RU93042335A - Способ получения полуизолирующего арсенида галлия - Google Patents

Способ получения полуизолирующего арсенида галлия

Info

Publication number
RU93042335A
RU93042335A RU93042335/26A RU93042335A RU93042335A RU 93042335 A RU93042335 A RU 93042335A RU 93042335/26 A RU93042335/26 A RU 93042335/26A RU 93042335 A RU93042335 A RU 93042335A RU 93042335 A RU93042335 A RU 93042335A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
agp
heat treatment
irradiation
single crystals
parameters
Prior art date
Application number
RU93042335/26A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2046164C1 (ru
Inventor
Н.Г. Колин
В.Г. Косушкин
К.Н. Норочный
А.И. Нойфех
Т.П. Свистельникова
Original Assignee
Филиал научно-исследовательского физико-химического института им.Л.Я.Карпова
Filing date
Publication date
Application filed by Филиал научно-исследовательского физико-химического института им.Л.Я.Карпова filed Critical Филиал научно-исследовательского физико-химического института им.Л.Я.Карпова
Priority to RU93042335A priority Critical patent/RU2046164C1/ru
Priority claimed from RU93042335A external-priority patent/RU2046164C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2046164C1 publication Critical patent/RU2046164C1/ru
Publication of RU93042335A publication Critical patent/RU93042335A/ru

Links

Claims (1)

  1. Способ относится к технологии полупроводниковых соединений типа АIIIBV и может быть использован при получении монокристаллов полуизолирующего арсенида галлия (АГП) с улучшенными параметрами. Предлагаемый способ заключается в улучшении параметров АГП облучением нейтронами ядерного реактора и последующей термообработкой. Сущность способа заключается в том, что в качестве исходного можно использовать монокристаллы АГП с любой степенью компенсации, а облучение вести только быстрыми нейтронами (Е > 0,1 МэВ) с плотностью потока не более 5 • 1012 см-2с-2 до флюенса ф=(0,4oC5,0)•1016 см-2. Термообработку необходимо провести при температурах 850-900oС с определенными скоростями нагрева и охлаждения. Такая циклическая обработка образцов (облучение и термообработка) приводит к значительному повышению однородности и термостабильности свойств материала и улучшению его оптических характеристик. Применение радиационно-модифицированного материала в производстве полупроводниковых приборов (сверхбольшие интегральные схемы - СБИС, СВЧ и оптоэлектронные приборы и др.) открывает новые перспективы в микроэлектронике.
RU93042335A 1992-08-25 1992-08-25 Способ получения полуизолирующего арсенида галлия RU2046164C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU93042335A RU2046164C1 (ru) 1992-08-25 1992-08-25 Способ получения полуизолирующего арсенида галлия

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU93042335A RU2046164C1 (ru) 1992-08-25 1992-08-25 Способ получения полуизолирующего арсенида галлия

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2046164C1 RU2046164C1 (ru) 1995-10-20
RU93042335A true RU93042335A (ru) 1996-03-27

Family

ID=20146875

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU93042335A RU2046164C1 (ru) 1992-08-25 1992-08-25 Способ получения полуизолирующего арсенида галлия

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2046164C1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Levinson et al. Defect states in electron bombarded n‐InP
Suezawa et al. Optical studies of heat‐treated Si‐doped GaAs bulk crystals
RU93042335A (ru) Способ получения полуизолирующего арсенида галлия
Basov et al. Use of indirect transitions in semiconductors for the determination of states with negative absorption coefficients
RU1676409C (ru) Способ образования нз-центров окраски в алмазе
Kang et al. Characteristics of GaAs with inverted thermal conversion
Barnes Thermal and injection annealing of neutron-irradiated p-type silicon between 76 K and 300 K
US4257824A (en) Photo-induced temperature gradient zone melting
Newman et al. The localized vibrations of boron impurities in indium phosphide
Kuriyama et al. Photoquenching phenomenon enhanced by proton irradiation in semi‐insulating GaAs
RU2046164C1 (ru) Способ получения полуизолирующего арсенида галлия
JPS5533020A (en) Manufacture of semiconductor device
Kolin et al. Electrical properties of indium arsenide[with dopant concentrations of 5 multiplied by 10 sup 1 sup 6- 2 multiplied by 10 sup 1 sup 7 cm- sup 3] irradiated with fast neutrons
Osip'yan et al. Interaction of dislocations with hydrogen and oxygen in silicon
Bolotov et al. Laser annealing of defects responsible for additional optical absorption in ion-irradiated gallium arsenide
Gulamova et al. Radiation‐Induced Defect Formation in Silica Glasses
Pearton et al. The nature of the dominant γ-induced defects in high-purity germanium
SU849928A1 (ru) Способ повышени стабильности характеристик кремни
Tanimura et al. Thermo-chemical reactions of freed halogen interstitials in KBr; Na
Tiainen et al. Radiation Damage in Selenium Single Crystals
Almazov Enrichment of an InSb Surface with Free Carriers in Crossed Electrical and Magnetic Fields
Dvurechensky et al. Production and rearrangement of radiation defects in ion implanted semiconductors
Gasanov et al. Influence of radiation and thermal treatment on x-ray luminescence of quartz glasses
Fedorovich Diffusion of silver and sodium in lead selenide
Brudnyi et al. Radiation defects in gallium arsenide