Claims (1)
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для диагностирования неисправностей коммутатора с многоступенчатой структурой соединения ключевых элементов, управляемых позиционными кодами каждой ступенью в составе измерительных систем, предназначенных для измерения сигналов от большого количества тензорезисторов. Осуществляют измерение выходных сигналов тензорезисторов, индикацию результатов измерений, подсоединение устройства индикации к устройству диагностирования, построчное считывание на него из устройства индикации результатов измерений и диагностирование неисправностей коммутатора, при котором из общего количества каналов коммутатора с показаниями, соответствующими обрывам и коротким замыканиям в цепях сбора измерительной информации, выделяют каналы, показания которых соответствуют обрывам или коротким замыканиям в цепях сбора измерительной информации из-за неисправностей в цепях управления коммутатора. При этом результаты измерений выводят на устройство индикации по каждой исполнительной части коммутатора построчно, в каждой строке количество результатов измерений равно количеству линий позиционного управления ключевыми элементами первой ступени исполнительной части коммутатора, количество строк равно частному от деления количества каналов исполнительной части коммутатора на количество результатов измерения в строке, и по результатам измерений, соответствующим обрывам и коротким замыканиям в цепях сбора измерительной информации, определяют наличие и тип неисправности для соответствующей ступени управления коммутатора. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. 2 ил. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. 2 ил. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. 2 ил. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. Обеспечивается диагностирование неисправностей коммутатора, которые вызывают неприсоединение или одновременное присоединение двух и более тензорезисторов через коммутатор по входу измерительного устройства. 2 ил.The invention relates to the field of measurement technology and can be used to diagnose malfunctions of a switch with a multi-stage connection structure of key elements controlled by position codes at each stage in measuring systems designed to measure signals from a large number of strain gages. Measure the output signals of the strain gauges, display the measurement results, connect the display device to the diagnostic device, read it line by line from the display device of the measurement results and diagnose the failure of the switch, in which from the total number of switch channels with indications corresponding to open and short circuits in the collection circuit information, select channels whose readings correspond to breaks or short circuits in the collection circuits of eritelnoy information due to faults in the switch control circuits. In this case, the measurement results are output to the display device for each executive part of the switch line by line, in each line the number of measurement results is equal to the number of positional control lines of key elements of the first stage of the executive part of the switch, the number of lines is equal to the quotient of dividing the number of channels of the executive part of the switch by the number of measurement results in line, and according to the measurement results corresponding to breaks and short circuits in the circuits of the collection of measuring information and, determine the presence and type of fault for the corresponding control stage of the switch. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. 2 ill. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. 2 ill. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. 2 ill. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. Diagnostics is provided of the malfunctions of the switch that cause the non-attachment or simultaneous connection of two or more strain gages through the switch at the input of the measuring device. 2 ill.