RU2704682C1 - Способ электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча (варианты) - Google Patents
Способ электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча (варианты) Download PDFInfo
- Publication number
- RU2704682C1 RU2704682C1 RU2018145458A RU2018145458A RU2704682C1 RU 2704682 C1 RU2704682 C1 RU 2704682C1 RU 2018145458 A RU2018145458 A RU 2018145458A RU 2018145458 A RU2018145458 A RU 2018145458A RU 2704682 C1 RU2704682 C1 RU 2704682C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- electron beam
- filler wire
- signal
- surfacing
- secondary radiation
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относится к способу электронно-лучевой наплавки с оперативным контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча. Способ содержит этапы, на которых электронно-лучевую наплавку проводят с непрерывной осцилляцией электронного луча по траектории, имеющей пересечение с присадочной проволокой. В процессе наплавки измеряют сигнал тормозного рентгеновского излучения, или вторичных высокоэнергетичных электронов, или световой эмиссии из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой. Проводят обработку сигнала вторичного излучения методом синхронного накопления или методом синхронного детектирования. Выделяют и измеряют величину, характеризующую запаздывание сигнала вторичного излучения относительно сигнала тока в отклоняющих катушках, или величину, характеризующую отклонение присадочной проволоки от требуемого положения. Управляют отклоняющей системы электронного луча и/или системой позиционирования присадочной проволоки, поддерживая значения упомянутых выше величин на уровне, соответствующем требуемому положению присадочной проволоки относительно электронного луча.2 н. и 2 з.п. ф-лы, 5 ил., 1 табл.
Description
Группа изобретений относится к области электронно-лучевой наплавки и может быть использована для осуществления оперативного контроля за положением присадочной проволоки относительно электронного луча при электронно-лучевой наплавке или послойном синтезе изделий проволочными материалами.
При электронно-лучевой наплавке проволочным материалом качество получаемого наплавленного валика зависит от многих факторов, один из наиболее важных — это точность подачи присадочного материала в зону наплавки. Диаметр электронного луча в точке фокусировки составляет доли миллиметра, поэтому во избежание отклонения присадочной проволоки от электронного луча при отсутствии регулирования положения присадочной проволоки относительно электронного луча применяют дополнительные приемы, чаще всего расфокусирование электронного луча. При этом размер электронного луча в плоскости его взаимодействия с присадочной проволокой получают сопоставимым с размером сечения присадочной проволоки. Это приводит к снижению энергетической эффективности процесса, увеличению припусков под механическую обработку, увеличенному тепловложению в изделия со всеми вытекающими последствиями.
Известен способ контроля электронно-лучевой сварки с помощью герметичной видеокамеры и системы подсветки для контроля процесса обработки материала электронным лучом. (патент РФ на изобретение №2510744, В23К 15/066, 2014). Использование видеокамеры и системы подсветки позволяет вести наблюдение и контроль процесса электронно-лучевой наплавки, в том числе при аддитивном производстве. В частности, видеонаблюдение позволяет динамически контролировать положение проволоки относительно электронного луча. Такой контроль повышает качество наплавленных слоев, повышает точность наплавки, снижает припуски на механическую обработку.
Недостатком, известного способа является относительно высокая стоимость применяемого оборудования, сложность использования получаемого видеоизображения в системе автоматического оперативного контроля.
Наиболее близким к первому и второму варианту заявляемого способа по технической сущности и достигаемому техническому результату является способ электронно-лучевого послойного синтеза (патент США на изобретение US8809780, В23К 9/04, 2014), при котором контроль положения присадочной проволоки относительно электронного луча осуществляют посредством наблюдения отраженных электронов, при этом электронный луч периодически осциллируют по растровой траектории с частотой не менее 5 раз в секунду для сканирования зоны наплавки.
Недостатком известного способа является периодическое прерывание процесса для отклонения электронного луча, что отрицательно сказывается на качестве наплавляемого валика и требует сложного управления системой отклонения электронного луча. Кроме того, при использовании такого способа происходит построение двумерного изображения области наплавки с необходимостью его дальнейшей обработки, что требует относительно высоких вычислительных мощностей и снижает быстродействие системы.
Техническим результатом, достигаемым вариантами изобретения, является повышение точности оперативного контроля положения присадочной проволоки относительно электронного луча при проведении наплавки или послойном синтезе изделия непрерывно осциллирующим электронным лучом.
Технический результат по первому варианту достигается тем, что в способе электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча, заключающемся в том, что электронно-лучевую наплавку ведут с непрерывной осцилляцией электронного луча, а контроль положения проволоки осуществляют по вторичному излучению из зоны электронно-лучевой наплавки, согласно первому варианту изобретения, непрерывную осцилляцию электронного луча ведут по траектории, имеющей пересечение с присадочной проволокой, путем подачи переменного тока определенной величины, формы и частоты в отклоняющей системе электронного луча, в процессе наплавки регистрируют сигнал вторичного излучения из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой, сигнал вторичного излучения обрабатывают методом синхронного накопления и получают функцию, описывающую зависимость усредненных величин сигнала вторичного излучения от сдвига опорного сигнала, зависящего от тока в отклоняющей системе, по положению экстремума функции, описывающей зависимость усредненных величин сигнала вторичного излучения от сдвига опорного сигнала, определяют величину запаздывания функции относительно сигнала тока в отклоняющей системе электронного луча, характеризующую положение присадочной проволоки относительно электронного луча, управляют отклоняющей системой электронного луча и/или системой позиционирования присадочной проволоки, поддерживая величину, характеризующую запаздывание упомянутой функции на уровне, соответствующем требуемому положению присадочной проволоки относительно электронного луча.
Кроме того, в способе по первому варианту в процессе наплавки в качестве сигнала вторичного излучения могут использовать тормозное рентгеновское излучение, или вторичные высокоэнергетичные электроны, или световую эмиссию из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой.
Технический результат по второму варианту достигается тем, что в способе электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча, заключающемся в том, что электронно-лучевую наплавку ведут с непрерывной осцилляцией электронного луча, а контроль положения проволоки осуществляют по вторичному излучению из зоны электронно-лучевой наплавки, согласно второму варианту изобретения, непрерывную осцилляцию электронного луча ведут по траектории, имеющей пересечение с присадочной проволокой, путем подачи переменного тока определенной величины, формы и частоты в отклоняющей системе электронного луча, в процессе наплавки регистрируют сигнал вторичного излучения из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой, сигнал вторичного излучения обрабатывают методом синхронного детектирования, для этого обрабатывают сигнал тока с отклоняющей системы электронного луча, выделяя переменную составляющую, перемножают значения сигналов вторичного излучения и сигнала переменной составляющей тока с отклоняющей системы, а результат умножения усредняют по времени, получают величину, характеризующую отклонение присадочной проволоки от требуемого положения, управляют отклоняющей системой электронного луча и/или системой позиционирования присадочной проволоки, поддерживая величину, определяющую отклонение присадочной проволоки на уровне, соответствующем требуемому положению присадочной проволоки относительно электронного луча.
Кроме того, в способе, согласно второму варианту изобретения, в процессе наплавки в качестве сигнала вторичного излучения используют тормозное рентгеновское излучение, вторичные высокоэнергетичные электроны, или световую эмиссию из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой.
Технический результат по первому варианту изобретения обеспечивается за счет использования дополнительного информационного параметра в виде величины, характеризующей запаздывание функции относительно сигнала тока в отклоняющей системе электронного луча, соответствующего требуемому положению присадочной проволоки, определенной методом синхронного накопления.
Технический результат по второму варианту изобретения обеспечивается за счет использования дополнительного информационного параметра в виде величины, характеризующей отклонение присадочной проволоки от требуемого положения, полученной методом синхронного детектирования.
Знак и значение указанных величин, зависят от отклонения присадочной проволоки в ту или иную сторону относительно центра осцилляции электронного луча. Благодаря использованию указанных дополнительных информационных параметров заявляемый способ позволяет с высокой точностью осуществлять оперативный контроль и управление положением присадочной проволоки относительно электронного луча без прерываний процесса наплавки или использования дорогостоящей системы видеонаблюдения. Применяемая при этом непрерывная осцилляция электронного луча может дополнительно улучшать качество формирования наплавляемого слоя.
На фиг. 1 представлена структурная схема устройства, предназначенного для осуществления заявляемого способа.
На фиг. 2 изображена диаграмма опорного сигнала для реализации синхронного накопления, сформированного из сигнала в отклоняющих катушках, представляющего собой прямоугольные колебания малой скважности, где: Osc(t) - осциллограмма тока отклоняющей по оси X катушки; g(t+τ) – сформированный опорный сигнал; τ – сдвиг опорного сигнала относительно сигнала отклоняющих катушек.
На фиг. 3 представлена функция S(τ), являющаяся результатом обработки вторичного сигнала методом синхронного накопления в зависимости от сигнала в отклоняющей катушке Osc(τ).
На фиг. 4 представлена функция S(τ), являющаяся результатом обработки вторичного сигнала методом синхронного накопления в зависимости от положения электронного луча.
На фиг. 5 представлена относительная величина запаздывания Δτ0 функции S(τ) в зависимости от смещения оси присадочной проволоки ∆L относительно центра осцилляции электронного луча, полученная в результате многофакторного эксперимента.
Для осуществления заявляемого способа, как по первому, так и по второму варианту, используют установку для электронно-лучевой наплавки, представленную на фиг.1. Установка содержит электронно-лучевую пушку 1 для подачи электронного луча 2 на изделие 3 для наплавки присадочной проволоки 4, отклоняющие катушки 5, датчик вторичного сигнала 6, блок обработки 7 вторичного сигнала, устройство управления 8, блок управления 9 токами отклоняющих катушек 5, устройство визуализации 10.
Способ по обоим вариантам осуществляют следующим образом.
В установке для электронно-лучевой наплавки в процессе наплавки проволоки 4 на изделие 3 осуществляют непрерывную осцилляцию электронного луча 2, например, по кольцевой траектории, путем введения в ток отклоняющих катушек 5 синусоидальных колебаний посредством блока управления 9 токами Iоткл отклоняющих катушек 5. Рекомендуемая частота осцилляции от 50 Гц и более. Осцилляция электронного луча 2 с меньшей частотой оказывает сильное гидродинамическое воздействие на расплавленный металл, что может снизить качество наплавки. В процессе наплавки регистрируют вторичное излучение из зоны наплавки, посредством датчика вторичного сигнала 6, и ток отклоняющих катушек 5.
В настоящем примере по обоим вариантам осуществления способа для контроля за процессом наплавки в качестве вторичного излучения используют тормозное рентгеновское излучение. Однако, это могут быть вторичные высокоэнергетичные электроны, или световая эмиссия, или другие вторичные сигналы из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой.
В качестве датчика тормозного рентгеновского излучения 6 может быть применен сцинтилляционный детектор на основе монокристалла активированного йодистого цезия и кремниевый фотоэлектронный умножитель (фиг. 1).
В качестве датчика вторичных высокоэнергетичных электронов может быть использован электрод коллектор, устанавливаемый над зоной наплавки.
В качестве датчика световой эмиссии может быть использован фотодиодный датчик, устанавливаемый над зоной наплавки.
Сигнал с датчика тормозного рентгеновского излучения 6 подвергают фильтрации и выпрямлению в блоке обработки 7. В этом же блоке 7, совместно с сигналами токов отклоняющих катушек Iоткл, отфильтрованный и выпрямленный сигнал вторичного тормозного рентгеновского излучения из зоны наплавки обрабатывают методом синхронного накопления по первому варианту заявляемого способа, или методом синхронного детектирования по второму варианту заявляемого способа. Для удобства определения отклонения присадочной проволоки от требуемого положения систему отклонения электронного луча настраивают так, что одна из осей отклоняющей системы должна совпадать с осью присадочной проволоки. Или перед выполнением наплавки проводят тарировку системы для учета угла подачи присадочной проволоки.
В результате обработки вторичного рентгеновского сигнала методом синхронного накопления по первому варианту изобретения получают функцию S(τ), график которой изображен на фиг.3, и величину Δτ0, определяющую отклонение экстремума функции S(τ) от сигнала тока Osc(τ) в отклоняющих катушках 5, соответствующего требуемому положению присадочной проволоки, то есть величину, характеризующую запаздывание функции S(τ) относительно сигнала тока в отклоняющих катушках 5. Величина Δτ0 зависит от положения присадочной проволоки 4 относительно центра осцилляции электронного луча 2 (фиг. 5) и принимает значения, равные нулю, при прохождении присадочной проволоки через центр осцилляции электронного луча. На примере, отображенном на фиг.3 и фиг.4, показано отклонение присадочной проволоки от требуемого положения на величину Δτ0. В месте пересечения электронного луча 2 с присадочной проволокой 4 присутствует экстремум функции S(τ), который указывает на реальное положение проволоки 4. Величину Δτ0 определяют по положению экстремума функции S(τ) относительно сигнала тока Osc(τ) в отклоняющей системе 5 электронного луча 2.
В результате обработки вторичного рентгеновского сигнала методом синхронного детектирования по второму варианту изобретения измеряют величину b, характеризующую отклонение присадочной проволоки от требуемого положения. Данная величина зависит от положения присадочной проволоки 4 относительно центра осцилляции электронного луча 2 и принимает значения, равные нулю, при прохождении присадочной проволоки через центр осцилляции электронного луча.
Далее устройство управления 8 совместно с блоком управления 9 током отклоняющих катушек 5 осуществляет регулирование постоянной составляющей тока отклонения электронного луча 2, поддерживая величину Δτ0, или величину b на постоянном уровне, соответствующем требуемому положению присадочной проволоки относительно центра осцилляции электронного луча. В частности, поддержание указанных величин равными нулю обеспечивает прохождение подаваемой присадочной проволоки через центр осцилляции электронного луча. Функция S(τ) и величина Δτ0, характеризующая запаздывание функции, и/или величина b, характеризующая отклонение присадочной проволоки от требуемого положения отображаются на устройстве визуализации 10.
Осцилляция электронного луча 2, согласно обоим вариантам заявляемого способа, предпочтительно осуществляется по кольцевой траектории. Однако также могут использоваться другие типы осцилляции: по двумерной и даже одномерной траекториям, имеющим пересечение с присадочной проволокой.
Экспериментальная апробация способа осуществлялась на образцах из стали 12Х18Н10Т и присадочной проволоке 308LSi диаметром 0,8 мм на электронно-лучевой сварочной установке с инверторным источником питания с ускоряющим напряжением 60 кВ и максимальной выходной мощностью 6 кВт. Осцилляция электронного луча 2 осуществлялась по кольцевой траектории путем введения в ток отклоняющих катушек Iоткл периодических колебаний по синусоидальному закону. Расстояние от среза электронной пушки 1 до изделия 3 составляло 100 мм. Применялось активное планирование эксперимента. Варьировались четыре фактора: скорость подачи присадочной проволоки – Vп; частота осцилляции электронного луча – f; радиальный размер кольцевой осцилляции электронного луча R; смещение проволоки относительно центра осцилляции электронного луча – ΔL, представляющее из себя расстояние от оси присадочной проволоки до центра осцилляции электронного луча в плоскости, перпендикулярной оси электронного луча. Скорость перемещения изделия составляла 5 мм/с. Мощность электронного луча была равна 0,75 кВт. Глубина проплавления при отсутствии осцилляции электронного луча составляла 1,5…2 мм. Пределы варьирования факторов для каждой серии представлены в табл. 1.
Таблица 1.
| Факторы | ΔL мм | f, Гц | R, мм |
Vп, мм/сек |
| Нижний предел варьирования | -1,4 | 100 | 0.8 | 2 |
| Верхний предел варьирования | 1,4 | 1200 | 1,6 | 4 |
Во время выполнения наплавки, с помощью компьютерной информационно-измерительной системы, оснащенной многоканальным аналого-цифровым интерфейсом, регистрировался относительный уровень сигнала тормозного рентгеновского излучения из зоны наплавки. Одновременно регистрировались сигналы, пропорциональные току в отклоняющих катушках 5. Результаты регистрации записывались в файл для дальнейшей обработки. Частота дискретизации при аналого-цифровом преобразовании в проведенных экспериментах составляла 400 кГц на каждый измерительный канал. Часть экспериментов проводилась с частотой дискретизации 2МГц.
Сигнал тормозного рентгеновского излучения, регистрируемый датчиком Data(t) из зоны наплавки и сигнал тока в отклоняющих катушках обрабатывают с помощью компьютерной информационно-измерительной системы, оснащенной многоканальным аналого-цифровым интерфейсом.
Согласно первому варианту изобретения обработку вторичного сигнала производят методом синхронного накопления.
Из сигнала в отклоняющих катушках формируется опорный сигнал, который представляет собой прямоугольные колебания малой скважности той же частоты, что и сигнал тока отклоняющих катушек (Фиг.2). Опорный сигнал g(t+τ), сдвинутый на время τ (0<τ<T, где T - период сигнала в отклоняющих катушках), умножается на соответствующий ему сигнал тормозного рентгеновского излучения Data(t). Затем полученные значения произведений g(t+τ)∙Data(t) интегрируется (суммируется или усредняется) по времени t.
Результатом данных преобразований является функция S(τ), график которой изображен на фиг.3, описывающая изменение результата синхронного накопления в зависимости от сдвига опорного сигнала.
где t0 – время выборки, которое составляло 100 мс.
Далее по положению экстремума функции S(τ) находят величину Δτ0., т.е. величину, характеризующую запаздывание функции S(τ) относительно сигнала тока в отклоняющих катушках 5 (фиг.3).
Согласно построенной модели для величины Δτ0, характеризующей запаздывание функции S(τ) относительно сигнала тока в отклоняющих катушках 5, в зависимости от факторов из табл. 1, коэффициент корреляции составляет 0.92, что говорит о наличии прямой зависимости между результирующей функцией и наблюдаемыми параметрами.
Зависимость величины Δτ0, характеризующей запаздывание функции S(τ) относительно сигнала тока в отклоняющих катушках 5, от величины смещения ΔL проволоки 4 относительно центра осцилляции электронного луча, приведена на Фиг. 5
Знак и значение величины Δτ0, характеризующей запаздывание функции S(τ) относительно сигнала тока в отклоняющих катушках 5, зависят от смещения проволоки ΔL относительно центра осцилляции электронного луча 2. Значение величины Δτ0 уменьшается от положительных значений на режиме с отклонением оси присадочной проволоки 4 в одну сторону, к отрицательным значениям на режиме с отклонением оси присадочной проволоки 4 в другую сторону, и принимает нулевое значение при прохождении оси присадочной проволоки 4 через центр осцилляции электронного луча (Фиг. 5).
Согласно второму варианту изобретения обработку вторичного сигнала производят методом синхронного детектирования.
Из сигнала тока отклоняющих катушек 5 выделяют переменную составляющую Ifm(ωt). При необходимости, в зависимости от требуемого положения проволоки 4, осуществляют сдвиг фазы этой составляющей для обеспечения смещения центра осцилляции электронного луча относительно присадочной проволоки. Измеряют сигнал тормозного рентгеновского излучения Data(t) в соответствии с полученным сигналом Ifm(ωt+φ). Умножают полученный сигнал Ifm(ωt+φ) на соответствующий ему сигнал тормозного рентгеновского излучения, полученные результаты умножения интегрируют и усредняют по времени:
В результате получают величину b, характеризующую отклонение положения присадочной проволоки 4 относительно электронного луча.
Указанные информационные параметры позволяют идентифицировать положение присадочной проволоки относительно электронного луча при электронно-лучевой наплавке без применения дополнительных сканирований области наплавки и, следовательно, без прерывания основного процесса.
Таким образом, заявляемое изобретение позволяет повысить качество электронно-лучевой наплавки проволочным материалом за счет увеличения точности оперативного контроля положения присадочной проволоки относительно электронного луча при проведении наплавки или послойном синтезе изделия непрерывно осциллирующим электронным лучом.
Claims (4)
1. Способ электронно-лучевой наплавки, включающий контроль положения присадочной проволоки относительно электронного луча, при этом электронно-лучевую наплавку ведут с непрерывной осцилляцией электронного луча, причем контроль положения проволоки осуществляют по вторичному излучению из зоны электронно-лучевой наплавки, отличающийся тем, что непрерывную осцилляцию электронного луча ведут по траектории, имеющей пересечение с присадочной проволокой, путем создания переменного тока в отклоняющей системе электронного луча, а в процессе наплавки регистрируют сигнал вторичного излучения из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой, причем сигнал вторичного излучения обрабатывают методом синхронного накопления с получением функции, описывающей зависимость усредненных величин сигнала вторичного излучения от фазы сигнала тока в отклоняющей системе электронного луча, при этом по положению экстремума функции, описывающей зависимость усредненных величин сигнала вторичного излучения от фазы сигнала тока в отклоняющей системе электронного луча, определяют величину запаздывания функции относительно сигнала тока в отклоняющей системе электронного луча, характеризующего положение присадочной проволоки относительно электронного луча, и управляют отклоняющей системой электронного луча и/или системой позиционирования присадочной проволоки, поддерживая величину, характеризующую запаздывание упомянутой функции, на уровне, соответствующем требуемому положению присадочной проволоки относительно электронного луча.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в процессе наплавки в качестве сигнала вторичного излучения используют тормозное рентгеновское излучение, вторичные высокоэнергетичные электроны или световую эмиссию из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой.
3. Способ электронно-лучевой наплавки ,включающий контроль положения присадочной проволоки относительно электронного луча, при этом электронно-лучевую наплавку ведут с непрерывной осцилляцией электронного луча, а контроль положения проволоки осуществляют по вторичному излучению из зоны электронно-лучевой наплавки, отличающийся тем, что непрерывную осцилляцию электронного луча ведут по траектории, имеющей пересечение с присадочной проволокой, путем создания переменного тока в отклоняющей системе электронного луча, при этом в процессе наплавки регистрируют сигнал вторичного излучения из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой, сигнал вторичного излучения обрабатывают методом синхронного детектирования, при этом обрабатывают сигнал тока с отклоняющей системы электронного луча, выделяя переменную составляющую, перемножают значения сигналов вторичного излучения и сигнала переменной составляющей тока в отклоняющей системе, полученный результат умножения усредняют по времени, получают величину, характеризующую отклонение присадочной проволоки от требуемого положения, управляют отклоняющей системой электронного луча и/или системой позиционирования присадочной проволоки, поддерживая величину, определяющую отклонение присадочной проволоки, на уровне, соответствующем требуемому положению присадочной проволоки относительно электронного луча.
4. Способ по п.3, отличающийся тем, что в процессе наплавки в качестве сигнала вторичного излучения используют тормозное рентгеновское излучение, вторичные высокоэнергетичные электроны или световую эмиссию из зоны взаимодействия электронного луча с материалом изделия и присадочной проволокой.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2018145458A RU2704682C1 (ru) | 2018-12-20 | 2018-12-20 | Способ электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча (варианты) |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2018145458A RU2704682C1 (ru) | 2018-12-20 | 2018-12-20 | Способ электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча (варианты) |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2704682C1 true RU2704682C1 (ru) | 2019-10-30 |
Family
ID=68500809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2018145458A RU2704682C1 (ru) | 2018-12-20 | 2018-12-20 | Способ электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча (варианты) |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2704682C1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2725537C1 (ru) * | 2019-12-31 | 2020-07-02 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "МЭИ" (ФГБОУ ВО "НИУ "МЭИ") | Способ электронно-лучевого аддитивного получения заготовок |
| RU2753069C1 (ru) * | 2020-10-13 | 2021-08-11 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет" | Способ электронно-лучевой наплавки с вертикальной подачей присадочной проволоки |
Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1328114A1 (ru) * | 1985-09-13 | 1987-08-07 | Научно-производственное объединение "Тулачермет" | Способ вневакуумной электронно-лучевой обработки |
| SU1333506A1 (ru) * | 1985-02-20 | 1987-08-30 | Институт Электросварки Им.Е.О.Патона | Устройство дл управлени установкой электронно-лучевой сварки и наплавки |
| SU1530381A1 (ru) * | 1987-11-16 | 1989-12-23 | Институт Электросварки Им.Е.О.Патона | Способ многослойной электронно-лучевой сварки в узкий зазор |
| JPH0463433A (ja) * | 1990-07-02 | 1992-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子の配線装置およびそれを用いた配線方法 |
| RU2247014C1 (ru) * | 2003-08-29 | 2005-02-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Московское машиностроительное производственное предприятие "САЛЮТ" (ФГУП "ММПП "САЛЮТ") | Способ ремонта деталей машин |
| RU2309827C1 (ru) * | 2006-06-26 | 2007-11-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский политехнический университет | Способ электронно-лучевой наплавки покрытий с мультимодальной структурой |
| JP4063433B2 (ja) * | 1999-01-12 | 2008-03-19 | アルパイン株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| RU2321678C2 (ru) * | 2002-08-28 | 2008-04-10 | Зе Пи.Оу.эМ. Груп | Способ формирования металлической части на металлической подложке посредством осаждения накладываемых друг на друга слоев (варианты) |
| US8809780B2 (en) * | 2009-11-13 | 2014-08-19 | Sciaky, Inc. | Electron beam layer manufacturing using scanning electron monitored closed loop control |
| WO2017096050A1 (en) * | 2015-12-04 | 2017-06-08 | Raytheon Company | Electron beam additive manufacturing |
| US20170297140A1 (en) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | U.S.A. As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Process Control of Electron Beam Wire Additive Manufacturing |
-
2018
- 2018-12-20 RU RU2018145458A patent/RU2704682C1/ru active
Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1333506A1 (ru) * | 1985-02-20 | 1987-08-30 | Институт Электросварки Им.Е.О.Патона | Устройство дл управлени установкой электронно-лучевой сварки и наплавки |
| SU1328114A1 (ru) * | 1985-09-13 | 1987-08-07 | Научно-производственное объединение "Тулачермет" | Способ вневакуумной электронно-лучевой обработки |
| SU1530381A1 (ru) * | 1987-11-16 | 1989-12-23 | Институт Электросварки Им.Е.О.Патона | Способ многослойной электронно-лучевой сварки в узкий зазор |
| JPH0463433A (ja) * | 1990-07-02 | 1992-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子の配線装置およびそれを用いた配線方法 |
| JP4063433B2 (ja) * | 1999-01-12 | 2008-03-19 | アルパイン株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| RU2321678C2 (ru) * | 2002-08-28 | 2008-04-10 | Зе Пи.Оу.эМ. Груп | Способ формирования металлической части на металлической подложке посредством осаждения накладываемых друг на друга слоев (варианты) |
| RU2247014C1 (ru) * | 2003-08-29 | 2005-02-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Московское машиностроительное производственное предприятие "САЛЮТ" (ФГУП "ММПП "САЛЮТ") | Способ ремонта деталей машин |
| RU2309827C1 (ru) * | 2006-06-26 | 2007-11-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский политехнический университет | Способ электронно-лучевой наплавки покрытий с мультимодальной структурой |
| US8809780B2 (en) * | 2009-11-13 | 2014-08-19 | Sciaky, Inc. | Electron beam layer manufacturing using scanning electron monitored closed loop control |
| WO2017096050A1 (en) * | 2015-12-04 | 2017-06-08 | Raytheon Company | Electron beam additive manufacturing |
| US20170297140A1 (en) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | U.S.A. As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Process Control of Electron Beam Wire Additive Manufacturing |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2725537C1 (ru) * | 2019-12-31 | 2020-07-02 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "МЭИ" (ФГБОУ ВО "НИУ "МЭИ") | Способ электронно-лучевого аддитивного получения заготовок |
| RU2753069C1 (ru) * | 2020-10-13 | 2021-08-11 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет" | Способ электронно-лучевой наплавки с вертикальной подачей присадочной проволоки |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10919105B2 (en) | Three-dimensional laminating and shaping apparatus and laminating and shaping method | |
| RU2704682C1 (ru) | Способ электронно-лучевой наплавки с контролем положения присадочной проволоки относительно электронного луча (варианты) | |
| EP3059031B1 (en) | Three-dimensional printing device, three-dimensional printing device control method, and control program | |
| US9347974B2 (en) | Method for determining beam parameters of a charge carrier beam, measuring device, and charge carrier beam device | |
| US4978856A (en) | Automatic focusing apparatus | |
| US5345080A (en) | Method of observing electron microscopic images and an apparatus for carrying out of the same | |
| RU2753069C1 (ru) | Способ электронно-лучевой наплавки с вертикальной подачей присадочной проволоки | |
| EP0040855B1 (en) | A method of displaying an image of phase contrast in a scanning transmission electron microscope | |
| US3504176A (en) | Method and apparatus for focusing the objective lens of a particle beam microscope | |
| EP2888070B1 (en) | Method of operational control of electron beam welding based on the synchronous integration method | |
| US20230078510A1 (en) | Method for focusing and operating a particle beam microscope | |
| US4554452A (en) | Method and apparatus for handling charged particle beam | |
| JP6398961B2 (ja) | 電子ビーム照射装置及び電子ビーム照射方法 | |
| Varushkin et al. | Using bremsstrahlung X-Ray for positioning of the filler wire during electron beam surfacing | |
| RU2567962C2 (ru) | Способ управления фокусировкой луча при электронно-лучевой сварке металлов и устройство для его осуществления | |
| RU144976U1 (ru) | Устройство для контроля и управления фокусировкой луча при электронно-лучевой сварке металлов | |
| KR102440920B1 (ko) | 이온 빔 시스템에서 빔 매핑을 위한 장치 및 기술 | |
| RU2532626C1 (ru) | Способ электронно-лучевой сварки | |
| CN113707513A (zh) | 一种电子束对中装置及对中方法 | |
| RU1665615C (ru) | Способ электронно-лучевой сварки разнородных металлов | |
| US5438179A (en) | Method and apparatus for manufacturing texture drums | |
| JPH06215710A (ja) | 異種波長ｘ線を発生可能なｘ線発生装置 | |
| KR102704740B1 (ko) | 물체 프로세싱 방법 | |
| JPS5840820B2 (ja) | 電子ビ−ム自動軸調整装置 | |
| RU2237557C2 (ru) | Способ электронно-лучевой сварки |