RU2573717C2 - Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов - Google Patents
Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов Download PDFInfo
- Publication number
- RU2573717C2 RU2573717C2 RU2014124085/28A RU2014124085A RU2573717C2 RU 2573717 C2 RU2573717 C2 RU 2573717C2 RU 2014124085/28 A RU2014124085/28 A RU 2014124085/28A RU 2014124085 A RU2014124085 A RU 2014124085A RU 2573717 C2 RU2573717 C2 RU 2573717C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- nano
- objects
- substrate
- radiation
- spectral analysis
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 64
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 55
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims abstract description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 claims description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 7
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 abstract 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 38
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 8
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 7
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 6
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 4
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 2
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 2
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000005493 condensed matter Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000002344 laser microprobe spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000004452 microanalysis Methods 0.000 description 1
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области спектрального анализа и касается способа и устройства атомно-эмиссионного анализа нанообъектов. Способ включает в себя испарение нанообъектов лазерным пучком и анализ нанообъектов по их свечению. Нанообъекты помещают на поверхность прозрачной подложки. На поверхность с нанообъектами изнутри подложки направляют под регулируемым углом, большим угла полного внутреннего отражения, импульс лазерного излучения с энергией, достаточной для хотя бы частичного испарения нанообъектов. Излучение пара подвергают спектральному анализу. Устройство содержит подложку с нанообъектами на поверхности и излучатель. Излучатель обеспечивает интенсивность излучения, достаточную для испарения нанообъектов, причем по обе стороны подложки или с одной ее стороны в потоке свечения нанообъектов установлен спектроанализатор, содержащий коллиматор, который входной апертурой обращен к нанообъектам. Подложка выполнена из материалов, прозрачных для излучения излучателя и которые могут быть прозрачными для собственного излучения нанообъектов. Технический результат заключается в упрощении способа измерений. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
Description
Изобретение относится к оптике, оптическим способам и устройствам спектрального анализа элементного состава конденсированных сред, в том числе спектрального анализа элементного состава порошков и наночастиц.
Для определения элементного состава вещества применяют атомно-эмиссионный и атомно-адсорбционный спектральный анализ, при котором анализируемое вещество, например, в виде порошка или аэрозоля нагревают до состояния атомизации. Эмиссионный спектр излучения атомов или спектр поглощения пара вещества дает сведения об элементном составе вещества.
В качестве аналогов способа и устройства выбраны способ и устройство атомно-эмиссионного анализа вещества в виде порошка [Физическая энциклопедия/ Гл. ред. Прохоров A.M. M.: «БРЭ». Т. 4 Спектральный анализ. 1994. - 704 с.]: порошок в виде аэрозоля вводят в пламя газовой горелки или плазму электрической дуги, используют также нагревание порошка лазерным излучением. Происходит атомизация вещества. Эмиссионный спектр изучают с помощью спектрофотометров и по линиям спектра определяют элементный состав.
Недостатком способа является необходимость при анализе наночастиц их удалять из места их получения и вводить в состав аэрозоля, что может привести к ошибкам при анализе; другим недостатком является необходимость использовать большое количество вещества.
Прототипом способа выбран способ лазерного спектрального микроанализа [Дьюли У. Лазерная технология и анализ материалов: Пер. с англ. - М.: «Мир» 1986. - 504 с.]. Для испарения микрообъема изучаемого образца используется импульсный лазер; возникшая лазерная плазма является источником излучения для спектрального анализа.
Недостатком способа-прототипа при анализе вещества в виде наночастиц на поверхности подложки является одновременное с наночастицами нагревание и испарение материала подложки, что вносит погрешности в результат анализа; кроме того, нет возможности определять распределение вещества по объему наночастицы, так как локальность облучения определяется размером лазерного пучка, минимальный размер которого определяется дифракцией света и не может быть меньше величины порядка длины волны, тогда как размер наночастицы на порядок меньше.
Аналогом устройства атомно-эмиссионного спектрального анализа наночастиц выбрано устройство прибора для лазерного микроанализа [Дьюли У. Лазерная технология и анализ материалов: Пер. с англ. - М.: «Мир» 1986. - 504 с.], в котором содержатся лазерный излучатель, собирающая излучение лазерной плазмы оптика (коллиматор), спектрометр и шестиканальный полихроматор, образующие собой спектроанализатор. Имеется механизм для точного наведения лазерного луча на образец.
Недостатком устройства является недостаточная локализация лазерного облучения образца вследствие дифракции света на фокусирующей оптике.
Прототипом устройства атомно-эмиссионного спектрального анализа наночастиц выбран спектральный анализатор на эффекте полного внутреннего отражения (эффекте ПВО) [Н. Харрик. Спектроскопия внутреннего отражения. Пер. с англ. - М.: «Мир» 1970. - 336 с.]. Устройство содержит спектроанализатор на основе монохроматора или полихроматора, прозрачную подложку в виде элемента нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО), оптические элементы фокусировки излучения монохроматора на поверхности подложки с возможностью изменения угла падения излучения на поверхность подложки, оптические элементы для коллимирования отраженного вследствие эффекта ПВО от поверхности излучения монохроматора, приемник отраженного излучения. На поверхности элемента может располагаться анализируемое вещество. Спектральный анализатор позволяет исследовать спектр поглощения излучения веществом на поверхности подложки путем исследования спектра испытавшего ПВО излучения.
Положительным качеством прототипа является улучшенная локализация мощности излучения на исследуемых объектах, так как нанообъекты располагаются на поверхности подложки в области туннелирования падающего излучения, которая имеет толщину порядка доли длины волны.
Недостатком прототипа является невозможность исследовать спектр собственного излучения нанообъектов и невозможность проведения атомно-спектрального анализа облучаемых нанообъектов.
Решаемой в изобретении задачей является создание метода и устройства атомно-спектрального анализа нанообъектов, расположенных на поверхности подложек в зоне туннелирования падающего излучения.
Решение задачи достигается предложенными способом и устройством атомно-спектрального анализа нанобъектов.
В способе атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов по их свечению при испарении лазерным пучком, в сответствии с изобретением, нанообъекты помещают на поверхность прозрачной подложки, на поверхность с нанообъектами изнутри подложки направляют под регулируемым углом, большим угла полного внутреннего отражения, импульс лазерного излучения с энергией, испаряющей хотя бы частично нанообъекты, и излучение пара подвергают спектральному анализу известным методом.
В устройстве для атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов по их свечению, содержащем подложку с анализируемыми нанообъектами на поверхности, излучатель, направляющий свое излучение на поверхность подложки под регулируемым углом, большим угла падения, монохроматор или полихроматор и устройство, фиксирующее элементы устройства относительно друг друга, в соответствии с изобретением излучатель в световом пятне на подложке обеспечивает интенсивность излучения, достаточную для испарения нанообъектов, причем по обе стороны подложки или с одной ее стороны в потоке свечения нанообъектов установлен спектроанализатор, содержащий расположенные последовательно по ходу излучения нанообъектов оптический коллиматор их излучения, который входной апертурой обращен к нанообъектам, и полихроматор, в то время как подложка выполнена из материалов, прозрачных для излучения излучателя и которые могут быть прозрачными для собственного излучения нанообъектов.
Предложено также, что коллиматор в виде сферического или параболического отражателя расположен над поверхностью с нанообъектами вогнутостью к ним.
Предложено также, что коллиматором является световод, расположенный на поверхности с нанообъектами упомянутой подложки или над ней.
Принципиальное отличие предложенного способа от прототипа заключается в использовании тонкой - до 10 нм толщиной - зоны концентрации лазерного пучка излучения, например, видимого диапазона, формируемого за счет эффекта туннелирования света через границу двух прозрачных диэлектриков при полном внутреннем отражении падающего на границу со стороны диэлектрика с большим показателем преломления излучения, а также в проведении спектрального анализа собственного излучения нанообъектов, вызванного лазерным облучением нанообъектов.
Принципиальное отличие предложенного устройства от прототипа заключается в обеспечении создания таких условий испарения нанообъектов на поверхности подложки, при которых подложка остается при испарении нанообъектов холодной, и созданием условий для спектрального анализа собственного излучения нанообъектов за счет размещения коллиматора этого излучения по сторонам подложки.
Предложенные способ и устройство иллюстрируются с помощью фиг. 1 и 2.
На фиг. 1 показан вариант схемы устройства по изобретению. Здесь 1 - прозрачная подложка в виде полусферы с отсеченным снизу сегментом и полированными поверхностями, 2 - исследуемый объект (наночастицы на поверхности подложки), 3 - сфокусированный на верхнюю плоскую поверхность с наночастицами лазерный пучок, падающий под регулируемым углом θ на поверхность, 4 - пучок, отраженный от поверхности вследствие эффекта полного внутреннего отражения, 5 - сферическое или параболическое зеркало, играющее роль коллиматора собственного излучения наночастиц и формирующее приблизительно параллельный пучок 6, проходящий сквозь подложку 1 и попадающий в спектроализатор 7, 8 - лазерный излучатель, содержащий лазер 9 и фокусирующую оптику 10; излучатель может перемещаться по направлениям, указанным стрелками, с помощью механизма, не показанного на фиг. 1.
На фиг. 2 приведен другой вариант схемы с использованием световода в качестве коллиматора излучения наночастиц. Здесь 11 - прозрачная подложка в виде полусферы и полированными поверхностями, 2 - исследуемый объект (наночастицы на поверхности подложки), 3 - сфокусированный на верхнюю плоскую поверхность с наночастицами лазерный пучок, падающий под регулируемым углом θ на поверхность, 4 - пучок, отраженный от поверхности вследствие эффекта полного внутреннего отражения, 12 - световод с линзообразным входным торцом, играющим роль входной апертуры световода, обращенный входной апертурой к наночастицам и направляющий излучение к спектроанализатору 7.
Устройство на фиг. 1 работает следующим образом. Сфокусированное лазерное излучение 3 падает на верхнюю полированную поверхность полусферической прозрачной подложки изнутри и испытывает полное внутреннее отражение; световая волна частично туннелирует сквозь границу и проникает в область расположения наночастиц на верхней поверхности подложки.
Уменьшение интенсивности туннелирующей световой волны на расстоянии x от верхней поверхности определяется формулой [Н. Харрик. Спектроскопия внутреннего отражения. Пер. с англ. - М.: Мир, 1970. - 336 с.]:
Здесь I/I0 - отношение интенсивностей прошедшей и существующей на поверхности волн, x - глубина проникновения излучения за поверхность подложки в воздух,
где χ - условная глубина проникновения излучения за границу раздела сред с большим n1 и малым ncp показателями преломления, λ - длина волны, θ - угол падения излучения. Примем θ=85°, n1=2,6, ncp=1, λ=0,35 мкм.
Рассчитанная глубина x проникновения излучения во вторую среду, где величина интенсивности уменьшается в е раз, равна 12 нм. Глубина проникновения может регулироваться изменением угла падения излучения на поверхность, что позволяет реализовать сканирование воздействия по толщине нанообъекта и исследовать его структуру и измерять размер.
Туннелирующее излучение фронтом волны ориентировано параллельно поверхности подложки и взаимодействует с наночастицами на поверхности, частично рассеиваясь и поглощаясь частицами. Поглощенная энергия волны нагревает наночастицы и при достаточной интенсивности излучения может перевести их в атомный пар за время импульса облучения и вызвать их собственное излучение - тепловое свечение пара или плазменное свечение. Собственное излучение наночастиц распространяется равномерно во все стороны. Для его собирания и формирования слабо расходящегося пучка, что необходимо для работы спектроанализатора, используется коллиматор 5 в виде сферического или параболического отражателя. Область с наночастицами должна располагаться вблизи фокальной плоскости отражателя, что позволит сформировать почти не расходящийся параллельный пучок 6 и направить его сквозь подложку в апертуру спектроанализатора 7. Плоские поверхности полусферической подложки могут быть оптически просветлены нанесением обычных просветляющих покрытий. Сама форма подложки может быть и другой, например иметь вид призмы со скошенным боковыми гранями, предназначенными для ввода излучения лазера.
Спектроанализатор может быть известной конструкции: фиксирующим картину спектра на фотопленке или быть полихроматором.
Способ атомно-спектрального анализа наночастиц по их свечению при испарении лазерным пучком в соответствии с изобретением реализуется с помощью устройства на фиг. 1. Для анализа необходимо расположить наночастицы на поверхности подложки 1 или на поверхности специальной тонкой плоской прозрачной подложки; на последней они могут быть изготовлены в ходе их получения в технологической установке. Специальную подложку с наночастицами необходимо уложить на верхнюю поверхность полусферы с помощью слоя иммерсионной жидкости. После этого поверхность с наночастицами облучают сфокусированным лазерным излучением.
Интенсивность I0 излучения на самой поверхности с наночастицами может быть одного порядка с интенсивностью падающей волны. По расчету, для испарения наночастиц из вольфрама радиусом 10 нм излучением с длиной волны 0,5 мкм (сечение поглощения σa≈0,3) и импульсом длительностью 10 нс необходима интенсивность падающего на частицу излучения примерно I≈0,3·1012 Вт/м2, легко обеспечиваемая в фокусе лазерного пятна в туннелирующей волне вблизи поверхности доступными лазерными излучателями. При удалении от поверхности интенсивность туннелирующей волны ослабевает экспоненциально, что обеспечивает высокую пространственную разрешающую способность способа по направлению нормали к подложке.
Возникающее собственное излучение коллимируется отражателем, направляется в спектроанализатор.
При уменьшении угла падения θ зона высокой интенсивности в затухающей волне отодвигается от подложки и охватывает новые части объема наночастицы, таким образом, можно зоной нагревания сканировать поперечник наночастицы и определять ее структурные особенности или распределение составляющих ее элементов по поперечнику. Если слой на подложке не однородный по размерам наночастиц, можно определить указанным сканированием дисперсионное распределение размеров. Таким образом, реализуется пространственное разрешение данного оптического метода, близкое к методам растровой электронной микроскопии.
Устройство на фиг. 2 отличается от рассмотренного способом коллимации собственного излучения наночастиц. В этом случае наночастицы также располагаются на поверхности полусферической подложки 11, не имеющей нижнего среза, облучаются сфокусированным лазерным излучением 3. Собственное излучение наночастиц коллимируется световодом 12, имеющим линзообразный входной торец, что позволяет уменьшить расходимость попавшего в световод излучения и ввести излучение в спектроанализатор 7. Уменьшению расходимости вошедшего в световод излучения может способствовать выполнение его передней части в виде расходящегося в глубину световода отрезка конуса.
Световод можно располагать над подложкой под различными углами к ней, при этом эффективность собирания собственного излучения наночастиц будет разной. Учитывая изотропный характер собственного излучения наночастиц и тот факт, что они располагаются в виде плоского слоя на поверхности, наибольшая интенсивность светового потока излучения будет вдоль поверхности подложки, поэтому может оказаться выгодным расположить световод на поверхности подложки входной апертурой к наночастицам.
Для изготовления устройств используются обычные для оптического производства материалы: стекло, конструкционные металлы.
Таким образом, показана реализуемость способа и устройств и достижимость поставленных целей.
Способ и устройство найдут применение для спектрального анализа атомного состава порошков и наночастиц.
Технический результат изобретения состоит в создании простого способа исследования параметров наночастиц на поверхности подложек, в том числе, в ходе технологического процесса их получения, и в создании атомно-эмиссионного спектрометра наночастиц и нанопленок.
Claims (4)
1. Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов по их свечению при испарении лазерным пучком, отличающийся тем, что нанообъекты помещают на поверхность прозрачной подложки, на поверхность с нанообъектами изнутри подложки направляют под регулируемым углом, большим угла полного внутреннего отражения, импульс лазерного излучения с энергией, достаточной для хотя бы частичного испарения нанообъектов, и излучение пара подвергают спектральному анализу.
2. Устройство для атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов по их свечению, содержащее подложку с анализируемыми нанообъектами на поверхности, излучатель, направляющий свое излучение на поверхность подложки под регулируемым углом, большим угла падения, монохроматор или полихроматор и устройство, фиксирующее элементы устройства относительно друг друга, отличающееся тем, что излучатель в световом пятне на подложке обеспечивает интенсивность излучения, достаточную для испарения нанообъектов, причем по обе стороны подложки или с одной ее стороны в потоке свечения нанообъектов установлен спектроанализатор, содержащий расположенные последовательно по ходу излучения нанообъектов оптический коллиматор их излучения, который входной апертурой обращен к нанообъектам, и полихроматор, в то время как подложка выполнена из материалов, прозрачных для излучения излучателя и которые могут быть прозрачными для собственного излучения нанообъектов.
3. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что коллиматор в виде сферического или параболического отражателя расположен над поверхностью с нанообъектами вогнутостью к ним.
4. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что коллиматором является световод, расположенный на поверхности с нанообъектами упомянутой подложки или над ней.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2014124085/28A RU2573717C2 (ru) | 2014-06-11 | 2014-06-11 | Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2014124085/28A RU2573717C2 (ru) | 2014-06-11 | 2014-06-11 | Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2014124085A RU2014124085A (ru) | 2015-12-20 |
| RU2573717C2 true RU2573717C2 (ru) | 2016-01-27 |
Family
ID=54871166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2014124085/28A RU2573717C2 (ru) | 2014-06-11 | 2014-06-11 | Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2573717C2 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2643694C1 (ru) * | 2016-11-29 | 2018-02-05 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) | Способ вывода из осаждённого из газовой фазы алмаза электромагнитного излучения центров окраски |
| RU2745384C1 (ru) * | 2020-07-20 | 2021-03-24 | Объединенный Институт Ядерных Исследований (Оияи) | Способ анализа атомного состава дисперсных порошковых материалов |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU38934U1 (ru) * | 2004-01-27 | 2004-07-10 | Орловский государственный аграрный университет | Спектрофотометр |
-
2014
- 2014-06-11 RU RU2014124085/28A patent/RU2573717C2/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU38934U1 (ru) * | 2004-01-27 | 2004-07-10 | Орловский государственный аграрный университет | Спектрофотометр |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2643694C1 (ru) * | 2016-11-29 | 2018-02-05 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) | Способ вывода из осаждённого из газовой фазы алмаза электромагнитного излучения центров окраски |
| RU2745384C1 (ru) * | 2020-07-20 | 2021-03-24 | Объединенный Институт Ядерных Исследований (Оияи) | Способ анализа атомного состава дисперсных порошковых материалов |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2014124085A (ru) | 2015-12-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109211847B (zh) | 一种采用分析装置进行单个悬浮颗粒化学成分分析的方法 | |
| CN110234982A (zh) | 用于化学成像原子力显微镜红外光谱法的方法和装置 | |
| US8054461B2 (en) | Systems for performing Raman spectroscopy | |
| US11467103B2 (en) | X-ray analyzer | |
| CN102262075B (zh) | 基于分光法的激光诱导击穿光谱测量元素浓度的方法 | |
| JP6134975B2 (ja) | 測定用デバイス、測定装置および方法 | |
| EP1147403B1 (fr) | Dispositif d'analyse elementaire par spectrometrie d'emission optique sur plasma produit par laser | |
| CN103954593A (zh) | 基于激光诱导击穿光谱技术的等离子体信号采集装置 | |
| CN107219214A (zh) | 一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析装置 | |
| US20150155152A1 (en) | Mass spectrometry apparatus | |
| RU2573717C2 (ru) | Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов | |
| RU2655958C2 (ru) | Устройство, применяемое для детектирования аффинностей связывания | |
| Ponomareva et al. | Plasma reflectivity behavior under strong subpicosecond excitation of liquids | |
| Sobierajski et al. | Experimental set-up and procedures for the investigation of XUV free electron laser interactions with solids | |
| US20230358684A1 (en) | Kinematics path method for laser-induced breakdown spectroscopy | |
| CN117907310B (zh) | 一种激光诱导击穿光谱采集装置及方法 | |
| McMahon et al. | Second harmonic generation from resonantly excited arrays of gold nanoparticles | |
| Bjeoumikhov et al. | Capillary μFocus X-ray lenses with parabolic and elliptic profile | |
| Bleiner et al. | Laser-induced XUV spectroscopy (LIXS): From fundamentals to application for high-precision LIBS | |
| CN107505307B (zh) | 全包围式椭圆球面镜光路激光诱导击穿光谱仪系统 | |
| CN105973844B (zh) | 一种太赫兹波成像系统 | |
| Hampai et al. | Shaped X-ray beams by channeling in polycapillary optics | |
| Mohan et al. | Laser-induced plasma on the boundary of two matrices | |
| JPWO2019038823A1 (ja) | 遠赤外分光装置、および遠赤外分光方法 | |
| Korotkikh | Total reflection x‐ray fluorescence spectrometer with parallel primary beam |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20190612 |