RU2697477C1 - Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде - Google Patents
Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде Download PDFInfo
- Publication number
- RU2697477C1 RU2697477C1 RU2018141819A RU2018141819A RU2697477C1 RU 2697477 C1 RU2697477 C1 RU 2697477C1 RU 2018141819 A RU2018141819 A RU 2018141819A RU 2018141819 A RU2018141819 A RU 2018141819A RU 2697477 C1 RU2697477 C1 RU 2697477C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- layer
- substances
- silver
- trace amounts
- light
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к оптике и аналитической технике и может быть применено для определения наличия следовых количеств летучих веществ. Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде, вызывающих поверхностную оптическую сенсибилизацию галоидного серебра под действием света в трехслойной тонкой пленочной структуре, содержащий зеркальный серебряный слой, защитный слой и слой из галогенида серебра, по изменению формы кривой коэффициента отражения падающего излучения от угла падения, отличающийся тем, что одновременно с засветкой молекул светом с частотой излучения, совпадающей с линией поглощения и вызывающей поверхностную оптическую сенсибилизацию, включается постоянное электрическое поле, параллельное плоскости пленок. Технический результат заключается в повышении чувствительности регистрации следовых количеств веществ в газовой среде.
Description
Изобретение относится к оптике и аналитической технике и может быть применено для определения наличия следовых количеств летучих веществ.
Известен способ определения следовых количеств летучих веществ, вызывающих поверхностную оптическую сенсибилизацию галоидного серебра под действием света в трехслойной тонкой пленочной структуре Ag-Al2O3-AgI по изменению формы кривой коэффициента отражения падающего излучения от угла падения [С.В. Виноградов, М.А. Кононов, В.В. Савранский, С.И. Валянский, М.Ф. Урбайтис. Влияние оптической сенсибилизации на поверхностный плазмонный резонанс. Квантовая электроника, 33, №8 (2003), с. 711-713]. В этом способе берется прямоугольная призма, на гипотенузной грани которой размещена трехслойная тонкопленочная структура Ag-Al2O3-AgI, определяется диэлектрическая постоянная внешней пленки (AgI) методом нарушенного полного внутреннего отражения по схеме Кречмана. Затем грань призмы (сенсор) с тонкопленочной структурой вводится в контакт с тестируемым воздухом, где происходит адсорбция целевого вещества, и облучают ее светом с длиной волны возбуждения адсорбированных молекул, что вызывает их поверхностную оптическую сенсибилизацию. В результате на поверхности нанокристаллов пленки AgI образуются кластеры металлического серебра размером порядка 50×50 нм - формируются центры скрытого изображения, - которые вызывают изменение диэлектрической постоянной внешней пленки, что приводит к изменению резонансного угла поверхностного плозмонного резонанса, т.е. изменяется форма кривой коэффициента отражения падающего излучения от угла падения.
Недостатком метода является его низкая чувствительность для определения следовых количеств веществ, так как размер кластеров металлического серебра незначителен для четкой регистрации изменений резонансного угла поверхностного плозмонного резонанса.
Наиболее близким способом является способ определения малых концентраций молекул летучих веществ в газовой среде [Патент RU 2510014]. В этом способе также для трехслойной тонкопленочной структуры Ag-Al2O3-AgI, сформированной на грани призмы, диэлектрическая постоянная внешней пленки (AgI) определяется методом нарушенного полного внутреннего отражения по схеме Кречмана, для чего определяются параметры поверхностного плазмонного резонанса: резонансный угол для какой-либо длины волны либо резонансная длина волны при каком-либо угле. Затем тонкопленочную структуру вводят в контакт с тестируемым воздухом, где происходит адсорбция целевого вещества, и также облучают ее светом с длиной волны возбуждения адсорбированных молекул. В результате на поверхности пленки AgI формируются центры скрытого изображения, которые подвергаются фотографическому проявлению, так как процессы, происходящие в нанокристаллах йодистого серебра, аналогичны процессам, происходящим в нанокристаллах фотографических эмульсий. В способе осуществляется практически полное восстановление металлического серебра в центрах скрытого изображения с помощью фотографического проявления, что должно обеспечить значительный отклик поверхностного плазмонного резонанса. И это должно увеличить на несколько порядков чувствительность способа. И из теоретических расчетов, приведенных в патенте, следует какая чувствительность может быть достигнута.
Недостатком способа является трудность интерпретации полученных измерений, так как в процессе проявления на поверхности пленки AgI помимо разложения этих молекул и выделение на поверхности пленок металлического серебра на этой поверхности будут адсорбироваться молекулы проявителя. Причем они будут адсорбироваться в любом случае, будет ли скрытое изображения за счет взаимодействия света с молекулами определяемого вещества либо этих молекул не будет на поверхности сенсора. Отмыть же пленку от проявителя, чтобы на ней не оставалось даже следовых количеств проявителя и проконтролировать это крайне сложно. То есть в любом случае произойдет изменение вида кривой отражения падающего излучения от угла падения в трехслойной тонкой пленочной структуре Ag-Al2O3-AgI. Кроме того, такой способ обнаружения происходит не в реальном режиме времени, а по прошествии проявки скрытого изображения.
Задача, на решение которой направлено заявляемое изобретение, заключается в создание способа, при котором размер образовавшихся кластеров металлического серебра достаточен для четкой регистрации изменений резонансного угла поверхностного плозмонного резонанса в тонкопленочной структуры Ag-Al2O3-AgI без ее фотографического появления.
Техническим результатом является повышение чувствительности регистрации следовых количеств веществ в газовой среде, происходящим в реальном режиме времени.
Технический результат достигается тем, что в способе регистрации следовых количеств веществ в газовой среде, вызывающих поверхностную оптическую сенсибилизацию галоидного серебра под действием света в трехслойной тонкой пленочной структуре, содержащий зеркальный серебряный слой, защитный слой и слой из галогенида серебра, о наличии целевых веществ судят по изменению формы кривой коэффициента отражения падающего излучения от угла падения, причем, одновременно с засветкой молекул светом с частотой излучения совпадающей с линией поглощения и вызывающей поверхностную оптическую сенсибилизацию включается постоянное электрическое поле параллельное плоскости пленок. Тестируемые молекулы должны либо прямо, либо через подобранную последовательность реакций с другими адсорбированными на поверхности нанокристаллов молекулами, передавать возбуждения нанокристаллам галогенида серебра.
Для реализации способа необходим сенсор, содержащий тонкопленочную структуру: зеркальный серебряный слой, защитный, например, из оксида алюминия, и слой из галогенида серебра, например, иодида. Толщина слоев должна быть пригодна для исследования процессов поверхностного плазмонного резонанса. Затем в газовой среде не содержащей целевое вещество определяется диэлектрическая постоянная внешней пленки (AgI) методом нарушенного полного внутреннего отражения по схеме Кречмана, для чего определяются параметры поверхностного плазмонного резонанса, т.е. резонансный угол для какой-либо длины волны либо резонансная длина волны при каком- либо угле. Готовый сенсор с измеренным резонансным углом вводится в контакт с тестируемым газом. Одновременно включается свет с длиной волны, которая возбуждает молекулы целевого вещества и включается постоянное электрическое поле параллельное плоскости пленок. Постоянное электрическое поле концентрирует атомы серебра. Напряженность электрического поля должна быть порядка 1000 В/М. При меньшей напряженности процесс концентрации замедляется и может остаться незавершенным, при большей может произойти разрушение пленки галогенида серебра. Концентрация атомов серебра меняет диэлектрическую проницаемость пленки галогенида, что приводит к смещению резонансного угла и изменению вида кривой коэффициента отражения, по которым фиксируются наличие в газе тестируемые молекулы вещества.
На поверхности пленки после засветки кристаллов галогенида серебра в электрическом поле, частицы серебра выделяются в основном в той части кристалла, куда перемещаются фотоэлектроны в электрическом поле. С противоположной стороны кристалла, т.е. по направлению электрического поля должны быть следы дырок (атомов йода). Но, атомы йода быстро испаряется с поверхности, а серебро концентрируется на той части кристаллитов, которая противоположна направлению поля. Причем тестируемые молекулы играют роль катализаторов по созданию электронов. Поэтому нахождение хотя бы одной молекулы тестируемого вещества на нанокристале галогенида серебра способствует генерации серебра.
Подобные эксперименты по разделению галогенидов серебра на ионы серебра и ионы галогенида в электрическом поле описано в работе [Шапиро Б.И. Теоретические начала фотографического процесса, М.; Эдиториал УРСС, 2000. 288 с. 35-36].
Оценки чувствительности можно провести, базируясь на основных положениях молекулярно-кинетической теории.
Положим, имеется сенсор Ag-Al2O3-AgI. Необходимо определить наличие в воздухе молекул красителя Арсеназо III. Оптическую сенсибилизацию этого красителя вызывает его облучение светом с длиной волны 543,5 нм.
Мощность излучения He-Ne лазера с длиной волны 543,5 нм составляет P~5 мВт/см2, тогда количество фотонов будет N=Pλ/ch=5×1016 фотонов/см2с, где λ - длина волны излучения лазера, с - скорость света, h - постоянная планка.
Характерный размер площади нанокристалла AgI равен 104 нм2. На 1 см2 будет 1010 нанокристаллов. То есть на каждый нанокристал приходится 5×106 фотонов/с. Коэффициент диффузии молекул в воздухе D=7,7 10-1 см/с. Средняя скорость молекул Арсеназо III V=(kT/m)1/2=20 м/с, где k - постоянная Больцмана, Т - температура окружающей среды в Кельвинах, m - масса молекулы Арсеназо III. Если на нанокристалле есть хоть одна молекула красителя, то по нашему методу будет происходить генерация электронов и тем самым атомов серебра, то есть одна молекула красителя может сгенерировать до 100 атомов серебра и более (их количество зависит от времени экспозиции). Кроме того увеличивая время экспозиции увеличивается число молекул красителя адсорбирующихся на нанокристала. При экспозиции в 600 секунд дает возможность обнаруживать концентрацию 5×105 частиц/см2.
Таким образом, предложенный способ измерения малых концентраций летучих веществ на основе поверхностного плазмонного резонанса с применением йодида серебра позволяет значительно (на несколько порядков) повысить чувствительность сенсора к находящимся в воздухе фотосенсибилизирующим йодид серебра веществам с помощью метода одновременного экспонирования поверхности излучением нужной частоты (которая зависит от оптических свойств материала) и наложения электрического поля на эту поверхность параллельно ей.
Claims (1)
- Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде, вызывающих поверхностную оптическую сенсибилизацию галоидного серебра под действием света в трехслойной тонкой пленочной структуре, содержащий зеркальный серебряный слой, защитный слой и слой из галогенида серебра, по изменению формы кривой коэффициента отражения падающего излучения от угла падения, отличающийся тем, что одновременно с засветкой молекул светом с частотой излучения, совпадающей с линией поглощения и вызывающей поверхностную оптическую сенсибилизацию, включается постоянное электрическое поле, параллельное плоскости пленок.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2018141819A RU2697477C1 (ru) | 2018-11-28 | 2018-11-28 | Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2018141819A RU2697477C1 (ru) | 2018-11-28 | 2018-11-28 | Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2697477C1 true RU2697477C1 (ru) | 2019-08-14 |
Family
ID=67640338
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2018141819A RU2697477C1 (ru) | 2018-11-28 | 2018-11-28 | Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2697477C1 (ru) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100087723A1 (en) * | 2002-08-30 | 2010-04-08 | Van Duyne Richard P | Surface-enhanced raman nanobiosensor |
RU2510014C1 (ru) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук (ФИАН) | Способ определения малых концентраций молекул летучих веществ в газовой среде |
US20160377542A1 (en) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | The Regents Of The University Of California | Plasmon laser sensor |
-
2018
- 2018-11-28 RU RU2018141819A patent/RU2697477C1/ru active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100087723A1 (en) * | 2002-08-30 | 2010-04-08 | Van Duyne Richard P | Surface-enhanced raman nanobiosensor |
RU2510014C1 (ru) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук (ФИАН) | Способ определения малых концентраций молекул летучих веществ в газовой среде |
US20160377542A1 (en) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | The Regents Of The University Of California | Plasmon laser sensor |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ВИНОГРАДОВ С.В. и др. "Влияние оптической сенсибилизации на поверхностный плазмонный резонанс", Квантовая электроника, 33, N8 (2003). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6100991A (en) | Near normal incidence optical assaying method and system having wavelength and angle sensitivity | |
Girlando et al. | Raman spectra of thin organic films enhanced by plasmon surface polaritons on holographic metal gratings | |
US6421128B1 (en) | Coupled plasmon-waveguide resonance spectroscopic device and method for measuring film properties in the ultraviolet and infrared special ranges | |
JP3396241B2 (ja) | 過渡回折格子分光法 | |
US6330387B1 (en) | Coupled plasmon-waveguide resonance spectroscopic device and method for measuring film properties in the ultraviolet and infrared spectral ranges | |
US8675200B2 (en) | Hydrogen detecting surface plasmon resonator, surface plasmon resonance optical hydrogen detector and method for optically detecting hydrogen using surface plasmon resonance | |
JPS61503039A (ja) | デバイス製作のための干渉法 | |
US20090066957A1 (en) | Method and Apparatus for Sensing a Target Substance by Analysing Time Series of Said Target Substance | |
JP2003344273A (ja) | 表面プラズモン共鳴及び蛍光偏光測定用装置 | |
RU2697477C1 (ru) | Способ регистрации следовых количеств веществ в газовой среде | |
Porter et al. | Soft x-ray: novel metrology for 3D profilometry and device pitch overlay | |
Stenberg et al. | A new ellipsometric method for measurements on surfaces and surface layers | |
US6872947B1 (en) | MEMS-based spectrophotometric system | |
US4653908A (en) | Grazing incidence reflection spectrometer | |
Ignac-Nowicka et al. | Examination of thin films of phthalocyanines in plasmon system for application in NO 2 sensors | |
Dobson et al. | Photographic Photometry: A Study of Methods of Measuring Radiation by Photographic Means | |
Singh et al. | Dielectric metasurface-assisted cavity ring-down spectroscopy for thin-film circular dichroism analysis | |
RU2510014C1 (ru) | Способ определения малых концентраций молекул летучих веществ в газовой среде | |
JP2777147B2 (ja) | 表面分析装置 | |
JP2002286632A (ja) | 測定試料の光学的評価方法およびその装置 | |
US5508145A (en) | Infrared imaging materials | |
Slade et al. | A new method of spectrophotometry in the visible and ultraviolet and the absorption of light by silver bromide | |
JPS6295527A (ja) | 写真層の塗布故障検知方法 | |
JP6586867B2 (ja) | 電場増強素子およびラマン分光装置 | |
BEVERLY et al. | Removal of hydrocarbon contaminant film from spacecraft optical surfaces using a radiofrequency-excited oxygen plasma |