RU99112623A - METHOD FOR SURFACE RELIEF MEASUREMENT BY SCANNING PROBE MICROSCOPE - Google Patents

METHOD FOR SURFACE RELIEF MEASUREMENT BY SCANNING PROBE MICROSCOPE

Info

Publication number
RU99112623A
RU99112623A RU99112623/28A RU99112623A RU99112623A RU 99112623 A RU99112623 A RU 99112623A RU 99112623/28 A RU99112623/28 A RU 99112623/28A RU 99112623 A RU99112623 A RU 99112623A RU 99112623 A RU99112623 A RU 99112623A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
probe
feature
scanning
current
area
Prior art date
Application number
RU99112623/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2175761C2 (en
Inventor
Ростислав Владимирович Лапшин
Original Assignee
Государственный научно-исследовательский институт физических проблем им. Ф.В. Лукина
Filing date
Publication date
Application filed by Государственный научно-исследовательский институт физических проблем им. Ф.В. Лукина filed Critical Государственный научно-исследовательский институт физических проблем им. Ф.В. Лукина
Priority to RU99112623A priority Critical patent/RU2175761C2/en
Priority claimed from RU99112623A external-priority patent/RU2175761C2/en
Publication of RU99112623A publication Critical patent/RU99112623A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2175761C2 publication Critical patent/RU2175761C2/en

Links

Claims (3)

1. Способ измерения рельефа поверхности сканирующим зондовым микроскопом, заключающийся в сканировании исследуемой поверхности в горизонтальной плоскости с одновременным поддержанием постоянного зазора между зондом и образцом в вертикальной плоскости, а также линеаризации измерений путем компенсации возникающей при движении манипулятора разности между заданной величиной перемещения и фактической, измеряемой с помощью линейных датчиков, отличающийся тем, что вместо датчиков положения для компенсации термодрейфа головки и крипа пьезоманипуляторов используются локальные особенности рельефа поверхности, служащие опорными точками при выполнении перемещений зонда, для чего, вначале, производится сканирование апертуры и программное распознавание ближайших соседей, среди которых находится текущая особенность, а также в соответствии с выбранным способом локального связывания следующая; далее, осуществляется операция скиппинга; затем, выполняется перемещение зонда в позицию следующей особенности относительно положения текущей; после чего описанный выше процесс повторяется до тех пор, пока не будет получен скан заданных размеров; используя теперь распределенную в пространстве сканирования сетку из локальных калибровочных коэффициентов и углов косости, найденную в процессе измерения данным способом эталонной поверхности, производиться исправление искажений изображения, вызванных нелинейностью, неортогональностью и кауплингом пьезоманипуляторов.1. The method of measuring the surface topography with a scanning probe microscope, which consists in scanning the test surface in a horizontal plane while maintaining a constant gap between the probe and the sample in the vertical plane, as well as linearizing the measurements by compensating for the difference that occurs when the manipulator moves between a given amount of displacement and the actual measured using linear sensors, characterized in that instead of position sensors to compensate for the thermal drift of the head and creep zomanipulyatorov using local surface topography features serving support points when the displacement of the probe, which, at first, made aperture scanning and recognition software nearest neighbors, among which is the current feature, as well as in accordance with local bonding method selected next; further, a skipping operation is performed; then, the probe is moved to the position of the next feature relative to the position of the current one; after which the process described above is repeated until a scan of the specified size is obtained; Now using the grid distributed in the scanning space from the local calibration coefficients and oblique angles found during the measurement of the reference surface in this way, image distortions caused by non-linearity, non-orthogonality, and piezomanipulators coupling are corrected. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что для выполнения перемещения зонда из текущей особенности в любую другую заданную, лежащую в пределах отсканированной области, на каждом участке маршрута, выполняется сканирование апертуры текущей особенности, распознавание особенностей-соседей, выявление среди них текущей и определение следующей, совпадающей с заданным маршрутом; после перемещения зонда в найденную позицию следующей особенности процесс выполняется циклически до тех пор, пока зонд не достигнет конечной особенности маршрута. 2. The method according to p. 1, characterized in that to perform the movement of the probe from the current feature to any other given, lying within the scanned area, on each section of the route, the aperture of the current feature is scanned, recognition of neighboring features, identification of the current one among them and determining the next one that matches the given route; After moving the probe to the found position of the next feature, the process is performed cyclically until the probe reaches the final feature of the route. 3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью автоматического возврата зонда в операционную зону на образце, где предварительно изготовлена разветвленная система сходящихся к зоне цепочек из особенностей, указывается исходная особенность и направление движения к зоне, размер апертуры фиксируется, а момент достижения зондом зоны определяется по отсутствию среди распознанных соседей следующей особенности. 3. The method according to p. 1, characterized in that, in order to automatically return the probe to the operating area on the sample, where a branched system of chains converging to the area is preliminarily made from the features, the initial feature and the direction of movement to the area are indicated, the size of the aperture is fixed, and the moment the probe reaches the zone is determined by the absence of the following features among the recognized neighbors.
RU99112623A 1999-06-08 1999-06-08 Method for measuring surface relief by means of scanning probe type microscope RU2175761C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99112623A RU2175761C2 (en) 1999-06-08 1999-06-08 Method for measuring surface relief by means of scanning probe type microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99112623A RU2175761C2 (en) 1999-06-08 1999-06-08 Method for measuring surface relief by means of scanning probe type microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU99112623A true RU99112623A (en) 2001-04-27
RU2175761C2 RU2175761C2 (en) 2001-11-10

Family

ID=20221194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99112623A RU2175761C2 (en) 1999-06-08 1999-06-08 Method for measuring surface relief by means of scanning probe type microscope

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2175761C2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE472508T1 (en) * 2005-11-02 2010-07-15 Ilyanok Alexander Mikhailovich NANOLITHOGRAPHY DEVICE WITH SCANNING BEAM AND OPERATING METHOD THEREFOR
RU2540283C2 (en) * 2010-05-26 2015-02-10 Ростислав Владимирович Лапшин Walking robot-nanopositioner and method of controlling movement thereof
RU2452934C2 (en) * 2010-06-30 2012-06-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена" Method of preparing thin bismuth films on mica for detecting boundaries of units via atomic force microscopy
RU2459251C2 (en) * 2010-09-15 2012-08-20 Закрытое Акционерное Общество "Нанотехнология Мдт" Method of selecting local objects on digital surface images
CN108509208A (en) * 2018-03-30 2018-09-07 蚌埠国显科技有限公司 A kind of OTP probes positioning device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4332221B2 (en) Improved surface inspection system with misalignment error correction and adaptive illumination
JP4923942B2 (en) Pantograph measuring device by image processing
US6066845A (en) Laser scanning method and system
RU2478489C1 (en) Device to measure current collector height
JPS63298101A (en) Non-contact determination method and apparatus for position of linear feature of article
EP2821747B1 (en) Pantograph measurement method, and pantograph measurement device
EP2420796B1 (en) Shape measuring method and shape measuring apparatus using white light interferometry
RU99112623A (en) METHOD FOR SURFACE RELIEF MEASUREMENT BY SCANNING PROBE MICROSCOPE
EP0132122A2 (en) Apparatus for inspecting mask for use in manufacturing large scale integrated circuits
CN1334599A (en) Apparatus for forming conductor connection
JP2003527560A (en) Method and apparatus for mapping surface topography of a substrate
KR101804527B1 (en) 3-Dimensional Shape Measuring Apparatus Using Multi Wavelength Lights Scanning Interferometry
EP3936369A1 (en) Pantograph displacement measuring device, and trolley-wire hard-spot detection method
US5838434A (en) Semiconductor device lead calibration unit
JP3615988B2 (en) Focus correction method for scanning microscope and scanning microscope
CN115951103A (en) Wafer testing device and wafer testing method
CN111504245B (en) Bridge linear measuring method in operation period
CN115112047A (en) Laser reciprocating scanning system and method thereof
JP4183576B2 (en) Scanning surface shape measuring apparatus and surface shape measuring method
JPH11351836A (en) Solid shape detecting device and method thereof
Hofler et al. Monitoring and inspecting overhead wires and supporting structures
JPS63168708A (en) Positioning device for rotation
JPH10311705A (en) Image input apparatus
KR100229070B1 (en) Inspection method and device of cream solder of pcb
CN113433551B (en) Measuring point layout method for detecting cracks of underwater plane-shaped pier through imaging sonar