SE447935B - Linslos spektrumanalysator - Google Patents
Linslos spektrumanalysatorInfo
- Publication number
- SE447935B SE447935B SE8102671A SE8102671A SE447935B SE 447935 B SE447935 B SE 447935B SE 8102671 A SE8102671 A SE 8102671A SE 8102671 A SE8102671 A SE 8102671A SE 447935 B SE447935 B SE 447935B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- optical
- spectrum analyzer
- deflector
- matrix
- analyzer according
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/17—Spectrum analysis; Fourier analysis with optical or acoustical auxiliary devices
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B6/12004—Combinations of two or more optical elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B6/122—Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
- G02B6/124—Geodesic lenses or integrated gratings
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/29—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
- G02F1/295—Analog deflection from or in an optical waveguide structure]
- G02F1/2955—Analog deflection from or in an optical waveguide structure] by controlled diffraction or phased-array beam steering
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
l0
447 935
En väsentlig nackdel med denna kända analysator är att
de geodetiska linserna är svåra och dyrbara att framställa.
Ett vanligt sätt att framställa dem är att diamantsvarva.
Det har hittills ej varit möjligt att framställa dem med
hjälp av fotolitografísk teknik, vilken används för fram-
ställning av komponenten i övrigt. Detta medför i sin tur
att den precisionskrävande upplinjeringen av de optiska
komponenterna blir besvärlig.
En annan nackdel med de kända spektrumanalysatorernar
är att de har såväl konstant analystid (T) som bandbredd (B).
Ändamålet med den föreliggande uppfinningen är därför
att ange en integrerad optisk spektrumanalysator som saknar
såväl diskret kollimerings- som transformlins men ändå utför
dessa funktioner, och som vidare visserligen har en fix tid-
bandbreddsprodukt (T x B) men där analystid eller bandbredd
kan väljas i stort sett godtyckligt så länge produkten är
kanstant. ' i
Föreliggande uppfinning löser dessa problem på det sätt
som anges i den kännetecknade delen av det bifogade huvud-
kravet. Härvid utgår man från att den integrerade optiska
spektrumanalysatorn består av en optisk strålningskälla
ansluten till en optisk vågledare. Denna vågledare är för-
sedd med en elektrooptisk avlänkare som är försedd med en
elektrodmatris och är via elektroniska styrkretsar ansluten
till den signal som skall analyseras. Spektrumanalysatorn,
enligt uppfinningen, består vidare av en till vâgledaren
ansluten detekteringsmatris.
Uppfinningen kännetecknas av att nämnda elektrodmatris
består av ett antal i linje liggande elektroder med olika
bredd och med olika mellanrum samt med lika eller olika längd.
. De är därvid anordnade med sin längsutsträckning i stort sett
sammanfallande med den från strålningskällan angivna och mot
avlänkaren infallande optiska strålningens riktning, vilken
riktning sålunda i huvudsak blir vinkelrät mot nämnda linje.
Vidare är diodmatrísen anordnad efter den elektrooptiska av-
länkaren, sett i den optiska strålningens utbredningsriktning.
447 935
Därvid låter man den detekterande matrisens element vara an-
ordnade efter en fokallinje, vilken till läge och riktning
är bestämd av elektrodkonfigurationens parametrar. Hos denna
fokallinje svara då en viss punkt mot en given frekvens hos
den signal som skall analyseras.
Det har visat sig vara fördelaktigt att exempelvis låta
elektrodernas bredd liksom deras mellanrum variera kvadratiskt
utefter den nämnda linjen. Detta ger en för ändamålet lämplig
linsverkan hos avlänkaren. Detta förutsätter dock att varje
elektrod i elektrodmatrisen matas med en separat elektrisk
signalspänning, vilken alstras av nämnda elektroniska styr-
kretsar.
Strålningskällan kan vara en laserdiod som kan vara
integrerad i vågledare eller utgöras av en ytterligare våg-
ledare eller optisk fiber som är optiskt kopplad till våg-
ledaren hos spektrumanalysatorn, vilken ytterligare vågledare
eller fiber kan vara matad av exempelvis en laserdiod.
Detekteringsmatrisen kan antingen utgöras av en ren
detektormatris med de enskilda detektorerna anordnade efter
den nämnda fokallinjen, eller av en serie kanaler, vågledare
eller fibrer som börjar vid fokallinjen och i vars andra ände,
för var och en, en detektor är anordnad.
Slutligen är det fördelaktigt att låta elektrodmatrisen
vara anordnad i eller i närheten av ett aktivt elektrooptiskt
material utgörande hela eller en del av vâgledarens vägledande
skikt på så sätt att avlänkaren är integrerad med den optiska
vågledaren till en enda optisk komponent. Denna skall därvid
i sin helhet kunna framställas fotolitografiskt.
Även om den fördelaktigaste utformningen av uppfinningen
är att denna är helt integrerad i tunnfilmsteknik så fungerar
principen hos den föreliggande uppfinningen även i bulkut-
förande.
Uppfinningen beskrivs närmare nedan under hänvisning
till de bifogade figurerna l-4, där
fig. l visar en känd optisk spektrumanalysator,
447 935
fig. 2 visar principen hos en spektrumanalysator enligt
den föreliggande uppfinningen,
fig. 3 visar en anordning enligt uppfinningen i mer
skalenlig framställning, och där
fig. 4 slutligen visar en avlänkare enligt uppfinningen
i tvärsnitt.
I figur l visas en principskiss av en känd spektrumana-
lysator som utnyttjar optisk signalbehandling. Hos denna an-
ordning leds ljuset från en laserdiod (30) till en kollimer-
ande geodetisk lins (31). Ljusledningen sker i en vâgledare
(32) på ett substrat (33). Efter den kollimerande linsen (31)
leds det nu kollimerade ljuset mot en transformlins (34) som
bryter ljuset och fokuserar det mot en referensdetektor (35).
Vid sidan av det kollimerade ljuset finns en ytakustisk om-
vandlare (36) som skickar i väg en ytakustisk våg (37) mot
det kollimerade ljuset. Omvandlaren matats med den spänning
som skall analyseras frekvensmässigt. Om en spänning med en
viss frekvens driver omvandlaren (36), uppstår en ytakustisk
våg med en mot denna frekvens svarande våglängd. Denna ger
en avböjning av det kollimerade ljuset med en specifik vinkel.
Det avböjda ljuset fokuseras mot något av enheterna i en
detekteringsanordning (38).
De geodetiska vàgledarlinserna är i praktiken endast
någon eller några millimeter stora och är mycket svåra att
tillverka. Eftersom de dessutom måste tillverkas med annan
teknik än övriga komponenter uppstår besvärliga upplinjerings-
problem.
I figur 2 visas en principskiss av en spektrumanalysator
enligt den föreliggande uppfinningen. Här leds strålningen
från strålningskällan (1) i en vâgledare (2) bestående av
ett vägledande skikt (21 i fig. 4) på ett substrat fram till
en elektrooptisk avlänkare (3). Denna ersätter såväl kolli-
merande lins och transformlins som ytakustisk omvandlare i
den_kända anordningen enligt fig. l. Denna avlänkare (3)
består av en elektrodmatris (5) anordnad i eller i närheten
in?
447 955
av ett elektrooptiskt aktivt material, till exempel titan-
litium-niobat vilket samtidigt utgör vågledaren (2). Genom
att låta elektrodmatrisen (5) bestå av elektroder (6-ll)
med olika bredd och anordnade med olika mellanrum (l2-l6)an-
ordnade efter en linje (18), visar sig avlänkaren (3) erhålla
linsegenskaper. Härigenom är det inte nödvändigt att det in-
fallande ljuset är kollimerat, vilket utesluter kravet på
kollimerande lins. Dessutom krävs ej heller någon trans-
formlins eftersom avlänkaren (3) genom val av elektropara-
metrarna kan utformas så att den själv fouriertransformerar
signalen. Härvid kommer olika frekvenser (fourierkomponeñter)
att fokusera ljuset på olika punkter efter en fokallinje (20).
Av denna anledning är en detekteringsmatris (4) med ett antal
detekterande element anordnade utefter fokallinjen (20). Där-
vid erhåller man ett viktat spektrum på de detekterande ele-
menten. Hur linjen (20) ser ut och var den ligger beror bland
annat på elektrodmatrisens (5) konfiguration.
Figur 3 visar en spektrumanalysator enligt uppfinningen
i riktigare proportioner. Här avger strålningskällan (1)
strålning mot avlänkaren (3) vars elektroder är anslutna till
ett matningsnät (25) som individuellt förser den med spänning.
Efter passage av avlänkaren (3) fokuseras ljuset mot detek-
teringsmatrisen (4).
Figur 4 slutligen visar ett snitt efter linje (18) genom
en spektrumanalysator enligt uppfinningen. Då är elektroderna
(6-ll) anordnade på ett, med ett buffertskikt (23) försett
aktivt medium (21) som samtidigt utgör vågledaren (2) på
substratet (24). Det aktiva mediet kan exempelvis utgöras av
titan-litium-niobat medan substratet (24) då exempelvis kan
bestå av litium-niobat. Buffertskiktet (23) är till för att
förhindra att elektroderna (6-ll) stör vägledningen i våg-
ledaren (21) som företrädesvis är av typen variabelt index
(graderad index).
Även om det i regel är mest fördelaktigt att utnyttja
möjligheten att göra hela spektrumanalysatorn enligt upp-
finningen i integrerat utförande, exempelvis med hjälp av
fotolitografisk teknik, ligger det även inom uppfinningens
ram att använda bulkteknik.
Claims (6)
- l. Integrerad optisk spektrumanalysator bestående av en optisk strålningskälla (l) ansluten till en optisk vägleda- re (2), försedd med en elektrooptisk avlänkare (3) med en elektrodmatris (5) vilken avlänkare via elektroniska styr- kretsar är elektriskt ansluten till den signal som skall analyseras samt av en, likaså till vågledaren (2) ansluten detekteringsmatris (4), k ä n n e t e c k n a d av att nämnda elektrodmatris (5) består av ett antal i linje (18) liggande elektroder (6-ll) med olika bredd och anordnade med olika mellanrum (12-16) och med lika eller olika längd, med sin längsutsträckning i stort sett sammanfallande med den från strälningskällan (1) avgivna och mot avlänkaren (3) in- fallande optiska strâlningens (17) riktning, vilken riktning i huvudsak är vinkelrät mot nämnda linje (18), samt av att nämnda detekteringsmatris (4) är anordnad efter den elektro- optiska avlänkaren, sett i den optiska strâlningens utbred- ningsriktning och med de enskilda detekterande elementen anordnade efter en fokallinje (20), vilken till läge och rikt- ning är bestämd av elektrodkonfigurationens (6-16) förut- bestämda parametrar och utefter vilken varje punkt svarar mot en given frekvens hos den signal som skall analyseras.
- 2. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att elektrodernas (6-ll) bredd liksom mellanrummens (12-16) storlek varierar kvadratiskt efter linjen (18).
- 3. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav l eller 2, k ä n n e t e c k n a d av att varje elektrod (6-ll) är matad av en separat elektrisk signalspänning från nämnda elektroniska styrkretsar.
- 4. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav 1-3, k ä n n e t e c k n a d av att den optiska strålningskällan 447 935 (l) är en laserdiod eller en ytterligare vâgledare eller optisk fiber matad av en laserdiod.
- 5. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav l-4, k ä n n e t e c k n a d av att detekteringsanordningen (4) antingen består av en ren detektormatris med de enskilda detektorerna anordnade efter fokallinjen (20) eller av en serie kanaler som börjar vid fokallinjen (20) och i vars* andra ände en detektor är anordnad.
- 6. Integrerad optisk spektrumanalysator enligt krav 1-5, k ä n n e t e c k n a d av att elektrodmatrisen (5) är an- ordnad i eller i närheten av ett elektrooptiskt aktivt material, utgörande hela eller del av vàgledarens vägled- ande skikt, pâ så sätt att avlänkaren (3) är integrerad med den optiska vàgledaren (2) till en enda komponent framställd genom fotolitografisk teknik.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8102671A SE447935B (sv) | 1981-04-27 | 1981-04-27 | Linslos spektrumanalysator |
NL8220148A NL8220148A (nl) | 1981-04-27 | 1982-04-26 | Lensloze spectrumanalysator. |
PCT/SE1982/000137 WO1982003912A1 (en) | 1981-04-27 | 1982-04-26 | Lensless spectrum analyser |
GB08235727A GB2110368B (en) | 1981-04-27 | 1982-04-26 | Lensless spectrum analyser |
US06/457,109 US4511206A (en) | 1981-04-27 | 1982-04-26 | Lensless spectrum analyzer |
EP82850087A EP0071589B1 (en) | 1981-04-27 | 1982-04-26 | Lensless spectrum analyzer |
DE19823242685 DE3242685A1 (de) | 1981-04-27 | 1982-04-26 | Linsenloser spektrumanalysator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8102671A SE447935B (sv) | 1981-04-27 | 1981-04-27 | Linslos spektrumanalysator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8102671L SE8102671L (sv) | 1982-10-28 |
SE447935B true SE447935B (sv) | 1986-12-22 |
Family
ID=20343692
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8102671A SE447935B (sv) | 1981-04-27 | 1981-04-27 | Linslos spektrumanalysator |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4511206A (sv) |
EP (1) | EP0071589B1 (sv) |
GB (1) | GB2110368B (sv) |
NL (1) | NL8220148A (sv) |
SE (1) | SE447935B (sv) |
WO (1) | WO1982003912A1 (sv) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4712854A (en) * | 1983-07-11 | 1987-12-15 | Omron Tateisi Electronics Co. | Optical waveguide and method of making the same |
IT1223661B (it) * | 1988-07-04 | 1990-09-29 | Cselt Centro Studi Lab Telecom | Deflettore elettro ottico |
DE3904752A1 (de) * | 1989-02-16 | 1990-08-23 | Siemens Ag | Vorrichtung fuer den optischen direktempfang mehrerer wellenlaengen |
US5027055A (en) * | 1990-01-10 | 1991-06-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Compact optical RF spectrum analyzer |
US5002350A (en) * | 1990-02-26 | 1991-03-26 | At&T Bell Laboratories | Optical multiplexer/demultiplexer |
FR2670050B1 (fr) * | 1990-11-09 | 1997-03-14 | Thomson Csf | Detecteur optoelectronique a semiconducteurs. |
CN104102027A (zh) * | 2013-04-10 | 2014-10-15 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 电光调制器 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3997687A (en) * | 1975-04-21 | 1976-12-14 | Rca Corporation | Method of preparing optical waveguides |
US4403825A (en) * | 1978-11-16 | 1983-09-13 | Hughes Aircraft Company | Integrated optics thin film devices and fabrication thereof |
FR2459986A1 (fr) * | 1979-06-22 | 1981-01-16 | Commissariat Energie Atomique | Lentille de fresnel integree |
US4274049A (en) * | 1979-08-28 | 1981-06-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Integrated optical R-F spectrum analyzer |
US4285569A (en) * | 1979-10-03 | 1981-08-25 | Rockwell International Corporation | CCD Driven integrated optical modulator array |
DE3023147A1 (de) * | 1980-06-20 | 1982-01-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Planare wellenleiterlinse, ihre verwendung und verfahren zu ihrer herstellung |
DE3035849A1 (de) * | 1980-09-23 | 1982-05-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Planare wellenleiter-bragg-linse |
-
1981
- 1981-04-27 SE SE8102671A patent/SE447935B/sv not_active IP Right Cessation
-
1982
- 1982-04-26 NL NL8220148A patent/NL8220148A/nl unknown
- 1982-04-26 EP EP82850087A patent/EP0071589B1/en not_active Expired
- 1982-04-26 GB GB08235727A patent/GB2110368B/en not_active Expired
- 1982-04-26 WO PCT/SE1982/000137 patent/WO1982003912A1/en active Application Filing
- 1982-04-26 US US06/457,109 patent/US4511206A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0071589B1 (en) | 1986-10-29 |
WO1982003912A1 (en) | 1982-11-11 |
NL8220148A (nl) | 1983-03-01 |
SE8102671L (sv) | 1982-10-28 |
EP0071589A1 (en) | 1983-02-09 |
GB2110368A (en) | 1983-06-15 |
GB2110368B (en) | 1985-01-30 |
US4511206A (en) | 1985-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0048379B1 (de) | Planare Wellenleiter-Bragg-Gitterstruktur und ihre Verwendung | |
EP0738899A1 (de) | Vorrichtung zur Distanzmessung | |
US20080002932A1 (en) | Method and Apparatus to Provide Multi-Channel Bulk Fiber Optical Power Detection | |
US10564269B2 (en) | Compact test range for active optical target detectors | |
SE447935B (sv) | Linslos spektrumanalysator | |
DE19651737C2 (de) | Vorrichtung zum Messen des Neigungsgrads einer Linse | |
EP0230726A2 (en) | Optical deflector device | |
US4900113A (en) | Optical spectrum analyzer | |
JPH0264619A (ja) | 電気光学デフレクタ | |
KR102071818B1 (ko) | 구조물 모니터링 장치 | |
US4001577A (en) | Method and apparatus for acousto-optical interactions | |
US4439016A (en) | Optical beam deflection system | |
EP0437596A1 (en) | SCANNING DEVICE. | |
JPH02501551A (ja) | 放電加工機 | |
EP0043522B1 (de) | Refraktometer | |
CN108362379A (zh) | 一种宽谱段高分辨率光谱色散方法及装置 | |
US5110368A (en) | Device for spatially transmitting a plurality of signals over a fiberoptic monofilament | |
GB2185588A (en) | Optical switching using holographic elements | |
JPH0816747B2 (ja) | 光スペクトラムアナライザー | |
CN112326560A (zh) | 一种多折面形光栅、高光谱探测装置及方法 | |
SE453949B (sv) | Anordning for overforing och fordelning av ljusstralning | |
GB2113834A (en) | R.F. spectrum analyser | |
DE112018000523T5 (de) | Beleuchtungsgerät | |
US11567176B2 (en) | Optical deflection element, beam steering apparatus and moving body | |
JPH01107213A (ja) | 光導波路素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 8102671-8 Effective date: 19880822 Format of ref document f/p: F |