RU2671543C1 - Method of creating a bilateral topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes - Google Patents
Method of creating a bilateral topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes Download PDFInfo
- Publication number
- RU2671543C1 RU2671543C1 RU2017122422A RU2017122422A RU2671543C1 RU 2671543 C1 RU2671543 C1 RU 2671543C1 RU 2017122422 A RU2017122422 A RU 2017122422A RU 2017122422 A RU2017122422 A RU 2017122422A RU 2671543 C1 RU2671543 C1 RU 2671543C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- resist
- substrate
- holes
- drying
- metallization
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 230000002146 bilateral effect Effects 0.000 title abstract description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 40
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims abstract description 8
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 6
- 238000001459 lithography Methods 0.000 abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001856 aerosol method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- GXDVEXJTVGRLNW-UHFFFAOYSA-N [Cr].[Cu] Chemical group [Cr].[Cu] GXDVEXJTVGRLNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005119 centrifugation Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/308—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching using masks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/28—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к области технологии микроэлектроники, а именно к способам, специально предназначенным для изготовления или обработки микроструктурных устройств или систем. Изобретение может быть использовано при изготовлении 3D - МЭМС структур, многокристальных систем в корпусе с конструктивным расположением кристаллов один над другим, а также СВЧ устройств на основе интегрированных в подложку волноводов.The invention relates to the field of microelectronics technology, and in particular to methods specifically designed for the manufacture or processing of microstructural devices or systems. The invention can be used in the manufacture of 3D - MEMS structures, multichip systems in a housing with a structural arrangement of crystals one above the other, as well as microwave devices based on waveguides integrated into the substrate.
Известны способы формирования топологического рисунка с применением ряда методов нанесения резиста (Моро У. Микролитография: Принципы, методы, материалы. В двух частях. Пер. с англ. под ред. Р.Х. Тимерова. Москва. 1990): окунания, аэрозольного метода, центрифугирования, нанесения вальцами.Known methods of forming a topological pattern using a number of methods of applying a resist (Moro W. Microlithography: Principles, methods, materials. In two parts. Translated from English under the editorship of R.Kh. Timerov. Moscow. 1990): dipping, aerosol method centrifugation, roller application.
К недостаткам известных методов нанесения резиста при формировании топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями относится низкая технологичность, а значит невоспроизводимость:The disadvantages of the known methods of applying a resist when forming a topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes include low manufacturability, which means irreproducibility:
- при центрифугировании резиста на металлизации подложек со сквозными металлизированными микроотверстиями возникают «кометы» из-за невоспроизводимого затекания резиста в отверстия, а при травлении топологического рисунка металлизация сквозных отверстиях может стравливаться,- when the resist is centrifuged on the metallization of substrates with through metallized microholes, “comets” arise due to irreproducible flow of the resist into the holes, and when the topological pattern is etched, the metallization of the through holes can be etched,
- при применении аэрозольного метода нанесения резиста или нанесения резиста вальцами маскирование в сквозных отверстиях металлизации неравномерно, что приводит к возможности ее травления при формировании топологического рисунка,- when applying the aerosol method of applying resist or applying resist with rollers, masking in the through holes of metallization is uneven, which leads to the possibility of etching when forming a topological pattern,
- при нанесении резиста окунанием образуется клин покрытия резиста по толщине из-за стекания резиста под действием силы тяжести, что приводит к невоспроизводимости получения топологического рисунка.- when applying a resist by dipping, a resist coating wedge is formed in thickness due to the draining of the resist under the action of gravity, which leads to the irreproducibility of obtaining a topological pattern.
Из патента US 8 067 060 (Commisariat a Atomique, публикация 2011 г.) известен способ нанесения полимерного слоя из раствора на подложки, содержащие углубления. Для заполнения углублений применяется планаризация слоя полимера с помощью цилиндра, помещенного на плоскую часть поверхности подложки. Недостатком известного способа является низкая технологичность и, как следствие, низкая воспроизводимость процесса нанесения из-за механического воздействия цилиндра на поверхность подложки, что не позволяет обрабатывать хрупкие подложки и/или перфорированные подложки (со сквозными отверстиями) из-за неконтролируемого выдавливания полимера через отверстия. Наиболее близким техническим решением к заявляемому является способ изготовления полупроводниковых устройств, предусматривающий спреевое нанесение покрытия на подложку с отверстиями, известный из патентной заявки JP S57 145 325 (Nippon Electric Co., публикация 1982 г.). Недостаток данного способа является его низкая технологичность при обработке подложек со сквозными отверстиями.From US Pat. No. 8,067,060 (Commisariat a Atomique, 2011 publication) discloses a method for applying a polymer layer from a solution to substrates containing depressions. To fill the recesses, planarization of the polymer layer is applied using a cylinder placed on a flat part of the surface of the substrate. The disadvantage of this method is the low processability and, as a consequence, the low reproducibility of the deposition process due to the mechanical action of the cylinder on the surface of the substrate, which does not allow brittle substrates and / or perforated substrates (with through holes) to be processed due to uncontrolled extrusion of the polymer through the holes. The closest technical solution to the claimed is a method of manufacturing semiconductor devices, providing spray coating on a substrate with holes, known from patent application JP S57 145 325 (Nippon Electric Co., 1982 publication). The disadvantage of this method is its low manufacturability when processing substrates with through holes.
Таким образом, ожидаемым техническим результатом предложенного изобретения является повышение технологичности и воспроизводимости при формировании двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями.Thus, the expected technical result of the proposed invention is to increase manufacturability and reproducibility in the formation of a two-sided topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes.
Предложенный способ изготовления двустороннего топологического рисунка в металлизации подложек с металлизированными микроотверстиями предусматривает формирование топологического рисунка на металлизированных поверхностях подложек. Подложку окунают в резист с последующей первой сушкой и удалением резиста и затем наносят резист спреевым методом на сторону подложки с последующей второй сушкой, с дальнейшим экспонированием, проявлением, задубливанием, травлением металлизации и удалением резиста. В отличие от аналога первую сушку подложки после окунания в резист выполняют последовательно при температуре, меньшей температуры сушки резиста, и затем при температуре сушки резиста. Например, при температуре, равной половине температуры сушки резиста, в течение не менее 4 часов и при температуре сушки резиста в течение не менее 2 часов. Удаление резиста выполняют химико-механической обработкой с растворителем резиста. Спреевым методом наносят резист на одну сторону подложки с последующей завершающей сушкой этой стороны и - на другую сторону подложки с последующей завершающей сушкой этой стороны подложки. Размер капель резиста, наносимых спреевым методом, составляет dк<<dотв, где dк - диаметр капли резиста, мкм, dотв - диаметр сквозного микроотверстия, мкм.The proposed method for manufacturing a two-sided topological pattern in the metallization of substrates with metallized microholes involves the formation of a topological pattern on the metallized surfaces of the substrates. The substrate is dipped into a resist, followed by the first drying and removal of the resist, and then the resist is applied by the spray method on the side of the substrate, followed by the second drying, with further exposure, development, subduing, etching of the metallization and removal of the resist. Unlike the analogue, the first drying of the substrate after dipping into the resist is performed sequentially at a temperature lower than the drying temperature of the resist, and then at the drying temperature of the resist. For example, at a temperature equal to half the temperature of the drying of the resist for at least 4 hours and at the temperature of drying the resist for at least 2 hours. Removing the resist is performed by chemical-mechanical treatment with a solvent of the resist. Using a spray method, a resist is applied to one side of the substrate, followed by final drying of this side, and to the other side of the substrate, followed by final drying of this side of the substrate. The size of the resist droplets applied spreevym method is to d << d of holes where to d - diameter of the resist drops, um, holes d - diameter of the through microperforations, um.
Признаки и сущность заявленного изобретения поясняются в последующем детальном описании, иллюстрируемом чертежами, где показано следующее.The features and essence of the claimed invention are explained in the following detailed description, illustrated by the drawings, which show the following.
На фиг. 1 представлена блок-схема предложенного способа изготовления двустороннего топологического рисунка на металлизированных поверхностях подложек со сквозными металлизированными микроотверстиями. На фиг. 1 обозначена последовательность (а-з) осуществления предложенного способа:In FIG. 1 is a flowchart of a proposed method for manufacturing a two-sided topological pattern on the metallized surfaces of substrates with through metallized micro-holes. In FIG. 1 shows the sequence (az) of the implementation of the proposed method:
- нанесение резиста на металлизированные поверхности подложки со сквозными металлизированными микроотверстиями методом окунания (фиг. 1, а),- applying a resist to the metallized surface of the substrate with through metallized micro-holes by dipping method (Fig. 1, a),
- сушка резиста последовательно в две стадии при температуре, равной половине температуры сушки резиста, в течение не менее 4 часов и при температуре сушки резиста в течение не менее 2 часов (фиг. 1, б),- drying the resist sequentially in two stages at a temperature equal to half the drying temperature of the resist for at least 4 hours and at a drying temperature of the resist for at least 2 hours (Fig. 1, b),
- удаление резиста с металлизированных поверхностей подложки химико-механической обработкой с растворителем резиста (фиг. 1, в),- removal of the resist from the metallized surfaces of the substrate by chemical-mechanical treatment with a solvent of the resist (Fig. 1, c),
- нанесение резиста спреевым методом на лицевую сторону подложки при размере капель резиста dк<<dотв, где dк - диаметр капли резиста, dотв - диаметр сквозного микроотверстия (фиг. 1, г),- applying a resist spreevym method on the front side of the substrate at a droplet size of resist to d << d of holes where to d - diameter of the resist drops, holes d - diameter of the through microperforations (Figure 1 g.),
- сушка резиста после нанесения на лицевую сторону подложки (фиг. 1, д),- drying of the resist after application to the front side of the substrate (Fig. 1, d),
- нанесение резиста спреевым методом на обратную сторону подложки при размере капель резиста dк<<dотв, где dк - диаметр капли резиста, dотв - диаметр сквозного микроотверстия (фиг. 1, е),- applying a resist spreevym method to the reverse side of the substrate at a droplet size of resist to d << d of holes where to d - diameter of the resist drops, holes d - diameter of the through microperforations (Fig 1, e.),
- сушка резиста после нанесения на обратную сторону подложки (фиг. 1, ж),- drying of the resist after application to the back of the substrate (Fig. 1, g),
- двусторонняя литография, включающая известные стадии для изготовления двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями (фиг. 1, з).- double-sided lithography, including known stages for the manufacture of a two-sided topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes (Fig. 1, h).
На фиг. 2 (а-е) детально представлена последовательность предложенного способа в виде поперечных сечений подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями.In FIG. 2 (a-e) presents in detail the sequence of the proposed method in the form of cross-sections of a substrate with metallized surfaces and through holes.
На фиг. 2, а, 2, д, 2, е обозначены следующие позиции:In FIG. 2, a, 2, d, 2, e the following positions are indicated:
1 - подложка,1 - substrate
2 - сквозные микроотверстия,2 - through holes
3 - металлизация сквозных отверстий,3 - metallization of through holes,
4 - металлизированные поверхности подложки,4 - metallized surface of the substrate,
5 - топологический рисунок в резисте на металлизированных поверхностях подложки,5 is a topological drawing of a resist on the metallized surfaces of the substrate,
6 - двусторонний топологический рисунок в металлизации на подложке со сквозными металлизированными микроотверстиями,6 is a two-sided topological drawing in metallization on a substrate with through metallized micro-holes,
7 - резист на металлизированных поверхностях подложки со сквозными металлизированными микроотверстиями, сформированный методами окунания и сушки последовательно в две стадии при температуре, равной половине температуры сушки резиста, в течение не менее 4 часов и при температуре сушки резиста в течение не менее 2 часов,7 - resist on the metallized surfaces of the substrate with through metallized micro-holes, formed by dipping and drying successively in two stages at a temperature equal to half the temperature of drying the resist for at least 4 hours and at the drying temperature of the resist for at least 2 hours,
8 - резист, сформированный последовательно спреевым методом на лицевой стороне подложки при размере капель резиста dк<<dотв, сушкой, спреевым методом на обратной стороне подложки при размере капель резиста dк<<dотв, где dк - диаметр капли резиста, dотв - диаметр сквозного микроотверстия dотв - диаметр сквозного микроотверстия и сушкой.8 - resist is formed by sequentially spreevym on the front side of the substrate at a droplet size of resist to d << d holes, drying spreevym method on the back side of the substrate at a droplet size of resist to d << d of holes where to d - diameter of the resist drops, holes d - diameter of the through holes microperforations d - diameter of the through microperforations and drying.
На фиг. 2 представлены следующие поперечные сечения подложки в процессе реализации предложенного способа:In FIG. 2 presents the following cross sections of the substrate in the process of implementing the proposed method:
- поперечное сечение исходной подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями (фиг. 2, а),- a cross section of the original substrate with metallized surfaces and through holes (Fig. 2, a),
- поперечное сечение подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями после нанесения резиста на металлизированные поверхности подложки со сквозными металлизированными микроотверстиями методом окунания и сушки резиста последовательно в две стадии при температуре, равной половине температуры сушки резиста, в течение не менее 4 часов и при температуре сушки резиста в течение не менее 2 часов (фиг. 2, б),- the cross section of the substrate with metallized surfaces and through holes in the metal after applying the resist to the metallized surfaces of the substrate with through holes in the metal by dipping and drying the resist in series in two stages at a temperature equal to half the drying temperature of the resist for at least 4 hours and at the drying temperature of the resist for at least 2 hours (Fig. 2, b),
- поперечное сечение подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями после удаления резиста с металлизированных поверхностей подложки химико-механической обработкой с растворителем резиста (фиг. 2, в),- the cross section of the substrate with metallized surfaces and through-holes after removing the resist from the metallized surfaces of the substrate by chemical-mechanical treatment with a solvent of the resist (Fig. 2, c),
- поперечное сечение подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями после нанесения резиста спреевым методом на лицевую сторону подложки при размере капель резиста dк<<dотв, сушки резиста после нанесения на лицевую сторону подложки, нанесения резиста спреевым методом на обратную сторону подложки при размере капель резиста dк<<dотв, где dк - диаметр капли резиста, dотв - диаметр сквозного микроотверстия и сушки резиста после нанесения на обратную сторону подложки (фиг. 2, г),- the cross-section of the substrate with metallized surfaces and through holes in the hole after applying the resist by the spray method on the front side of the substrate with a droplet size d to << d holes , drying the resist after applying on the front side of the substrate, spraying the resist on the back side of the substrate with the droplet size resist to d << d of holes where to d - diameter of the resist drops, holes d - diameter of the through microperforations and drying after applying the resist onto the back side of the substrate (Figure 2, g.)
- поперечное сечение подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями после формирования топологического рисунка в резисте на металлизированных поверхностях подложки двусторонней литографией (фиг. 2, д),- the cross section of the substrate with metallized surfaces and through-holes after forming a topological pattern in a resist on the metallized surfaces of the substrate with double-sided lithography (Fig. 2, e),
- поперечное сечение подложки с металлизированными поверхностями и сквозными микроотверстиями после формирования топологического рисунка на металлизированных поверхностях подложки двусторонней литографией (фиг. 2, е).- the cross-section of the substrate with metallized surfaces and through micro-holes after the formation of a topological pattern on the metallized surfaces of the substrate with double-sided lithography (Fig. 2, f).
На фиг. 3 представлена микрофотография фрагмента двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложке со сквозными металлизированными микроотверстиями.In FIG. Figure 3 shows a micrograph of a fragment of a two-sided topological pattern in metallization on a substrate with through metallized micro-holes.
На фиг. 3 обозначены следующие позиции:In FIG. 3 the following items are indicated:
9 - металлизированная поверхность,9 - metallized surface,
10 - фрагмента двустороннего топологического рисунка,10 is a fragment of a bilateral topological drawing,
11 - металлизированные микроотверстия.11 - metallized micro-holes.
Предложенная последовательность режимов при формировании двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями выбрана, поскольку ни один из известных методов не позволяет технологично и воспроизводимо формировать двусторонний топологический рисунок в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями. В свою очередь, предложенный способ позволяет решить техническое противоречие между необходимостью травления металлизации при формировании двустороннего топологического рисунка и недопустимости травления.The proposed sequence of regimes when forming a two-sided topological pattern in metallization on substrates with through metallized microholes was chosen, since none of the known methods allows technologically and reproducibly forming a two-sided topological pattern in metallization on substrates with through metallized microholes. In turn, the proposed method allows to solve the technical contradiction between the need for pickling metallization in the formation of a two-sided topological pattern and the inadmissibility of pickling.
Данный способ был практически применен при формировании структуры СВЧ устройства на основе интегрированного в подложку волновода. Подложками служили пластины монокристаллического кремния толщиной 400±5 мкм. Методами микромашиной и тонкопленочной технологии в подложках формировали сквозные микроотверстия диаметром 150 мкм, после чего подложки и микроотверстия металлизировали с применением структуры хром-медь толщиной 3-5 мкм. Затем подложки подвергали обработкам, как на фиг. 1 и 2. В качестве резиста применяли позитивный фоторезист ФП-РН-7сэ с кинематической вязкостью 2,2-2,7 Ст (мм2/с). После окунания подложки выполнили сушку резиста последовательно в две стадии при температуре, равной половине температуры сушки резиста, в течение не менее 4 часов и при температуре сушки резиста в течение не менее 2 часов. Сушку резиста осуществляли в сушильном шкафу СНОЛ-350. Точность поддержания температуры составляла ±3°С.This method was practically applied in the formation of the structure of a microwave device based on a waveguide integrated into the substrate. Plates of single-crystal silicon 400 ± 5 μm thick were used as substrates. Through micromachines and thin-film technology, through holes in the diameter of 150 μm were formed in the substrates, after which the substrates and micro holes were metallized using a chromium-copper structure 3-5 μm thick. Substrates were then treated as in FIG. 1 and 2. A positive photoresist FP-RN-7se with a kinematic viscosity of 2.2-2.7 St (mm 2 / s) was used as a resist. After dipping the substrate, the resist was dried sequentially in two stages at a temperature equal to half the drying temperature of the resist for at least 4 hours and at a drying temperature of the resist for at least 2 hours. The resist was dried in a SNOL-350 oven. The accuracy of maintaining the temperature was ± 3 ° C.
Результаты практической отработки способа сведены в таблицу 1.The results of the practical development of the method are summarized in table 1.
Из таблицы 1 следует, что обработка согласно заявляемому способу обеспечивает наименьшую дефектность резистивного слоя и, следовательно, технологичность и воспроизводимость за счет повышения качества изделий.From table 1 it follows that the processing according to the claimed method provides the least defectiveness of the resistive layer and, therefore, manufacturability and reproducibility by improving the quality of products.
После сушки резист удаляли с металлизированных поверхностей подложки химико-механической обработкой с растворителем резиста, в качестве которого использовали ацетон. Затем проводили нанесение резиста с применением установки нанесения фоторезиста Sawatec iSpray-300. Резист наносили спреевым методом на лицевую сторону подложки при размере капель резиста dк<<dотв, где dк - диаметр капли резиста, dотв - диаметр сквозного микроотверстия.After drying, the resist was removed from the metallized surfaces of the substrate by chemical-mechanical treatment with a solvent of the resist, which was used as acetone. Then, resist application was performed using a Sawatec iSpray-300 photoresist application unit. The resist was applied by spreevym on the front side of the substrate at a droplet size of resist to d << d of holes where to d - diameter of the resist drops, holes d - diameter of the through microperforations.
Выбор размеров капель резиста для спрея проиллюстрирован в таблице 2.The choice of resist droplet sizes for the spray is illustrated in Table 2.
После нанесения резиста на лицевую сторону сформированный слой резиста подвергали сушке при температуре 100°С и повторяли нанесение и сушку в указанных режимах для обратной стороны подложки. Затем проводили двустороннее совмещение и экспонирование, проявление резиста, задубливание, травление металлизации и удаление резиста. Полученные образцы представлены на фиг. 3. Контроль отсутствия травления металлизации в микроотверстиях осуществляли, измеряя омическое сопротивление между двумя поверхностями до и после формирования двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями. Как до, так и после двусторонней литографии омическое сопротивление составляло менее 0,01 Ом, что свидетельствует об отсутствии травления металлизации и полностью удовлетворяет критерию качества изделий.After applying the resist to the front side, the formed resist layer was dried at a temperature of 100 ° C and the deposition and drying were repeated in the indicated modes for the reverse side of the substrate. Then, two-sided alignment and exposure were carried out, the manifestation of the resist, subduing, etching of the metallization and removal of the resist. The resulting samples are shown in FIG. 3. The absence of metallization etching in microholes was controlled by measuring the ohmic resistance between two surfaces before and after the formation of a two-sided topological pattern in metallization on substrates with through metallized microholes. Both before and after double-sided lithography, the ohmic resistance was less than 0.01 Ohm, which indicates the absence of metallization etching and fully meets the quality criterion of products.
Таким образом, предложен технологичный и воспроизводимый на практике способ формирования двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями.Thus, a technological and reproducible in practice method of forming a two-sided topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes has been proposed.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2017122422A RU2671543C1 (en) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | Method of creating a bilateral topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2017122422A RU2671543C1 (en) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | Method of creating a bilateral topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2671543C1 true RU2671543C1 (en) | 2018-11-01 |
Family
ID=64103104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2017122422A RU2671543C1 (en) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | Method of creating a bilateral topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2671543C1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2810691C1 (en) * | 2023-07-07 | 2023-12-28 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" | Method for manufacturing monolithic microwave integrated circuit |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57145325A (en) * | 1981-03-04 | 1982-09-08 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
RU2008743C1 (en) * | 1991-04-02 | 1994-02-28 | Научно-исследовательский институт "Пульсар" | Method of manufacture of semiconductor crystal |
RU2040129C1 (en) * | 1992-09-16 | 1995-07-20 | Владимир Викторович Вахрин | Process of manufacture of two-side printed circuit boards from glass cloth- based laminate |
US7021941B1 (en) * | 2004-10-19 | 2006-04-04 | Speed Tech Corp. | Flexible land grid array connector |
RU2279770C2 (en) * | 2001-12-20 | 2006-07-10 | Организасьон Еропеэн Пур Ля Решерш Нюклеэр | Method for manufacturing a multi-layer module of electronic board with high density of positioning of elements |
RU2557317C1 (en) * | 2013-12-30 | 2015-07-20 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И.Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина") | Method for manufacturing microwave integrated circuit |
US20160262271A1 (en) * | 2013-10-03 | 2016-09-08 | Obschchestvo S Ogranichennoy Otvetstvennostyu "Kompaniya Rmt" | Method for manufacturing a double-sided printed circuit board |
-
2017
- 2017-06-26 RU RU2017122422A patent/RU2671543C1/en active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57145325A (en) * | 1981-03-04 | 1982-09-08 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
RU2008743C1 (en) * | 1991-04-02 | 1994-02-28 | Научно-исследовательский институт "Пульсар" | Method of manufacture of semiconductor crystal |
RU2040129C1 (en) * | 1992-09-16 | 1995-07-20 | Владимир Викторович Вахрин | Process of manufacture of two-side printed circuit boards from glass cloth- based laminate |
RU2279770C2 (en) * | 2001-12-20 | 2006-07-10 | Организасьон Еропеэн Пур Ля Решерш Нюклеэр | Method for manufacturing a multi-layer module of electronic board with high density of positioning of elements |
US7021941B1 (en) * | 2004-10-19 | 2006-04-04 | Speed Tech Corp. | Flexible land grid array connector |
US20160262271A1 (en) * | 2013-10-03 | 2016-09-08 | Obschchestvo S Ogranichennoy Otvetstvennostyu "Kompaniya Rmt" | Method for manufacturing a double-sided printed circuit board |
RU2557317C1 (en) * | 2013-12-30 | 2015-07-20 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И.Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина") | Method for manufacturing microwave integrated circuit |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2810691C1 (en) * | 2023-07-07 | 2023-12-28 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" | Method for manufacturing monolithic microwave integrated circuit |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2994509B1 (en) | Process for manufacturing self-assembled block copolymer films | |
US7303663B2 (en) | Multistep release method for electrochemically fabricated structures | |
Lau et al. | Releasing high aspect ratio SU-8 microstructures using AZ photoresist as a sacrificial layer on metallized Si substrates | |
Matsumae et al. | A scalable clean graphene transfer process using polymethylglutarimide as a support scaffold | |
WO2021219032A1 (en) | Curved substrate etching method | |
US20160068430A1 (en) | Patterning method | |
KR20160069078A (en) | Method of manufacturing mask for deposition | |
RU2629926C1 (en) | Method of manufacturing plated-through microholes in silicon substrate | |
RU2671543C1 (en) | Method of creating a bilateral topological pattern in metallization on substrates with through metallized micro-holes | |
US20140217062A1 (en) | Porous Metal Etching | |
WO2016200119A1 (en) | Method for forming super hydrophobic surface | |
KR102310841B1 (en) | Direct current superposition curing for resist reflow temperature enhancement | |
Koyuncuoğlu et al. | Wet etching of platinum (Pt) electrodes for piezoelectric transducers using a thick photoresist mask | |
Johari et al. | The effect of softbaking temperature on SU-8 photoresist performance | |
US8512578B2 (en) | Multi-step release method for electrochemically fabricated structures | |
KR20230159456A (en) | Transfer of nanostructures using cross-linkable copolymer films | |
CN112606583A (en) | Micro-pattern structure transfer printing method and micro-pattern structure substrate | |
RU2645920C2 (en) | Method for forming contact windows in the layer of the protective foundation of a high-voltage device | |
Liu et al. | Novel approach to form and pattern sol–gel polymethylsilsesquioxane-based spin-on glass thin and thick films | |
KR20170099285A (en) | Method of selective plating | |
KR100601264B1 (en) | Method for forming micro-pattern by using polymer mold | |
Supreeti et al. | High‐resolution patterning on LTCC by transfer of photolithography‐based metallic microstructures | |
RU2672033C1 (en) | Method for formation of silica areas in silicon plate | |
JP2006501072A (en) | Method for forming a microstructure from a single crystal substrate | |
KR100951796B1 (en) | Method for Coating Substrate using Polymer Stamp |