RU96120357A - SILICON CARBIDE ETCHING METHOD - Google Patents

SILICON CARBIDE ETCHING METHOD

Info

Publication number
RU96120357A
RU96120357A RU96120357/25A RU96120357A RU96120357A RU 96120357 A RU96120357 A RU 96120357A RU 96120357/25 A RU96120357/25 A RU 96120357/25A RU 96120357 A RU96120357 A RU 96120357A RU 96120357 A RU96120357 A RU 96120357A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layer
substrate
applying
silicon carbide
mask
Prior art date
Application number
RU96120357/25A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Теро Кристин
А.Нортон Патриция
Original Assignee
Моторола, Инк.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Моторола, Инк. filed Critical Моторола, Инк.
Publication of RU96120357A publication Critical patent/RU96120357A/en

Links

Claims (7)

1. Способ травления карбида кремния, отличающийся тем, что обеспечивают подложку из карбида кремния, формируют слой маски путем нанесения слоя материала на подложку, причем данный материал имеет показатель твердости по Моосу 4 и выше, формируют рисунок на слое маски, путем открытия нижележащих участков подложки, и травят эти нижележащие участки подложки с использованием плазмы.1. The method of etching silicon carbide, characterized in that they provide a substrate of silicon carbide, form a mask layer by applying a layer of material on the substrate, and this material has a Mohs hardness of 4 or higher, form a pattern on the mask layer, by opening the underlying portions of the substrate , and etch these underlying portions of the substrate using plasma. 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой маски формируют посредством нанесения слоя двуокиси кремния на подложку и нанесения слоя платины на двуокись кремния. 2. The method according to claim 1, characterized in that the layer of the mask is formed by applying a layer of silicon dioxide on a substrate and applying a layer of platinum on silicon dioxide. 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой маски формируют посредством нанесения слоя LaB6 на подложку.3. The method according to claim 1, characterized in that the layer of the mask is formed by applying a layer of LaB 6 on the substrate. 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой маски формируют посредством нанесения слоя никеля на подложку. 4. The method according to claim 1, characterized in that the mask layer is formed by applying a layer of Nickel on the substrate. 5. Способ по п.4, отличающийся тем, что наносят слой никеля толщиной по меньшей мере 50 нм. 5. The method according to claim 4, characterized in that a nickel layer is applied at least 50 nm thick. 6. Способ по пп.1 - 4 или 5, отличающийся тем, что нижележащие участки травят с использованием химического процесса травления смесью кислорода и гексафторида серы. 6. The method according to claims 1 to 4 or 5, characterized in that the underlying areas are etched using the chemical etching process with a mixture of oxygen and sulfur hexafluoride. 7. Способ по п.6, отличающийся тем, что в химическом процессе травления смесью кислорода и гексафторида серы используют смесь 85% кислорода и 15% гексафторида серы. 7. The method according to claim 6, characterized in that in the chemical process of etching with a mixture of oxygen and sulfur hexafluoride, a mixture of 85% oxygen and 15% sulfur hexafluoride is used.
RU96120357/25A 1995-10-02 1996-09-30 SILICON CARBIDE ETCHING METHOD RU96120357A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/538,064 1995-10-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU96120357A true RU96120357A (en) 1998-12-10

Family

ID=

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2708812C1 (en) * 2019-05-08 2019-12-11 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого" (ФГАОУ ВО "СПбПУ") Method of processing surface of silicon carbide plates in low-temperature inductively coupled plasma

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2708812C1 (en) * 2019-05-08 2019-12-11 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого" (ФГАОУ ВО "СПбПУ") Method of processing surface of silicon carbide plates in low-temperature inductively coupled plasma

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR890003002A (en) Dry etching method
DE3863376D1 (en) MATERIALS AND METHOD FOR ETCHING TUNGSTE RAMPOLYCIDES WITH THE AID OF THE SILICIDES AS A MASK.
EP1006409A3 (en) Method for patterning a semiconductor wafer using a mask that has several regions with different scattering ability
KR960005829A (en) Etching Method of Ferroelectric Film
EP0358350A3 (en) Forming a Prescribed Pattern on a Semiconductor Device Layer
RU96120357A (en) SILICON CARBIDE ETCHING METHOD
KR960035802A (en) Fine pattern formation method and metal wiring formation method using the same
KR970023814A (en) Semiconductor Dry Etching Method
KR960026300A (en) Fine pattern manufacturing method
JPS5787175A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
KR920007067A (en) Method of forming contact hole during semiconductor manufacturing
JPS56115534A (en) Formation of pattern
KR900005849A (en) Transparent electrode of EL display device and manufacturing method thereof
ATE209395T1 (en) SEMICONDUCTOR ARRANGEMENT AND METHOD FOR PRODUCING IT
KR970077243A (en) Method of removing polymer from semiconductor device
KR970008398A (en) Etch end point detection method in semiconductor manufacturing process
KR960001877A (en) Fine pattern formation method
JPS6469064A (en) Manufacture of oxide superconducting wiring
JPS54162460A (en) Electrode forming method
JPS6466942A (en) Formation of thin-film pattern
KR970054598A (en) Method of forming fine contact hole in semiconductor device
KR920018826A (en) Thin Film Formation Method of Semiconductor Device
KR950012848A (en) Manufacturing Method of Semiconductor Device
JPS57180130A (en) Pattern formation
KR930020601A (en) Polymer removal method generated when forming polysilicon pattern