RU98116049A - Анализатор поля излучения - Google Patents

Анализатор поля излучения

Info

Publication number
RU98116049A
RU98116049A RU98116049/09A RU98116049A RU98116049A RU 98116049 A RU98116049 A RU 98116049A RU 98116049/09 A RU98116049/09 A RU 98116049/09A RU 98116049 A RU98116049 A RU 98116049A RU 98116049 A RU98116049 A RU 98116049A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation
analyzer according
field analyzer
modes
fields
Prior art date
Application number
RU98116049/09A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2155356C2 (ru
Inventor
Майкл Дженкинс Ричард
Вилльям Джон Девере Робер
Original Assignee
Дзе Секретэри Оф Стейт Фор Дефенс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from GB9601645A external-priority patent/GB2309608A/en
Application filed by Дзе Секретэри Оф Стейт Фор Дефенс filed Critical Дзе Секретэри Оф Стейт Фор Дефенс
Publication of RU98116049A publication Critical patent/RU98116049A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2155356C2 publication Critical patent/RU2155356C2/ru

Links

Claims (18)

1. Анализатор (10) поля излучения для анализа, по меньшей мере, частично когерентного излучения, принимаемого от объекта, причем анализатор содержит сумматор (12) излучения для получения интерференционных сигналов и средство (34) обнаружения для обнаружения интерференционных сигналов, отличающийся тем, что (1) сумматор (12) размещается для сложения излучения, принимаемого от объекта, с каждым из множества полей ортогональных пространственных мод излучения для того, чтобы получить интерференционные сигналы, и (2) средство (34) обнаружения размещается для проведения анализа излучения от объекта в виде спектра пространственных мод.
2. Анализатор поля излучения по п. 1, отличающийся тем, что сумматор излучения содержит многомодовую волноводную структуру 12.
3. Анализатор поля излучения по п. 1, отличающийся тем, что анализатор включает в себя преобразователь (28) излучения для возбуждения полей пространственных мод излучения с помощью преобразования излучения, по меньшей мере, одной моды в излучение с разными модами.
4. Анализатор поля излучения по п. 3, отличающийся тем, что преобразователь излучения предусматривает средство для возбуждения набора полей пространственных мод излучения из входного сигнала основной моды.
5. Анализатор поля излучения по п. 3, отличающийся тем, что в состав преобразователя излучения входит, по меньшей мере, одно зеркало (350), размещенное с возможностью поворота относительно двух осей для того, чтобы возбуждать набор полей мод излучения.
6. Анализатор поля излучения по п. 5, отличающийся тем, что анализатор включает, по меньшей мере, два таких зеркала (350, 352).
7. Анализатор поля излучения по п. 6, отличающийся тем, что преобразователь излучения содержит средства для селективного возбуждения симметричных или антисимметричных полей мод.
8. Анализатор поля излучения по любому из пп. 6-7, отличающийся тем, что преобразователь излучения устраивается для возбуждения сигнала одного поля мод излучения в любое особое время.
9. Анализатор поля излучения по п. 3, отличающийся тем, что преобразователь излучения содержит средства для выпускания двух уместно наклонных и имеющих фазовый сдвиг лучах света в одиночном многомодовом волноводе.
10. Анализатор поля излучения по любому из пп. 1-9, отличающийся тем, что анализатор включает основной источник (24) лазерного излучения, устроенный, чтобы осветить объект через комбинатор излучения.
11. Анализатор поля излучения по любому из пп. 1-10, отличающийся тем, что комбинатор излучения устраивается, чтобы возбуждать интерференционные сигналы фазовой модуляцией полей пространственных мод излучения по отношению к излучению, полученному от объекта.
12. Анализатор поля излучения по п. 1, отличающийся тем, что комбинатор излучения содержит диэлектрический расщепитель (38) луча.
13. Анализатор поля излучения по любому из пп. 1-2, отличающийся тем, что комбинатор излучения содержит соединитель многомодового интерференционного волновода.
14. Анализатор поля излучения (732, 728) по п. 3, отличающийся тем, что анализатор входит в состав лазерной локационной системы (700), причем локационная система дополнительно содержит источник (706) лазерного излучения для освещения объекта и для обеспечения преобразователя (728) излучения опорным сигналом (714), средства (722, 720, 718, 716) для приема излучения, отраженного от объекта и для ввода упомянутого принятого излучения в упомянутый анализатор и средство (736) для проведения модового анализа на основе принимаемого излучения.
15. Анализатор поля излучения (10) для анализа, по меньшей мере, частично когерентного излучения, принимаемого от объекта, содержащий средство (12) обработки для получения интерференционных сигналов и средство (34) для обнаружения интерференционных сигналов, отличающийся тем, что средство обработки является интегральным и размещенным для сложения излучения, принимаемого от объекта, с одним или более полями ортогональных пространственных мод излучения для получения интерференционных сигналов, и средство обнаружения размещается для выполнения анализа излучения от объекта в виде спектра пространственных мод.
16. Анализатор поля излучения по п. 15, отличающийся тем, что средство (12) обработки содержит один или более оптических элементов (38) для сложения упомянутого излучения от объекта с полями ортогональных мод излучения, чтобы получить интерференционные сигналы, и одну или более волноводных структур (14, 16, 18, 20) для направления излучения и полей мод излучения к и от оптических элементов (38).
17. Анализатор поля излучения по п. 16, отличающийся тем, что средство (12) обработки содержит один или более элементов (210, 213, 214) унитарной конструкции, к которой принадлежат волноводные структуры, и которая включает средства определения местонахождения для размещения оптических элементов (38).
18. Анализатор поля излучения по п. 17, отличающийся тем, что элементы (210, 213, 214) содержат материал, включающий алюминий.
RU98116049/09A 1996-01-26 1997-01-22 Анализатор поля излучения RU2155356C2 (ru)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9601645A GB2309608A (en) 1996-01-26 1996-01-26 A radiation field analyzer
GB9615240.0 1996-07-19
GB9601645.6 1996-07-19
GBGB9615240.0A GB9615240D0 (en) 1996-01-26 1996-07-19 Radiation field analyser

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU98116049A true RU98116049A (ru) 2000-05-10
RU2155356C2 RU2155356C2 (ru) 2000-08-27

Family

ID=26308537

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU98116049/09A RU2155356C2 (ru) 1996-01-26 1997-01-22 Анализатор поля излучения

Country Status (8)

Country Link
EP (1) EP0876625B1 (ru)
JP (1) JP3798025B2 (ru)
CN (1) CN1105310C (ru)
CA (1) CA2242518C (ru)
DE (1) DE69714014T2 (ru)
GB (1) GB2323990B (ru)
RU (1) RU2155356C2 (ru)
WO (1) WO1997027500A1 (ru)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2328738B (en) * 1997-06-16 2002-03-06 Secr Defence Radiation field analyser
GB0201950D0 (en) 2002-01-29 2002-03-13 Qinetiq Ltd Multimode interference optical waveguide device
GB0201969D0 (en) 2002-01-29 2002-03-13 Qinetiq Ltd Integrated optics devices
GB0306008D0 (en) * 2003-03-15 2003-04-23 Qinetiq Ltd Optical device
GB0306634D0 (en) * 2003-03-22 2003-04-30 Qinetiq Ltd Optical wavelength division multiplexer/demultiplexer device
GB2404450A (en) * 2003-07-26 2005-02-02 Qinetiq Ltd Variable optical attenuator with movable reflector and hollow core waveguides
RU2319305C2 (ru) * 2005-09-30 2008-03-10 Валентин Николаевич Самойлов Способ передачи и приема информации и устройство для его осуществления
GB0801492D0 (en) * 2008-01-28 2008-03-05 Qinetiq Ltd Optical transmitters and receivers for quantum key distribution
US8121487B2 (en) 2008-02-05 2012-02-21 Honeywell International Inc. System and method for free space micro machined optical bench
WO2011158134A2 (en) * 2010-06-15 2011-12-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Automated crystal identification achieved via modifiable templates
JP5411318B2 (ja) * 2012-06-04 2014-02-12 日本電信電話株式会社 光部品位置調整方法
CN104090331B (zh) * 2014-06-30 2017-01-11 北京工业大学 一种高效紧凑矩形环谐振腔波导型光滤波器
US9921256B2 (en) * 2015-09-08 2018-03-20 Cpg Technologies, Llc Field strength monitoring for optimal performance

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4340304A (en) * 1978-08-11 1982-07-20 Rockwell International Corporation Interferometric method and system
US4305666A (en) * 1979-10-24 1981-12-15 Massachusetts Institute Of Technology Optical heterodyne detection system and method
US4716414A (en) * 1984-05-10 1987-12-29 The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland Super resolution imaging system
US4914443A (en) * 1988-07-26 1990-04-03 At&T Bell Laboratories Angle diversity signal separator using mode conversion

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU98116049A (ru) Анализатор поля излучения
US5999262A (en) Process and apparatus for detecting structural changes of specimens
US5365237A (en) Microwave camera
US5619326A (en) Method of sample valuation based on the measurement of photothermal displacement
US4906092A (en) Range doppler self-referencing imaging system
KR960042049A (ko) 광학적 측정방법 및 광학적 측정장치
NL1006016C2 (nl) Ellipsometer met twee lasers.
GB2301665A (en) Measuring gas concentration using infrared absorbtion
KR850000669A (ko) 거리측정 시스템
CN101072996A (zh) 多点检验设备
US11243298B2 (en) Combining high power path optical beams into a single spatial mode optical beam
US6016196A (en) Multiple beam pair optical imaging
CA2101996A1 (en) Validation of Optical Ranging of a Target Surface in a Cluttered Environment
IL138815A (en) Arrangement and method to apply diffusing wave spectroscopy to measure the properties of multiphase systems, as well as the changes therein
CN106680831B (zh) 激光主动相干平衡探测偏振分析仪
RU2225015C2 (ru) Способ и устройство для измерения скорости с применением эффекта доплера
CA2197716A1 (en) Optical interferometric current sensor and a method for measuring an electrical current
WO2019109772A1 (zh) 光散射共焦激发收集系统
EP0908710A3 (en) Apparatus and method for measuring characteristics of light
US5088808A (en) Range Doppler self-referencing imaging system
RU2224267C2 (ru) Способ обнаружения объектов и определения их местоположения и устройство для его осуществления
JP2019168335A (ja) 測定システム
KR970071042A (ko) 광학 모니터용 텔레센트릭 반사 헤드
SU1067449A1 (ru) Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов
Chance Multielement phased arrays for phase modulation imaging