RU2658112C1 - Способ измерения наноперемещений - Google Patents

Способ измерения наноперемещений Download PDF

Info

Publication number
RU2658112C1
RU2658112C1 RU2017113410A RU2017113410A RU2658112C1 RU 2658112 C1 RU2658112 C1 RU 2658112C1 RU 2017113410 A RU2017113410 A RU 2017113410A RU 2017113410 A RU2017113410 A RU 2017113410A RU 2658112 C1 RU2658112 C1 RU 2658112C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
signal
amplitude
laser
radiation
laser radiation
Prior art date
Application number
RU2017113410A
Other languages
English (en)
Inventor
Дмитрий Александрович Усанов
Анатолий Владимирович Скрипаль
Сергей Юрьевич Добдин
Елисей Игоревич Астахов
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского"
Priority to RU2017113410A priority Critical patent/RU2658112C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2658112C1 publication Critical patent/RU2658112C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/32Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области прецизионной контрольно-измерительной техники. Способ измерения наноперемещений заключается в том, что облучают объект лазерным излучением, регистрируют отраженное от объекта излучение, интерферирующее в лазере, встроенным фотодетектором. Преобразуют лазерное излучение в электрический автодинный сигнал. Длину волны лазерного излучения модулируют током питания заданной частоты и амплитуды. Амплитуду изменяют по гармоническому закону. Продетектированный сигнал раскладывают в спектральный ряд Фурье и ряд по функциям Бесселя. Измеряют амплитуду 2n-й (S2n) и 2n+2-й (S2n+2) гармоник спектра или 2n+1-й (S2n+1) и 2n+3-й (S2n+3) гармоник спектра автодинного сигнала, по отношению
Figure 00000056
или
Figure 00000057
, соответственно, вычисляют значение параметра амплитуды фазы токовой модуляции σ. Определяют величину стационарной фазы автодинного сигнала по формуле
Figure 00000058
, наноперемещение
Figure 00000059
отражателя находят по формуле:
Figure 00000060
, где ω0 - частота лазерного излучения, c - скорость света, J2n, J2n+2, J2n+1 и J2n+3 – функции Бесселя. Технический результат заключается в обеспечении возможности повышения точности измерения перемещений микро- и нанометрового диапазона. 4 ил.

Description

Изобретение относится к области прецизионной контрольно-измерительной техники, может быть использовано для определения микро- и нанометровых перемещений с высокой точностью, может найти широкое применение в точном машиностроении и электронной технике.
Известен способ измерения перемещений, в котором используется полупроводниковый лазерный диод со средством возбуждения, обеспечивающим изменение рабочей частоты лазера. При измерении луч от лазера, в виде последовательности импульсов, направляют на поверхность объекта, расстояние до которого требуется определить. Отражённое от объекта излучение имеет интенсивность, связанную с расстоянием от лазерного диода до отражателя, обусловленную когерентной интерференцией в лазере между рассеянным светом от объекта и светом внутри лазерного диода. Детектирование этого сигнала обеспечивает выработку электрического сигнала обратной связи. Сигнал содержит информацию об импульсах интенсивности, связанных с расстоянием L до объекта. По количеству импульсов рассчитывают расстояние до объекта, используя расчётное соотношение (см. патент РФ на изобретение №2111510, МПК G01S 17/32).
Недостатком известного способа является то, что в системе необходимо использование дополнительного блока, обеспечивающего гашение части сигнала обратной связи для уменьшения воздействия разрывов непрерывности сигнала возбуждения лазера на показания измерителя расстояния.
Известен способ измерения перемещений, в котором облучение измеряемого объекта происходит через оптическую фокусирующую систему моноимпульсным лазерным излучателем с модулированной добротностью и плотностью мощности в точке фокусировки, а излучение фокусируют в точке измерения объекта и одновременно в двух точках мерной базы, сигнал принимают с помощью широкополосной акустической антенны, причем точки облучения, а также приемник и его антенну располагают на оптической оси фокусирующей системы, а отсчет времени приема звуковой волны производят в конце первого полупериода электрического сигнала приемника, индуцированного этой волной. Устройство для осуществления способа содержит оптическую фокусирующую систему лазерного излучателя и компаратор с мерной базой, приемник акустических сигналов содержит широкополосную высокочастотную антенну, при этом оси антенны, акустического приемника и мерной базы совмещены с оптической осью фокусирующей системы (см. патент РФ на изобретение №2267743, МПК G01B 11/14, G01B 17/00).
Однако в измерительной системе используется источник звуковых волн, который способен вызвать дополнительные вибрации, влияющие на объект измерений, например, тонкостенные оболочки. Подобные вибрации будут служить дополнительным источником погрешности при измерении расстояния.
Известен способ и устройство для измерения расстояния, в котором излучение от лазерного диода после прохождения линзы падает на поверхность объекта в виде поплавка, покрытого отражающей лентой. Отражённый от объекта луч возвращается обратно в блок лазерного диода и регистрируется фотодиодом. Анализируя зарегистрированный сигнал, определяют расстояние L от измерителя до объекта (см. патент РФ на изобретение №2101731, МПК G01S 17/32).
Однако способ измерения сильно зависит от величины отражённого оптического излучения. Для того чтобы сигнал отражался от поверхности, авторы изобретения используют специальную ленту. Использование подобной ленты на некоторых объектах, со сложной геометрией и шероховатостью, представляется невозможным.
Известен способ, основанный на явлениях оптической обратной связи и частотной модуляции в полупроводниковых лазерах. В основу методики измерений дальности до исследуемых объектов и параметров их движения положено свойство полупроводниковых лазеров изменять частоту излучения под воздействием изменений инжекционного тока. При небольших (до 5 %) изменениях тока частота излучения изменяется линейно, и если этот ток периодически модулируется, то соответственно изменяются мощность и частота излучения. Модулированный таким образом пучок света направляется на исследуемый объект. Рассеянное им излучение попадает обратно в активную среду лазера, где усиливается и интерферирует с исходным излучением. Из-за конечного значения скорости света рассеянное излучение приходит в лазер с некоторой задержкой, вследствие чего частота этого излучения не совпадает с частотой, генерируемой лазером в данный момент. В результате на выходе встроенного в лазер фотодиода возникает электрический сигнал, параметры которого несут полезную информацию об отражающей способности исследуемого объекта, его удаленности и характеристиках движения (см. Соболев В.С., Кащеева Г.А. Активная лазерная интерферометрия с частотной модуляцией // Автометрия. 2008. 44, N 6., C. 49.; Amann M.-C., T. Bosch, M. Lescure, R. Myllyla, M. Rioux Laser ranging: a critical review of usual techniques for distance measurement // Optical Engineering, 2001, Vol. 40 No. 1, P10-18). В способе минимальное значение измеряемых перемещений составляет 40 мкм.
Однако предлагаемый способ не позволяет регистрировать нанометровые перемещения.
Наиболее близким к предлагаемому решению является способ, который заключается в облучении объекта лазерным излучением, регистрации встроенным в лазер фотодетектором автодинного сигнала по изменению мощности лазерного излучения и разложение зарегистрированного сигнала на спектральные компоненты. При этом перед регистрацией лазерного излучения фотодетектором объект или/и лазер подвергают вибрационному воздействию с заданной частотой и амплитудой, большей половины длины волны лазерного излучения, выделяют из зарегистрированного сигнала участок длительностью не менее чем величина, обратная заданной частоте, после разложения зарегистрированного сигнала на спектральные компоненты рассчитывают фазу автодинного сигнала по набору спектральных компонент, повторяют эту процедуру на следующем участке сигнала, по полученной зависимости фазы автодинного сигнала от времени рассчитывают скорость и величину перемещения (расстояние) движения объекта (см. патент РФ на изобретение № 2247395, МПК G01P3/36).
Однако данный способ имеет ограниченный диапазон измеряемых перемещений.
Техническая проблема заключается в расширении диапазона измеряемых перемещений и повышении точности проводимых измерений.
Технический результат заключается в значительном повышении точности измерения перемещений микро- и нанометрового диапазона.
Указанная техническая проблема решается тем, что облучают объект лазерным излучением, регистрируют отраженное от объекта излучение, интерферирующее в лазере, встроенным фотодетектором, преобразуют лазерное излучение в электрический автодинный сигнал, согласно решению длину волны лазерного излучения модулируют током питания заданной частоты и амплитуды, амплитуду изменяют по гармоническому закону, продетектированный сигнал раскладывают в спектральный ряд Фурье и ряд по функциям Бесселя, измеряют амплитуду 2n-й (S2n) и 2n+2-й (S2n+2) гармоник спектра или 2n+1-й (S2n+1) и 2n+3-й (S2n+3) гармоник спектра автодинного сигнала, по отношению S 2 n / S 2 n + 2 = ( J 2 n ( σ ) / ( J 2 n + 2 ( σ ) )
Figure 00000001
или S 2 n + 1 / S 2 n + 3 = ( J 2 n + 1 ( σ ) / ( J 2 n + 3 ( σ ) )
Figure 00000002
, соответственно, вычисляют значение параметра σ, и определяют величину стационарной фазы автодинного сигнала по формуле
Figure 00000003
, наноперемещение
Figure 00000004
отражателя находят по формуле: Δ L = θ c ω 0
Figure 00000005
, где ω0 - частота лазерного излучения, c - скорость света, J2n, J2n+2, J2n+1 и J2n+3 – функции Бесселя.
Изобретение поясняется чертежами. На фиг. 1 представлена блок-схема экспериментальной установки; на фиг. 2 представлен зарегистрированный автодинный сигнал при токовой модуляции длины волны лазерного излучения, полученный при отражении от объекта; на фиг. 3 представлен спектр автодинного сигнала; на фиг. 4 представлена зависимость наноперемещений зонда при заданной величине шага 80 нм зондового транслятора.
Позициями на фигурах обозначены:
1 – полупроводниковый лазерный автодин;
2 – держатель зонда ближнеполевого СВЧ зонда;
3 – объект (отражающая пластина);
4 – транслятор ближнеполевого СВЧ микроскопа;
5 – фотоприемник;
6 - фильтр переменного сигнала;
7 – аналого-цифровой преобразователь (АЦП);
8 – компьютер.
Для определения наноперемещений объекта по спектру частотномодулированного автодинного сигнала используют следующие теоретические предпосылки.
При воздействии отраженного излучения от объекта на лазерный диод излучаемая им мощность может быть представлена в виде [Усанов Д.А., Скрипаль А.В., Авдеев К.С. Определение расстояния до объекта с помощью частотно-модулированного полупроводникового лазерного автодина // Письма в ЖТФ. 2007. Том 33. Вып 21. С. 72-77]:
P ( j ( t ) ) = P 1 ( j ( t ) ) + P   2 cos ( ω ( j ( t ) ) τ 0 ( t ) ) ,
Figure 00000006
(1)
где P 1 ( j ( t ) )
Figure 00000007
- составляющая мощности, независящая от расстояния до внешнего отражателя, P 2
Figure 00000008
– амплитудная составляющая мощности, зависящая от фазового набега волны ω ( j ( t ) ) τ 0 ( t )
Figure 00000009
в системе с внешним отражателем,
Figure 00000010
– время обхода лазерным излучением расстояния до внешнего отражателя, ω ( j ( t ) )
Figure 00000011
– частота излучения полупроводникового лазера, зависящая от плотности тока накачки
Figure 00000012
и уровня обратной связи.
При модуляции длины волны излучения полупроводникового лазера частота и амплитудная составляющая мощности излучения лазера определятся соотношениями:
Figure 00000013
Figure 00000014
(2)
где
Figure 00000015
– собственная частота излучения полупроводникового лазерного диода;
Figure 00000016
– девиация частоты излучения полупроводникового лазерного диода;
Figure 00000017
– частота модуляции тока питания лазерного диода;
Figure 00000018
– начальная фаза. I1 – амплитуда токовой модуляции составляющей P1(j(t)).
Таким образом, выражение для мощности излучения частотномодулированного полупроводникового лазера (1) запишется в виде:
Figure 00000019
(3)
где стационарная фаза автодинного сигнала
Figure 00000020
, амплитуда фазы токовой модуляции
Figure 00000021
, круговая частота модуляции тока питания лазерного диода
Figure 00000022
.
Для описания низкочастотного спектра автодинного сигнала при гармонической модуляции длины волны излучения лазерного диода мощность автодинного сигнала может быть представлена в виде разложения в ряд по функциям Бесселя первого рода
Figure 00000023
:
Figure 00000024
(4)
Представляя автодинный сигнал в виде ряда Фурье с коэффициентами разложения
Figure 00000025
и
Figure 00000026
:
Figure 00000027
Figure 00000028
(5)
коэффициенты
Figure 00000029
, равные по модулю четным и нечетным спектральным составляющим разложения в ряд Фурье
Figure 00000030
Figure 00000031
(6)
можно записать в виде:
Figure 00000032
для четных n:
Figure 00000033
(7)
для нечетных n:
Figure 00000034
.
(8)
Соотношения (7) и (8) характеризуют связь спектральных составляющих частотномодулированного автодинного сигнала с функциями Бесселя первого рода.
Для определения наноперемещений отражателя через величину стационарной фазы автодинного сигнала, используют отношения 2n и 2n+2 или отношения 2n+1 и 2n+3 спектральных гармоник:
Figure 00000035
(9)
Figure 00000036
(10)
Решение полученных уравнений (9) и (10) относительно неизвестного параметра
Figure 00000037
позволяет записать выражение для определения наноперемещений отражателя через величину стационарной фазы автодинного сигнала
Figure 00000038
в виде:
Figure 00000039

или
Figure 00000040
.
(11)
Принимая во внимание, что
Figure 00000041
, получают соотношение для определения наноперемещений отражателя
Figure 00000042
:
Figure 00000043
.
(12)
Таким образом, для определения величины наноперемещений отражателя при токовой модуляции длины волны лазерного излучения по амплитудам спектральных составляющих S2n, S2n+2, S2n+1 и S2n+3 автодинного сигнала, используя уравнения (9) и (10), рассчитывают значение параметра
Figure 00000044
. Из соотношения (11) определяют величину стационарной фазы автодинного сигнала
Figure 00000045
, а, используя выражение (12), с учетом периодичности функции arctg определяют величину смещения зонда.
Способ реализуется с помощью устройства (фиг.1) следующим образом. Освещают объект (отражающую пластину) 3, закрепленный на трансляторе 4 ближнеполевого СВЧ микроскопа, излучением от частотномодулированного полупроводникового лазерного автодина 1 на лазерном диоде RLD-650 на квантоворазмерных структурах с дифракционно-ограниченной одиночной пространственной модой с длиной волны 650 нм. Полупроводниковый лазерный автодин (лазер) 1 закреплен на держателе зонда ближнеполевого СВЧ зонда 2. Модуляцию длины волны излучения проводят на частоте v1 = 100 Гц посредством модуляции тока питания лазера с помощью встроенного в лабораторную станцию виртуальных приборов NI ELVIS генератора сигналов. Изменение тока питания лазерного диода осуществляют путем изменения напряжения питания, подаваемого на полупроводниковую структуру от блока управления током питания. Отраженное излучение направляют в резонатор лазера, изменение мощности которого фиксируют фотоприемником 5. Продетектированный и усиленный сигнал с фотоприемника 5 проходит через фильтр переменного сигнала 6 и поступает на вход аналого-цифрового преобразователя 7, встроенного в модуль NI DAQmx (с частотой дискретизации 1.25 MГц), соединенного с компьютером 8. Параметр девиации частоты излучения лазерного диода wA измеряют с помощью спектрометра высокого разрешения SHR (Solar Laser Systems).
Измерения проводят с использованием электромагнитного транслятора фирмы STANDA модель 8MVT40-13, входящего с состав действующего макета ближнеполевого сканирующего СВЧ микроскопа. Основные параметры транслятора: разрешение – 80 нм (полный шаг); максимальная дистанция перемещения – 13 мм, максимальная скорость перемещения – 0.416 мм/с.
Длину волны лазерного излучения модулируют током питания заданной частоты и амплитуды, амплитуду изменяют по гармоническому закону, зарегистрированный автодинный сигнал (фиг.2) раскладывают в спектральный ряд Фурье (фиг.3) и ряд по функциям Бесселя, измеряют амплитуду 2n-й (S2n) и 2n+2-й (S2n+2) гармоник спектра или 2n+1-й (S2n+1) и 2n+3-й (S2n+3) гармоник спектра автодинного сигнала, по отношению
Figure 00000046
или
Figure 00000047
, соответственно, вычисляют значение параметра σ, и определяют величину стационарной фазы автодинного сигнала по формуле
Figure 00000048
, наноперемещение
Figure 00000049
отражателя находят по формуле:
Figure 00000050
, где ω0 - частота лазерного излучения, c - скорость света, J2n, J2n+2, J2n+1 и J2n+3 – функции Бесселя.
Для определения величины наноперемещений отражателя при токовой модуляции длины волны лазерного излучения по амплитудам спектральных составляющих S1, S2, S3 и S4 автодинного сигнала, используя уравнения (9) и (10), рассчитывают значение параметра
Figure 00000044
. Из соотношения (11) определяют величину стационарной фазы автодинного сигнала
Figure 00000045
, а, используя выражение (12), определяют величину смещения зонда ΔL. Как следует из результатов, приведенных на фиг. 4, погрешность определения величины наноперемещений ΔL по набору спектральных составляющих спектра автодинного сигнала не превышает 15%.

Claims (1)

  1. Способ измерения наноперемещений, заключающийся в том, что облучают объект лазерным излучением, регистрируют отраженное от объекта излучение, интерферирующее в лазере, встроенным фотодетектором, преобразуют лазерное излучение в электрический автодинный сигнал, отличающийся тем, что длину волны лазерного излучения модулируют током питания заданной частоты и амплитуды, амплитуду изменяют по гармоническому закону, продетектированный сигнал раскладывают в спектральный ряд Фурье и ряд по функциям Бесселя, измеряют амплитуду 2n-й (S2n) и 2n+2-й (S2n+2) гармоник спектра или 2n+1-й (S2n+1) и 2n+3-й (S2n+3) гармоник спектра автодинного сигнала, по отношению
    Figure 00000051
    или
    Figure 00000052
    , соответственно, вычисляют значение параметра амплитуды фазы токовой модуляции σ, и определяют величину стационарной фазы автодинного сигнала по формуле
    Figure 00000053
    , наноперемещение
    Figure 00000054
    отражателя находят по формуле:
    Figure 00000055
    , где ω0 - частота лазерного излучения, c - скорость света, J2n, J2n+2, J2n+1 и J2n+3 – функции Бесселя.
RU2017113410A 2017-04-18 2017-04-18 Способ измерения наноперемещений RU2658112C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017113410A RU2658112C1 (ru) 2017-04-18 2017-04-18 Способ измерения наноперемещений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017113410A RU2658112C1 (ru) 2017-04-18 2017-04-18 Способ измерения наноперемещений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2658112C1 true RU2658112C1 (ru) 2018-06-19

Family

ID=62620062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017113410A RU2658112C1 (ru) 2017-04-18 2017-04-18 Способ измерения наноперемещений

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2658112C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2738876C1 (ru) * 2020-06-01 2020-12-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" Способ измерения абсолютного расстояния
CN116973877A (zh) * 2023-09-22 2023-10-31 南京楚航科技有限公司 一种毫米波雷达形变测量方法、系统及测量真值标定方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6233045B1 (en) * 1998-05-18 2001-05-15 Light Works Llc Self-mixing sensor apparatus and method
RU2300085C1 (ru) * 2005-11-09 2007-05-27 ГОУ ВПО "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Способ определения амплитуды вибрации по двум гармоникам спектра автодинного сигнала
RU2520945C1 (ru) * 2013-02-01 2014-06-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского" Способ определения амплитуды нановибраций по спектру частотномодулированного полупроводникового лазерного автодина

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6233045B1 (en) * 1998-05-18 2001-05-15 Light Works Llc Self-mixing sensor apparatus and method
RU2300085C1 (ru) * 2005-11-09 2007-05-27 ГОУ ВПО "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Способ определения амплитуды вибрации по двум гармоникам спектра автодинного сигнала
RU2520945C1 (ru) * 2013-02-01 2014-06-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Саратовский Государственный Университет Имени Н.Г. Чернышевского" Способ определения амплитуды нановибраций по спектру частотномодулированного полупроводникового лазерного автодина

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Д.А.Усанов и др. "АВТОДИННАЯ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ РАССТОЯНИЯ ПРИ МОДУЛЯЦИИ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ЛАЗЕРА" Изв.Сарат. ун-та. Нов сер. Сер. Физика. Т.15, вып.3, 2015г. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2738876C1 (ru) * 2020-06-01 2020-12-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" Способ измерения абсолютного расстояния
CN116973877A (zh) * 2023-09-22 2023-10-31 南京楚航科技有限公司 一种毫米波雷达形变测量方法、系统及测量真值标定方法
CN116973877B (zh) * 2023-09-22 2023-12-12 南京楚航科技有限公司 一种毫米波雷达形变测量方法、系统及测量真值标定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110068699B (zh) 一种基于涡旋光倍频变换的物体复合运动探测装置
CN109724541B (zh) 基于涡旋光的旋转物体转轴倾斜角检测装置
CN108174503B (zh) 激光等离子体电子密度测量方法
CN108871640B (zh) 基于瞬态光栅激光超声表面波的残余应力无损检测系统和方法
CN111458011B (zh) 一种基于涡旋光的恒定转速旋转物体微振动探测装置
CN106247954B (zh) 一种基于变频干涉原理的飞秒激光测长装置及方法
CN112526544A (zh) 基于光学频率梳干涉测量法进行三维成像的装置及方法
CN103154720B (zh) 金属组织以及材质的测量装置及测量方法
RU2658112C1 (ru) Способ измерения наноперемещений
Zhang et al. Broad range and high precision self-mixing interferometer based on spectral analysis with multiple reflections
CN110617890A (zh) 一种具有强抗干扰能力的频域f-p型测速系统及其测速方法
CN106198729B (zh) 一种声板波自聚焦光干涉扫描探测系统
CN103674487A (zh) 一种激光陀螺超光滑反射镜背向散射测量装置及方法
EP2679984A1 (en) Method and arrangement for carrying out time-domain measurements
CN113639848B (zh) 具有多点同步测振的高性能扫频光学相干测振仪及方法
Teleshevskii et al. A heterodyne laser interferometer with digital phase conversion
LI JH et al. Y, et al. Research progress of the laser vibration measurement techniques for acoustic-to-seismic coupling landmine detection
RU2629651C1 (ru) Способ определения расстояния до объекта
RU2247395C1 (ru) Способ измерения скорости движения объекта
Kosinskii et al. Heterodyne laser interferometric techniques based on Fresnel diffraction
RU2675076C1 (ru) Способ измерения частотных характеристик механических конструкций оптическим методом
RU2738876C1 (ru) Способ измерения абсолютного расстояния
Usanov et al. Laser autodyne registration of nanodisplacements under laser wavelength modulation
WO2004003526A1 (en) Heterodyne laser interferometer using heterogeneous mode helium-neon laser and super heterodyne phase measuring method
Li et al. Real-time micro-vibration measurement with laser phase modulation