RU2604094C1 - Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate - Google Patents

Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate Download PDF

Info

Publication number
RU2604094C1
RU2604094C1 RU2015150212/07A RU2015150212A RU2604094C1 RU 2604094 C1 RU2604094 C1 RU 2604094C1 RU 2015150212/07 A RU2015150212/07 A RU 2015150212/07A RU 2015150212 A RU2015150212 A RU 2015150212A RU 2604094 C1 RU2604094 C1 RU 2604094C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
coating
wave
slow
dielectric
coatings
Prior art date
Application number
RU2015150212/07A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Игоревич Казьмин
Василий Александрович Манин
Павел Александрович Федюнин
Дмитрий Павлович Федюнин
Original Assignee
Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации filed Critical Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации
Priority to RU2015150212/07A priority Critical patent/RU2604094C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2604094C1 publication Critical patent/RU2604094C1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00—Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • G01N22/02—Investigating the presence of flaws

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

FIELD: metal processing.
SUBSTANCE: invention relates to electrophysical and geometrical parameters irregularities determining method of dielectric and non-magnetic coatings on metal surface and can be used for quality control of hard coatings on metal during development and operation of nonreflecting and absorbing coatings, as well as in chemical, paint and coatings and other industries. Said technical result is achieved by fact that in known UHF method of irregularities in dielectric coatings on metal substrate detecting, consisting in creation of slow surface E-wave electromagnetic field above dielectric coating on electrically conductive substrate, followed by recording changes in parameters, characterizing high-frequency field, in calculation of attenuation factor of α slow surface E-wave field intensity in normal plane relative to its propagation direction in spaced points and determining irregularities boundaries, preliminary measuring actual part of dielectric permeability ε′ and thickness b of reference sample coating, by which determining slow surface E-wave field intensity attenuation factor threshold value α0, wherein comparing in each measurement point of scanned coating surface current value of surface slow wave α field intensity attenuation factor with attenuation factor threshold value α0, and if α<α0, then making decision on presence of coating d delamination in given point.
EFFECT: technical result is higher probability of irregularities detecting due to determining of slow surface E-wave field intensity attenuation factor threshold value of with regard to analyzed coating individual characteristics.
1 cl, 1 dwg

Description

Предлагаемое изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле качества твердых покрытий на металле в процессе разработки и эксплуатации неотражающих и поглощающих покрытий, а также в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности.The present invention relates to methods for determining the heterogeneity of the electrophysical and geometric parameters of dielectric and magnetodielectric coatings on a metal surface and can be used to control the quality of hard coatings on a metal during the development and operation of non-reflective and absorbing coatings, as well as in chemical, paint and varnish and other industries.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому изобретению (прототипом) является СВЧ способ локализации неоднородностей диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на металле и оценки их относительной величины [Патент RU №2256165, МПК7 G01N 22/02, G01R 27/26, Заявл. 01.09.03. Опубл. 10.07.05. Бюл №19], заключающийся в создании электромагнитного поля медленной поверхностной E-волны над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения параметров, характеризующих высокочастотное поле, расчете коэффициента затухания α напряженности поля медленной поверхностной E-волны в нормальной плоскости относительно ее направления распространения в разнесенных точках и последующем определении границ неоднородностей.The closest in technical essence to the proposed invention (prototype) is a microwave method and localization of inhomogeneities magnitodiehlektricheskih dielectric coatings on metal and to assess their relative magnitudes [Patent RU №2256165, IPC 7 G01N 22/02, G01R 27/26, appl. 09/01/03. Publ. 07/10/05. Bull No. 19], which consists in creating an electromagnetic field of a slow surface E-wave above a dielectric coating on an electrically conductive substrate and then recording changes in the parameters characterizing the high-frequency field, calculating the attenuation coefficient α of the field strength of the slow surface E-wave in a normal plane relative to its propagation direction in spaced points and the subsequent determination of the boundaries of heterogeneity.

Недостаткам данного способа является низкая вероятность обнаружения неоднородностей, обусловленная тем, что выбор порогового значения коэффициента затухания напряженности поля медленной поверхностной Е-волны, по которому производится обнаружение неоднородностей, производится оператором, выполняющим измерения.The disadvantages of this method is the low probability of detecting inhomogeneities, due to the fact that the choice of the threshold value of the attenuation coefficient of the field strength of the slow surface E-wave, which is used to detect inhomogeneities, is performed by the operator performing the measurements.

Техническим результатом предлагаемого изобретения является повышение вероятности обнаружения неоднородностей за счет определения порогового значения коэффициента затухания напряженности поля медленной поверхностной Е-волны применительно к индивидуальным характеристикам исследуемого покрытия.The technical result of the invention is to increase the probability of detecting inhomogeneities by determining the threshold value of the attenuation coefficient of the field strength of the slow surface E-wave as applied to the individual characteristics of the coating under study.

Указанный технический результат достигается тем, что в известном СВЧ способе обнаружения неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металлической подложке, заключающемся в создании электромагнитного поля медленной поверхностной Е-волны над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения параметров, характеризующих высокочастотное поле, расчете коэффициента затухания α напряженности поля медленной поверхностной Е-волны в нормальной плоскости относительно ее направления распространения в разнесенных точках и определении границ неоднородностей, предварительно измеряют действительную часть диэлектрической проницаемости ε′ и толщину b эталонного образца покрытия, по которым определяют пороговое значение коэффициента затухания напряженности поля медленной поверхностной Е-волны α0, сравнивают в каждой точке измерений сканируемой поверхности покрытия текущее значение коэффициента затухания напряженности поля поверхностной медленной волны α с пороговым значением коэффициента затухания α0, и если α<α0, то принимают решение о наличии отслоения покрытия d в данной точке и рассчитывают его величину,The specified technical result is achieved by the fact that in the known microwave method for detecting inhomogeneities in dielectric coatings on a metal substrate, which consists in creating an electromagnetic field of a slow surface E-wave above a dielectric coating on an electrically conductive substrate and then recording changes in the parameters characterizing the high-frequency field, calculating the attenuation coefficient α field strength of a slow surface E-wave in a normal plane relative to its direction neniya at spaced apart locations and determining inhomogeneities boundaries previously measured real part of the dielectric constant ε ', and a thickness b of the reference coating sample, which define the threshold value of the attenuation coefficient field a slow surface E-wave α 0 is compared scanned surface coating in each measurement point current value of the field intensity attenuation coefficient of the surface of the slow wave with the threshold value α attenuation coefficient α 0, and if α <α 0, then the received mayutsya decision on the presence coating exfoliation d at a given point and its value is calculated,

Figure 00000001
Figure 00000001

где α - текущее значение коэффициента затухания напряженности поля поверхностной медленной Е-волны,

Figure 00000002
- волновое число свободного пространства; k 1 = 2 π λ г ε '
Figure 00000003
 - волновое число в слое исследуемого покрытия; λг - длина волны СВЧ-генератора, ε′ - действительная часть диэлектрической проницаемости исследуемого покрытия, b - толщина слоя исследуемого покрытия.where α is the current value of the attenuation coefficient of the field strength of the surface slow E-wave,
Figure 00000002
- wave number of free space; k one = 2 π λ g ε ''
Figure 00000003
 - the wave number in the layer of the investigated coating; λ g is the wavelength of the microwave generator, ε ′ is the real part of the dielectric constant of the studied coating, b is the thickness of the studied coating layer.

Сущность изобретения состоит в следующем. В прототипе величина порогового значения коэффициента затухания αпорог напряженности поля медленной поверхностной Е-волны выбирается оператором, выполняющим измерения, без учета электрофизических параметров покрытия (диэлектрическая проницаемость ε′ и толщина b), что в конечном итоге значительно уменьшает вероятность правильного обнаружения неоднородностей в нем. Предлагаемый способ, в отличие от прототипа, позволяет повысить вероятность правильного обнаружения неоднородностей за счет того, что величина порогового значения коэффициента затухания напряженности поля медленной поверхностной Е-волны α0 вычисляется применительно к индивидуальным характеристикам исследуемого покрытия по измеренным значениям диэлектрической проницаемости ε′ и толщины b эталонного образца покрытия.The invention consists in the following. In the prototype value of the threshold attenuation coefficient α threshold field strength slow surface E-waves selected by the operator who performs the measurement, excluding electro coating parameters (dielectric constant ε 'and thickness b), which ultimately reduces the probability of correct detection of irregularities therein. The proposed method, in contrast to the prototype, allows to increase the probability of the correct detection of inhomogeneities due to the fact that the threshold value of the attenuation coefficient of the field strength of the slow surface E-wave α 0 is calculated in relation to the individual characteristics of the studied coating according to the measured values of the dielectric constant ε ′ and thickness b reference coating sample.

На фигуре представлен один из возможных вариантов реализации предлагаемого СВЧ способа обнаружения неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металлической подложке, где цифрами обозначено 1 - измерительный приемник, 2 - схема сравнения, 3 - блок расчета величины отслоения покрытия, 4 - блок определения порогового значения коэффициента затухания напряженности поля поверхностной медленной волны - α0, 5 - блок ввода параметров исследуемого покрытия, 6 - блок измерения действительной части диэлектрической проницаемости ε′ и толщины b эталонного покрытия.The figure shows one of the possible embodiments of the proposed microwave method for detecting inhomogeneities in dielectric coatings on a metal substrate, where the numbers indicate 1 - measuring receiver, 2 - comparison circuit, 3 - unit for calculating the peeling value of the coating, 4 - unit for determining the threshold value of the attenuation coefficient of tension field of the surface wave slow - α 0, 5 - an input unit of the test parameters covering, 6 - unit of measurement of the real part of permittivity ε 'and this thickness b onnogo coating.

Назначение элементов схемы.Assignment of circuit elements.

Измерительный приемник 1 присущ аналогу (прототипу) и включает в себя систему приемных вибраторов, механизм их перемещения и блок вычисления текущего значения коэффициента затухания α напряженности поля поверхностной медленной Е-волны.The measuring receiver 1 is inherent in the analogue (prototype) and includes a system of receiving vibrators, a mechanism for their movement and a unit for calculating the current value of the attenuation coefficient α of the field strength of the surface slow E-wave.

Схема сравнения 2 присуща аналогу (прототипу) и реализует сравнение текущего значения коэффициента затухания α напряженности поля поверхностной медленной волны с пороговым значением α0.Comparison scheme 2 is inherent in the analogue (prototype) and compares the current value of the attenuation coefficient α of the field strength of the surface slow wave with a threshold value of α 0 .

Блок расчета величины отслоения покрытия 3 предназначен для определения по действительной части диэлектрической проницаемости ε′ и толщине b исследуемого покрытия величины отслоения покрытия d в данной точке измерения по формуле (1). Блок 3 может быть реализован на основе микроконтроллера ATmega2560 [ATmega2560. Datasheet [Электронный ресурс] URL: http://www.atmel.com/Images/Atmel-2549-8-bit-AVR-Microcontroller-ATmega640-1280-1281-2560-2561_datasheet.pdf. (Дата обращения: 10.1 1.2015)]. Выражение (1) вычисляется с помощью подпрограммы, которая загружается в микроконтроллер блока 3.The unit for calculating the amount of peeling of the coating 3 is designed to determine from the real part of the dielectric constant ε ′ and the thickness b of the investigated coating the amount of peeling of the coating d at a given measurement point according to formula (1). Block 3 can be implemented based on the ATmega2560 microcontroller [ATmega2560. Datasheet [Electronic resource] URL: http://www.atmel.com/Images/Atmel-2549-8-bit-AVR-Microcontroller-ATmega640-1280-1281-2560-2561_datasheet.pdf. (Date of treatment: 10.1 01.2015)]. Expression (1) is calculated using a subroutine that is loaded into the microcontroller of block 3.

Блок определения порогового значения коэффициента затухания напряженности поля поверхностной медленной Е-волны 4 предназначен для определения по измеренным значениям действительной части диэлектрической проницаемости ε′ и толщины слоя b эталонного образца покрытия порогового значения коэффициента затухания α0. Определение порогового значения коэффициента затухания α0 может быть осуществлено, например, путем решения трансцендентного уравнения для определения коэффициентов ослабления поверхностных волн E-типа [формула (2.21), стр. 79 [Федюнин П.Α., Казьмин А.И. Способы радиоволнового контроля параметров защитных покрытий авиационной техники. М.: Физматлит. 2013]. Решение данного уравнения можно реализовать с помощью программы, которая загружается в блок 4, при этом он может быть реализован на основе микроконтроллера ATmega2560 [ATmega2560. Datasheet [Электронный ресурс] URL: http://www.atmel.com/Images/Atmel-2549-8-bit-AVR-Microcontroller-ATmega640-1280-1281-2560-2561_datasheet.pdf. (Дата обращения: 10.11.2015)].The unit for determining the threshold value of the attenuation coefficient of the field strength of the surface slow E-wave 4 is intended to determine the threshold value of the attenuation coefficient α 0 from the measured values of the real part of the dielectric constant ε ′ and the layer thickness b of the reference sample. The threshold attenuation coefficient α 0 can be determined, for example, by solving a transcendental equation for determining the attenuation coefficients of E-type surface waves [formula (2.21), p. 79 [Fedyunin P.нин., Kazmin A.I. Methods of radio wave control of the parameters of protective coatings of aircraft. M .: Fizmatlit. 2013]. The solution to this equation can be implemented using a program that is loaded into block 4, while it can be implemented on the basis of the microcontroller ATmega2560 [ATmega2560. Datasheet [Electronic resource] URL: http://www.atmel.com/Images/Atmel-2549-8-bit-AVR-Microcontroller-ATmega640-1280-1281-2560-2561_datasheet.pdf. (Date of treatment: 11/10/2015)].

Блок ввода параметров исследуемого покрытия 5 предназначен для записи значений действительной части диэлектрической проницаемости ε′ и толщины b исследуемого покрытия в блок 3. Данный блок может быть реализован, например, на основе матричной клавиатуры. Она подключается к микроконтроллеру блока расчета величины отслоения покрытия 3 [Подключение матричной клавиатуры к микроконтроллеру AVR [Электронный ресурс] URL: http://radioparty.ru/prog-avr/program-c/455-lesson-matrix-keyboard (Дата обращения: 10.11.2015)].The input unit for the parameters of the test coating 5 is intended to record the values of the real part of the dielectric constant ε ′ and the thickness b of the test coating in block 3. This block can be implemented, for example, on the basis of a matrix keyboard. It is connected to the microcontroller of the unit for calculating the coating peeling value 3 [Connection of the matrix keyboard to the AVR microcontroller [Electronic resource] URL: http://radioparty.ru/prog-avr/program-c/455-lesson-matrix-keyboard (Date of access: 11/10/2015)].

Назначение блока 6 измерения действительной части диэлектрической проницаемости ε′ и толщины b эталонного покрытия 6 следует из названия самого блока. При этом блок 6 может быть, реализован, например, на основе радиоволнового метода поверхностных электромагнитных волн и с помощью измерительно-вычислительной системы радиоволнового контроля, которая его реализует [Федюнин П.А. Казьмин А.И. Способы радиоволнового контроля параметров защитных покрытий авиационной техники. М: Физматлит. 2013. С. 143-151].The purpose of the unit 6 for measuring the real part of the dielectric constant ε ′ and the thickness b of the reference coating 6 follows from the name of the block itself. In this case, block 6 can be implemented, for example, on the basis of the radio wave method of surface electromagnetic waves and using the measuring and computing system of radio wave control, which implements it [Fedyunin P.A. Kazmin A.I. Methods of radio wave control of the parameters of protective coatings of aircraft. M: Fizmatlit. 2013. S. 143-151].

Схема работает следующим образом. Перед началом проведения измерений исследуемого покрытия, предварительно измеряют действительную часть диэлектрической проницаемости ε′ и толщину слоя b эталонного образца покрытия с помощью блока 6.The scheme works as follows. Before starting measurements of the test coating, the actual part of the dielectric constant ε ′ and the thickness of the layer b of the reference coating sample are measured using block 6.

С помощью измерительного приемника 1 производят определение текущего значения коэффициента затухания α напряженности поля поверхностной медленной E-волны исследуемого покрытия.Using the measuring receiver 1, the current value of the attenuation coefficient α of the field strength of the surface slow E-wave of the test coating is determined.

Текущее значение коэффициента затухания α напряженности поля поверхностной медленной E-волны исследуемого покрытия поступает на первый вход схемы сравнения 2, на второй вход которой поступает пороговое значение коэффициента затухания α0.The current value of the attenuation coefficient α of the field strength of the surface slow E-wave of the test coating is fed to the first input of the comparison circuit 2, the second input of which receives the threshold value of the attenuation coefficient α 0 .

Если α<α0, то принимают решение о наличии отслоения покрытия d в данной точке измерения и рассчитывают его величину в блоке расчета отслоения покрытия 3. Значения действительной части диэлектрической проницаемости исследуемого покрытия ε′ и его толщины b в блок 3 записывают с помощью блока ввода параметров исследуемого покрытия 5.If α <α 0 , then decide on the presence of peeling of the coating d at a given measurement point and calculate its value in the unit for calculating peeling of the coating 3. The values of the real part of the dielectric constant of the test coating ε ′ and its thickness b are recorded in block 3 using the input unit parameters of the investigated coating 5.

Если α≥α0, то отслоение d принимается равным нулю d=0.If α≥α 0 , then the exfoliation d is taken equal to zero d = 0.

Запоминается значение величины отслоения d покрытия для каждой точки измерения и формируется массив отслоений покрытия d. Распределение d по поверхности покрытия показывает обнаруженные неоднородности и их границы.The value of the peeling value d of the coating for each measurement point is stored and an array of peeling of the coating d is formed. The distribution d over the surface of the coating shows the detected inhomogeneities and their boundaries.

Таким образом, предлагаемый способ позволяет повысить вероятность обнаружения неоднородностей покрытия за счет того, что пороговое значения коэффициента затухания напряженности поля медленной поверхностной E-волны определяется применительно к индивидуальным характеристикам исследуемого покрытия.Thus, the proposed method allows to increase the probability of detecting inhomogeneities of the coating due to the fact that the threshold value of the attenuation coefficient of the field strength of the slow surface E-wave is determined in relation to the individual characteristics of the studied coating.

Claims (1)

СВЧ способ обнаружения неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металлической подложке, заключающийся в создании электромагнитного поля медленной поверхностной Е-волны над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения параметров, характеризующих высокочастотное поле, расчете коэффициента затухания α напряженности поля медленной поверхностной Е-волны в нормальной плоскости относительно ее направления распространения в разнесенных точках и определении границ неоднородностей, отличающийся тем, что предварительно измеряют действительную часть диэлектрической проницаемости ε′ и толщину b эталонного образца покрытия, по которым определяют пороговое значение коэффициента затухания напряженности поля медленной поверхностной Е-волны α0, сравнивают в каждой точке измерений сканируемой поверхности покрытия текущее значение коэффициента затухания напряженности поля поверхностной медленной волны α с пороговым значением коэффициента затухания α0, и если α<α0, то принимают решение о наличии отслоения покрытия d в данной точке и рассчитывают его величину,
Figure 00000004
,
где α - текущее значение коэффициента затухания напряженности поля поверхностной медленной Е-волны,
Figure 00000005
- волновое число свободного пространства;
Figure 00000006
- волновое число в слое исследуемого покрытия;
Figure 00000007
- длина волны СВЧ-генератора, ε′ - действительная часть диэлектрической проницаемости исследуемого покрытия, b - толщина слоя исследуемого покрытия. The microwave method for detecting inhomogeneities in dielectric coatings on a metal substrate, which consists in creating the electromagnetic field of a slow surface E-wave above a dielectric coating on an electrically conductive substrate and then recording changes in the parameters characterizing the high-frequency field, calculating the attenuation coefficient α of the field strength of the slow surface E-wave in normal plane relative to its direction of propagation at spaced points and determining the boundaries of heterogeneities, tlichayuschiysya in that the pre-measured real part of the dielectric constant ε ', and a thickness b of the reference coating sample, which determine the threshold value of attenuation coefficient field intensity of slower surface E-wave α 0 is compared at each measurement point scanned surface coating current attenuation field intensity ratio surface slow wave α with a threshold value of the attenuation coefficient α 0 , and if α <α 0 , then decide on the presence of delamination of the coating d in given point and calculate its value,
Figure 00000004
,
where α is the current value of the attenuation coefficient of the field strength of the surface slow E-wave,
Figure 00000005
- wave number of free space;
Figure 00000006
- the wave number in the layer of the investigated coating;
Figure 00000007
is the wavelength of the microwave generator, ε ′ is the real part of the dielectric constant of the studied coating, b is the thickness of the studied coating layer.
RU2015150212/07A 2015-11-23 2015-11-23 Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate RU2604094C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015150212/07A RU2604094C1 (en) 2015-11-23 2015-11-23 Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015150212/07A RU2604094C1 (en) 2015-11-23 2015-11-23 Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2604094C1 true RU2604094C1 (en) 2016-12-10

Family

ID=57776915

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015150212/07A RU2604094C1 (en) 2015-11-23 2015-11-23 Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2604094C1 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2697427C2 (en) * 2017-01-11 2019-08-14 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Diagnostic complex for artillery ammunition protective lacquer coating monitoring
RU2721472C1 (en) * 2019-10-28 2020-05-19 Федеральное государственное казенное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method of determining dielectric permeability of anisotropic dielectrics
RU2730053C1 (en) * 2019-09-10 2020-08-14 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method of detecting and evaluating defects in multilayer dielectric coatings in microwave range
RU2758390C1 (en) * 2020-12-29 2021-10-28 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method for determining the electrophysical parameters of dielectric and magnetodielectric coatings with frequency dispersion in the microwave range
RU2777835C1 (en) * 2021-07-28 2022-08-11 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method for determining electrophysical parameters of ferrite materials in the microwave range

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2256165C2 (en) * 2002-09-02 2005-07-10 Тамбовский военный авиационный инженерный институт Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount
RU2326368C1 (en) * 2006-12-14 2008-06-10 ГОУ ВПО "Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" Method of measuring structure parameters "metallic-semiconuctor film or insulating substrate"
RU2349904C1 (en) * 2007-09-13 2009-03-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Electrophysical measurement method for nanoscale metal film on semiconductor or dielectric substrate structure
RU2507506C2 (en) * 2012-05-23 2014-02-20 Федеральное государственное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный авиационный инженерный университет" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Microwave method of detecting and evaluating non-uniformities in dielectric coatings on metal

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2256165C2 (en) * 2002-09-02 2005-07-10 Тамбовский военный авиационный инженерный институт Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount
RU2326368C1 (en) * 2006-12-14 2008-06-10 ГОУ ВПО "Саратовский государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" Method of measuring structure parameters "metallic-semiconuctor film or insulating substrate"
RU2349904C1 (en) * 2007-09-13 2009-03-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" Electrophysical measurement method for nanoscale metal film on semiconductor or dielectric substrate structure
RU2507506C2 (en) * 2012-05-23 2014-02-20 Федеральное государственное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный авиационный инженерный университет" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Microwave method of detecting and evaluating non-uniformities in dielectric coatings on metal

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2697427C2 (en) * 2017-01-11 2019-08-14 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Diagnostic complex for artillery ammunition protective lacquer coating monitoring
RU2730053C1 (en) * 2019-09-10 2020-08-14 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method of detecting and evaluating defects in multilayer dielectric coatings in microwave range
RU2721472C1 (en) * 2019-10-28 2020-05-19 Федеральное государственное казенное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method of determining dielectric permeability of anisotropic dielectrics
RU2758390C1 (en) * 2020-12-29 2021-10-28 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method for determining the electrophysical parameters of dielectric and magnetodielectric coatings with frequency dispersion in the microwave range
RU2777835C1 (en) * 2021-07-28 2022-08-11 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method for determining electrophysical parameters of ferrite materials in the microwave range
RU2803321C1 (en) * 2023-03-22 2023-09-12 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации Method for detecting and evaluation of defects in dielectric and magnetodielectric coatings on a metal substrate

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2604094C1 (en) Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate
Shaw et al. Location of steel reinforcement in concrete using ground penetrating radar and neural networks
Abidin et al. Pulsed eddy current testing with variable duty cycle on rivet joints
RU2507506C2 (en) Microwave method of detecting and evaluating non-uniformities in dielectric coatings on metal
KR101621366B1 (en) DEVICE AND METHOD FOR MEASURING DIELECTRIC CONSTANT AND DAMPED RATIO OF MATTER USING THz TRANSFER FUNCTION MODEL IN THz DOMAIN
Hedayatrasa et al. On the application of an optimized Frequency-Phase Modulated waveform for enhanced infrared thermal wave radar imaging of composites
Pasadas et al. Defect classification with SVM and wideband excitation in multilayer aluminum plates
Caorsi et al. A layer stripping approach for EM reconstruction of stratified media
Batrakov et al. UWB signal processing during thin layers thickness assessment
US11085874B2 (en) Characterization of multilayer structures
Batrakov et al. Inverse problems and UWB signals in biomedical engineering and remote sensing
Zhang et al. Quantitative detection of interfacial air gap in insulation equipment based on terahertz wave contrast method
Dester et al. Two-iris method for the electromagnetic characterization of conductor-backed absorbing materials using an open-ended waveguide probe
Hong GPR based periodic monitoring of reinforcement corrosion in chloride contaminated concrete
CN104929625B (en) A kind of stratum detecting method
US20180156728A1 (en) Characterization of multilayer structures
Barman et al. Microwave nondestructive testing of cement based materials
Chernyshov et al. Testing electrophysical parameters of multilayer dielectric and magnetodielectric coatings by the method of surface electromagnetic waves
RU2721156C1 (en) Method of determining electrophysical parameters of metamaterials
JP2005043197A (en) Concrete inspection method by electromagnetic wave, and concrete inspection device by electromagnetic wave
Feng et al. Electromagnetic image reconstruction for damage detection
Liu et al. Antenna aperture localization for arrival time correction using first-break
EP3311147A1 (en) Characterization of multilayer structures
RU2301987C1 (en) Uhf method for irregularity introscopy of dielectric and magneto-dielectric surfaces using a slow surface wave
RU2532414C1 (en) Flaw detection method of heat-protective and heat-insulating coatings of items

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20171124