RU2676249C1

RU2676249C1 - Micrometer for measuring dimensions of products of complex configuration

Info

Publication number: RU2676249C1
Application number: RU2018102993A
Authority: RU
Inventors: Юрий Васильевич Иванщиков; Андрей Евгеньевич Макушев; Юрий Николаевич Доброхотов
Priority date: 2018-01-25
Filing date: 2018-01-25
Publication date: 2018-12-26

Abstract

FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: invention relates to micrometric instruments for measuring external dimensions. Smooth micrometer contains two pairs of parallel horizontal and vertical sighting wires, which are attached to the micrometer bracket and parallel to the common axis of the micrometer heels and serve to base the measured object. Micrometer is equipped with a movable prism for the location of the object being measured, which is able to change its position in space by fixing it on a telescopic device with a hinge. Telescopic device is fixed with a grip on the micrometer bracket and has the ability to change the distance of the prism relative to the common axis of the micrometer heels. Hinge, located on the top stand of the telescopic device, allows you to change the position of the prism with the measured product mounted on the prism in space and precisely base the product relative to the common axis of the micrometer heels. Axis of the telescopic device is perpendicular to the common axis of the heels of the micrometer.EFFECT: technical effect is to improve the accuracy of measuring the dimensions of parts of complex configuration used in mechanical engineering, and the grain size of grain and leguminous crops due to the precise base of the measured product relative to the heels of the micrometer.1 cl, 9 dwg

Description

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к микрометрическим приборам для измерения наружных размеров. Оно может быть использовано при измерении размеров изделий сложной конфигурации в машиностроении, а также при измерении размеров зерен зерновых и бобовых культур в сельском хозяйстве.The invention relates to measuring equipment, in particular to micrometric devices for measuring external dimensions. It can be used in measuring the size of products of complex configuration in mechanical engineering, as well as in measuring grain sizes of grain and leguminous crops in agriculture.

Известен микрометр [1, черт. 5] типа МГ для измерения перемещений, который состоит из микрометрического винта, стебля барабана, трещотки (фрикциона). Недостатком данного микрометра является то, что с его помощью можно измерять только линейные перемещения, а измерять диаметры деталей типа «вал» или расстояния между наружными поверхностями невозможно.Known micrometer [1, dev. 5] type MG for measuring displacements, which consists of a micrometer screw, a stem of a drum, a ratchet (friction clutch). The disadvantage of this micrometer is that it can be used to measure only linear displacements, and it is impossible to measure the diameters of parts of the “shaft” type or the distance between the external surfaces.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому изобретению является гладкий микрометр типа МК [1, черт. 1]. Данный микрометр конструктивно предназначен преимущественно для измерения диаметров гладких валов, а также для измерения расстояний между параллельно расположенными плоскими поверхностями. Микрометры данного типа благодаря простоте и удобству пользования получили широкое распространение, как в мелкосерийном, так и крупносерийном производстве, а также в быту. При измерении диаметров валов, а также расстояния между параллельно расположенными плоскими поверхностями микрометр не требует специального базирования относительно измеряемых поверхностей, то есть, измерительные пятки в процессе измерения сами правильно базируются относительно измеряемых поверхностей. На производстве часто возникает необходимость измерения расстояния между различными вершинами изделий сложной конфигурации. В этом случае возникает проблема правильного базирования вершин изделия, расстояние между которыми необходимо измерять. При измерении расстояния между вершинами изделий сложной конфигурации эти вершины должны располагаться на общей оси измерительных пяток. Так как измерительные поверхности пяток микрометра представляют параллельно расположенные плоские поверхности определенного диаметра, то при существующей конструкции микрометра визуально расположить вершины на общей оси микрометра практически невозможно, что приводит к увеличению погрешности результатов измерения.The closest in technical essence to the present invention is a smooth micrometer type MK [1, Fig. one]. This micrometer is designed primarily for measuring the diameters of smooth shafts, as well as for measuring the distances between parallel flat surfaces. Due to its simplicity and ease of use, micrometers of this type are widely used both in small-scale and large-scale production, as well as in everyday life. When measuring the diameters of the shafts, as well as the distance between parallel flat surfaces, the micrometer does not require special basing relative to the measured surfaces, that is, the measuring heels themselves are correctly based on the measured surfaces during the measurement. In production, it is often necessary to measure the distance between the various vertices of products of complex configuration. In this case, the problem arises of the correct basing of the product vertices, the distance between which must be measured. When measuring the distance between the vertices of products of complex configuration, these vertices should be located on the common axis of the measuring heels. Since the measuring surfaces of the heels of the micrometer represent parallel flat surfaces of a certain diameter, it is practically impossible to visually locate the vertices on the common axis of the micrometer with the existing design of the micrometer, which leads to an increase in the error of the measurement results.

Таким образом, проблема заключается в том, что при измерении расстояний между вершинами изделий сложной конфигурации, с помощью серийно выпускаемых конструкций и широко распространенных гладких микрометров типа МК сложно базировать изделие относительно пяток микрометра, что приводит к большим погрешностям результатов измерений. Поэтому, конструкцию гладких микрометров типа МК необходимо усовершенствовать таким образом, чтобы была возможность расположить вершины изделия сложной конфигурации, между которыми измеряется расстояние, на общей оси пяток микрометра и тем самым повысить точность результатов измерения. Такая ситуация может возникнуть не только с изделиями машиностроения, но и при измерении размеров зерновых и бобовых культур [2], например, длины зерна ржи, пшеницы, овса и других культур.Thus, the problem is that when measuring distances between the vertices of products of complex configuration, using commercially available designs and widespread smooth micrometers such as MK, it is difficult to base the product on the heels of the micrometer, which leads to large errors in the measurement results. Therefore, the design of smooth MK-type micrometers must be improved in such a way that it is possible to locate the vertices of the product of complex configuration, between which the distance is measured, on the common axis of the heels of the micrometer and thereby increase the accuracy of the measurement results. Such a situation can arise not only with engineering products, but also when measuring the size of grain and leguminous crops [2], for example, grain lengths of rye, wheat, oats and other crops.

Целью изобретения является разработка конструкции гладкого микрометра типа МК, позволяющего точно базировать изделие сложной конфигурации, а также зерна зернобобовых культур относительно пяток микрометра, у которого измеряется расстояние между двумя вершинами и тем самым повысить точность результатов измерения.The aim of the invention is to develop a design of a smooth micrometer type MK, which allows you to accurately base the product of complex configuration, as well as grain legumes relative to the heels of the micrometer, which measures the distance between two peaks and thereby improve the accuracy of the measurement results.

На фиг. 1 показана схема измерения диаметра гладкого вала с помощью серийно выпускаемых микрометров типа МК и приняты следующие обозначения: 1 - деталь (вал), у которого измеряется диаметр; 2 - пятка микрометра; 3 - пятка микрометрического винта микрометра; d - диаметр; X-X - общая ось пяток микрометра.In FIG. 1 shows a diagram for measuring the diameter of a smooth shaft using commercially available MK-type micrometers and the following notation is adopted: 1 - part (shaft), in which the diameter is measured; 2 - the heel of the micrometer; 3 - heel micrometer screw micrometer; d is the diameter; X-X is the common axis of the heels of the micrometer.

На фиг. 2 показана схема измерения расстояния между параллельно расположенными плоскостями изделия с помощью серийно выпускаемых микрометров типа МК и приняты следующие обозначения: 4 - изделие, у которого измеряется расстояние между параллельно расположенными плоскостями; l - расстояние между параллельно расположенными плоскостями. Остальные обозначения те же, что и на фиг. 1.In FIG. 2 shows a diagram of measuring the distance between parallel planes of a product using commercially available micrometers of the MK type and the following notation is adopted: 4 - a product in which the distance between parallel planes is measured; l is the distance between parallel planes. The remaining notation is the same as in FIG. one.

На фиг. 3 показана схема измерения длины изделия сложной конфигурации и приняты следующие обозначения: 5 - изделие сложной конфигурации; L - измеряемая длина (расстояние между точками (вершинами) А и В). Остальные обозначения те же, что и на фиг. 1.In FIG. 3 shows a diagram for measuring the length of a product of complex configuration and the following notation: 5 - product of complex configuration; L is the measured length (the distance between points (peaks) A and B). The remaining notation is the same as in FIG. one.

На фиг. 4 показана схема возможных вариантов расположения точек (вершин) А и В между пятками микрометра: позиция I - правильное расположение (базирование) точек А и В относительно пяток микрометра, то есть, точки А и В лежат на общей оси X-X пяток микрометра; позиции II и III - неправильное расположение (базирование) точек А и В относительно пяток микрометра, то есть, точки А и В не лежат на общей оси X-X. остальные обозначения те же самые, что и на предыдущих фигурах.In FIG. 4 shows a diagram of possible options for the location of points (vertices) A and B between the heels of the micrometer: position I - the correct location (base) of points A and B relative to the heels of the micrometer, that is, points A and B lie on the common axis X-X of the heels of the micrometer; Positions II and III - incorrect location (basing) of points A and B relative to the heels of the micrometer, that is, points A and B do not lie on the common axis X-X. the remaining designations are the same as in the previous figures.

На фиг. 5 показана возможная область расположения точек А и В в процессе измерения на плоской измерительной поверхности пяток 2 и 3 микрометра, ограниченная окружностью диаметра пяток: 6 - множество точек возможного расположения точек А и В вершин измеряемого изделия; Х-X - общая ось пяток микрометра в виде точки на плоской измерительной поверхности; D - диаметр пяток.In FIG. 5 shows the possible location of points A and B during the measurement on the flat measuring surface of the heels 2 and 3 micrometers, limited by the circumference of the diameter of the heels: 6 - many points of the possible location of points A and B of the vertices of the measured product; X-X is the common axis of the heels of the micrometer in the form of a point on a flat measuring surface; D is the diameter of the heels.

На фиг. 6 показана схема расположения визирных проволочек относительно общей оси X-X пяток микрометра и где приняты следующие обозначения: 7 - дальняя горизонтальная визирная проволочка; 8 - ближняя горизонтальная визирная проволочка; 9 - нижняя вертикальная визирная проволочка; 10 - верхняя вертикальная визирная проволочка; (2, 3) - пятки микрометра по фиг. 1; (А, В) - вершины детали сложной конфигурации по фиг. 3; (Х-X) - общая ось пяток микрометра; α - угол между вертикальным и горизонтальным плоскостями базирования; стрелки А и С - направления взгляда в процессе базирования изделия соответственно в вертикальном и перпендикулярном плоскостях.In FIG. 6 shows the location of the sighting wires relative to the common axis X-X of the heels of the micrometer and where the following designations are adopted: 7 - distant horizontal sighting wire; 8 - near horizontal sighting wire; 9 - lower vertical target wire; 10 - upper vertical target wire; (2, 3) —heel of the micrometer of FIG. one; (A, B) are the vertices of the part of the complex configuration of FIG. 3; (X-X) - the common axis of the heels of the micrometer; α is the angle between the vertical and horizontal basing planes; arrows A and C are the directions of the gaze in the process of basing the product, respectively, in the vertical and perpendicular planes.

На фиг. 7 (вид сверху) показана схема базирования в горизонтальной плоскости изделия 5 сложной конфигурации относительно пяток 2 и 3 микрометра при измерении расстояния между точками (вершинами) А и В и приняты следующие обозначения: 7 - дальняя горизонтальная визирная проволочка; 8 - ближняя горизонтальная визирная проволочка, (визирные проволочки 7 и 8 параллельны между собой и параллельны общей оси Х-X пяток микрометра и расположены на горизонтальной плоскости); 9 - нижняя вертикальная визирная проволочка; 10 - верхняя вертикальная визирная проволочка, (визирные проволочки 9 и 10 параллельны между собой и параллельны общей оси X-X пяток микрометра и расположены на вертикальной плоскости); S - зазор между точками (вершинами) A и В изделия 5 в процессе ориентации изделия относительно пяток 2 и 3 микрометра. Остальные обозначения те же, что и на фиг. 3.In FIG. 7 (top view) shows a basing diagram in the horizontal plane of a product 5 of a complex configuration relative to the heels 2 and 3 micrometers when measuring the distance between points (peaks) A and B and the following notation is adopted: 7 - distant horizontal sight wire; 8 - near horizontal sighting wire, (sighting wires 7 and 8 are parallel to each other and parallel to the common axis X-X of the heels of the micrometer and are located on a horizontal plane); 9 - lower vertical target wire; 10 - upper vertical sighting wire, (sighting wires 9 and 10 are parallel to each other and parallel to the common axis X-X of the heels of the micrometer and are located on a vertical plane); S - the gap between the points (vertices) A and B of the product 5 in the process of orientation of the product relative to the heels 2 and 3 micrometers. The remaining notation is the same as in FIG. 3.

На фиг. 8. (вид спереди) показана схема базирования в вертикальной плоскости изделия 5 сложной конфигурации перед измерением относительно пяток 2 и 3 микрометра и приняты следующие обозначения: 11 - призма для изделия, 12 - стойка верхняя, 13 - шарнир, 14 - стойка нижняя, 15 - паз крепежный, 16 - скоба микрометра, остальные обозначения те же, что и на фиг. 7. Стрелками показаны возможные направления перемещения базируемого изделия 5 в процессе его базирования относительно пяток микрометра.In FIG. 8. (front view) shows a basing diagram in the vertical plane of a product 5 of complex configuration before measuring with respect to the heels 2 and 3 micrometers and the following notation is accepted: 11 - prism for the product, 12 - upper strut, 13 - hinge, 14 - lower strut, 15 - mounting groove, 16 - micrometer bracket, other designations are the same as in FIG. 7. The arrows indicate the possible directions of movement of the base product 5 in the process of basing it relative to the heels of the micrometer.

На фиг. 9 показан вид слева по фиг. 8 позволяющий иметь более полное представление о конструкции микрометра предложенной конструкции, обозначения те же что и на фиг. 8.In FIG. 9 is a left view of FIG. 8, allowing to have a more complete picture of the micrometer design of the proposed design, the designations are the same as in FIG. 8.

Сущность изобретения заключается в следующем. В процессе измерения диаметра детали 1 типа «вал» (фиг. 1) измеряемый диаметр d должен лежать на общей оси Х-X пяток 2 и 3 микрометра. Для существующих конструкций микрометров типа МК базирование вала относительно общей оси пяток микрометра это не представляет сложности, так как пятки микрометра представляют плоские поверхности определенного диаметра D (фиг. 5). Базирование изделия 4 (фиг. 2) относительно пяток 2 и 3 микрометра при измерении расстояния l между двумя параллельно расположенными поверхностями также не представляет сложности. То есть, микрометры типа МК изначально проектировались и изготавливаются для измерения размеров типовых изделий машиностроения, таких как типа «вал», расстояния между параллельно расположенными поверхностями изделий и т.п. При этом, базирование измеряемого изделия между пятками микрометра не представляет сложности по причине изначальной приспособленности «друг к другу» для измерения, как конструкции самого микрометра, так и формы измеряемых изделий. Сложность появляется при измерении размеров деталей сложной конфигурации (фиг. 3) - эта сложность базирования (расположения) точек А и В (вершин) изделия 5 сложной конфигурации между пятками 2 и 3 микрометра, то есть, сложность базирования точек А и В на общей оси Х-Х в процессе измерения с микрометрами типа МК серийно выпускаемой конструкции. Такую форму могут иметь не только изделия машиностроения, например, имеют зерна зерновых и бобовых культур, ржи, пшеницы, овса и др., для измерения их длины, также рекомендуется применять микрометры типа МК [2]. На фиг. 4 указаны возможные варианты расположения точек А и В (вершин) изделия 5 при измерении расстояния между ними обычным серийным микрометром типа МК. Правильное расположение (базирование) точек А и В указано позицией I, то есть, точки А и В лежат на общей оси Х-X. Позиции II и III - неправильное расположение (базирование) точек А и В в процессе измерения относительно общей оси пяток Х- X, то есть, точки А и В не лежат на общей оси Х-Х, что приводит к появлению погрешности измерения размера L (фиг. 3). При базировании измеряемого изделия сложной конфигурации при применении серийно выпускаемых микрометров типа МК расположение вершин А и 8 изделия 5 относительно общей оси X-X и на плоской измерительной поверхности пяток имеет случайный характер и ограничивается окружностью диаметра пяток D, что видно на фиг. 5. Чем дальше располагаются в процессе измерения точки (вершины) А и В от общей оси Х-Х (на. фиг. 5 они показаны в виде точек 6), тем больше погрешность результатов измерения расстояния l (фиг. 3). Наличие горизонтальных визирных проволочек 7 и 8 (фиг. 6) позволяет ориентировать изделие 5 относительно общей оси X-X пяток микрометра в вертикальной плоскости, а вертикальные визирные проволочки 9 и 10 позволяют ориентировать изделие 5 относительно общей оси Х-Х пяток микрометра в горизонтальной плоскости. Визирные проволочки 7 и 8, 9 и 10 закреплены на скобе 16 микрометра (фиг. 8) в области расположения пяток, параллельны общей оси Х- Х пяток микрометра и находятся в двух перпендикулярных плоскостях. Призма 11 (фиг. 8) для установления изделия 5 закреплено на верхней стойке 12, который телескопически установлен в нижнюю стойку 14 и имеет возможность перемещаться в вертикальном направлении и фиксироваться в нужном положении по высоте. Верхняя стойка имеет шарнирную часть 13, которая позволяет ориентировать изделие 5 относительно пяток 2 и 3 микрометра в пространстве. Изделие 5 можно просто расположить в призме 11 или же закрепить неподвижно. Таким образом, конструктивно призма может перемещаться вверх и вниз в вертикальной плоскости и влево и вправо в горизонтальной плоскости, что на фиг. 8 обозначено стрелками. На фиг. 9 показан вид слева предложенного микрометра, что позволяет более подробно понять сущность и конструкцию предложенного микрометра. Конструктивно призма 11, стойки 12 и 14, шарнир 13, паз крепежный 15 а также механизм перемещения ложе в горизонтальном и вертикальном направлениях могут быть выполнены в разных конструктивных исполнениях, поэтому на фигурах детально не показаны.The invention consists in the following. In the process of measuring the diameter of a part 1 of the “shaft” type (Fig. 1), the measured diameter d should lie on the common axis X-X of the heels 2 and 3 micrometers. For existing designs of MK type micrometers, basing the shaft relative to the common axis of the heels of the micrometer is not difficult, since the heels of the micrometer represent flat surfaces of a certain diameter D (Fig. 5). The base of the product 4 (Fig. 2) with respect to the heels 2 and 3 of the micrometer when measuring the distance l between two parallel surfaces is also not difficult. That is, MK type micrometers were originally designed and manufactured to measure the sizes of typical engineering products, such as the “shaft” type, the distance between parallel surfaces of the products, etc. Moreover, the basing of the measured product between the heels of the micrometer is not difficult due to the initial adaptability "to each other" for measuring both the design of the micrometer itself and the shape of the measured products. Complexity arises when measuring the dimensions of parts of complex configuration (Fig. 3) - this is the complexity of basing (positioning) points A and B (vertices) of product 5 of complex configuration between the heels 2 and 3 micrometers, that is, the complexity of basing points A and B on a common axis XX in the measurement process with micrometers type MK of a commercially available design. Not only mechanical engineering products can have such a shape, for example, they have grains of grain and leguminous crops, rye, wheat, oats, etc., to measure their length, it is also recommended to use MK-type micrometers [2]. In FIG. 4 shows the possible location of points A and B (peaks) of the product 5 when measuring the distance between them with a conventional serial micrometer type MK. The correct location (basing) of points A and B is indicated by I, that is, points A and B lie on the same axis X-X. Positions II and III - the incorrect location (basing) of points A and B during the measurement process relative to the common axis of the heels X-X, that is, points A and B do not lie on the common axis X-X, which leads to the appearance of an error in measuring the size L ( Fig. 3). When basing a measured product with a complex configuration when using commercially available MK-type micrometers, the location of the vertices A and 8 of product 5 relative to the common axis X-X and on the flat measuring surface of the heels is random and limited by the circumference of the diameter of the heels D, as can be seen in FIG. 5. The further the points (peaks) A and B are located during the measurement process from the common axis X-X (in Fig. 5 they are shown as points 6), the greater the error in the results of measuring the distance l (Fig. 3). The presence of horizontal sighting wires 7 and 8 (Fig. 6) allows you to orient the product 5 relative to the common axis X-X of the heels of the micrometer in the vertical plane, and vertical sighting wires 9 and 10 allow you to orient the product 5 relative to the common axis X-X of the heels of the micrometer in the horizontal plane. The targeting wires 7 and 8, 9 and 10 are fixed on the bracket 16 of the micrometer (Fig. 8) in the area of the heels, parallel to the common axis X-X of the heels of the micrometer and are in two perpendicular planes. The prism 11 (Fig. 8) for mounting the product 5 is mounted on the upper rack 12, which is telescopically mounted in the lower rack 14 and has the ability to move in the vertical direction and be fixed in the desired position in height. The upper rack has a hinge portion 13, which allows you to orient the product 5 relative to the heels 2 and 3 micrometers in space. The product 5 can simply be placed in the prism 11 or fixed motionless. Thus, constructively, the prism can move up and down in the vertical plane and left and right in the horizontal plane, as in FIG. 8 is indicated by arrows. In FIG. 9 shows a left side view of the proposed micrometer, which allows a more detailed understanding of the nature and design of the proposed micrometer. Structurally, the prism 11, racks 12 and 14, the hinge 13, the mounting groove 15 and the bed moving mechanism in the horizontal and vertical directions can be made in different designs, therefore, are not shown in detail in the figures.

Измерение длины L детали 5 (фиг. 7) с помощью предложенного микрометра осуществляется в следующей последовательности. Микрометр устанавливают в вертикальном положении (общая ось пяток Х-Х при этом находиться горизонтально). Устанавливают измеряемое изделие 5 в призме 11 (фиг. 8). При этом изделие 5 может быть закреплено неподвижно относительно призмы 11 или же просто установлено, то есть имеет возможность перемещаться относительно призмы 11. Это зависит от размеров и конфигурации изделия. При этом вершины А и В изделия 5 (фиг. 7) должны выходить за края призмы 11 это позволяет обеспечивать зазор S между вершинами изделия и пятками микрометра (фиг. 7). При этом, (фиг. 7) пятки 2 и 3 микрометра должны быть разведены настолько, чтобы между вершинами А и В и соответственно пятками микрометра 2 и 3 образовался зазор S. Перемещают призму 11 в вертикальном направлении вверх или вниз, перемещая верхнюю стойку 12 относительно нижней стойки 14 до уровня, пока один из вершин А или В не окажется на общей оси Х-Х. То есть, при этом горизонтальные визирные проволочки 7 и 8, а также один из вершин А или В и общая ось Х-Х должны находиться на одной горизонтальной плоскости. Данная процедура контролируется визуально по стрелке С (фиг. 6) С помощью шарнира 13 устанавливают другую вершину изделия на общую ось Х-Х Таким образом, изделие в вертикальной плоскости ориентировано перпендикулярно относительно пяток 2 и 3 микрометра. При этом, визирные проволочки 7 и 8, общая ось Х-Х пяток микрометра и вершины А и В изделия 5 располагаются на одной горизонтальной плоскости. Ориентируясь визуально по стрелке Б (фиг. 6) вертикальной визирными проволочками 9 и 10 устанавливают вершины А и В в горизонтальной плоскости на общую ось Х-Х. Так как пятки микрометра относительно его скобы располагаются несимметрично, то после базирования изделия по вертикали и горизонтали призму перемещают влево до контакта вершины А изделия 5 измерительной плоскостью пятки 2. На этом правильное базирование изделия 5 относительно пяток 2 и 3 микрометра завершается. Дальше осуществляют измерение размера изделия сложной конфигурации путем вращения микрометрического винта микрометра за трещотку (фрикцион) по обычной схеме. В зависимости от габаритных размеров и удобства настройки, имеется возможность регулирования расстояния между визирными проволочками и их расстояние относительно общей оси X-X пяток микрометра.The measurement of the length L of the part 5 (Fig. 7) using the proposed micrometer is carried out in the following sequence. The micrometer is installed in a vertical position (the common axis of the heels XX is horizontal). Install the measured product 5 in the prism 11 (Fig. 8). In this case, the product 5 can be fixed motionless relative to the prism 11 or simply installed, that is, it can move relative to the prism 11. This depends on the size and configuration of the product. In this case, the vertices A and B of the product 5 (Fig. 7) must extend beyond the edges of the prism 11, this allows for a gap S between the vertices of the product and the heels of the micrometer (Fig. 7). At the same time, (Fig. 7), the heels 2 and 3 of the micrometer should be diluted so that a gap S is formed between the vertices A and B and, respectively, the heels of the micrometer 2 and 3. The prism 11 is moved vertically up or down, moving the upper strut 12 relative to lower rack 14 to a level until one of the vertices A or B is on the common axis XX. That is, in this case, the horizontal sighting wires 7 and 8, as well as one of the vertices A or B and the common axis X-X, must be on the same horizontal plane. This procedure is visually controlled by arrow C (Fig. 6). Using the hinge 13, set another tip of the product to the common axis X-X. Thus, the product in a vertical plane is oriented perpendicular to the heels of 2 and 3 micrometers. In this case, the target wires 7 and 8, the common axis X-X of the heels of the micrometer and the vertices A and B of the product 5 are located on one horizontal plane. Orienting visually along arrow B (Fig. 6), vertical aiming wires 9 and 10 set the vertices A and B in the horizontal plane on the common axis X-X. Since the heels of the micrometer are asymmetrically positioned relative to its brackets, then, after basing the product vertically and horizontally, the prism is moved to the left until the tip A of the product 5 contacts the measuring plane of the heel 2. This completes the correct basing of the product 5 relative to the heels 2 and 3 of the micrometer. Next, they measure the size of the product with a complex configuration by rotating the micrometer screw of the micrometer for a ratchet (friction clutch) in the usual way. Depending on the overall dimensions and ease of adjustment, it is possible to control the distance between the target wires and their distance relative to the common axis X-X of the heels of the micrometer.

Технический эффект заключается в повышении точности измерения размеров деталей сложной конфигурации, применяемых в машиностроении и размеров зерен зерновых и зернобобовых культур за счет точного базирования измеряемого объекта относительно пяток микрометра путем конструктивного усовершенствования серийно выпускаемых гладких микрометров типа МК.The technical effect is to increase the accuracy of measuring the size of parts of complex configuration used in mechanical engineering and the grain size of grain and leguminous crops due to the accurate basing of the measured object relative to the heels of the micrometer by constructive improvement of commercially available smooth micrometers type MK.

Источники информацииInformation sources

1. ГОСТ 6507-90 Микрометры. Технические условия.1. GOST 6507-90 Micrometers. Technical conditions

2. Федорова Р.А. Биохимические особенности свойства зерна / Учебно-методическое пособие, Университет ИТМО, СПб., 2016.2. Fedorova R.A. Biochemical features of grain properties / Teaching aid, ITMO University, St. Petersburg, 2016.

Claims

A micrometer for performing external measurements, consisting of a bracket, a heel, a micrometer screw, a stopper, a stem, a micrometer screw drum and a ratchet (friction clutch), characterized in that it additionally contains two pairs of sight wires parallel to each other and located respectively in the horizontal and vertical planes, which are parallel to the common axis of the heels of the micrometer, have the ability to change the distance between them and relative to the common axis of the heels of the micrometer, also containing a movable prism with the possibility of the position in space and mounted on the upper rack of the telescopic device mounted on the bracket of the micrometer and having the ability to move with the prism in the horizontal direction, and the width of the prism is less than the distance between the vertices of the measured product.