Lågfrekvensoscillatorn 18 har sina ut-
gångar kopplade till blandaren 25. när så önskas.
Hellanfrekvensoscillatorn 23 är justerbar och avstäms med skä-
lig noggrannhet till en frekvens nära källans 10. Den spän-
ningstyrda kristalloscillatorn 30 har ett arbetsområde på
t.ex. l-100 MHz för en X-band-källa och arbetar 1 likspännings
461 936 e
frekvensmodulerade moden. Den arbetar emellertid vid en lägre
frekvens än oscillatorn 23 i utföringsfornen 1 fig. 2. och
följaktligen är fasbrusprestanda förbättrade. Hellanfrekvens-
oscillatorn 23 arbetar nu vid en fast frekvens. som väljs för
att alstra en minsta fasbrusnivå. Blandarens 31 utsignal måste
förstärkas för att kompensera för förluster 1 blandaren. och
förstärkaren 32 används i detta syfte. Förstärkarens utsignal
matas till blandaren 20 för att omvandla källans ll frekvens
till hâlrummets 22.
Claims (5)
1. Anordning för att mäta fasbrusinnehållet i utsignalen från en mikrovågssignalkälla (10), k ä n n e t e c k n a d av ett mikrovâgshålrum (22), som år resonant vid en fast frekvens, som skiljer sig från källans (10) med mellan lt och 10% av hålrummets resonansfrekvens. en signalgenererande anordning. som är manövrerbar för att generera en signal, som represente- rar skillnaden mellan den frekvens, som genereras av mikro- vågssignalkällan (10) och hålrummets (22) resonansfrekvens, en blandaranordning (20) anordnad att kombinera utsignalerna från mikrovågssignalkällan (10) och från den signalgenererande an- ordningen (23) för att åstadkomma en signal med en frekvens, som är lika med hålrummets resonansfrekvens för matning till denna en fasvridande anordning (16) som arbetar i beroende av utsignalen från blandaranordníngen (20) för att åstadkomma en signal i kvadratur med utsignalen från hålrummet (22), och en fasdetektoranordning (15), som arbetar i beroende av utsigna- len från hålrummet och av en utsignal från blandaranordningen (20) i faskvadratur därmed för att åstadkomma en signal, som representerar fasbrusinnehållet i mikrovâgssignalkällans ut- signal.
2. Anordning enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att den sígnalgenererande anordningen innefattar en oscillator (23) med variabel frekvens, vars frekvens är styrd av en ut- signal från fasdetektoranordningen (15) för att hålla blandar- anordningens (20) utsignal vid mikrovågshålrummets resonans- fIekVellB .
3. Anordning enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att den sígnalgenererande anordningen innefattar en oscillator (18) med fast frekvens, en spänningsstyrd oscillator (30) och en andra blandaranordning (31) för att kombinera utsignalerna med den fasta frekvensen och spänningsstyrda oscilleringar hos den spänningsstyrda oscillatorn, varvid frekvensen hos 461 956 s oacilleringen hoa den apänningaatyrda oacillatorn (30) styrs av en utsignal från faadetektoranordningen (15) så att den håller blandaranordningene (20) utsignal på mikrovågs- hålrummets (22) resonanafrekvena.
4. Anordning enligt krav 2 eller 3, K ä n n e t e c k n a d av att faadetektoranordningens (15) utsignal är matad till den spänningastyrda oacíllatorn (30) medelst ytterligare en blan- daranordning (25), till vilken utsignalen från en lågfrekvens- kalibreringaföratärkare (18) är matningsbar.
5. Anordning enligt något av föregående krav, k ä n n e - t e c k n a d av ett bandpaaafilter (21) kopplat att filtrera den signal. som matas av blandaranordningen (20) till mikro- vågshâlrummet (22) och till den faavrídande anordningen (16). 1-1
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB08521184A GB2179458B (en) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | Microwave noise measuring apparatus |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8603552D0 SE8603552D0 (sv) | 1986-08-22 |
SE8603552L SE8603552L (sv) | 1987-02-24 |
SE461936B true SE461936B (sv) | 1990-04-09 |
Family
ID=10584249
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8603552A SE461936B (sv) | 1985-08-23 | 1986-08-22 | Anordning foer att maeta mikrovaagsbrus |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4714873A (sv) |
DE (1) | DE3627608A1 (sv) |
FR (1) | FR2586481B1 (sv) |
GB (1) | GB2179458B (sv) |
IT (1) | IT1198445B (sv) |
SE (1) | SE461936B (sv) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4864218A (en) * | 1988-11-09 | 1989-09-05 | Cascade Microtech, Inc. | Method of compensating for frequency errors in noise power meters |
FR2663750B1 (fr) * | 1990-06-22 | 1992-09-11 | Alcatel Espace | Dispositif de mesure de l'effet multipactor par bruit de phase. |
US5337014A (en) * | 1991-06-21 | 1994-08-09 | Harris Corporation | Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique |
US5179344A (en) * | 1991-06-21 | 1993-01-12 | Harris Corporation | Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique |
US5172064A (en) * | 1991-12-02 | 1992-12-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Calibration system for determining the accuracy of phase modulation and amplitude modulation noise measurement apparatus |
FR2687790B1 (fr) * | 1992-02-24 | 1994-04-29 | Sauvage Gerard | Systeme de mesure de bruit de phase. |
US5790523A (en) * | 1993-09-17 | 1998-08-04 | Scientific-Atlanta, Inc. | Testing facility for a broadband communications system |
AUPM587094A0 (en) * | 1994-05-25 | 1994-06-16 | Poseidon Scientific Instruments Pty Ltd | Microwave loop oscillators |
US6606583B1 (en) * | 1998-09-21 | 2003-08-12 | Ben K. Sternberg | Real-time error-suppression method and apparatus therefor |
DE19901750B4 (de) * | 1999-01-18 | 2006-04-13 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Anordnung zum Messen des Phasenrauschens des Ausgangssignals eines Meßobjektes |
DE20114544U1 (de) | 2000-12-04 | 2002-02-21 | Cascade Microtech Inc | Wafersonde |
EP1509776A4 (en) | 2002-05-23 | 2010-08-18 | Cascade Microtech Inc | TEST PROBE OF A DEVICE SUBMITTED TEST |
US6724205B1 (en) | 2002-11-13 | 2004-04-20 | Cascade Microtech, Inc. | Probe for combined signals |
FR2848302B1 (fr) * | 2002-12-10 | 2005-05-27 | Thales Sa | Procede de calibration d'une source hyperfrequence |
US7057404B2 (en) | 2003-05-23 | 2006-06-06 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Shielded probe for testing a device under test |
GB2425844B (en) | 2003-12-24 | 2007-07-11 | Cascade Microtech Inc | Active wafer probe |
WO2006031646A2 (en) | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Cascade Microtech, Inc. | Double sided probing structures |
US7570201B1 (en) * | 2004-11-05 | 2009-08-04 | Northrop Grumman Corporation | Radar exciter including phase compensation of the waveform generator |
US7535247B2 (en) | 2005-01-31 | 2009-05-19 | Cascade Microtech, Inc. | Interface for testing semiconductors |
US7656172B2 (en) | 2005-01-31 | 2010-02-02 | Cascade Microtech, Inc. | System for testing semiconductors |
US8965727B2 (en) * | 2005-05-20 | 2015-02-24 | Omniphase Research Laboratories, Inc. | Intelligent low noise design |
US7379017B2 (en) * | 2006-01-24 | 2008-05-27 | Raytheon Company | Micro movement pulsed radar system and method of phase noise compensation |
US7723999B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-05-25 | Cascade Microtech, Inc. | Calibration structures for differential signal probing |
US7403028B2 (en) | 2006-06-12 | 2008-07-22 | Cascade Microtech, Inc. | Test structure and probe for differential signals |
US7764072B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-07-27 | Cascade Microtech, Inc. | Differential signal probing system |
US7876114B2 (en) | 2007-08-08 | 2011-01-25 | Cascade Microtech, Inc. | Differential waveguide probe |
US8155913B2 (en) * | 2007-11-13 | 2012-04-10 | Oewaves, Inc. | Photonic-based cross-correlation homodyne detection with low phase noise |
US8248297B1 (en) * | 2011-04-11 | 2012-08-21 | Advanced Testing Technologies, Inc. | Phase noise measurement system and method |
US10061016B2 (en) * | 2014-12-29 | 2018-08-28 | Texas Instruments Incorporated | Phase noise measurement in a cascaded radar system |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL81640C (sv) * | 1948-10-20 | |||
US2902649A (en) * | 1955-02-07 | 1959-09-01 | Bendix Aviat Corp | Oscillator stability checker |
US2874380A (en) * | 1956-07-12 | 1959-02-17 | Sperry Rand Corp | Radar system evaluator |
US4634962A (en) * | 1985-03-05 | 1987-01-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Phase noise analyzer |
-
1985
- 1985-08-23 GB GB08521184A patent/GB2179458B/en not_active Expired
-
1986
- 1986-08-14 DE DE19863627608 patent/DE3627608A1/de not_active Withdrawn
- 1986-08-19 US US06/897,800 patent/US4714873A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-08-20 IT IT48394/86A patent/IT1198445B/it active
- 1986-08-22 FR FR868611997A patent/FR2586481B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1986-08-22 SE SE8603552A patent/SE461936B/sv not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE8603552D0 (sv) | 1986-08-22 |
IT1198445B (it) | 1988-12-21 |
FR2586481A1 (fr) | 1987-02-27 |
FR2586481B1 (fr) | 1991-02-08 |
US4714873A (en) | 1987-12-22 |
IT8648394A0 (it) | 1986-08-20 |
DE3627608A1 (de) | 1987-02-26 |
GB2179458B (en) | 1988-11-09 |
GB2179458A (en) | 1987-03-04 |
SE8603552L (sv) | 1987-02-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE461936B (sv) | Anordning foer att maeta mikrovaagsbrus | |
WO1998001949A1 (en) | Method and system for tuning resonance modules | |
US3018439A (en) | Automatic wave analyzer | |
Malling | Phase-stable oscillators for space communications, including the relationship between the phase noise, the spectrum, the short-term stability, and the Q of the oscillator | |
US2632865A (en) | Circular sweep circuit | |
US4245193A (en) | High-Q multi-mode resonator controlled source | |
US4035736A (en) | FM discriminator having low noise characteristics | |
RU2724795C1 (ru) | Схема возбуждения частотного датчика | |
SU907463A1 (ru) | Устройство дл измерени частотных характеристик коэффициентов передачи и отражени сверхвысокочастотных трактов | |
SU1390785A1 (ru) | Устройство автоматической настройки колебательного контура | |
SU742828A1 (ru) | Измеритель параметров кварцевых резонаторов | |
US3609575A (en) | Harmonic sensitive network for phase lock of an oscillator | |
SU1582036A1 (ru) | Частотный датчик давлени | |
SU394712A1 (ru) | Ан ссср | |
SU892741A1 (ru) | Устройство стабилизации частоты генератора | |
SU1737365A1 (ru) | Измеритель добротности резонатора | |
RU1800377C (ru) | Способ селективного по частоте измерени пикового значени мощности СВЧ-сигнала | |
SU1192146A1 (ru) | Устройство дл контрол работоспособности супергетеродинного приемника | |
SU415604A1 (sv) | ||
JP2003344464A (ja) | 周波数信号測定装置 | |
SU832432A2 (ru) | Супергетеродинный спектрометрэлЕКТРОННОгО пАРАМАгНиТНОгО РЕзОНАНСА | |
SU1492308A2 (ru) | Измерительный преобразователь с фазовой автоподстройкой | |
SU1448297A1 (ru) | Анализатор спектра | |
SU857888A2 (ru) | Автогенераторный отбраковщик кварцевых резонаторов по моночастотности | |
SU1148000A2 (ru) | Фазометр |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 8603552-4 Effective date: 19920306 Format of ref document f/p: F |