SE447935B - Linslos spektrumanalysator - Google Patents

Linslos spektrumanalysator

Info

Publication number
SE447935B
SE447935B SE8102671A SE8102671A SE447935B SE 447935 B SE447935 B SE 447935B SE 8102671 A SE8102671 A SE 8102671A SE 8102671 A SE8102671 A SE 8102671A SE 447935 B SE447935 B SE 447935B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
optical
spectrum analyzer
deflector
matrix
analyzer according
Prior art date
Application number
SE8102671A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8102671L (sv
Inventor
L Stensland
L Thylen
G Arvidsson
Original Assignee
Optisk Forskning Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Optisk Forskning Inst filed Critical Optisk Forskning Inst
Priority to SE8102671A priority Critical patent/SE447935B/sv
Priority to NL8220148A priority patent/NL8220148A/nl
Priority to PCT/SE1982/000137 priority patent/WO1982003912A1/en
Priority to GB08235727A priority patent/GB2110368B/en
Priority to US06/457,109 priority patent/US4511206A/en
Priority to EP82850087A priority patent/EP0071589B1/en
Priority to DE19823242685 priority patent/DE3242685A1/de
Publication of SE8102671L publication Critical patent/SE8102671L/sv
Publication of SE447935B publication Critical patent/SE447935B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/17Spectrum analysis; Fourier analysis with optical or acoustical auxiliary devices
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/12004Combinations of two or more optical elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/124Geodesic lenses or integrated gratings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • G02F1/295Analog deflection from or in an optical waveguide structure]
    • G02F1/2955Analog deflection from or in an optical waveguide structure] by controlled diffraction or phased-array beam steering

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

l0 447 935 En väsentlig nackdel med denna kända analysator är att de geodetiska linserna är svåra och dyrbara att framställa.
Ett vanligt sätt att framställa dem är att diamantsvarva.
Det har hittills ej varit möjligt att framställa dem med hjälp av fotolitografísk teknik, vilken används för fram- ställning av komponenten i övrigt. Detta medför i sin tur att den precisionskrävande upplinjeringen av de optiska komponenterna blir besvärlig.
En annan nackdel med de kända spektrumanalysatorernar är att de har såväl konstant analystid (T) som bandbredd (B). Ändamålet med den föreliggande uppfinningen är därför att ange en integrerad optisk spektrumanalysator som saknar såväl diskret kollimerings- som transformlins men ändå utför dessa funktioner, och som vidare visserligen har en fix tid- bandbreddsprodukt (T x B) men där analystid eller bandbredd kan väljas i stort sett godtyckligt så länge produkten är kanstant. ' i Föreliggande uppfinning löser dessa problem på det sätt som anges i den kännetecknade delen av det bifogade huvud- kravet. Härvid utgår man från att den integrerade optiska spektrumanalysatorn består av en optisk strålningskälla ansluten till en optisk vågledare. Denna vågledare är för- sedd med en elektrooptisk avlänkare som är försedd med en elektrodmatris och är via elektroniska styrkretsar ansluten till den signal som skall analyseras. Spektrumanalysatorn, enligt uppfinningen, består vidare av en till vâgledaren ansluten detekteringsmatris.
Uppfinningen kännetecknas av att nämnda elektrodmatris består av ett antal i linje liggande elektroder med olika bredd och med olika mellanrum samt med lika eller olika längd.
. De är därvid anordnade med sin längsutsträckning i stort sett sammanfallande med den från strålningskällan angivna och mot avlänkaren infallande optiska strålningens riktning, vilken riktning sålunda i huvudsak blir vinkelrät mot nämnda linje.
Vidare är diodmatrísen anordnad efter den elektrooptiska av- länkaren, sett i den optiska strålningens utbredningsriktning. 447 935 Därvid låter man den detekterande matrisens element vara an- ordnade efter en fokallinje, vilken till läge och riktning är bestämd av elektrodkonfigurationens parametrar. Hos denna fokallinje svara då en viss punkt mot en given frekvens hos den signal som skall analyseras.
Det har visat sig vara fördelaktigt att exempelvis låta elektrodernas bredd liksom deras mellanrum variera kvadratiskt utefter den nämnda linjen. Detta ger en för ändamålet lämplig linsverkan hos avlänkaren. Detta förutsätter dock att varje elektrod i elektrodmatrisen matas med en separat elektrisk signalspänning, vilken alstras av nämnda elektroniska styr- kretsar.
Strålningskällan kan vara en laserdiod som kan vara integrerad i vågledare eller utgöras av en ytterligare våg- ledare eller optisk fiber som är optiskt kopplad till våg- ledaren hos spektrumanalysatorn, vilken ytterligare vågledare eller fiber kan vara matad av exempelvis en laserdiod.
Detekteringsmatrisen kan antingen utgöras av en ren detektormatris med de enskilda detektorerna anordnade efter den nämnda fokallinjen, eller av en serie kanaler, vågledare eller fibrer som börjar vid fokallinjen och i vars andra ände, för var och en, en detektor är anordnad.
Slutligen är det fördelaktigt att låta elektrodmatrisen vara anordnad i eller i närheten av ett aktivt elektrooptiskt material utgörande hela eller en del av vâgledarens vägledande skikt på så sätt att avlänkaren är integrerad med den optiska vågledaren till en enda optisk komponent. Denna skall därvid i sin helhet kunna framställas fotolitografiskt. Även om den fördelaktigaste utformningen av uppfinningen är att denna är helt integrerad i tunnfilmsteknik så fungerar principen hos den föreliggande uppfinningen även i bulkut- förande.
Uppfinningen beskrivs närmare nedan under hänvisning till de bifogade figurerna l-4, där fig. l visar en känd optisk spektrumanalysator, 447 935 fig. 2 visar principen hos en spektrumanalysator enligt den föreliggande uppfinningen, fig. 3 visar en anordning enligt uppfinningen i mer skalenlig framställning, och där fig. 4 slutligen visar en avlänkare enligt uppfinningen i tvärsnitt.
I figur l visas en principskiss av en känd spektrumana- lysator som utnyttjar optisk signalbehandling. Hos denna an- ordning leds ljuset från en laserdiod (30) till en kollimer- ande geodetisk lins (31). Ljusledningen sker i en vâgledare (32) på ett substrat (33). Efter den kollimerande linsen (31) leds det nu kollimerade ljuset mot en transformlins (34) som bryter ljuset och fokuserar det mot en referensdetektor (35).
Vid sidan av det kollimerade ljuset finns en ytakustisk om- vandlare (36) som skickar i väg en ytakustisk våg (37) mot det kollimerade ljuset. Omvandlaren matats med den spänning som skall analyseras frekvensmässigt. Om en spänning med en viss frekvens driver omvandlaren (36), uppstår en ytakustisk våg med en mot denna frekvens svarande våglängd. Denna ger en avböjning av det kollimerade ljuset med en specifik vinkel.
Det avböjda ljuset fokuseras mot något av enheterna i en detekteringsanordning (38).
De geodetiska vàgledarlinserna är i praktiken endast någon eller några millimeter stora och är mycket svåra att tillverka. Eftersom de dessutom måste tillverkas med annan teknik än övriga komponenter uppstår besvärliga upplinjerings- problem.
I figur 2 visas en principskiss av en spektrumanalysator enligt den föreliggande uppfinningen. Här leds strålningen från strålningskällan (1) i en vâgledare (2) bestående av ett vägledande skikt (21 i fig. 4) på ett substrat fram till en elektrooptisk avlänkare (3). Denna ersätter såväl kolli- merande lins och transformlins som ytakustisk omvandlare i den_kända anordningen enligt fig. l. Denna avlänkare (3) består av en elektrodmatris (5) anordnad i eller i närheten in? 447 955 av ett elektrooptiskt aktivt material, till exempel titan- litium-niobat vilket samtidigt utgör vågledaren (2). Genom att låta elektrodmatrisen (5) bestå av elektroder (6-ll) med olika bredd och anordnade med olika mellanrum (l2-l6)an- ordnade efter en linje (18), visar sig avlänkaren (3) erhålla linsegenskaper. Härigenom är det inte nödvändigt att det in- fallande ljuset är kollimerat, vilket utesluter kravet på kollimerande lins. Dessutom krävs ej heller någon trans- formlins eftersom avlänkaren (3) genom val av elektropara- metrarna kan utformas så att den själv fouriertransformerar signalen. Härvid kommer olika frekvenser (fourierkomponeñter) att fokusera ljuset på olika punkter efter en fokallinje (20).
Av denna anledning är en detekteringsmatris (4) med ett antal detekterande element anordnade utefter fokallinjen (20). Där- vid erhåller man ett viktat spektrum på de detekterande ele- menten. Hur linjen (20) ser ut och var den ligger beror bland annat på elektrodmatrisens (5) konfiguration.
Figur 3 visar en spektrumanalysator enligt uppfinningen i riktigare proportioner. Här avger strålningskällan (1) strålning mot avlänkaren (3) vars elektroder är anslutna till ett matningsnät (25) som individuellt förser den med spänning.
Efter passage av avlänkaren (3) fokuseras ljuset mot detek- teringsmatrisen (4).
Figur 4 slutligen visar ett snitt efter linje (18) genom en spektrumanalysator enligt uppfinningen. Då är elektroderna (6-ll) anordnade på ett, med ett buffertskikt (23) försett aktivt medium (21) som samtidigt utgör vågledaren (2) på substratet (24). Det aktiva mediet kan exempelvis utgöras av titan-litium-niobat medan substratet (24) då exempelvis kan bestå av litium-niobat. Buffertskiktet (23) är till för att förhindra att elektroderna (6-ll) stör vägledningen i våg- ledaren (21) som företrädesvis är av typen variabelt index (graderad index). Även om det i regel är mest fördelaktigt att utnyttja möjligheten att göra hela spektrumanalysatorn enligt upp- finningen i integrerat utförande, exempelvis med hjälp av fotolitografisk teknik, ligger det även inom uppfinningens ram att använda bulkteknik.

Claims (6)

    447 935 6 PATENTKRAV
  1. l. Integrerad optisk spektrumanalysator bestående av en optisk strålningskälla (l) ansluten till en optisk vägleda- re (2), försedd med en elektrooptisk avlänkare (3) med en elektrodmatris (5) vilken avlänkare via elektroniska styr- kretsar är elektriskt ansluten till den signal som skall analyseras samt av en, likaså till vågledaren (2) ansluten detekteringsmatris (4), k ä n n e t e c k n a d av att nämnda elektrodmatris (5) består av ett antal i linje (18) liggande elektroder (6-ll) med olika bredd och anordnade med olika mellanrum (12-16) och med lika eller olika längd, med sin längsutsträckning i stort sett sammanfallande med den från strälningskällan (1) avgivna och mot avlänkaren (3) in- fallande optiska strâlningens (17) riktning, vilken riktning i huvudsak är vinkelrät mot nämnda linje (18), samt av att nämnda detekteringsmatris (4) är anordnad efter den elektro- optiska avlänkaren, sett i den optiska strâlningens utbred- ningsriktning och med de enskilda detekterande elementen anordnade efter en fokallinje (20), vilken till läge och rikt- ning är bestämd av elektrodkonfigurationens (6-16) förut- bestämda parametrar och utefter vilken varje punkt svarar mot en given frekvens hos den signal som skall analyseras.
  2. 2. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att elektrodernas (6-ll) bredd liksom mellanrummens (12-16) storlek varierar kvadratiskt efter linjen (18).
  3. 3. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav l eller 2, k ä n n e t e c k n a d av att varje elektrod (6-ll) är matad av en separat elektrisk signalspänning från nämnda elektroniska styrkretsar.
  4. 4. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav 1-3, k ä n n e t e c k n a d av att den optiska strålningskällan 447 935 (l) är en laserdiod eller en ytterligare vâgledare eller optisk fiber matad av en laserdiod.
  5. 5. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav l-4, k ä n n e t e c k n a d av att detekteringsanordningen (4) antingen består av en ren detektormatris med de enskilda detektorerna anordnade efter fokallinjen (20) eller av en serie kanaler som börjar vid fokallinjen (20) och i vars* andra ände en detektor är anordnad.
  6. 6. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav 1-5, k ä n n e t e c k n a d av att elektrodmatrisen (5) är an- ordnad i eller i närheten av ett elektrooptiskt aktivt material, utgörande hela eller del av vàgledarens vägled- ande skikt, pâ så sätt att avlänkaren (3) är integrerad med den optiska vàgledaren (2) till en enda komponent framställd genom fotolitografisk teknik.
SE8102671A 1981-04-27 1981-04-27 Linslos spektrumanalysator SE447935B (sv)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8102671A SE447935B (sv) 1981-04-27 1981-04-27 Linslos spektrumanalysator
NL8220148A NL8220148A (nl) 1981-04-27 1982-04-26 Lensloze spectrumanalysator.
PCT/SE1982/000137 WO1982003912A1 (en) 1981-04-27 1982-04-26 Lensless spectrum analyser
GB08235727A GB2110368B (en) 1981-04-27 1982-04-26 Lensless spectrum analyser
US06/457,109 US4511206A (en) 1981-04-27 1982-04-26 Lensless spectrum analyzer
EP82850087A EP0071589B1 (en) 1981-04-27 1982-04-26 Lensless spectrum analyzer
DE19823242685 DE3242685A1 (de) 1981-04-27 1982-04-26 Linsenloser spektrumanalysator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8102671A SE447935B (sv) 1981-04-27 1981-04-27 Linslos spektrumanalysator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE8102671L SE8102671L (sv) 1982-10-28
SE447935B true SE447935B (sv) 1986-12-22

Family

ID=20343692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8102671A SE447935B (sv) 1981-04-27 1981-04-27 Linslos spektrumanalysator

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4511206A (sv)
EP (1) EP0071589B1 (sv)
GB (1) GB2110368B (sv)
NL (1) NL8220148A (sv)
SE (1) SE447935B (sv)
WO (1) WO1982003912A1 (sv)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4712854A (en) * 1983-07-11 1987-12-15 Omron Tateisi Electronics Co. Optical waveguide and method of making the same
IT1223661B (it) * 1988-07-04 1990-09-29 Cselt Centro Studi Lab Telecom Deflettore elettro ottico
DE3904752A1 (de) * 1989-02-16 1990-08-23 Siemens Ag Vorrichtung fuer den optischen direktempfang mehrerer wellenlaengen
US5027055A (en) * 1990-01-10 1991-06-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Compact optical RF spectrum analyzer
US5002350A (en) * 1990-02-26 1991-03-26 At&T Bell Laboratories Optical multiplexer/demultiplexer
FR2670050B1 (fr) * 1990-11-09 1997-03-14 Thomson Csf Detecteur optoelectronique a semiconducteurs.
CN104102027A (zh) * 2013-04-10 2014-10-15 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电光调制器

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3997687A (en) * 1975-04-21 1976-12-14 Rca Corporation Method of preparing optical waveguides
US4403825A (en) * 1978-11-16 1983-09-13 Hughes Aircraft Company Integrated optics thin film devices and fabrication thereof
FR2459986A1 (fr) * 1979-06-22 1981-01-16 Commissariat Energie Atomique Lentille de fresnel integree
US4274049A (en) * 1979-08-28 1981-06-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Integrated optical R-F spectrum analyzer
US4285569A (en) * 1979-10-03 1981-08-25 Rockwell International Corporation CCD Driven integrated optical modulator array
DE3023147A1 (de) * 1980-06-20 1982-01-07 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Planare wellenleiterlinse, ihre verwendung und verfahren zu ihrer herstellung
DE3035849A1 (de) * 1980-09-23 1982-05-06 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Planare wellenleiter-bragg-linse

Also Published As

Publication number Publication date
EP0071589B1 (en) 1986-10-29
WO1982003912A1 (en) 1982-11-11
NL8220148A (nl) 1983-03-01
SE8102671L (sv) 1982-10-28
EP0071589A1 (en) 1983-02-09
GB2110368A (en) 1983-06-15
GB2110368B (en) 1985-01-30
US4511206A (en) 1985-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0048379B1 (de) Planare Wellenleiter-Bragg-Gitterstruktur und ihre Verwendung
EP0738899A1 (de) Vorrichtung zur Distanzmessung
US20080002932A1 (en) Method and Apparatus to Provide Multi-Channel Bulk Fiber Optical Power Detection
US10564269B2 (en) Compact test range for active optical target detectors
SE447935B (sv) Linslos spektrumanalysator
DE19651737C2 (de) Vorrichtung zum Messen des Neigungsgrads einer Linse
EP0230726A2 (en) Optical deflector device
US4900113A (en) Optical spectrum analyzer
JPH0264619A (ja) 電気光学デフレクタ
KR102071818B1 (ko) 구조물 모니터링 장치
US4001577A (en) Method and apparatus for acousto-optical interactions
US4439016A (en) Optical beam deflection system
EP0437596A1 (en) SCANNING DEVICE.
JPH02501551A (ja) 放電加工機
EP0043522B1 (de) Refraktometer
CN108362379A (zh) 一种宽谱段高分辨率光谱色散方法及装置
US5110368A (en) Device for spatially transmitting a plurality of signals over a fiberoptic monofilament
GB2185588A (en) Optical switching using holographic elements
JPH0816747B2 (ja) 光スペクトラムアナライザー
CN112326560A (zh) 一种多折面形光栅、高光谱探测装置及方法
SE453949B (sv) Anordning for overforing och fordelning av ljusstralning
GB2113834A (en) R.F. spectrum analyser
DE112018000523T5 (de) Beleuchtungsgerät
US11567176B2 (en) Optical deflection element, beam steering apparatus and moving body
JPH01107213A (ja) 光導波路素子

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8102671-8

Effective date: 19880822

Format of ref document f/p: F