RU57992U1 - Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8" - Google Patents

Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8" Download PDF

Info

Publication number
RU57992U1
RU57992U1 RU2006119487/22U RU2006119487U RU57992U1 RU 57992 U1 RU57992 U1 RU 57992U1 RU 2006119487/22 U RU2006119487/22 U RU 2006119487/22U RU 2006119487 U RU2006119487 U RU 2006119487U RU 57992 U1 RU57992 U1 RU 57992U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
input
output
inputs
tester
elements
Prior art date
Application number
RU2006119487/22U
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Владимирович Сапожников
Владимир Владимирович Сапожников
Александр Александрович Прокофьев
Original Assignee
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Петербургский государственный университет путей сообщения"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Петербургский государственный университет путей сообщения" filed Critical Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Петербургский государственный университет путей сообщения"
Priority to RU2006119487/22U priority Critical patent/RU57992U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU57992U1 publication Critical patent/RU57992U1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к области технической диагностики и может быть использована в устройствах автоматики и вычислительной техники для контроля правильности функционирования узлов, работающих в коде «2 из 8». Задача полезной модели - повышение надежности тестера за счет упрощения его схемы. Для этого в самопроверяемом тестере для кода «2 из 8», содержащем девять элементов И и одиннадцать элементов ИЛИ, первый вход которого соединен с первыми входами первых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с вторым входом тестера, третий вход которого соединен с первыми входами вторых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с четвертым входом тестера, пятый вход которого соединен с первыми входами третьих элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с шестым входом тестера, седьмой вход которого соединен с первыми входами четвертых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с восьмым входом тестера, выход первого элемента И соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ, второй и третий входы которого соединены соответственно в выходами второго и третьего элементов И, выход первого элемента ИЛИ соединен с первыми входами пятого элемента И и шестого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом второго элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первыми входами шестого элемента И и седьмого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом четвертого элемента ИЛИ, выход пятого элемента И соединен с первым входом восьмого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента И, выход пятого элемента
ИЛИ соединен с первым входом девятого элемента ИЛИ, выход шестого элемента ИЛИ соединен с первым входом десятого элемента ИЛИ, выход седьмого элемента И соединен с первым выходом тестера, выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом восьмого элемента И, второй вход которого соединен с выходом седьмого элемента ИЛИ и с вторым входом девятого элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом седьмого элемента И, второй вход которого соединен с выходом десятого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента ИЛИ и с первым входом девятого элемента И, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента ИЛИ, а выход соединен с первым входом одиннадцатого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента И, а выход соединен с вторым выходом тестера, выход четвертого элемента И соединен с четвертым входом пятого элемента ИЛИ. Тестер содержит девять элементов И и одиннадцать элементов ИЛИ, имеет восемь входов и два выхода. Любая одиночная неисправность в схеме тестера может быть зафиксирована по идентичности сигналов на выходах на одном или нескольких наборах кода «2 из 8».

Description

Полезная модель относится к области технической диагностики и может быть использована в устройствах автоматики и вычислительной техники для контроля правильности функционирования узлов, работающих в коде «2 из 8».
Известен самопроверяемый тестер для кода «2 из 8», содержащий 10 элементов И и 15 элементов ИЛИ (Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Основы технической диагностики - М.: Энергия, 1981, с.180).
Недостатком известного тестера является низкая надежность, так как его схема является сложной.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому является самопроверяемый тестер для кода «2 из 8», содержащий девять элементов И и четырнадцать элементов ИЛИ, в котором первый вход тестера соединен с первыми входами первых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с вторым входом тестера, третий вход которого соединен с первыми входами вторых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с четвертым входом тестера, пятый вход которого соединен с первыми входами третьих элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с шестым входом тестера, седьмой вход которого соединен с первыми входами четвертых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с восьмым входом тестера, выход первого элемента И соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ, второй и третий входы которого соединены соответственно с выходами второго и третьего элементов И, выход первого элемента ИЛИ соединен с первыми входами пятого элемента И и шестого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом второго элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первыми входами шестого элемента И и седьмого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом четвертого элемента ИЛИ, выход пятого
элемента И соединен с первым входом восьмого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента И, выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом девятого элемента ИЛИ, выход шестого элемента ИЛИ соединен с первым входом десятого элемента ИЛИ, выход седьмого элемента И соединен с первым выходом тестера (Сапожников В.В., Сапожников Вл.В. Дискретные автоматы с обнаружением отказов. - Л.: Энергоиздат, 1984, с.107).
Недостатком данного тестера является низкая надежность, он так же имеет достаточно сложную схему.
Задача полезной модели - повышение надежности тестера за счет упрощения его схемы.
Для этого в самопроверяемом тестере для кода «2 из 8», содержащем девять элементов И и одиннадцать элементов ИЛИ, первый вход которого соединен с первыми входами первых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с вторым входом тестера, третий вход которого соединен с первыми входами вторых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с четвертым входом тестера, пятый вход которого соединен с первыми входами третьих элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с шестым входом тестера, седьмой вход которого соединен с первыми входами четвертых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с восьмым входом тестера, выход первого элемента И соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ, второй и третий входы которого соединены соответственно в выходами второго и третьего элементов И, выход первого элемента ИЛИ соединен с первыми входами пятого элемента И и шестого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом второго элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первыми входами шестого элемента И и седьмого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом четвертого элемента ИЛИ, выход пятого элемента И соединен с первым входом восьмого элемента ИЛИ, второй вход
которого соединен с выходом шестого элемента И, выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом девятого элемента ИЛИ, выход шестого элемента ИЛИ соединен с первым входом десятого элемента ИЛИ, выход седьмого элемента И соединен с первым выходом тестера, выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом восьмого элемента И, второй вход которого соединен с выходом седьмого элемента ИЛИ и с вторым входом девятого элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом седьмого элемента И, второй вход которого соединен с выходом десятого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента ИЛИ и с первым входом девятого элемента И, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента ИЛИ, а выход соединен с первым входом одиннадцатого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента И, а выход соединен с вторым выходом тестера, выход четвертого элемента И соединен с четвертым входом пятого элемента ИЛИ.
На чертеже представлена функциональная схема самопроверяемого тестера для кода «2 из 8».
Тестер содержит девять элементов 1...9 И, одиннадцать элементов 10...20 ИЛИ, имеет восемь входов 21...28, первый 29 и второй 30 выходы.
Тестер имеет следующие соединения. Первый вход 21 тестера соединен с первыми входами первых элементов И и ИЛИ 1 и 10, вторые входы которых соединены с вторым входом 22 тестера, третий вход 23 которого соединен с первыми входами вторых элементов И и ИЛИ 2 и 11, вторые входы которых соединены с четвертым входом 24 тестера, пятый вход 25 которого соединен с первыми входами третьих элементов И и ИЛИ 3 и 12, вторые выходы которых соединены с шестым входом 26 тестера, седьмой вход 27 которого соединен с первыми входами четвертых элементов И и ИЛИ 4 и 13, вторые входы которых соединены с восьмым входом тестера 28. Выход первого элемента И 1 соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ 14, второй и третий входы которого соединены соответственно с
выходами второго и третьего элементов И 2 и 3. Выход первого элемента ИЛИ 10 соединен с первыми входами пятого элемента И 5 и шестого элемента ИЛИ 15, вторые входы которых соединены с выходом второго элемента ИЛИ 11. Выход третьего элемента ИЛИ 12 соединен с первыми входами шестого элемента И 6 и седьмого элемента ИЛИ 16, вторые входы которых соединены с выходом четвертого элемента ИЛИ 13. Выход пятого элемента И 5 соединен с первым входом восьмого элемента ИЛИ 17, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента И 6. Выход пятого элемента ИЛИ 14 соединен с первым входом девятого элемента ИЛИ 18. Выход шестого элемента ИЛИ 15 соединен с первым входом десятого элемента ИЛИ 19. Выход седьмого элемента И 7 соединен с первым выходом 29 тестера. Выход пятого элемента ИЛИ 14 соединен с первым входом восьмого элемента И 8, второй вход которого соединен с выходом седьмого элемента ИЛИ 16 и с вторым входом девятого элемента ИЛИ 18, выход которого соединен с первым входом седьмого элемента И 7, второй вход которого соединен с выходом десятого элемента ИЛИ 19, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента ИЛИ 17 и с первым входом девятого элемента И 9, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента ИЛИ 15, а выход соединен с первым входом одиннадцатого элемента ИЛИ 20, второй вход которого соединен с входом восьмого элемента И 8, а выход соединен с вторым выходом 30 тестера. Выход четвертого элемента И 4 соединен с четвертым входом пятого элемента ИЛИ 14.
Самопроверяемый тестер для кода «2 из 8» работает следующим образом. При поступлении на выходы 21...28 наборов кода «2 из 8» при исправности тестера на его выходах 29, 30 сигналы будут парафазными, то есть формироваться слова «01» или «10» (см. таблицу). Если же на выходы 21...28 тестера будут поступать наборы, не принадлежащие множеству
наборов кода «2 из 8», сигналы на его выходах 29, 30 будут одинаковыми, то есть будут сформированы слова «00» или «11».
Например, при поступлении на входы 21...28 тестера наборов 10000000, 01000000...00000001, а так же набора 00000000 на выходах 29, 30 тестера будет наблюдаться слово «00».
При поступлении на выходы 21...28 тестера наборов 11100000, 10110000...10000011 на его выходах 29, 30 будет сформировано слово «11». Можно так же показать, что при числе сигналов 1 во входном наборе больше трех сигналы на обоих выходах тестера 29, 30 будут равны 1.
Таким образом, заявляемый тестер позволяет фиксировать искажение контролируемого кода «2 из 8» путем формирования на своих выходах идентичных сигналов, то есть слов «00» или «11».
Предлагаемый тестер обладает так же свойством самопроверяемости. Это означает, что любая одиночная неисправность в его схеме фиксируется по идентичности сигналов на выходах тестера на одном или нескольких наборах кода «2 из 8».
Например, неисправность «константа 0» входа 21 тестера будет зафиксирована на наборе №1 (см. таблицу) кода «2 из 8», так как в этом случае на его выходах 29, 30 будет сформировано слово «00». Неисправность «константа 1» того же входа тестера будет зафиксирована на наборах №8...28 кода «2 из 8».
Неисправность «константа 0» выхода первого элемента И 1 будет зафиксирована на наборе №1 кода «2 из 8», так как в этом случае на выходах 29, 30 тестера будет сформировано слово «00». Неисправность «константа 1» выхода того же элемента будет зафиксирована, например, на наборе №2 кода «2 из 8» (см. таблицу).
Технико-экономические преимущества заявляемого тестера по сравнению с его прототипом заключаются в следующем. Во-первых, он содержит только 20 логических элементов по сравнению с 24 логическими
элементами прототипа. Во-вторых, логические элементы в заявляемом устройстве имеют в общей сложности 42 входа, по сравнению с 47 входами логических элементов у тестера-прототипа. В-третьих, в заявляемом тестере сигнал от входа до выхода проходит максимум через пять логических элементов, в то время как в тестере-прототипе сигнал от входа до выхода проходит через шесть логических элементов.
Следовательно, заявляемый тестер будет иметь надежность и быстродействие, в среднем, на 20% больше, чем аналогичные характеристики тестера-прототипа.
Таблица
Номера наборов
21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 0
2 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1
3 1 0 0 1 0 0 0 0 0 1
4 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0
5 1 0 0 0 0 1 0 0 1 0
6 1 0 0 0 0 0 1 0 1 0
7 1 0 0 0 0 0 0 1 1 0
8 0 1 1 0 0 0 0 0 0 1
9 0 1 0 1 0 0 0 0 0 1
10 0 1 0 0 1 0 0 0 1 0
11 0 1 0 0 0 1 0 0 1 0
12 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0
13 0 1 0 0 0 0 0 1 1 0
14 0 0 1 1 0 0 0 0 1 0
15 0 0 1 0 1 0 0 0 1 0
16 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0
17 0 0 1 0 0 0 1 0 1 0
18 0 0 1 0 0 0 0 1 1 0
19 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0
20 0 0 0 1 0 1 0 0 1 0
21 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0
22 0 0 0 1 0 0 0 1 1 0
23 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1
24 0 0 0 0 1 0 1 0 1 0
25 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0
26 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0
27 0 0 0 0 0 1 0 1 1 0
28 0 0 0 0 0 0 1 1 0 1

Claims (1)

  1. Самопроверяемый тестер для кода «2 из 8», содержащий девять элементов И и одиннадцать элементов ИЛИ, первый вход тестера соединен с первыми входами первых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с вторым входом тестера, третий вход которого соединен с первыми входами вторых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с четвертым входом тестера, пятый вход которого соединен с первыми входами третьих элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с шестым входом тестера, седьмой вход которого соединен с первыми входами четвертых элементов И и ИЛИ, вторые входы которых соединены с восьмым входом тестера, выход первого элемента И соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ, второй и третий входы которого соединены соответственно с выходами второго и третьего элементов И, выход первого элемента ИЛИ соединен с первыми входами пятого элемента И и шестого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом второго элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первыми входами шестого элемента И и седьмого элемента ИЛИ, вторые входы которых соединены с выходом четвертого элемента ИЛИ, выход пятого элемента И соединен с первым входом восьмого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента И, выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом девятого элемента ИЛИ, выход шестого элемента ИЛИ соединен с первым входом десятого элемента ИЛИ, выход седьмого элемента И соединен с первым выходом тестера, отличающийся тем, что выход пятого элемента ИЛИ соединен с первым входом восьмого элемента И, второй вход которого соединен с выходом седьмого элемента ИЛИ и с вторым входом девятого элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом седьмого элемента И, второй вход которого соединен с выходом десятого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента ИЛИ и с первым входом девятого элемента И, второй вход которого соединен с выходом шестого элемента ИЛИ, а выход соединен с первым входом одиннадцатого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом восьмого элемента И, а выход соединен с вторым выходом тестера, выход четвертого элемента И соединен с четвертым входом пятого элемента ИЛИ.
    Figure 00000001
RU2006119487/22U 2006-06-02 2006-06-02 Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8" RU57992U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006119487/22U RU57992U1 (ru) 2006-06-02 2006-06-02 Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8"

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006119487/22U RU57992U1 (ru) 2006-06-02 2006-06-02 Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8"

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU57992U1 true RU57992U1 (ru) 2006-10-27

Family

ID=37439784

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006119487/22U RU57992U1 (ru) 2006-06-02 2006-06-02 Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8"

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU57992U1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102998614B (zh) 可实现dsp单板或多板jtag调试的系统及调试方法
CN102866319B (zh) 基于单片机ad转换器的故障诊断电路
CN102438010A (zh) 用于流送数据剖析的方法和布置
CN107636478A (zh) 用于注入测试信号以测试交流耦合互连的发射机
CN108008284A (zh) 一种芯片测试系统
RU57992U1 (ru) Самопроверяемый тестер для кода "2 из 8"
CN103645435A (zh) 多信号模型可编程逻辑器件的软件模块可测性设计方法
CN102353892A (zh) 一种基于sram的fpga的lut测试结构及方法
RU81019U1 (ru) Мажоритарный элемент
CN105657947B (zh) 电路故障检测装置、led发光设备及光和/或信号发射装置
CN108304339B (zh) 一种动态管控系统的串口扩展电路及其工作方法
CN104050121A (zh) 双收双发可编程arinc429通讯接口芯片
CN108431788A (zh) 一种单板、电子设备及选通的方法
RU48129U1 (ru) Самопроверяемое устройство для контроля кодов "1 из 10"
CN203490334U (zh) 一种测试芯片开短路的装置
CN105846809B (zh) 一种缓冲电路及缓冲芯片
CN202189123U (zh) 一种基于sram的fpga的lut测试结构
RU48447U1 (ru) Самопроверяемый тестер для контроля кодов "1 из 9"
CN104794087B (zh) 一种多核处理器中处理单元接口电路
CN100470428C (zh) 基于网络的远程可控硬件组态系统及控制方法
AU2008200997A1 (en) A conversion circuit
CN105047664B (zh) 静电保护电路及3d芯片用静电保护电路
RU48128U1 (ru) Самопроверяемый тестер для кода "3 из 7"
CN202841104U (zh) 一种按键检测电路
CN208444184U (zh) 数控机床的输入信号检测电路

Legal Events

Date Code Title Description
MM1K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20070603