RU2653569C1 - Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию - Google Patents

Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию Download PDF

Info

Publication number
RU2653569C1
RU2653569C1 RU2017110636A RU2017110636A RU2653569C1 RU 2653569 C1 RU2653569 C1 RU 2653569C1 RU 2017110636 A RU2017110636 A RU 2017110636A RU 2017110636 A RU2017110636 A RU 2017110636A RU 2653569 C1 RU2653569 C1 RU 2653569C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
input
output
analyzer
parameters
measuring
Prior art date
Application number
RU2017110636A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Викторович Савелькаев
Светлана Владимировна Ромасько
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий"
Priority to RU2017110636A priority Critical patent/RU2653569C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2653569C1 publication Critical patent/RU2653569C1/ru

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относится к радиоизмерительной технике СВЧ и может быть использовано измерения S-параметров четырехполюсников. Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию, заключается в том, что четырехполюсник включают в анализатор, далее измеряют двухсигнальные комплексные коэффициенты отражения на входе и выходе при двух различных относительных сдвигах входного и выходного зондирующих сигналов. Также измеряют двухсигнальные комплексные коэффициенты отражения при непосредственном соединении входов входного и выходного измерительных каналов анализатора встык с последующим определением S-параметров четырехполюсника. Для достижения технического результата дополнительно измеряют односигнальные комплексные коэффициенты отражения на входе и выходе четырехполюсника при поочередной подаче на них соответственно входного и выходного зондирующих сигналов, а также односигнальные комплексные коэффициенты отражения входного и выходного измерительных каналов анализатора при непосредственном соединении их измерительных входов встык при поочередной подаче на них соответственно выходного и входного зондирующих сигналов. При этом к анализатору подключают сдвоенный согласованный микрополосковый калибратор и дополнительно измеряют его комплексные коэффициенты отражения при поочередной подаче на него входного и выходного зондирующих сигналов, с последующей нормировкой S-параметров четырехполюсника, измеренных в коаксиальных измерительных каналах анализатора относительно волнового сопротивления этого калибратора. Технический результат: повышение точности измерения S-параметров четырехполюсников в рассогласованных измерительных каналах анализатора, а также сокращение трудозатрат при многократной технологической коррекции опытного образца этих устройств. 2 ил.

Description

Изобретение относится к радиоизмерительной технике СВЧ и может быть использовано для измерения S-параметров четырехполюсников, предназначенных для включения в микрополосковую линию (МПЛ).
Известен двухсигнальный способ измерения S-параметров транзисторов (см. статью Mazumder S.R. Two-signal method of measuring the large-signal S-parameters of transistors / IEEE Trans. – 1978. – Vol. MTT-26, No 6. – P. 417–420), выбранный за аналог, который основан на одновременной подаче на вход и выход транзистора зондирующих сигналов
Figure 00000001
 и
Figure 00000002
 соответственно, формируемых делителем мощности, с последующим измерением двухсигнальных ККО
Figure 00000003
 (1)
на входе
Figure 00000004
 и выходе
Figure 00000005
 транзистора, для
Figure 00000006
 различных относительных сдвигов фаз
Figure 00000007
 (где
Figure 00000008
 изменяется от
Figure 00000009
 до
Figure 00000010
) зондирующих сигналов
Figure 00000011
 и
Figure 00000012
, а также измерением относительных возбуждений
Figure 00000013
Figure 00000014
 в виде отношения амплитуд
Figure 00000015
 зондирующих сигналов
Figure 00000016
 и
Figure 00000017
 при непосредственном соединении входов измерительных каналов анализатора и тех же относительных сдвигах фаз
Figure 00000018
 этих зондирующих сигналов;
Figure 00000019
 - мнимая единица. Решение системы уравнений (1) позволяет определить измеренные S-параметры транзистора.
Способ может быть реализован двумя двенадцатиполюсными рефлектометрами, подключенными к общему синтезатору зондирующих сигналов
Figure 00000017
 и
Figure 00000016
, полученных посредством деления мощности сигнала одного генератора и сдвига фазы одного из зондирующих сигналов
Figure 00000016
. В целом такая структура рефлектометров образует анализатор.
Недостатком известного способа является то, что он предполагает, что измерительные каналы анализатора, измеряющего S-параметры, согласованы, то есть нагрузочные ККО
Figure 00000020
 от этих входов при их непосредственном соединении равны нулю
Figure 00000021
. В реальности из-за их неидеальности они не согласованы
Figure 00000022
. Это приводит к существенной и неконтролируемой погрешности измерения S-параметров.
Наиболее близким к заявляемому способу по совокупности сходных признаков является двухсигнальный способ измерения S-параметров транзисторов (см. статью Li S.H., Bosisio R.G. Automatic analysis of two-port active microwave network / Electronics Letters. – 1982. – Vol. 18, No 24. – P. 1033–1034) транзисторов, выбранный за прототип. Он основан на одновременной подаче на вход и выход транзистора зондирующих сигналов
Figure 00000001
 и
Figure 00000002
 соответственно, формируемых делителем мощности, с последующим измерением двухсигнальных ККО
Figure 00000023
 (1) на входе
Figure 00000004
 и выходе
Figure 00000005
 транзистора, для двух
Figure 00000024
 различных относительных сдвигов фаз
Figure 00000025
 (
Figure 00000026
Figure 00000027
 ) зондирующих сигналов
Figure 00000011
 и
Figure 00000012
 , а также измерением относительных возбуждений
Figure 00000013
Figure 00000014
 в виде отношения амплитуд
Figure 00000015
 зондирующих сигналов
Figure 00000016
 и
Figure 00000017
 при непосредственном соединении входов измерительных каналов анализатора и тех же относительных сдвигах фаз
Figure 00000018
 этих зондирующих сигналов;
Figure 00000019
 - мнимая единица.
Решение системы уравнений (1) позволяет определить измеренные S-параметры транзистора в виде:
Figure 00000028
,
Figure 00000029
, (2)
Figure 00000030
,
Figure 00000031
.
Способ может быть реализован анализатором.
Недостатком известного способа является то, что он предполагает, что измерительные каналы анализатора, измеряющего S-параметры, согласованы, то есть комплексные коэффициенты отражения
Figure 00000020
 от их входов (нагрузочные ККО) при их непосредственном соединении равны нулю
Figure 00000021
. В реальности из-за их неидеальности они не согласованы
Figure 00000022
. Это приводит к существенной и неконтролируемой погрешности измерения S-параметров.
Задачей заявляемого способа является повышение точности измерения S-параметров четырехполюсников в рассогласованных измерительных каналах анализатора.
Поставленная задача достигается тем, что в известном способе измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию, заключающемся в том, что четырехполюсник включают в анализатор, далее измеряют двухсигнальные комплексные коэффициенты отражения на входе и выходе при двух различных относительных сдвигах входного и выходного зондирующих сигналов, а также измеряют двухсигнальные комплексные коэффициенты отражения при непосредственном соединении входов входного и выходного измерительных каналов анализатора встык с последующим определением S-параметров четырехполюсника, согласно изобретению дополнительно измеряют односигнальные комплексные коэффициенты отражения на входе и выходе четырехполюсника при поочередной подаче на них соответственно входного и выходного зондирующих сигналов, а также односигнальные комплексные коэффициенты отражения входного и выходного измерительных каналов анализатора при непосредственном соединении их измерительных входов встык при поочередной подаче на них соответственно выходного и входного зондирующих сигналов, кроме того, к анализатору подключают сдвоенный согласованный микрополосковый калибратор и дополнительно измеряют его комплексные коэффициенты отражения при поочередной подаче на него входного и выходного зондирующих сигналов, с последующей нормировкой S-параметров четырехполюсника, измеренных в коаксиальных измерительных каналах анализатора, относительно волнового сопротивления этого калибратора.
Введение новых отличительных признаков в известный способ в сочетании с известными признаками обеспечивает достижение поставленной задачи - повышение точности измерения S-параметров четырехполюсников, предназначенных для включения в микрополосковую линию, и положительного технического результата - повышение экономической эффективности систем автоматизированного проектирования усилителей и автогенераторов СВЧ. Исключение какого-либо из новых введенных отличительных признаков нарушает целостность предлагаемого способа и приводит к невозможности достижения поставленной цели и положительного технического результата.
Предлагаемый способ поясняется 2 чертежами.
На фиг.1 показано: а - сигнальный граф нагруженного четырехполюсника;
б - сигнальный граф непосредственного соединения плоскостей i-i (i=1,2) измерительных входов анализатора встык.
На фиг.2 показана эквивалентная схема замещения КП при подключении к нему согласованного микрополоскового калибратора.
Математическое описание способа. Для определения двухсигнальных ККО
Figure 00000032
 (1) на входе
Figure 00000004
 и выходе
Figure 00000005
 четырехполюсника, включенного в рассогласованные с нагрузками измерительные каналы анализатора, представим четырехполюсник в виде сигнального графа, показанного на фиг. 1а, где индексация по m для простоты упущена.
Используя правило не касающихся контуров, определим сигналы возбуждения
Figure 00000033
 и
Figure 00000034
 плоскостей
Figure 00000035
 входа
Figure 00000004
 и выхода
Figure 00000005
 четырехполюсника:
Figure 00000036
; (3)
Figure 00000037
;
Figure 00000038
,
где
Figure 00000039
 и
Figure 00000040
 - ККО входного
Figure 00000004
 и выходного
Figure 00000005
 измерительных каналов анализатора в плоскостях
Figure 00000035
 подключения к ним четырехполюсника (нагрузочные ККО) и то же ККО в индексации по j. Измерение нагрузочных ККО
Figure 00000039
 и
Figure 00000040
 осуществляют при непосредственном соединении плоскостей
Figure 00000035
 входов входного
Figure 00000004
 и выходного
Figure 00000005
 измерительных каналов анализатора встык.
Взяв отношение
Figure 00000041
 (3), получим:
Figure 00000042
Figure 00000043
. (4)
Для определения относительных возбуждений
Figure 00000044
 (4) представим анализатор при непосредственном соединении плоскостей
Figure 00000035
 входов его входного
Figure 00000004
 и выходного
Figure 00000005
 измерительных каналов встык, как показано на фиг.1б.
В этом случае сигналы возбуждения
Figure 00000033
 и
Figure 00000034
 определим в виде:
Figure 00000045
;
Figure 00000046
. (5)
Взяв отношение
Figure 00000041
 (5), получим
Figure 00000047
;
Figure 00000048
откуда
Figure 00000049
;
Figure 00000048
, (6)
где
Figure 00000050
 - двухсигнальные ККО, измеряемые при непосредственном соединении плоскостей
Figure 00000035
 входов входного
Figure 00000004
 и выходного
Figure 00000005
 измерительных каналов анализатора встык при тех же двух
Figure 00000024
 различных относительных сдвигов фаз
Figure 00000051
 и
Figure 00000052
 зондирующих сигналов
Figure 00000053
 и
Figure 00000017
.
Кроме того, определим односигнальные ККО
Figure 00000054
Figure 00000055
Figure 00000056
 на входе
Figure 00000004
 и выходе
Figure 00000005
 четырехполюсника. Полагая в (4)
Figure 00000057
, найдем
Figure 00000058
. (7)
Применяя к сигнальному графу, показанному на фиг.1а, правило не касающихся контуров, определим комплексные коэффициенты прямой и обратной передачи
Figure 00000059
 четырехполюсника
Figure 00000060
, (8)
где
Figure 00000061
 - определитель
Figure 00000062
. (9)
Вынося поочередно первые два члена
Figure 00000063
 и
Figure 00000064
 определителя
Figure 00000061
 (9) и осуществляя свертку согласно (7), получим другой его вид
Figure 00000065
. (10)
Определитель
Figure 00000066
 (10) обладает фундаментальным свойством - устанавливает связь
Figure 00000067
 и
Figure 00000068
-параметров четырехполюсника через его ККО
Figure 00000069
, что позволяет из (10) и (7) определить значение этих параметров. Для определения
Figure 00000070
- и
Figure 00000071
-параметров можно использовать измеренные ККП
Figure 00000072
 (8) или, как в нашем случае, двухсигнальные ККО
Figure 00000073
 (4).
Из равенства последних двух членов определителя
Figure 00000061
 (10) найдем
Figure 00000074
, (11)
где
Figure 00000075
 и
Figure 00000076
 - коэффициенты:
Figure 00000077
,
Figure 00000078
. (12)
Подстановка (11) в (7) при
Figure 00000079
 с исключением произведения
Figure 00000080
 дает
Figure 00000081
. (13)
Решение двух уравнений (4) при
Figure 00000082
 и
Figure 00000083
 относительно
Figure 00000084
 и при
Figure 00000085
 и
Figure 00000083
 относительно
Figure 00000086
 позволяет определить эти S-параметры:
Figure 00000087
, (14)
Figure 00000088
.
Таким образом, выражения (11), (13) и (14) устанавливают связь измеренных ККО
Figure 00000089
,
Figure 00000090
 и
Figure 00000091
 с S-параметрами четырехполюсника, нормированными относительно волнового сопротивления
Figure 00000092
 коаксиальных мер, используемых при калибровке анализатора.
Для нормировки S-параметров (11), (13) и (14) четырехполюсника, измеренных в коаксиальных измерительных каналах анализатора к волновому сопротивлению МПЛ, в которую будет включен этот четырехполюсник при его эксплуатации, необходима дополнительная калибровка анализатора расчетным микрополосковым согласованным калибратором или же двумя отрезками МПЛ (см. статью Савелькаев С.В. Коаксиальное контактное устройство / Измерительная техника. – 2005. – № 5. – С. 65–68), волновое сопротивление которых должно соответствовать волновому сопротивлению МПЛ в которую будет включен четырехполюсник. Так, например, согласованный калибратор содержит МПЛ, которая, с одной стороны, нагружена на согласованную резистивную нагрузку, а с другой, снабжена ленточным выводом. Подключение такого калибратора в плоскости i – i входа коаксиального контактного устройства (ККУ) (см. статью Савелькаев С.В. Коаксиальное контактное устройство / Измерительная техника. – 2005. – № 5. – С. 65–68) показано на фиг. 2, где
Figure 00000093
 - волновое сопротивление отрезка МПЛ, нагруженного на согласованную нагрузку с сопротивлением
Figure 00000094
.
В процессе дополнительной калибровки анализатора измеряют ККО
Figure 00000095
 микрополоскового, например, согласованного калибратора в плоскостях i – i его подключения к ККУ. Плоскости i – i физически совпадают с вспомогательными плоскостями
Figure 00000096
, где ККО
Figure 00000097
. Введение плоскостей
Figure 00000098
 обусловлено существованием между плоскостями i – i и
Figure 00000099
 четырехполюсников с
Figure 00000100
 -параметрами рассеяния (см. статью Савелькаев С.В. Коаксиальное контактное устройство / Измерительная техника. – 2005. – № 5. – С. 65–68). Эти четырехполюсники характеризуют неоднородность, которая существует в плоскостях i – i подключения МПЛ к ККУ. Сами неоднородности обусловлены конструктивным различием МПЛ и ККУ.
По измеренным ККО
Figure 00000101
 определяют
Figure 00000102
 -параметры рассеяния:
Figure 00000103
Figure 00000104
 (15)
Figure 00000105
 i = 1, 2,
где
Figure 00000106
 - волновое сопротивление ККУ, равное волновому сопротивлению коаксиальных мер, используемых при калибровке анализатора.
Нормировка
Figure 00000107
Figure 00000108
 -параметров (15) и, следовательно, последующая нормировка измеренных S-параметров (11), (13) и (14) первоначально нормированных относительно волнового сопротивления
Figure 00000092
 коаксиальных мер, используемых при калибровке анализатора, может быть осуществлена относительно произвольного волнового сопротивления
Figure 00000109
 расчетного согласованного микрополоскового калибратора, выбранного для калибровки анализатора.
С учетом
Figure 00000110
-параметров (15) S-параметры (11), (13) и (14) четырехполюсника можно представить в виде каскадного соединения
Figure 00000111
. Тогда
Figure 00000112
-параметры четырехполюсника, нормированные относительно волнового сопротивления
Figure 00000113
 расчетного согласованного микрополоскового калибратора, используемого при дополнительной калибровке анализатора, можно определить из выражений (см. статью Савелькаев С.В. Коаксиальное контактное устройство / Измерительная техника. – 2005. – № 5. – С. 65–68):
Figure 00000114
Figure 00000115
 (16)
Figure 00000116
Figure 00000117
где
Figure 00000118
Figure 00000119
Figure 00000120
Для S-параметров коаксиальных узлов
Figure 00000121
.
Реализация предлагаемого способа. Предлагаемый способ реализуют следующим образом. Исследуемый четырехполюсник включают в анализатор и измеряют двухсигнальные ККО
Figure 00000122
 (4) на его на входе
Figure 00000004
 и выходе
Figure 00000005
, а также измеряют односигнальные ККО
Figure 00000054
Figure 00000123
 (7) на входе (
Figure 00000124
) и выходе (
Figure 00000125
) четырехполюсника при поочередной подаче на них соответственно входного
Figure 00000126
 и выходного
Figure 00000127
 зондирующих сигналов, а также односигнальные нагрузочные ККО
Figure 00000128
Figure 00000129
Figure 00000130
 (7) входного (
Figure 00000131
) и выходного (
Figure 00000132
) измерительных каналов анализатора при непосредственном соединении входов этих измерительных входов встык при поочередной подаче на них соответственно выходного
Figure 00000126
 и входного
Figure 00000133
 зондирующих сигналов, кроме того, измеряют двухсигнальные ККО
Figure 00000134
Figure 00000135
Figure 00000136
 (6) при непосредственном соединении плоскостей
Figure 00000035
 входов входного
Figure 00000004
 и выходного
Figure 00000005
 измерительных каналов анализатора встык при тех же двух
Figure 00000024
 различных относительных сдвигов фаз
Figure 00000051
 и
Figure 00000052
 зондирующих сигналов
Figure 00000053
 и
Figure 00000017
, после чего к анализатору подключают сдвоенный согласованный микрополосковый калибратор и измеряют его односигнальные ККО
Figure 00000137
Figure 00000123
 (7) при поочередной подаче на него входного
Figure 00000126
 и выходного
Figure 00000133
 зондирующих сигналов, с последующим определением относительных возбуждений
Figure 00000044
 (6) и S-параметров четырехполюсника (11), (13) и (14) и нормировкой (16) S-параметров четырехполюсника, измеренных в коаксиальных измерительных каналах анализатора, относительно волнового сопротивления
Figure 00000093
 этого калибратора.
Технический результат: точное измерение S-параметров устройств СВЧ обеспечивает повышение экономической эффективности проектирования этих устройств за счет сокращения цикла опытно-конструкторских работ в 1,5-2 раза, что достигается за счет необходимости многократной технологической коррекции опытного образца этих устройств.

Claims (1)

  1. Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию, заключающийся в том, что четырехполюсник включают в анализатор, далее измеряют двухсигнальные комплексные коэффициенты отражения на входе и выходе при двух различных относительных сдвигах входного и выходного зондирующих сигналов, а также измеряют двухсигнальные комплексные коэффициенты отражения при непосредственном соединении входов входного и выходного измерительных каналов анализатора встык с последующим определением S-параметров четырехполюсника, отличающийся тем, что дополнительно измеряют односигнальные комплексные коэффициенты отражения на входе и выходе четырехполюсника при поочередной подаче на них соответственно входного и выходного зондирующих сигналов, а также односигнальные комплексные коэффициенты отражения входного и выходного измерительных каналов анализатора при непосредственном соединении их измерительных входов встык при поочередной подаче на них соответственно выходного и входного зондирующих сигналов, кроме того, к анализатору подключают сдвоенный согласованный микрополосковый калибратор и дополнительно измеряют его комплексные коэффициенты отражения при поочередной подаче на него входного и выходного зондирующих сигналов с последующей нормировкой S-параметров четырехполюсника, измеренных в коаксиальных измерительных каналах анализатора, относительно волнового сопротивления этого калибратора.
RU2017110636A 2017-03-29 2017-03-29 Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию RU2653569C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017110636A RU2653569C1 (ru) 2017-03-29 2017-03-29 Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017110636A RU2653569C1 (ru) 2017-03-29 2017-03-29 Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2653569C1 true RU2653569C1 (ru) 2018-05-11

Family

ID=62152709

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017110636A RU2653569C1 (ru) 2017-03-29 2017-03-29 Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2653569C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2710514C1 (ru) * 2018-11-01 2019-12-26 Общество с ограниченной ответственностью "Арзамасское приборостроительное конструкторское бюро" Способ измерения S-параметров объектов в нестандартных направляющих системах

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1659903A1 (ru) * 1989-01-18 1991-06-30 Севастопольский Приборостроительный Институт Измеритель S-параметров СВЧ-устройств
SU1781638A1 (ru) * 1988-04-28 1992-12-15 Albert S Elizarov Измеритель 5-параметров линейного четырехполюсника
RU2004102962A (ru) * 2004-02-02 2005-07-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образовани "Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики" (ГОУ ВПО "СибГУТИ") (RU) Способ определения комплексного коэффициента отражения сверхвысокочастотных двухполюсников
US7415373B2 (en) * 2004-07-05 2008-08-19 Agilent Technologies, Inc. Method of measuring frequency translation device
RU2361227C2 (ru) * 2007-05-22 2009-07-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики" Способ измерения s-параметров транзисторов свч в линейном режиме
RU2377591C1 (ru) * 2008-09-10 2009-12-27 Открытое акционерное общество "Научно-производственная компания "Ритм" Способ аттестации амплитудно-фазовой погрешности устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1781638A1 (ru) * 1988-04-28 1992-12-15 Albert S Elizarov Измеритель 5-параметров линейного четырехполюсника
SU1659903A1 (ru) * 1989-01-18 1991-06-30 Севастопольский Приборостроительный Институт Измеритель S-параметров СВЧ-устройств
RU2004102962A (ru) * 2004-02-02 2005-07-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образовани "Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики" (ГОУ ВПО "СибГУТИ") (RU) Способ определения комплексного коэффициента отражения сверхвысокочастотных двухполюсников
US7415373B2 (en) * 2004-07-05 2008-08-19 Agilent Technologies, Inc. Method of measuring frequency translation device
RU2361227C2 (ru) * 2007-05-22 2009-07-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики" Способ измерения s-параметров транзисторов свч в линейном режиме
RU2377591C1 (ru) * 2008-09-10 2009-12-27 Открытое акционерное общество "Научно-производственная компания "Ритм" Способ аттестации амплитудно-фазовой погрешности устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников свч

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2710514C1 (ru) * 2018-11-01 2019-12-26 Общество с ограниченной ответственностью "Арзамасское приборостроительное конструкторское бюро" Способ измерения S-параметров объектов в нестандартных направляющих системах

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Eul et al. Thru-match-reflect: One result of a rigorous theory for de-embedding and network analyzer calibration
JP6499177B2 (ja) 検査装置構成を校正する方法
US6882160B2 (en) Methods and computer program products for full N-port vector network analyzer calibrations
US7865319B1 (en) Fixture de-embedding method and system for removing test fixture characteristics when calibrating measurement systems
US10042029B2 (en) Calibration of test instrument over extended operating range
US20150084656A1 (en) Two port vector network analyzer using de-embed probes
JP2016024197A (ja) Ｓパラメータを求める方法及び試験測定システム
Ye De-embedding errors due to inaccurate test fixture characterization
CN107076822B (zh) 利用引入器件判断射频器件去嵌入精度的测试结构及方法
RU2653569C1 (ru) Способ измерения S-параметров четырехполюсников СВЧ, предназначенных для включения в микрополосковую линию
JP7153309B2 (ja) ベクトルネットワークアナライザを用いた反射係数の測定方法
US10145931B2 (en) Tester
Wollensack et al. METAS VNA Tools II-Math Reference V2.
RU2652650C1 (ru) Способ адекватного измерения S-параметров транзисторов на имитаторе-анализаторе усилителей и автогенераторов СВЧ
RU2753828C1 (ru) Способ калибровки и определения собственных систематических погрешностей векторного анализатора цепей
Frolov et al. Analysis of methods for characterizing frequency-converting devices
RU2771481C1 (ru) Способ векторной калибровки с учетом собственных шумовых параметров измерителя
Andee et al. A fast and functional technique for the noise figure measurement of differential amplifiers
Singh et al. Inter-laboratory comparison of S-parameter measurements with dynamic uncertainty evaluation
Liu et al. An improved method for TRL calibration
Ahmed et al. On-wafer noise parameters measurement using an extended six-port network and conventional noise figure analyzer
Kishikawa et al. 1-port Vector Network Analyzer Calibration Technique Using Three Lines
Ruiz Estimation of the equivalent source match for three port dividers
Sun et al. A method for on-wafer s-parameter measurement of a differential amplifier by using two-port network analyzer
Jargon et al. Three-port vector-network-analyzer calibrations using the NIST microwave uncertainty framework